專利名稱：智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法，特別涉及在手機(jī)
主板表面貼裝技術(shù)(SMT)后對(duì)智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法。
背景技術(shù)：
目前在手機(jī)激烈的竟?fàn)幨袌鲋?，要求快速的響?yīng)客戶需求，除了要在產(chǎn)品 的性價(jià)比、外觀等方面的竟?fàn)?、還有供貨周期的壓力，在保證生產(chǎn)產(chǎn)品質(zhì)量的 前提下，盡可能地要提高日產(chǎn)能。提高日產(chǎn)能就必須有一個(gè)高效率的測試方法。 一要智能化；二要高效率化；三要操作簡單化。目前有的大規(guī)模產(chǎn)量的手機(jī)廠家 還在使用人工按鍵操作，通過手機(jī)顯示屏是否有正確顯示判斷的方法來檢測。 耗時(shí)耗力，不但生產(chǎn)成本高，要求多工位，及生產(chǎn)效率低，測試單臺(tái)手機(jī)主板 時(shí)間長，而且有人為誤操作、少操作等缺點(diǎn)，難以保證批量生產(chǎn)時(shí)產(chǎn)品質(zhì)量和 產(chǎn)品的一致性。
在手機(jī)工廠生產(chǎn)線中，提倡盡量少的人操作，多一些智能設(shè)備的操作，如 通過電腦軟件、相配套測試硬件及測試工裝來檢測被測試的手機(jī)主板，提供簡 單的操作，提供簡單的判斷依據(jù)，就能得到正確的檢測結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法，該 智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法測試質(zhì)量高，誤差小。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)，其包括一 電腦；通過異步串行接口與該電腦連接的測試板；通過異步串行接口連接測試 工裝裝配的手機(jī)主板；手機(jī)主板上的鍵盤接口通過測試工裝連接至測試板上的 復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān)；測試板上的ARM通過I2C總線與該測試板上的復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān) 相連.
優(yōu)選地，所迷電腦上安裝有一測試界面軟件。
4優(yōu)選地，所述測試板包括ARM芯片、RS232電平轉(zhuǎn)換芯片、模擬開關(guān)、電源 部分。
優(yōu)選地，所述測試工裝是為安裝被測試手機(jī)主板，并提供被測試接口。 本發(fā)明的另一技術(shù)方案是提供一種智能手機(jī)的測試方法，其實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)在
于，其包括以下步驟
步驟1:電腦發(fā)按鍵命令至測試板中的ARM芯片要求打開一模擬開關(guān)并要求
閉合對(duì)應(yīng)的模擬開關(guān)，即打開一按鍵；
步驟2:電腦發(fā)按鍵命令至手機(jī)主板，并通知打開該按鍵；
步驟3:手機(jī)主板收到按鍵命令后，運(yùn)行鍵盤測試模式，等待按鍵中斷；
步驟4:測試板中的ARM芯片接受到命令后，通過兩條I2C總線選擇地址及
相應(yīng)閉合模擬開關(guān)；
步驟5:手機(jī)主板接收到按鍵中斷，跳到鍵盤中斷服務(wù)程序，并啟動(dòng)按鍵掃
描，掃描程序會(huì)判斷是否有按鍵按下，掃描是哪個(gè)按鍵；如果鍵值是是按鍵信
息，并與2條已知命令信息比較，如果相同，上報(bào)給電腦"OK，，,否則為"FAIL"; 步驟6:電腦發(fā)命令至測試板中的ARM芯片，要求關(guān)閉一模擬開關(guān)、打開對(duì)
應(yīng)模擬開關(guān)；
步驟7:電腦發(fā)按鍵彈起命令至手機(jī)主板；
步驟8:測試板中的ARM芯片接受到命令后，通過I2C總線選擇地址及相應(yīng)
打開模擬開關(guān)，表明本次按鍵操作結(jié)束；
步驟9:手機(jī)主板接受到按鍵彈起命令后，認(rèn)為本次按鍵操作結(jié)束，并上報(bào) 電腦按鍵彈起應(yīng)答，即上報(bào)給電腦"0K",否則為"FAIL";
