專利名稱：一種lme的天線性能測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及天線性能測(cè)試技術(shù)，尤其涉及一種LME的天線性能測(cè)試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
近年來，隨著無線局域網(wǎng)的技術(shù)快速發(fā)展，產(chǎn)品逐漸成熟，無線局域網(wǎng)的應(yīng)用也日益豐富。越來越多的家庭用戶開始使用無線接入點(diǎn)組建方便快捷的家庭無線寬帶網(wǎng)絡(luò)；許多企業(yè)也紛紛在自己的辦公大樓內(nèi)布設(shè)無線局域網(wǎng)，為員工提供高效的無線寬帶接入；同時(shí)，電信運(yùn)營(yíng)商對(duì)無線局域網(wǎng)也給予了極大關(guān)注，國(guó)內(nèi)外各大運(yùn)營(yíng)商都積極地在機(jī)場(chǎng)、酒店、咖啡廳等公共區(qū)域鋪設(shè)公眾無線局域網(wǎng)，為廣大電信用戶提供無線寬帶接入服務(wù)。針對(duì)無線局域網(wǎng)的一些局限性，IEEE提出了新一代的無線局域網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)——802. Iln0 802. Iln與以往的802. lla/b/g等無線局域網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)相比，性能有了很大幅度的提高，網(wǎng)絡(luò)傳輸速度最高可達(dá)600Mbit/s，這讓無線局域網(wǎng)一躍進(jìn)入了高速網(wǎng)絡(luò)的行列。另外，智能天線技術(shù)也使無線局域網(wǎng)的覆蓋范圍延伸至幾平方公里。更重要的是，802. Iln使無線局域網(wǎng)獲得了更大的環(huán)境適應(yīng)能力。由于無線局域網(wǎng)的普及，無線局域網(wǎng)的必要設(shè)備——無線網(wǎng)卡雖小，卻牽出一個(gè)龐大的市場(chǎng)，只要在筆記本電腦(laptop)裝上一張無線網(wǎng)卡，只要是在有無線網(wǎng)絡(luò)覆蓋的區(qū)域，都可以自由自在的網(wǎng)上辦公或沖浪。這種看似遙不可及的夢(mèng)想正悄悄成為現(xiàn)代生活的組成元素?，F(xiàn)在，很多廠商都把無線網(wǎng)卡作為提升自身laptop科技含量的有力武器。因此，在無線網(wǎng)絡(luò)時(shí)代，laptop的命運(yùn)與無線網(wǎng)卡息息相關(guān)，任何應(yīng)用laptop上網(wǎng)的場(chǎng)合，幾乎都要用到無線網(wǎng)卡，使得無線網(wǎng)卡的需求與日劇增，對(duì)無線網(wǎng)卡的質(zhì)量的要求也越來越高，從而引發(fā)了無線網(wǎng)卡的研發(fā)和制造狂潮。目前，包含有無線網(wǎng)卡在內(nèi)的所有計(jì)算機(jī)附屬設(shè)備(LME，Laptop MountedEquipment)，是近期各大運(yùn)營(yíng)商和廠商研究的熱點(diǎn)。在LME的研發(fā)過程中，需要對(duì)LME進(jìn)行測(cè)試。對(duì)LEM的測(cè)試主要包括LME的射頻性能的測(cè)試、LME的天線性能的測(cè)試、LME軟件配置的測(cè)試等。在LME的測(cè)試過程中，需要將 LME承載于laptop中進(jìn)行。實(shí)際測(cè)試中，laptop的各種材質(zhì)、各種型號(hào)、內(nèi)部構(gòu)造各不相同， 各個(gè)端口在laptop表面的排列也不同，這些會(huì)對(duì)LME測(cè)試的結(jié)果產(chǎn)生影響，并且laptop是否攜帶有附屬器件如充電器、U盤、鼠標(biāo)等設(shè)備、以及l(fā)aptop屏幕的張角以及明暗設(shè)置等， 也會(huì)對(duì)LME測(cè)試產(chǎn)生影響。因此，需要在LME的測(cè)試過程中考慮到laptop的性能特性帶來的影響，才能更加準(zhǔn)確有效地測(cè)出LME的各種性能。目前，在現(xiàn)有的天線性能測(cè)試技術(shù)中，只提出了適用于移動(dòng)終端例如手機(jī)的天線性能測(cè)試方法，該方法主要是在暗室中，將待測(cè)終端通過無線電與用于模擬基站的系統(tǒng)模擬器連接，待測(cè)終端與系統(tǒng)模擬器通話時(shí)，由系統(tǒng)模擬器測(cè)出通話過程中待測(cè)終端的天線性能參數(shù)。測(cè)試過程中，待測(cè)終端不需要載體。因此，此方法未考慮載體對(duì)待測(cè)終端天線性能測(cè)試的影響。如果將該方法用于LME的天線性能測(cè)試，將會(huì)由于無法避免laptop對(duì)LME 天線性能測(cè)試的影響，而導(dǎo)致LME天線性能測(cè)試的結(jié)果不準(zhǔn)確，進(jìn)而無法準(zhǔn)確評(píng)估出LME的天線性能。因此，需要提出一種適用于LME、并且能夠準(zhǔn)確測(cè)試LME天線性能的新的方法。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種LME的天線性能測(cè)試的方法及系統(tǒng)， 以解決現(xiàn)有天線性能測(cè)試不能夠適用于LME的天線性能測(cè)試的問題。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的一種計(jì)算機(jī)附屬設(shè)備(LME)的天線性能測(cè)試方法，所述方法包括將裝載有置于暗室中的待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)，與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通；在所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。