專利名稱：圖像讀取設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種圖像讀取設(shè)備，其在將讀取原稿搬送去副掃描方向的同 時(shí)、在規(guī)定的表面讀取位置處將縮小光學(xué)系統(tǒng)所構(gòu)成的表面讀取光學(xué)系統(tǒng)的照 明光照射到讀取原稿的表面里，并在通過(guò)所述表面讀取光學(xué)系統(tǒng)將該反射光引 入行圖像探測(cè)器里，以行為單位地讀取所述讀取原稿的表面圖像，與此同時(shí)， 通過(guò)配設(shè)在比所述表面讀取位置更靠搬送方向下游側(cè)的背面讀取位置里的密 接探測(cè)器，以行單位來(lái)讀取所述讀取原稿的背面的圖像后，通過(guò)所述表面讀取 光學(xué)系統(tǒng)將設(shè)置在規(guī)定位置里的基準(zhǔn)白板圖像導(dǎo)入到所述行圖像探測(cè)器里，從 而生成"黑點(diǎn)"校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
背景技術(shù)：
一般地，迸行走紙(sheet through)讀取的圖像讀取設(shè)備，是在將讀取原 稿沿副掃描方向搬送的同時(shí)，在規(guī)定的讀取位置處對(duì)讀取原稿的讀取面進(jìn)行照 明，并將其反射光通過(guò)縮小光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)入到CCD行圖像探測(cè)器里，來(lái)以行為單 位地對(duì)讀取原稿的表面圖像進(jìn)行讀取。
還有，為了對(duì)作為照明而使用的燈的光量分布進(jìn)行處理，對(duì)l行的讀取水 平進(jìn)行了正規(guī)化的"黑點(diǎn)"校正。另外，在進(jìn)行"黑點(diǎn)"校正時(shí)，設(shè)置了用于 形成基準(zhǔn)白圖像的基準(zhǔn)白板，在讀取原稿圖像之前先讀取該基準(zhǔn)白板的圖像， 來(lái)作成"黑點(diǎn)"校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
通常，該"黑點(diǎn)"校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，在每次的原稿讀取時(shí)，都要在原稿 圖像的讀取之前來(lái)進(jìn)行。因此，在讀取多張?jiān)鍟r(shí)，就會(huì)在作成用于"黑點(diǎn)" 校正的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的處理上花時(shí)間，從而限制了生產(chǎn)性的提高。
為了解決該問(wèn)題，以往采取的是，不是在每張?jiān)宥歼M(jìn)行讀取用于作成"黑 點(diǎn)"校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的基準(zhǔn)白板的動(dòng)作，而是在每幾張?jiān)逯筮M(jìn)行一次， 或者僅在每幾分鐘后進(jìn)行一次，除此之外的原稿(以下稱為"非黑點(diǎn)校正原稿 讀取時(shí)")，通過(guò)上一次取得的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行"黑點(diǎn)"校正，從而來(lái)省略基 準(zhǔn)白板的讀取動(dòng)作，由此來(lái)縮短讀取動(dòng)作時(shí)間。這里，將這種"黑點(diǎn)"校正的方法稱為"間歇黑點(diǎn)校正法"。
專利文獻(xiàn)1:特開(kāi)2002-300394號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
然而，在連續(xù)讀取多張?jiān)鍟r(shí)，由于燈的連續(xù)點(diǎn)亮而導(dǎo)致的發(fā)熱會(huì)降低短 期的光量，從而引起原稿讀取水平的下降，使用相同的"黑點(diǎn)"校正基準(zhǔn)數(shù)據(jù) 來(lái)進(jìn)行黑點(diǎn)校正時(shí)，就可能會(huì)導(dǎo)致最初的原稿和最后的原稿之間的輸出圖像中 發(fā)生濃度差的問(wèn)題。
本發(fā)明鑒于上述情況，目的在于提供一種圖像讀取設(shè)備，即使在采用間歇 黑點(diǎn)校正法的時(shí)候，也可以進(jìn)行適當(dāng)?shù)膱D像讀取。
