專利名稱：一種lin總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于LIN(Local Interconnect Network)總線數(shù)據(jù)鏈路層測試的方法，該方法用來檢驗被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN總線協(xié)議的一致性要求。
背景技術(shù)：
LIN總線是一種低成本的串行通訊網(wǎng)絡，用于實現(xiàn)汽車中的分布式電子系統(tǒng)控制。在不需要CAN總線的帶寬和多功能的場合，比如智能傳感器和制動裝置之間的通訊使用LIN總線可大大節(jié)省成本。由于對于由自然語言所描述的LIN總線協(xié)議的理解存在著主觀的因素，因此，對于LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層的協(xié)議一致性測試驗證工作尤為重要。為了檢驗LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN總線協(xié)議的一致性要求，需要提出一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法。

發(fā)明內(nèi)容
為了檢驗LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN總線協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法的協(xié)同測試方法，對于被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測LIN總線的LIN控制器及其驅(qū)動軟件的測試實現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀與被測LIN總線中的被測LIN控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測LIN控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測LIN控制器的測試模塊中除了被測LIN控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN總線協(xié)議的一致性要求。


附圖為一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試系統(tǒng)原理圖，其中①為上位機PC ;虛線框中為測試模塊，主要由②上測試器和③被測LIN控制器組成為邏輯分析儀；⑤為波形發(fā)生器。
具體實施例方式本發(fā)明-一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法，對于被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測LIN總線的LIN控制器及其驅(qū)動軟件的測試實現(xiàn)。本測試方法直接利用邏輯分析儀與被測LIN總線中的被測LIN控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測LIN控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測LIN控制器的測試模塊中除了被測LIN控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN協(xié)議的一致性要求。按照該方法構(gòu)建如附圖所示一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試系統(tǒng)。附圖中，測試模塊中的被測LIN控制器直接與上測試器交互信息，其RX及TX兩引腳接至邏輯分析儀探頭，Rx引腳與波形發(fā)生器的輸出端電連接。上位機、邏輯分析儀與波形發(fā)生之間可以進行相關(guān)信息的交互。上位機同時與上測試器進行信息交互。邏輯分析儀的觸發(fā)信號輸出電連接至波形發(fā)生器的觸發(fā)信號輸入。測試中，上位機將測試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測試 模塊，邏輯分析儀監(jiān)測TX及RX兩信號線上的信號序列，并根據(jù)TX信號線上的信號判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測試序列至RX信號線。TX及RX的全部信號都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機，上位機通過對下測試器傳回的信息與上測試器傳回的被測LIN控制器信息進行對比、分析，得出被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN協(xié)議一致性測試的結(jié)果。
權(quán)利要求
1.一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法，其特征是該方法為一種協(xié)同測試方法，對被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試通過對被測LIN總線中LIN控制器及其驅(qū)動軟件的測試實施，該方法直接利用邏輯分析儀與被測LIN總線中的被測LIN控制器RX、TX引腳電連接，波形發(fā)生器與被測LIN控制器TX引腳電連接，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測LIN控制器的測試模塊中除了被測LIN控制器的部分構(gòu)成上測試器，上測試器和下測試器協(xié)同工作。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所描述的下測試器，其特征是上位機將測試用例及相關(guān)命令發(fā)送至邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及測試模塊，邏輯分析儀監(jiān)測TX及RX兩信號線上的信號序列，并根據(jù)TX信號線上的信號判定是否滿足觸發(fā)條件從而觸發(fā)波形發(fā)生器輸出所要求的測試序列至RX信號線。TX及RX的全部信號都將由邏輯分析儀予以記錄，并傳送回上位機，上位機通過對下測試器傳回的信息與上測試器傳回的被測LIN控制器信息進行對比、分析，得出被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN總線協(xié)議一致性測試的結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于LIN(Local Interconnect Network)總線數(shù)據(jù)鏈路層測試的方法，該方法用來檢驗被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN協(xié)議的一致性要求。為了檢驗LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN協(xié)議一致性要求，本發(fā)明提出了一種LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層測試方法的協(xié)同測試方法，對于被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層的測試在具體實施上通過直接對被測LIN總線的LIN控制器的測試實現(xiàn)。該方法直接利用邏輯分析儀和波型發(fā)生器分別與被測LIN總線中的被測LIN控制器RX、TX引腳分別相連，邏輯分析儀、波形發(fā)生器以及對其進行控制、分析的上位機構(gòu)成下測試器，包含被測LIN控制器的測試模塊中除了被測LIN控制器的部分構(gòu)成上測試器，通過上測試器和下測試器的協(xié)同工作，檢驗被測LIN總線數(shù)據(jù)鏈路層是否滿足LIN總線協(xié)議的一致性要求。
文檔編號H04L12/26GK102801573SQ20111013900
公開日2012年11月28日 申請日期2011年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月26日
發(fā)明者莫莽, 劉矗, 李力, 吳寶紅 申請人:上海固泰科技有限公司