專利名稱：基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
基站(Basic Station)是固定在特定地點(diǎn)的高功率多信道雙向無線電發(fā)送機(jī)，應(yīng)用于無線網(wǎng)絡(luò)中?；旧漕l性能直接影響無線網(wǎng)絡(luò)的性能。所以，對(duì)基站射頻進(jìn)行自動(dòng)化的測(cè)試，以根據(jù)測(cè)試結(jié)果執(zhí)行相應(yīng)處理或優(yōu)化，對(duì)于保障無線網(wǎng)絡(luò)的性能是極為重要的?，F(xiàn)有技術(shù)中的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)是將測(cè)試項(xiàng)羅列在人機(jī)交互界面上，首先由用戶配置測(cè)試全局參數(shù)，例如包括循環(huán)次數(shù)、間隔時(shí)間和載波數(shù)等；然后由用戶從所羅列的多個(gè)測(cè)試項(xiàng)中選擇待測(cè)項(xiàng)并配置待測(cè)項(xiàng)所需要的性能參數(shù)。開始測(cè)試后，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)按照界面上由上至下的順序、根據(jù)用戶配置的測(cè)試全局參數(shù)、依次執(zhí)行對(duì)待測(cè) 項(xiàng)的測(cè)試。利用上述基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行基站射頻測(cè)試時(shí)，僅能按照單一的測(cè)試邏輯對(duì)測(cè)試項(xiàng)的進(jìn)行測(cè)試，不能應(yīng)用于復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)按照自定義的測(cè)試邏輯對(duì)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)；基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，還提供一種基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，包括獲取模塊，用于獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)；執(zhí)行模塊，用于采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)，通過獲取用戶自定義的以測(cè)試項(xiàng)作為葉節(jié)點(diǎn)的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，并采用樹型遍歷方式執(zhí)行對(duì)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試，能夠?qū)崿F(xiàn)按照用戶配置的任意測(cè)試邏輯對(duì)測(cè)試項(xiàng)的進(jìn)行測(cè)試，從而建立各測(cè)試項(xiàng)之間的關(guān)聯(lián)性。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法的流程示意圖。圖2為在基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中創(chuàng)建樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的流程圖。圖3為本發(fā)明基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。 圖I為本發(fā)明基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法的流程示意圖。如圖I所示，該基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法包括以下步驟步驟SI，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)；步驟S2，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。其中，樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)是指將待測(cè)試的內(nèi)容按照樹狀結(jié)構(gòu)定義。具體地，從樹狀結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始定義，根節(jié)點(diǎn)為O級(jí)節(jié)點(diǎn)；根節(jié)點(diǎn)的子結(jié)點(diǎn)為I級(jí)子節(jié)點(diǎn)，I級(jí)子節(jié)點(diǎn)的子節(jié)點(diǎn)為2級(jí)子節(jié)點(diǎn)，以此類推，直至定義樹狀結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，通過獲取用戶自定義的以測(cè)試項(xiàng)作為葉節(jié)點(diǎn)的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，并采用樹型遍歷方式執(zhí)行對(duì)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試，能夠?qū)崿F(xiàn)按照用戶配置的任意測(cè)試邏輯對(duì)測(cè)試項(xiàng)的進(jìn)行測(cè)試，從而建立各測(cè)試項(xiàng)之間的關(guān)聯(lián)性。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法中，用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述用戶設(shè)定的所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，和所述用戶設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息；相應(yīng)地，所述基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在樹型遍歷過程中，根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的配置信息進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，由于樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中不僅包括所述用戶設(shè)定的所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，還包括所述用戶設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息，所以能夠?qū)Σ煌臏y(cè)試項(xiàng)采用不同的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，例如對(duì)于關(guān)注度高的測(cè)試項(xiàng)設(shè)定較多的循環(huán)次數(shù)，而對(duì)于關(guān)注度低的測(cè)試項(xiàng)設(shè)定較少的循環(huán)次數(shù)，即實(shí)現(xiàn)針對(duì)測(cè)試項(xiàng)的個(gè)性化測(cè)試。解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)各測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試流程均需依照統(tǒng)一的測(cè)試全局參數(shù)，不能實(shí)現(xiàn)針對(duì)測(cè)試項(xiàng)的個(gè)性化測(cè)試的問題。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法中，用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述根節(jié)點(diǎn)、所述葉節(jié)點(diǎn)和位于所述根節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的I級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述根節(jié)點(diǎn)為測(cè)試工程，所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試?yán)?。