本發(fā)明的技術(shù)方案1提供一種圖像讀取設(shè)備，其在將讀取原稿沿副掃描方 向搬送的同時(shí)，在規(guī)定的表面讀取位置處將來(lái)自于縮小光學(xué)系統(tǒng)的表面讀取光 學(xué)系統(tǒng)的照明光照射到讀取原稿的表面里，并將其反射光通過(guò)所述表面讀取光 學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)入到行圖像探測(cè)器里后，在以行為單位讀取所述讀取原稿表面的圖像 的同時(shí)，通過(guò)配設(shè)在比所述表面讀取位置更靠搬送方向下游側(cè)里的背面讀取位 置里的密接探測(cè)器，將所述讀取原稿的背面的圖像讀取為行單位，然后將設(shè)置 在規(guī)定位置里的基準(zhǔn)白板圖像通過(guò)所述表面讀取光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)入到所述行圖像 探測(cè)器里，從而生成黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，其特征在于在所述縮小光學(xué)系 統(tǒng)里，設(shè)置了將所述照明光反射后照射到讀取位置里的反射部件，和轉(zhuǎn)動(dòng)所述 反射部件，將所述反射部件的反射光導(dǎo)向所述密接探測(cè)器方向的反射部件搖動(dòng) 機(jī)構(gòu)，與此同時(shí)，在所述密接探測(cè)器里，設(shè)置有將所述反射部件的反射光轉(zhuǎn)動(dòng) 到可以受光方式里的密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，還設(shè)置有檢測(cè)裝置，其在多頁(yè)讀取 原稿的讀取間隔中，在通過(guò)所述反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)將所述反射部件的反射光導(dǎo) 向所述密接探測(cè)器方向的同時(shí)，通過(guò)所述密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，通過(guò)所述密接 探測(cè)器來(lái)接受所述反射部件的反射光，并檢測(cè)該受光水準(zhǔn)，還設(shè)置有基準(zhǔn)數(shù)據(jù) 校正裝置，其根據(jù)所述檢測(cè)到的受光基準(zhǔn)來(lái)對(duì)所述黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行 水準(zhǔn)校正。
本發(fā)明的技術(shù)方案2根據(jù)技術(shù)方案1所述的光量檢測(cè)設(shè)備，其特征在于 所述密接數(shù)據(jù)的增益可以在背面讀取，和通過(guò)所述檢測(cè)裝置的受光水準(zhǔn)檢測(cè)之 間進(jìn)行切換。
本發(fā)明的技術(shù)方案3根據(jù)技術(shù)方案1或2所述的光量檢測(cè)設(shè)備，其特征在于所述檢測(cè)裝置當(dāng)所述檢測(cè)到的受光水準(zhǔn)小于規(guī)定的閾值時(shí)，就輸出錯(cuò)誤發(fā) 生。
因此，根據(jù)本發(fā)明，隨著燈光量的變動(dòng)，黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)得到校正， 因?yàn)檫@種經(jīng)常性的適當(dāng)校正，就能夠確保所讀取圖像的品質(zhì)。


參照下面對(duì)附圖詳細(xì)的說(shuō)明可以更快 更好地理解對(duì)公開(kāi)技術(shù)及其特征 的完整描述。其中，
圖1是本發(fā)明的實(shí)施例涉及的圖像讀取設(shè)備1的概要構(gòu)成圖。
圖2是用于說(shuō)明通常的讀取方式和光量檢測(cè)方式的概要圖。
圖3是本實(shí)施例涉及的圖像讀取設(shè)備1的信號(hào)處理系統(tǒng)要部的模塊示意圖。
圖4所示是密接探測(cè)器構(gòu)成的模塊示意圖。
圖5所示是用于說(shuō)明走紙多頁(yè)單面讀取動(dòng)作時(shí)的時(shí)機(jī)流程圖。
圖6所示是動(dòng)作的一個(gè)流程示意圖。
圖7所示是黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)校正方式的例示圖。
圖8所示是基準(zhǔn)白板讀取數(shù)據(jù)和增益值之間的關(guān)系概要圖。
具體實(shí)施例方式
以下參考圖示說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式。