步驟10:電腦根據(jù)步驟5和步驟9中的手機(jī)主板上報(bào)信息，如果均為"0K"， 則顯示打印顯示對(duì)應(yīng)纟姿鍵，否則為"FAIL";
步驟ll:重復(fù)1-10步驟進(jìn)行操作，分別測試其它各個(gè)按鍵；
步驟12:如果所有測試手機(jī)主板上報(bào)信息均為"0K"，則打印鍵盤測試結(jié)果 "PASS",否則為"FAIL"。
本發(fā)明由于采用了上述的技術(shù)方案，使之與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu) 點(diǎn)和積極效果本發(fā)明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法采用電腦在手機(jī) 主板表面貼裝技術(shù)(SMT)后對(duì)智能手機(jī)的鍵盤進(jìn)行測試，可以為工廠生產(chǎn)工人提供簡單的操作，提供簡單的判斷依據(jù)，就能得到正確的檢測結(jié)果，可以降低 生產(chǎn)人數(shù)，降低生產(chǎn)成本，可以提高生產(chǎn)效率，提高產(chǎn)品質(zhì)量。


圖1為本發(fā)明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)原理示意圖； 圖2為鍵盤中八路模擬開關(guān)矩陣對(duì)應(yīng)示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面通過具體的實(shí)施例并結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其 測試方法作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。
圖1為本發(fā)明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)原理示意圖，如圖1所示，本發(fā) 明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)包括有一電腦1 (PC)、 一測試板3、 一裝配手機(jī)主 板的測試工裝4、測試工裝4與測試板3通過連接器共享電源并將被測鍵盤接口 相連，該測試板3包括ARM芯片、RS232電平轉(zhuǎn)換芯片、模擬開關(guān)、電源部分。 電腦1上安裝有利用Visual 0++工具做一測試界面軟件，電腦1通過通用異步 串行接口 2與測試板3、測試工裝4連接。電腦1通過異步串行接口 2發(fā)命令給 測試板3和測試工裝4，測試板3中的ARM芯片收到命令后，通過兩條I'C總線 控制復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān)00-11地址及開關(guān)閉合、打開動(dòng)作；測試工裝4收到命令 后，進(jìn)入鍵盤測試4莫式，并響應(yīng)按鍵中斷和鍵盤掃描動(dòng)作。最后電腦1通過測 試工裝4上報(bào)的信息，打印"PASS(合格)";否則打印"FAIL(失敗)"。
圖2為鍵盤中八路模擬開關(guān)矩陣對(duì)應(yīng)示意圖，結(jié)合圖2舉例說明測試U00-S1 按鍵的測試過程
步驟1:電腦1發(fā)按鍵命令至測試板3中的ARM芯片要求打開地址為00的 模擬開關(guān)、并要求閉合對(duì)應(yīng)的模擬開關(guān)，即打開按鍵(U00-S1)。實(shí)際在檢測行 ROWO與列COLO交叉的鍵盤焊腳。
步驟2:電腦1發(fā)按鍵命令至測試工裝4，并通知打開按鍵U00-S1。 步驟3:測試工裝4收到^^命令后，運(yùn)行鍵盤測試模式，等待掩建中斷。 步驟4:測試板3中的ARM芯片接受到命令后，通過兩條I2C總線選擇地址 OO及相應(yīng)閉合模擬開關(guān)。步驟5:測試工裝4接收到按鍵中斷，跳到鍵盤中斷服務(wù)程序，并啟動(dòng)按鍵 掃描，掃描程序會(huì)判斷是否有按鍵按下，掃描是哪個(gè)4務(wù)鏡。如果鍵值是行ROW0 與列COL0的鍵，則認(rèn)為是(U0(LS1)信息，并與2條已知信息比較，如果相同， 上報(bào)給電腦1 "OK，，,否則為"FAIL"。