所述將裝載有待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通，具體包括設(shè)置所述系統(tǒng)模擬器的工作參數(shù)；將所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上，并為所述計(jì)算機(jī)供電；將所述暗室中的所述LME與所述系統(tǒng)模擬器通過無線電連通。所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上的具體方式包括將所述待測(cè)LME通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上；或者，將所述待測(cè)LME通過連接線連接在所述計(jì)算機(jī)上。所述的將所述待測(cè)LME通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上，具體為將所述待測(cè)LME通過USB接口橫插或豎插或折插的方式插入到所述計(jì)算機(jī)上。所述連接線具體為外包有防電磁輻射材料的連接線，或者，采用電磁輻射小的原料制成的連接線。為所述計(jì)算機(jī)供電的具體方式包括將所述計(jì)算機(jī)通過外置的電源線外接電源來供電；通過為所述計(jì)算機(jī)配備電池，來為所述計(jì)算機(jī)供電。在所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)，包括設(shè)置所述計(jì)算機(jī)的工作參數(shù)；將所述系統(tǒng)模擬器調(diào)整在環(huán)回模式下；所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述基站模擬之間進(jìn)行連續(xù)性的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)交換，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。設(shè)置所述計(jì)算機(jī)的工作參數(shù)包括但不限于設(shè)置計(jì)算機(jī)的網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)參數(shù)、操作系統(tǒng)、以及背景燈參數(shù)。一種LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、系統(tǒng)模擬器和待測(cè)LME，所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上，所述計(jì)算機(jī)與所述系統(tǒng)模擬器連通，其中，計(jì)算機(jī)，用于通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信；系統(tǒng)模擬器，用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站，并在與所述計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。所述待測(cè)LME通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上，或者，通過連接線裝載在所述計(jì)算機(jī)上。所述待測(cè)LME具體為待測(cè)網(wǎng)卡。所述計(jì)算機(jī)，具體還包括用于外接電源的外置電源線，和/或用于為所述計(jì)算機(jī)供電的電池。
本發(fā)明提出了一種適用于LME的天線性能測(cè)試方法及系統(tǒng)，通過將待測(cè)LME裝載在計(jì)算機(jī)上，并將計(jì)算機(jī)與系統(tǒng)模擬器連通，在計(jì)算機(jī)通過待測(cè)LME與系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信時(shí)，由系統(tǒng)模擬器測(cè)得所述在暗室中的待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。本發(fā)明還通過設(shè)置待測(cè)LME裝載在計(jì)算機(jī)的方式、設(shè)置計(jì)算機(jī)的工作參數(shù)、以及將系統(tǒng)模擬器調(diào)整在環(huán)回模式， 確保LME天線性能測(cè)試能夠順利完成，有效減少計(jì)算機(jī)對(duì)LME天線性能測(cè)試的影響，測(cè)得準(zhǔn)確的LME天線性能參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)LME天線性能的準(zhǔn)確評(píng)估。


圖1為本發(fā)明的LME天線性能測(cè)試系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明的LME天線性能測(cè)試方法的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖3為待測(cè)網(wǎng)卡通過USB接口插入到計(jì)算機(jī)的一種方式；圖4為待測(cè)網(wǎng)卡通過USB接口插入到計(jì)算機(jī)的另一種方式；圖5為待測(cè)網(wǎng)卡通過USB接口插入到計(jì)算機(jī)的另一種方式；圖6為待測(cè)網(wǎng)卡通過USB接口插入到計(jì)算機(jī)的另一種方式。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的一種LME的天線性能測(cè)試方法，參照?qǐng)D1所示，主要包括以下步驟步驟101 將裝載有置于暗室中的待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)，與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通；步驟102 在所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的過程中， 測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。