圖1所示是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例所涉及的圖像讀取設(shè)備1的概要構(gòu)成該圖 像讀取設(shè)備1包括將讀取原稿從原稿臺(tái)2 —頁(yè)一頁(yè)分離后搬送到讀取位置RL 去的自動(dòng)原稿搬送組件la，和對(duì)讀取位置處的原稿圖像1行1行地讀取的圖像 讀取組件lb。這里，圖像讀取組件lb包括頁(yè)紙掃描型(走紙讀取)的兩而原稿 讀取功能，和書(shū)本掃描型的原稿讀取功能之2種讀取功能。另外，本發(fā)明因?yàn)?主要涉及頁(yè)紙掃描型的原稿讀取功能，在以下的說(shuō)明中，省略對(duì)書(shū)本掃描型的 原稿讀取功能的說(shuō)明。
在自動(dòng)原稿搬送組件la中，載置于原稿臺(tái)2里的讀取原稿PP中，位于最 上面的原稿通過(guò)揀取滾子3被取出后，送到分離組件4里，然后通過(guò)該分離組 件4被一頁(yè)一頁(yè)地分離后送到送出滾子5里。該送出滾子5通過(guò)導(dǎo)向部件GG 將]頁(yè)讀取原稿送出到搬送方向里。由此，讀取原稿PP被夾持到搬送輥6和搬送鼓7里，并以密接于搬送鼓 7的表面的狀態(tài)被搬送，在讀取位置RL的跟前被保持在搬送輥RR1里，通過(guò)讀 取位置RL被保持在搬送輥RR2里，然后，通過(guò)搬送導(dǎo)向被搬送到排出輥8里， 經(jīng)過(guò)排出輥8后被排紙到排紙盤(pán)9里。
這里，在排出輥8的跟前設(shè)置有用于讀取該讀取原稿PP的背面圖像的密 接探測(cè)器CS。
另外，在原稿讀取組件lb中，對(duì)應(yīng)于讀取位置RL還配設(shè)了用于進(jìn)行頁(yè)紙 掃描的接觸玻璃10。
另外，在接觸玻璃10的右側(cè)里，配設(shè)了用于書(shū)本掃描的接觸玻璃]]。這 邁.，基準(zhǔn)白板WL用于構(gòu)成黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)白圖像。
燈12在讀取位置RL處對(duì)讀取原稿PP的原稿面進(jìn)行照明，反射部件13用 于將燈12的照明光反射到讀取位置RL里。另外，反射部件13的長(zhǎng)度方向的 反射率是變化的，以此來(lái)一定程度上地解決燈]2的光量分布(未圖示)。亦即， 反射部件13具有對(duì)燈12的光量曲線分布進(jìn)行調(diào)節(jié)的功能。
然后，從讀取位置RL來(lái)的反射光，依次經(jīng)過(guò)第]反光鏡14、第2反光鏡 16以及第3反光鏡17等的反光后，被導(dǎo)入到透鏡]9里，通過(guò)透鏡]9的聚焦 后，被照射到設(shè)置在基板20里的CCD行圖像探測(cè)器21里。
另外，燈12、反射部件]3以及第1反光鏡]4搭載于第]移動(dòng)體15,在 副掃描方向SS上作往返移動(dòng)的同時(shí)，第2反光鏡]6以及第3反光鏡17搭載 于第2移動(dòng)體18，在副掃描方向SS上作往返移動(dòng)。另外，為了維持從接觸玻 璃10到CCD行圖像探測(cè)器21之間的光路長(zhǎng)度，第2移動(dòng)體18的移動(dòng)速度是 第1移動(dòng)體15的1/2。
還有，掃描馬達(dá)22用以驅(qū)動(dòng)第1移動(dòng)體15以及第2移動(dòng)體18。
另外，在本實(shí)施例的反射部件13里，為了使燈12的反射光能夠偏向去密 接探測(cè)器CS，而設(shè)置了反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)(未圖示)，以使得反射部件13能夠 在通常的讀取方式和通過(guò)密接探測(cè)器CS來(lái)檢測(cè)燈12的光量吋的光量檢測(cè)方式 等2種狀態(tài)之間變換位置。
另外，密接探測(cè)器CS為了能夠接受來(lái)自于反射部件13的反射光，而設(shè)置 了密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)(未圖示)，密接探測(cè)器CS能夠在通常的讀取方式和用 以接受燈12的反射光后檢測(cè)其光量之光量檢測(cè)方式等2種狀態(tài)之間變換位置。
還有，如圖2所示，當(dāng)反射部件13和密接探測(cè)器CS位于光量檢測(cè)方式的狀態(tài)吋，位于從反射部件13至密接探測(cè)器CS之光路上的搬送導(dǎo)向部件LL和搬送輥RR2，通過(guò)未圖示的搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，被移動(dòng)為可以躲避開(kāi)上述光路。對(duì)應(yīng)于上述反射部件13以及密接探測(cè)器CS的例子，在此將位于光路上的位置稱為"通常的讀取方式"，將避開(kāi)于光路上的狀態(tài)稱為"光量檢測(cè)方式"。還有，該狀態(tài)時(shí)，在固定接觸玻璃10的鑄模部件10a里設(shè)置有狹縫(未圖示)，以使得來(lái)自于反射部件13的光束能夠通過(guò)后去密接探測(cè)器CS。