其中，測(cè)試工程由多個(gè)彼此獨(dú)立的測(cè)試?yán)M成；測(cè)試?yán)前硕鄠€(gè)測(cè)試項(xiàng)的邏輯單元更進(jìn)一步地,上述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括位于所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的2級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述2級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試集。該測(cè)試集是測(cè)試項(xiàng)的分類集合，其包含屬于同一類別的全部測(cè)試項(xiàng)。下面以這種包含測(cè)試工程、測(cè)試?yán)?、測(cè)試集和測(cè)試項(xiàng)4級(jí)節(jié)點(diǎn)的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)為例，對(duì)在基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中創(chuàng)建樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的流程進(jìn)行說明。圖2為在基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中創(chuàng)建樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的流程圖。如圖2所示，可按照以下步驟創(chuàng)建樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)步驟Sll，創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試工程，并對(duì)測(cè)試工程進(jìn)行參數(shù)配置；具體地，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)例如通過人機(jī)交互界面向用戶提供創(chuàng)建測(cè)試工程的選項(xiàng)，用戶點(diǎn)擊該選項(xiàng)后，由基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)生成一個(gè)測(cè)試工程?；旧漕l自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)還向用戶彈出測(cè)試工程配置的界面，該界面用于獲取用戶為該測(cè)試工程配置的參數(shù)，例如測(cè)試工程循環(huán)次數(shù)和測(cè)試工程循環(huán)間隔時(shí)間。步驟S12，在該測(cè)試工程中添加測(cè)試?yán)?，并?duì)各測(cè)試?yán)M(jìn)行參數(shù)配置；具體地，用戶可為測(cè)試工程設(shè)置任意多個(gè)測(cè)試?yán)?。例如?dāng)用戶用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)擊測(cè) 試工程的圖標(biāo)時(shí)，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)彈出用戶可操作選項(xiàng)，例如包括刪除全部選項(xiàng)和增加測(cè)試?yán)x項(xiàng)。用戶用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊增加測(cè)試?yán)x項(xiàng)時(shí)，則測(cè)試工程的圖標(biāo)下方出現(xiàn)一個(gè)測(cè)試?yán)?jié)點(diǎn)，并彈出用于獲取用戶為該測(cè)試?yán)渲玫膮?shù)的界面。測(cè)試?yán)膮?shù)例如包括測(cè)試?yán)Q、測(cè)試?yán)h(huán)次數(shù)和測(cè)試?yán)h(huán)間隔時(shí)間。步驟S13，在各測(cè)試?yán)刑砑訙y(cè)試集，并對(duì)所添加的測(cè)試集進(jìn)行參數(shù)配置；具體地，與添加測(cè)試?yán)倪^程相類似，用戶可為測(cè)試?yán)x擇添加測(cè)試集。用戶用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)擊某一測(cè)試?yán)?jié)點(diǎn)，就會(huì)出現(xiàn)右鍵菜單，該菜單中包括添加、刪除、插入、復(fù)制和粘貼等操作，并且當(dāng)用戶將鼠標(biāo)指向添加時(shí)，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)向用戶提供可供添加的測(cè)試集列表，用戶通過點(diǎn)擊所要添加的測(cè)試集，即可將其添加為當(dāng)前測(cè)試?yán)淖庸?jié)點(diǎn)。類似地，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)彈出與所添加的測(cè)試集相對(duì)應(yīng)的配置界面，以獲取用戶輸入的各項(xiàng)配置參數(shù)。該配置界面包括測(cè)試集循環(huán)次數(shù)輸入框、測(cè)試集循環(huán)間隔時(shí)間輸入框、通道選擇輸入框及該測(cè)試集所涉及的各項(xiàng)參數(shù)的參數(shù)列表。步驟S14，從步驟S13中所添加的測(cè)試集中選取測(cè)試項(xiàng)，并對(duì)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行參數(shù)配置。具體地，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)向用戶提供各測(cè)試集所包括的測(cè)試項(xiàng)，以由用戶選擇添加至樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中。針對(duì)不同的測(cè)試項(xiàng)，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)還可提示用戶輸入不同的測(cè)試項(xiàng)參數(shù)，例如用于表征測(cè)試項(xiàng)是否處于指定范圍的上限值和下限值等。至此，形成了以測(cè)試工程作為根節(jié)點(diǎn)，并以測(cè)試?yán)y(cè)試集和測(cè)試項(xiàng)作為子節(jié)點(diǎn)的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)。完成上述樹形測(cè)試結(jié)構(gòu)的配置后，基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)響應(yīng)于用戶輸入的測(cè)試指令，采用樹型遍歷方式執(zhí)行測(cè)試。即從根節(jié)點(diǎn)開始，根據(jù)每級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息，來逐級(jí)、循環(huán)地遍歷子節(jié)點(diǎn)。對(duì)于同I級(jí)的多個(gè)子節(jié)點(diǎn)，例如測(cè)試工程包含多個(gè)測(cè)試?yán)龝r(shí)，按照從上至下的順序遍歷各測(cè)試?yán)＞唧w測(cè)試流程可概括為測(cè)試?yán)齀所包含的第I個(gè)測(cè)試集中的測(cè)試項(xiàng)(按照預(yù)設(shè)的第I個(gè)測(cè)試集的循環(huán)次數(shù)及間隔時(shí)間完成測(cè)試)一測(cè)試?yán)齀所包含的
第2個(gè)測(cè)試集中的測(cè)試項(xiàng)一......一按照預(yù)設(shè)的測(cè)試?yán)齀的循環(huán)次數(shù)及間隔時(shí)間進(jìn)行循
環(huán)一測(cè)試?yán)?所包含的第I個(gè)測(cè)試集中的測(cè)試項(xiàng)(按照預(yù)設(shè)的測(cè)試集循環(huán)次數(shù)及間隔時(shí)間