本發(fā)明的一種LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，參照?qǐng)D2所示，主要包括計(jì)算機(jī)21、系統(tǒng)模擬器22和待測(cè)LME23，其中，待測(cè)LME23裝載在計(jì)算機(jī)21上，系統(tǒng)模擬器22與計(jì)算機(jī) 21連通，用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站。測(cè)試時(shí)，計(jì)算機(jī)21通過待測(cè)LME23與系統(tǒng)模擬器22進(jìn)行通信，測(cè)得所述待測(cè)LME23的天線性能參數(shù)。其中，所述計(jì)算機(jī)，具體還可以包括用于外接電源的外置電源線，和/或用于為所述計(jì)算機(jī)供電的電池。這里，所述的計(jì)算機(jī)具體可以是能夠通過待測(cè)LME與系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的任意一種設(shè)備，可以是一般的手提電腦、臺(tái)式電腦，掌上電腦，也可以是專門為L(zhǎng)ME天線性能測(cè)試制造的、具有上述功能的簡(jiǎn)化的設(shè)備，該設(shè)備可以與計(jì)算機(jī)的電磁輻射特性相似。其他的，如客戶終端設(shè)備(CPE，CustomerPremise Equipment)等。這里，所述的LME具體可以是網(wǎng)卡，也可以是數(shù)據(jù)卡等具有天線的計(jì)算機(jī)附屬設(shè)備。其中，在暗室中，將裝載有待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通之前，需要首先設(shè)置初始的測(cè)試環(huán)境，具體地，設(shè)置所述暗室的工作參數(shù)，如暗室的溫度、電壓等參數(shù)，以使得所述暗室能夠達(dá)到實(shí)際測(cè)試的需求。之后，將所述待測(cè)LME和/或用于裝載所述待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)置于所述暗室中。在所述暗室中，將裝載有待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通，具體過程如下設(shè)置所述系統(tǒng)模擬器的物理信道參數(shù)、電壓、頻率等工作參數(shù)；然后，將在置于暗室中的所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上，并為所述計(jì)算機(jī)供電；最后，將所述計(jì)算機(jī)與所述系統(tǒng)模擬器通過無線電連通，使得所述計(jì)算機(jī)與所述系統(tǒng)模擬器之間能夠進(jìn)行通信；。實(shí)際測(cè)試過程中，所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上，具體可以通過以下兩種方式實(shí)現(xiàn)通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上、通過連接線連接在所述計(jì)算機(jī)上。其中，所述接口可以是USB接口，也可以是專用的LME接口如網(wǎng)卡接口等，具體地，采用將待測(cè)LME通過接口插入到計(jì)算機(jī)的方式，在測(cè)試時(shí)，需要將裝載有待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)放置在暗室的測(cè)試臺(tái)面上，這時(shí)，需要選擇合適的插入方式，以更好的避免計(jì)算機(jī)對(duì)待測(cè)LME天線性能測(cè)試的影響；采用連接線將待測(cè)LME連接在所述計(jì)算機(jī)上的方式，在測(cè)試時(shí)，可以只將待測(cè)LME置于暗室的測(cè)試臺(tái)面上，將計(jì)算機(jī)放置在暗室外，這樣，可以有效避免計(jì)算機(jī)的電磁輻射對(duì)待測(cè) LME天線性能測(cè)試的影響，但需要選取電磁輻射小的原料制成的連接線或者在連接線外包上防電磁輻射的材料，這樣，能夠避免連接線的電磁輻射對(duì)待測(cè)LME天線性能測(cè)試產(chǎn)生影響。例如，所述連接線的內(nèi)部具體可以是一般常用的金屬線纜，如銅纜，連接線的外部包裹有絕緣材料如橡膠等。實(shí)際應(yīng)用中，對(duì)于網(wǎng)卡的天線性能測(cè)試，不同插入方式會(huì)影響網(wǎng)卡天線性能的測(cè)試結(jié)果。因此，通過USB接口將待測(cè)的網(wǎng)卡插入到所述計(jì)算機(jī)時(shí)，需要選取合適的USB插入方式?，F(xiàn)有網(wǎng)卡的USB插入方式包括橫插、豎插、折插等，具體地，測(cè)試之前，可以通過對(duì)各種不同的插入方式進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，找到適合當(dāng)前測(cè)試需求的USB插入方式。例如，表1列舉了待測(cè)網(wǎng)卡采用各不同USB插入方式與計(jì)算機(jī)連接時(shí)，測(cè)得的待測(cè)網(wǎng)卡的天線性能參數(shù)，其中，如圖3所示，Casel表示待測(cè)網(wǎng)卡與計(jì)算機(jī)鍵盤平面平行插右上角；如圖4所示，Case2表示待測(cè)網(wǎng)卡與鍵盤平面平行插左下角；如圖5所示，Case3表示待測(cè)網(wǎng)卡與計(jì)算機(jī)鍵盤平面垂直插右上角；如圖6所示，Case4表示待測(cè)網(wǎng)卡與計(jì)算機(jī)鍵盤平面垂直插左下角。
權(quán)利要求