圖3所示是本實(shí)施例涉及的圖像讀取設(shè)備1的信號(hào)處理系統(tǒng)要部的例示。另外，因?yàn)楸景l(fā)明關(guān)注的是單面讀取模式時(shí)的動(dòng)作，所以在此省略了關(guān)于兩面讀取模式吋的動(dòng)作的圖示以及說(shuō)明。
在該圖中，CCD驅(qū)動(dòng)部31用以驅(qū)動(dòng)CCD行圖像探測(cè)器2]的l賣取動(dòng)作，從CCD行圖像探測(cè)器21輸出的模擬讀取信號(hào)在模擬處理部32，經(jīng)過(guò)規(guī)定的模擬處理后，通過(guò)模擬/數(shù)字變換器33被變換到對(duì)應(yīng)于規(guī)定比特?cái)?shù)的數(shù)字式讀取信號(hào)里，通過(guò)平均化回路在副掃描方向里被平均后，加入到黑點(diǎn)校正部35以及黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36里。
黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36用以制作黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，最初抽取的1行的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)保存到存儲(chǔ)器37里。還有，黑點(diǎn)校正部35將用亍黑點(diǎn)校正處理的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)保存到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器38里。
黑點(diǎn)校正部35使用保存在基準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器38里的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行規(guī)定的黑點(diǎn)校正處理，其輸出在圖像處理部39里經(jīng)過(guò)規(guī)定的數(shù)字圖像處理(例如伽瑪校正或MTF校正等)后，介由圖像數(shù)據(jù)輸出部40被輸出到外部設(shè)備里。
圖像讀取控制部41在分別對(duì)CCD驅(qū)動(dòng)部31、模擬處理部32、模擬./數(shù)字變換器33、平均化回路34、密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)42、搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)43、反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)44、驅(qū)動(dòng)燈12的燈驅(qū)動(dòng)部12d、驅(qū)動(dòng)密接探測(cè)器CS的密接探測(cè)器驅(qū)動(dòng)部CSd的動(dòng)作進(jìn)行控制的同時(shí)，將設(shè)定讀取增益的增益信號(hào)S(;輸出到密接探測(cè)器CS里。
另外，操作顯示部45包括用戶用來(lái)操作該圖像讀取設(shè)備1的操作鍵等的操作裝置，以及用于向用戶顯示各種情報(bào)的液晶顯示器等的顯示裝置，其在圖像讀取控制部41的控制下動(dòng)作。另外，掃描馬達(dá)22的動(dòng)作由圖像讀取控制部41來(lái)控制后，第1移動(dòng)體15以及第2移動(dòng)體18在副掃描方向上的移動(dòng)得到控制(省略圖示)。
圖4所示是密接探測(cè)器CS的一個(gè)構(gòu)成例。在該圖中，探測(cè)器部51包括CCD行圖像探測(cè)器(未圖示)以及發(fā)光二極管 列(省略圖示)，LED控制部52用于控制探測(cè)器部51的發(fā)光二極管列的點(diǎn)燈。
由探測(cè)器部51的CCD行圖像探測(cè)器輸出的模擬讀取信號(hào)，在鉗位(clamp) 電路53里被鑰位的同時(shí)，被輸入到取樣/保持電路54里后取樣/保持，其輸 出通過(guò)可變?cè)鲆娣糯笃?5增幅后，在模擬/數(shù)字變換器56處變換成對(duì)應(yīng)的規(guī) 定比特?cái)?shù)的數(shù)字讀取信號(hào)，再被輸出到下一級(jí)電路里。
另外，鉗位電路53、取樣/保持電路54、可變?cè)鲆娣糯笃?5以及模擬/ 數(shù)字變換器56被裝入到1個(gè)信號(hào)處理電路57 (例如由定制LST設(shè)備或ASIC設(shè) 備來(lái)構(gòu)成)里。