完成測(cè)試)一......一按照預(yù)設(shè)的最后一個(gè)測(cè)試?yán)难h(huán)次數(shù)及間隔時(shí)間進(jìn)行循環(huán)一按
照預(yù)設(shè)的測(cè)試工程的循環(huán)次數(shù)及間隔時(shí)間進(jìn)行測(cè)試工程的循環(huán)測(cè)試。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，能夠按照測(cè)試工程、測(cè)試?yán)?、測(cè)試集和測(cè)試項(xiàng)這種清晰的測(cè)試邏輯實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試，由于測(cè)試集是測(cè)試項(xiàng)的分類集合，所以能夠使得用戶根據(jù)需要選擇測(cè)試項(xiàng)時(shí)更為便利，并且提高測(cè)試邏輯的直觀性。。本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，雖然在上述實(shí)施例中以四級(jí)樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)為例進(jìn)行說明，但任意級(jí)數(shù)的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)及任意設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，均能夠用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法中，測(cè)試集包括射頻測(cè)試集、小區(qū)操作集、頻點(diǎn)遍歷集、介質(zhì)管理層(MML)操作集和串口操作集。其中，射頻測(cè)試集中包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)支持的全部射頻測(cè)試項(xiàng)；小區(qū)操作集中包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)支持的全部小區(qū)操作；頻點(diǎn)遍歷集包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)可支持的全部頻點(diǎn)指標(biāo);MML操作集包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)支持的全部MML操作；串口操作集包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)支持的全部串口操作。
進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法中，葉節(jié)點(diǎn)的配置信息包括所述測(cè)試項(xiàng)的性能參數(shù)，除所述葉節(jié)點(diǎn)外的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息包括循環(huán)次數(shù)和間隔時(shí)間。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，由于對(duì)除所述葉節(jié)點(diǎn)外的各級(jí)節(jié)點(diǎn)分別配置循環(huán)次數(shù)和間隔時(shí)間，并對(duì)各測(cè)試項(xiàng)配置所需的性能參數(shù)，實(shí)現(xiàn)了針對(duì)測(cè)試項(xiàng)的個(gè)性化、合理化測(cè)試。圖3為本發(fā)明基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，該基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)包括獲取模塊10，用于獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)；執(zhí)行模塊20，用于采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行測(cè)試的流程與上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法相同，故此處不再贅述。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，通過由獲取模塊10獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，并由執(zhí)行模塊20采用樹型遍歷方式執(zhí)行對(duì)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試，能夠?qū)崿F(xiàn)按照用戶配置的任意測(cè)試邏輯對(duì)測(cè)試項(xiàng)的進(jìn)行測(cè)試，從而建立各測(cè)試項(xiàng)之間的關(guān)聯(lián)性。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述用戶設(shè)定的所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，和所述用戶設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息；相應(yīng)地，所述執(zhí)行模塊在樹型遍歷過程中，根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的配置信息進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，由于樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中不僅包括所述用戶設(shè)定的所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，還包括所述用戶設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息，所以能夠?qū)Σ煌臏y(cè)試項(xiàng)采用不同的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，例如對(duì)于關(guān)注度高的測(cè)試項(xiàng)設(shè)定較多的循環(huán)次數(shù)，而對(duì)于關(guān)注度低的測(cè)試項(xiàng)設(shè)定較少的循環(huán)次數(shù)，即實(shí)現(xiàn)針對(duì)測(cè)試項(xiàng)的個(gè)性化測(cè)試。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述根節(jié)點(diǎn)、所述葉節(jié)點(diǎn)和位于所述根節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的I級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述根節(jié)點(diǎn)為測(cè)試工程，所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試?yán)?br> 更進(jìn)一步地,上述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括位于所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的2級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述2級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試集。該測(cè)試集是測(cè)試項(xiàng)的分類集合，其包含屬于同一類別的全部測(cè)試項(xiàng)。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，能夠按照測(cè)試工程、測(cè)試?yán)?、測(cè)試集和測(cè)試項(xiàng)這種清晰的測(cè)試邏輯實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試，由于測(cè)試集是測(cè)試項(xiàng)的分類集合，所以能夠使得用戶根據(jù)需要選擇測(cè)試項(xiàng)時(shí)更為便利，并且提高測(cè)試邏輯的直觀性。