專利名稱：一種most總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試的方法，該方法用來檢驗被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST總線協(xié)議的一致性要求。
背景技術(shù)：
MOST (Media Oriented System Transport)面向媒體的系統(tǒng)傳輸總線，MOST 總線專門用于滿足要求嚴格的車載環(huán)境。這種新的基于光纖的網(wǎng)絡(luò)能夠支持24. 8Mbps的數(shù)據(jù)速率，與以前的銅纜相比具有減輕重量和減小電磁干擾(EMI)的優(yōu)勢。由于對于由自然語言所描述的MOST總線協(xié)議的理解存在著主觀的因素，因此，對于MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層的協(xié)議一致性測試驗證工作尤為重要。為了檢驗MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST總線協(xié)議的一致性要求，需要提出ー種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法。·

發(fā)明內(nèi)容
為了檢驗MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST總線協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了ー種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法的協(xié)同測試方法，對于被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測MOST總線的MOST控制器的測試實現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀與被測MOST總線中的被測MOST控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測MOST控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測MOST控制器的測試模塊中除了被測MOST控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST總線協(xié)議的一致性要求。


附圖為ー種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試系統(tǒng)原理圖，其中①為上位機PC;虛線框中為測試模塊，主要由②上測試器和③被測MOST控制器組成為邏輯分析儀；⑤為波形發(fā)生器。
具體實施例方式本發(fā)明一一種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法，對于被測MOST線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測MOST總線的MOST控制器的測試實現(xiàn)。本測試方法直接利用邏輯分析儀與被測MOST總線中的被測MOST控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測MOST控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測MOST控制器的測試模塊中除了被測MOST控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST協(xié)議的一致性要求。按照該方法構(gòu)建如附圖所示ー種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試系統(tǒng)。附圖中，測試模塊中的被測MOST控制器直接與上測試器交互信息，其RX及TX兩引腳接至邏輯分析儀探頭，Rx引腳與波形發(fā)生器的輸出端電連接。上位機、邏輯分析儀與波形發(fā)生之間可以進行相關(guān)信息的交互。上位機同時與上測試器進行信息交互。邏輯分析儀的觸發(fā)信號輸出電連接至波形發(fā)生器的觸發(fā)信號輸入。測試中，上位機將測試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測TX及RX兩信號線上的信號序列，并根據(jù)TX信號線上的信號判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測試序列至RX信號線。TX及RX的全部 信號都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機，上位機通過對下測試器傳回的信息與上測試器傳回的被測MOST控制器信息進行對比、分析，得出被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST協(xié)議一致性測試的結(jié)果。
權(quán)利要求
1.ー種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法，其特征是該方法為ー種協(xié)同測試方法，對被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試通過對被測MOST總線中MOST控制器的測試實施，該方法直接利用邏輯分析儀與被測MOST總線中的被測MOST控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測MOST控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測MOST控制器的測試模塊中除了被測MOST控制器的部分構(gòu)成上測試器，上測試器和下測試器協(xié)同工作。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所描述的下測試器，其特征是上位機將測試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測TX及RX兩信號線上的信號序列，并根據(jù)TX信號線上的信號判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測試序列至RX信號線。TX及RX的全部信號都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機，上位機通過對下測試器傳回的信息與上測試器傳回的被測MOST控制器信息進行對比、分析，得出被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST總線協(xié)議一致性測試的結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試的方法，該方法用來檢驗被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST協(xié)議的一致性要求。為了檢驗MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法的協(xié)同測試方法，對于被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測MOST總線的MOST控制器的測試實現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀和波型發(fā)生器分別與被測MOST總線中的被測MOST控制器RX、TX引腳分別相連，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測MOST控制器的測試模塊中除了被測MOST控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測MOST總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足MOST總線協(xié)議的一致性要求。
文檔編號H04L12/26GK102843267SQ20111016981
公開日2012年12月26日 申請日期2011年6月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月22日
發(fā)明者莫莽, 劉矗, 吳寶紅 申請人:上海固泰科技有限公司