還有，可變?cè)鲆娣糯笃?5的增益通過(guò)來(lái)自于圖像讀取控制部4]的增益信 號(hào)SG而得到控制。
圖5所示是對(duì)走紙時(shí)多張頁(yè)紙進(jìn)行單面讀取時(shí)的時(shí)機(jī)流程圖，圖6所示是 該動(dòng)作的一個(gè)例子。
這里，角度控制信號(hào)是圖像讀取控制部4]輸出到搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)43以 及反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)44里的信號(hào)，處于"是"(assert)狀態(tài)(圖中高水準(zhǔn)il) 時(shí)，通過(guò)搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)43以及反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)44，搬送導(dǎo)向部件LL 和搬送輥肌2以及反射部件]3分別處于光量檢測(cè)方式，當(dāng)處于"非"(negate) 狀態(tài)(圖中低水準(zhǔn)U時(shí)，通過(guò)搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)43以及反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)44， 搬送導(dǎo)向部件LL和搬送輥RR2以及反射部件13分別處于通常的讀取方式。
另外，對(duì)于密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)42來(lái)說(shuō)，在待機(jī)時(shí)，走紙多頁(yè)單面讀取 時(shí)是將密接探測(cè)器CS常時(shí)設(shè)定在光量檢測(cè)方式里的，以使得燈的照明光可以 隨時(shí)射入。
這里，在走紙多頁(yè)單面讀取中，動(dòng)作開(kāi)始時(shí)首先進(jìn)行密接探測(cè)器CS的讀 取動(dòng)作(圖像探測(cè)器原稿領(lǐng)域副掃描有效信號(hào)處于"是"(assert)狀態(tài)，參照 圖5(d))，對(duì)燈12的光量進(jìn)行監(jiān)測(cè)，密接探測(cè)器CS的輸出值Ll(x)通過(guò)黑點(diǎn) 校正基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36被保存到存儲(chǔ)器37(步驟IOI)里。其成為該動(dòng)作的燈 12的初期光量(基準(zhǔn)值)。
之后，第1移動(dòng)體15移動(dòng)至基準(zhǔn)白板WL的下方(步驟102)，來(lái)取得第一 次的基準(zhǔn)白板實(shí)測(cè)值數(shù)據(jù)D(x)(步驟103:白板領(lǐng)域副掃描有效信號(hào)(圖5(h)
處于"是"狀態(tài)))。
在該步驟]02和步驟103之間，通過(guò)搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)43以及反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)44,反射部件13以及搬送導(dǎo)向部件LL和搬送輥RR2分別處于通常的讀取方式(角度控制信號(hào)為"非"狀態(tài))。
此時(shí)所取得的基準(zhǔn)白板實(shí)測(cè)值數(shù)據(jù)通過(guò)黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36被保存到存儲(chǔ)器37里。
接下來(lái)，移動(dòng)體移動(dòng)到原本位置(步驟104)里，并進(jìn)行CCD行圖像探測(cè)器21的讀取動(dòng)作(步驟105)。此時(shí)，黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36將保存到存儲(chǔ)器37里的數(shù)據(jù)原樣地保存到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器38里，由此，對(duì)于第一頁(yè)原稿數(shù)據(jù)，黑點(diǎn)校正對(duì)所取得的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)不進(jìn)行任何校正計(jì)算，只進(jìn)行相同于以往的黑點(diǎn)校正(步驟106)。