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法中，所述測(cè)試集包括射頻測(cè)試集、小區(qū)操作集、頻點(diǎn)遍歷集、MML操作集和串口操作集。進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，葉節(jié)點(diǎn)的配置信息包括所述測(cè)試項(xiàng)的性能參數(shù)，除所述葉節(jié)點(diǎn)外的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息包括循環(huán)次數(shù)和間隔時(shí)間。根據(jù)上述實(shí)施例的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，由于對(duì)除所述葉節(jié)點(diǎn)外的各級(jí)節(jié)點(diǎn)分別配置循環(huán)次數(shù)和間隔時(shí)間，并對(duì)各測(cè)試項(xiàng)配置所需的性能參數(shù)，實(shí)現(xiàn)了針對(duì)測(cè)試項(xiàng)的個(gè)性化、合理化測(cè)試。 最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，包括 基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)； 基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述用戶設(shè)定的所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，和所述用戶設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息；相應(yīng)地，所述基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在樹型遍歷過程中，根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的配置信息進(jìn)行測(cè)試。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述根節(jié)點(diǎn)、所述葉節(jié)點(diǎn)和位于所述根節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的I級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述根節(jié)點(diǎn)為測(cè)試工程，所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試?yán)?br> 4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括位于所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的2級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述2級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試集。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試集包括射頻測(cè)試集、小區(qū)操作集、頻點(diǎn)遍歷集、介質(zhì)管理層MML操作集和串口操作集。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述葉節(jié)點(diǎn)的配置信息包括所述測(cè)試項(xiàng)的性能參數(shù)，除所述葉節(jié)點(diǎn)外的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息包括循環(huán)次數(shù)和間隔時(shí)間。
7.一種基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括 獲取模塊，用于獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)； 執(zhí)行模塊，用于采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述用戶設(shè)定的所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)中的各級(jí)節(jié)點(diǎn)，和所述用戶設(shè)定的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息；相應(yīng)地，所述執(zhí)行模塊在樹型遍歷過程中，根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)的配置信息進(jìn)行測(cè)試。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)包括所述根節(jié)點(diǎn)、所述葉節(jié)點(diǎn)和位于所述根節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的I級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述根節(jié)點(diǎn)為測(cè)試工程，所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試?yán)?br> 10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)還包括位于所述I級(jí)子節(jié)點(diǎn)和所述葉節(jié)點(diǎn)之間的2級(jí)子節(jié)點(diǎn)，其中，所述2級(jí)子節(jié)點(diǎn)為測(cè)試集。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試集包括射頻測(cè)試集、小區(qū)操作集、頻點(diǎn)遍歷集、MML操作集和串口操作集。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述葉節(jié)點(diǎn)的配置信息包括所述測(cè)試項(xiàng)的性能參數(shù)，除所述葉節(jié)點(diǎn)外的各級(jí)節(jié)點(diǎn)的配置信息包括循環(huán)次數(shù)和間隔時(shí)間。
全文摘要
本發(fā)明提供基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)。該方法包括基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)獲取用戶自定義的樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，其中，所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的葉節(jié)點(diǎn)為測(cè)試項(xiàng)；基站射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)采用樹型遍歷方式、從所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)的根節(jié)點(diǎn)開始逐級(jí)遍歷所述樹型測(cè)試結(jié)構(gòu)，以對(duì)所述測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明提供的基站射頻自動(dòng)化測(cè)試方法及系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)根據(jù)用戶自定義的測(cè)試邏輯對(duì)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102843198SQ20111016800
公開日2012年12月26日 申請(qǐng)日期2011年6月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月21日
發(fā)明者羅征, 劉從亮, 鮑春來, 馬浩凱 申請(qǐng)人:鼎橋通信技術(shù)有限公司