1.一種計(jì)算機(jī)附屬設(shè)備(LME)的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括將裝載有置于暗室中的待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)，與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通；在所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，所述將裝載有待測(cè) LME的計(jì)算機(jī)與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通，具體包括設(shè)置所述系統(tǒng)模擬器的工作參數(shù)；將所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上，并為所述計(jì)算機(jī)供電；將所述暗室中的所述LME與所述系統(tǒng)模擬器通過無線電連通。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上的具體方式包括將所述待測(cè)LME通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上；或者，將所述待測(cè)LME通過連接線連接在所述計(jì)算機(jī)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，所述的將所述待測(cè) LME通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上，具體為將所述待測(cè)LME通過USB接口橫插或豎插或折插的方式插入到所述計(jì)算機(jī)上。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，所述連接線具體為 外包有防電磁輻射材料的連接線，或者，采用電磁輻射小的原料制成的連接線。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，為所述計(jì)算機(jī)供電的具體方式包括將所述計(jì)算機(jī)通過外置的電源線外接電源來供電；通過為所述計(jì)算機(jī)配備電池，來為所述計(jì)算機(jī)供電。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，在所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)，包括設(shè)置所述計(jì)算機(jī)的工作參數(shù)；將所述系統(tǒng)模擬器調(diào)整在環(huán)回模式下；所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述基站模擬之間進(jìn)行連續(xù)性的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)交換，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的LME的天線性能測(cè)試方法，其特征在于，設(shè)置所述計(jì)算機(jī)的工作參數(shù)包括但不限于設(shè)置計(jì)算機(jī)的網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)參數(shù)、操作系統(tǒng)、以及背景燈參數(shù)。
9.一種LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、系統(tǒng)模擬器和待測(cè)LME，所述待測(cè)LME裝載在所述計(jì)算機(jī)上，所述計(jì)算機(jī)與所述系統(tǒng)模擬器連通，其中，計(jì)算機(jī)，用于通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信；系統(tǒng)模擬器，用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站，并在與所述計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè) LME的天線性能參數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測(cè)LME通過接口插入到所述計(jì)算機(jī)上，或者，通過連接線裝載在所述計(jì)算機(jī)上。
11.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測(cè)LME 具體為待測(cè)網(wǎng)卡。
12.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)，具體還包括用于外接電源的外置電源線，和/或用于為所述計(jì)算機(jī)供電的電池。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種LME的天線性能測(cè)試方法，該方法主要包括將裝載有置于暗室中的待測(cè)LME的計(jì)算機(jī)與用于模擬網(wǎng)絡(luò)基站的系統(tǒng)模擬器連通；在所述計(jì)算機(jī)通過所述待測(cè)LME與所述系統(tǒng)模擬器進(jìn)行通信的過程中，測(cè)得所述待測(cè)LME的天線性能參數(shù)。本發(fā)明還公開了一種LME的天線性能測(cè)試系統(tǒng)，本發(fā)明能夠確保LME天線性能測(cè)試的順利完成，并有效減少計(jì)算機(jī)對(duì)LME天線性能測(cè)試的影響，測(cè)得準(zhǔn)確的LME天線性能參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)LME天線性能的準(zhǔn)確評(píng)估。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102281111SQ201010207488
公開日2011年12月14日 申請(qǐng)日期2010年6月13日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月13日
發(fā)明者王曼 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司