第一頁(yè)原稿讀取結(jié)束后，在去讀取第二頁(yè)原稿數(shù)據(jù)為止的紙與紙之間(步驟107的結(jié)果為不可)，再次將角度控制信號(hào)設(shè)置于"是"狀態(tài)，同吋，通過(guò)搬送部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)43以及反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)44，使搬送導(dǎo)向部件LL和搬送輥RR2，以及反射部件]3分別處于光量檢測(cè)方式。
與此同時(shí)，與動(dòng)作開(kāi)始時(shí)同樣地，在紙與紙之間也使密接探測(cè)器CS原稿領(lǐng)域副掃描有效信號(hào)處于"是"狀態(tài)，并通過(guò)密接探測(cè)器CS對(duì)燈12的光量進(jìn)行監(jiān)測(cè)，由此，輸出值L2(x)從密接探測(cè)器CS輸出(步驟]OS)后，被輸入到黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36里。
這里，黑點(diǎn)校正基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36求得保存在存儲(chǔ)器37里的Ll (x)的比例，將該校正系數(shù)加到同樣保存在存儲(chǔ)器37里的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)D(x)里。該校正后的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)D2(x)被保存到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器38里(步驟110)，由此，黑點(diǎn)校正部35根據(jù)校正后的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)D2(x)來(lái)進(jìn)行黑點(diǎn)校正處理。
之后，第3頁(yè)以后的原稿數(shù)據(jù)讀取也進(jìn)行同樣的處理。
還有，步驟110的校正計(jì)算如圖7所示在主掃描的各點(diǎn)進(jìn)行。如上所述，在第n頁(yè)的主掃描位置x處的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)的校正計(jì)算如下室所示。
"(x)4)x械 (式l)其中，
x:主掃描像素位置(左端時(shí)為x=0)，
D(x):動(dòng)作開(kāi)始時(shí)所取得的主掃描位置x中的基準(zhǔn)白板實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)，
U(x):第1頁(yè)(動(dòng)作開(kāi)始吋)的主掃描位置x中的密接型圖像探測(cè)器的輸山值，
U,(x):第N頁(yè)的主掃描位置x中的密接型圖像探測(cè)器的輸出值，DN(x):第N頁(yè)的主掃描位置x中的基準(zhǔn)白板實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)。
另外，對(duì)于所監(jiān)測(cè)的燈12的光量的輸出值，在進(jìn)到步驟110之前，圖像 讀取控制部41進(jìn)行輸出值的判定(步驟109)。當(dāng)輸出值在閾值以下時(shí)，就視燈 12的光量為很低，或是突然消燈等異常，然后介由操作顯示部45通知給ffl戶 或服務(wù)處(步驟lll)。還有，考慮到機(jī)器種類、等12的光量，異常判定的閾值 通過(guò)設(shè)定在圖像讀取控制部41里的記錄器(未圖示)可以任意設(shè)定。
所有原稿讀取結(jié)束后(步驟107的結(jié)果為可)，再次將角度控制信號(hào)設(shè)置到 "是"狀態(tài)里，與開(kāi)始時(shí)相同地，將搬送導(dǎo)向部件LL和搬送輥RR2，以及反射 部件13設(shè)定到光量檢測(cè)方式里。另外，密接探測(cè)器CS僅在兩面讀取吋的動(dòng)作 開(kāi)始和結(jié)束時(shí)設(shè)定為通常的讀取方式，從而可以讀取原稿背而。
然而，在密接探測(cè)器CS中，是通過(guò)可變?cè)鲆娣糯笃?5來(lái)調(diào)節(jié)背面讀取用 的增益的。這里，因?yàn)樵O(shè)置在密接探測(cè)器CS的探測(cè)器部51里的光源用發(fā)光二 極管陣列和燈12的光量之間有差異，如果將密接探測(cè)器CS內(nèi)的原稿背面讀取 用之增益值原樣不變地用到燈12的光量監(jiān)測(cè)器里，就有可能產(chǎn)生光量精度變 壞，有時(shí)還會(huì)導(dǎo)致密接探測(cè)器CS的輸出值為飽和。
對(duì)此，因?yàn)橥ㄟ^(guò)監(jiān)測(cè)基準(zhǔn)白板的值而大致可以判明燈12的光量，所以就 利用該方法。亦即，黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)計(jì)算部36將黑點(diǎn)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)的最大值通知到 圖像讀取控制部41里。由此，根據(jù)該最大值，圖像讀取控制部41通過(guò)調(diào)節(jié)輸 出到密接探測(cè)器CS里的增益信號(hào)SG的值，在對(duì)燈12的光量進(jìn)行監(jiān)測(cè)吋，使 密接探測(cè)器CS的輸出值不會(huì)飽和。
另外，由于燈12的壽命關(guān)系而會(huì)產(chǎn)生光量變動(dòng)，為了對(duì)此進(jìn)行跟蹤，在 電源啟動(dòng)、省電恢復(fù)，以及壓板讀取時(shí)的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)取得時(shí)，每一次都進(jìn)行 上述密接探測(cè)器CS的增益調(diào)整。
具體來(lái)說(shuō)是，制作如圖8所示的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)的值，和與其對(duì)應(yīng)的前述密 接探測(cè)器CS的增益值(燈12的光量監(jiān)測(cè)用)之間的變換表，并將該變換表用于 圖像讀取控制部41。
之后，在以電源啟動(dòng)、省電恢復(fù)、壓板讀取的時(shí)機(jī)來(lái)讀取基準(zhǔn)白板吋，將 平均化后的1行的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)的最大值，通過(guò)被保存的前述變換表來(lái)變換到密接 探測(cè)器CS內(nèi)的增益值里。
之后，走紙多頁(yè)單面讀取時(shí)，將該增益值反映到密接探測(cè)器CS內(nèi)的可變 增益放大器55里。然后，開(kāi)始兩面讀取，在結(jié)束時(shí)進(jìn)行探測(cè)器內(nèi)部的增益值切換以及發(fā)光二極管陣列的點(diǎn)燈、消燈。
由此，當(dāng)操作顯示部45下達(dá)走紙多頁(yè)兩面讀取的命令時(shí)，密接探測(cè)器CS的角度為原稿背面讀取的角度，探測(cè)器內(nèi)的可變?cè)鲆娣糯笃?5的增益值也作為原稿背面讀取用的值，來(lái)進(jìn)行探測(cè)器內(nèi)的發(fā)光二極管陣列也為常吋點(diǎn)燈之等同于以往機(jī)器的控制。
如上所述，在本實(shí)施例的走紙多頁(yè)單面原稿讀取吋，黑點(diǎn)校正動(dòng)作僅在最初進(jìn)行1次，在省略紙與紙之間的黑點(diǎn)校正動(dòng)作的同時(shí)，可以獲得安定的圖像數(shù)據(jù)，從而提高生產(chǎn)率。
上述實(shí)施例雖然是對(duì)黑白讀取的情況來(lái)作的說(shuō)明，本發(fā)明對(duì)于彩色讀取的情況也同樣適用。此時(shí)，由于彩色讀取吋每一個(gè)RGB的光量變動(dòng)都不同，通過(guò)對(duì)各RGB進(jìn)行上述校正計(jì)算和調(diào)整增益，也可以校正顏色再現(xiàn)性的下降。當(dāng)然，這種情況時(shí)，數(shù)據(jù)記憶裝置所記憶的基準(zhǔn)白板數(shù)據(jù)、增益值需要準(zhǔn)備RGB等3個(gè)通道的量。而通過(guò)彩色圖像讀取設(shè)備來(lái)讀取黑白圖像時(shí)，僅使用RGB3通道中的G通道來(lái)進(jìn)行上述的校正計(jì)算、異常判定。
本專利申請(qǐng)的基礎(chǔ)和優(yōu)先權(quán)要求是2008年01月07日、在日本專利局申請(qǐng)的日本專利申請(qǐng)JP2008-000341，其全部?jī)?nèi)容在此引作結(jié)合。
從以上所述還可以有許多的改良和變化。亦即，在權(quán)利要求的范圍內(nèi)，該專利說(shuō)明書(shū)的公開(kāi)內(nèi)容不局限于上述的說(shuō)明。
權(quán)利要求
1. 一種圖像讀取設(shè)備，其在將讀取原稿沿副掃描方向搬送的同時(shí)，在規(guī)定的表面讀取位置處將來(lái)自于縮小光學(xué)系統(tǒng)的表面讀取光學(xué)系統(tǒng)的照明光照射到讀取原稿的表面里，并將其反射光通過(guò)所述表面讀取光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)入到行圖像探測(cè)器里后，在以行為單位讀取所述讀取原稿表面的圖像的同時(shí)，通過(guò)配設(shè)在比所述表面讀取位置更靠搬送方向下游側(cè)里的背面讀取位置里的密接探測(cè)器，將所述讀取原稿的背面的圖像讀取為行單位，然后將設(shè)置在規(guī)定位置里的基準(zhǔn)白板圖像通過(guò)所述表面讀取光學(xué)系統(tǒng)導(dǎo)入到所述行圖像探測(cè)器里，從而生成黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，其特征在于在所述縮小光學(xué)系統(tǒng)里，設(shè)置了將所述照明光反射后照射到讀取位置里的反射部件，和轉(zhuǎn)動(dòng)所述反射部件，將所述反射部件的反射光導(dǎo)向所述密接探測(cè)器方向的反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，與此同時(shí)，在所述密接探測(cè)器里，設(shè)置有將所述反射部件的反射光轉(zhuǎn)動(dòng)到可以受光方式里的密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，還設(shè)置有檢測(cè)裝置，其在多頁(yè)讀取原稿的讀取間隔中，在通過(guò)所述反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)將所述反射部件的反射光導(dǎo)向所述密接探測(cè)器方向的同時(shí)，通過(guò)所述密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，通過(guò)所述密接探測(cè)器來(lái)接受所述反射部件的反射光，并檢測(cè)該受光水準(zhǔn)，還設(shè)置有基準(zhǔn)數(shù)據(jù)校正裝置，其根據(jù)所述檢測(cè)到的受光基準(zhǔn)來(lái)對(duì)所述黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行水準(zhǔn)校正。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光量檢測(cè)設(shè)備，其特征在于 所述密接數(shù)據(jù)的增益可以在背面讀取，和通過(guò)所述檢測(cè)裝置的受光水準(zhǔn)檢測(cè)之間進(jìn)行切換。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光量檢測(cè)設(shè)備，其特征在于 所述檢測(cè)裝置當(dāng)所述檢測(cè)到的受光水準(zhǔn)小于規(guī)定的閾值時(shí)，就輸出錯(cuò)誤發(fā)生。
全文摘要
本發(fā)明提供一種在采用間歇黑點(diǎn)校正法時(shí)，也能夠適當(dāng)讀取圖像的圖像讀取設(shè)備。在縮小光學(xué)系統(tǒng)里，設(shè)置了將所述照明光反射后照射到讀取位置里的反射部件，和轉(zhuǎn)動(dòng)所述反射部件，將所述反射部件的反射光導(dǎo)向所述密接探測(cè)器方向的反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，與此同時(shí)，在密接探測(cè)器里，設(shè)置有將所述反射部件的反射光轉(zhuǎn)動(dòng)到可以受光方式里的密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，還設(shè)置有檢測(cè)裝置，其在多頁(yè)讀取原稿的讀取間隔中，在通過(guò)所述反射部件搖動(dòng)機(jī)構(gòu)將所述反射部件的反射光導(dǎo)向所述密接探測(cè)器方向的同時(shí)，通過(guò)所述密接探測(cè)器搖動(dòng)機(jī)構(gòu)，通過(guò)所述密接探測(cè)器來(lái)接受所述反射部件的反射光，并檢測(cè)該受光水準(zhǔn)，還設(shè)置有基準(zhǔn)數(shù)據(jù)校正裝置，其根據(jù)所述檢測(cè)到的受光基準(zhǔn)來(lái)對(duì)所述黑點(diǎn)校正用的基準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行水準(zhǔn)校正。
文檔編號(hào)H04N1/401GK101489017SQ200910001349
公開(kāi)日2009年7月22日 申請(qǐng)日期2009年1月7日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月7日
發(fā)明者白土寬貴 申請(qǐng)人:株式會(huì)社理光