步驟6:電腦1發(fā)命令至測試板3中的ARM芯片，要求關(guān)閉地址為00的模 擬開關(guān)、打開對(duì)應(yīng)的模擬開關(guān)。
步驟7:電腦1發(fā)按鍵彈起命令至測試工裝4。
步驟8:測試板3中的ARM芯片接受到命令后，通過I2C總線選擇地址00 及相應(yīng)打開;f莫擬開關(guān)，表明本次按鍵操作結(jié)束。
步驟9:手機(jī)主板接受到"^4建彈起命令后，并確認(rèn)ROWO變?yōu)楦唠娖?，認(rèn)為 本次按鍵操作結(jié)束，并上報(bào)電腦1按鍵彈起應(yīng)答，即上報(bào)給電腦1 "OK",否則 為"FAIL"。
步驟10:電腦1才艮據(jù)步驟5和步驟9中的測試工裝4上才艮信息，如果均為 "0K"，則顯示打印顯示"U00-S1"鍵，，,否則為"FAIL"。
步驟ll:重復(fù)1-10步驟進(jìn)行操作，分別測試圖2矩陣的每個(gè)4務(wù)建。
步驟12:如果所有測試手機(jī)主板上報(bào)信息均為"0K"，則打印鍵盤測試結(jié)果 "PASS",否則為"FAIL"。
本發(fā)明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法采用電腦在手機(jī)主板表面貼 裝技術(shù)(SMT)后對(duì)智能手機(jī)的鍵盤進(jìn)行測試，可以為工廠生產(chǎn)工人提供簡單的 操作，提供簡單的判斷依據(jù)，就能得到正確的檢測結(jié)果，可以降低生產(chǎn)人數(shù)， 降低生產(chǎn)成本，可以提高生產(chǎn)效率，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
以上介紹的僅僅是基于本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不能以此來限定本發(fā)明的 范圍。任何對(duì)本發(fā)明作本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)熟知的步驟的替換、組合、分立，以及對(duì) 本發(fā)明實(shí)施步驟作本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)熟知的等同改變或替換均不超出本發(fā)明的揭露 以及保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1. 一種智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于，其包括一電腦；通過異步串行接口與該電腦連接的測試板；通過異步串行接口連接測試工裝裝配的手機(jī)主板；手機(jī)主板上的鍵盤接口通過測試工裝連接至測試板上的復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān)；測試板上的ARM通過I2C總線與該測試板上的復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān)相連。
2. 如權(quán)利要求1所述的智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電腦 上安裝有 一測試界面軟件。
3. 如權(quán)利要求1所述的智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試 板包括ARM芯片、RS232電平轉(zhuǎn)換芯片、模擬開關(guān)、電源部分。
一種智能手機(jī)的測試方法，其特征在于，其包括以下步驟步驟1:電腦發(fā)按鍵命令至測試板中的ARM芯片要求打開一模擬開關(guān)并要求 閉合對(duì)應(yīng)的模擬開關(guān)，即打開一按鍵；步驟2:電腦發(fā)按鍵命令至手機(jī)主板，并通知打開該按鍵；步驟3:手機(jī)主板收到按鍵命令后，運(yùn)行鍵盤測試模式，等待掩鍵中斷；步驟4:測試板中的A賜芯片接受到命令后，通過兩條I2C總線選擇地址及 相應(yīng)閉合模擬開關(guān)；步驟5:手機(jī)主板接收到按鍵中斷，跳到鍵盤中斷服務(wù)程序，并啟動(dòng)皿掃 描，掃描程序會(huì)判斷是否有按鍵按下，掃描是哪個(gè)按鍵；如果鍵值是是按鍵信 息，并與2條已知命令信息比較,如果相同，上報(bào)給電腦"0K"，否則為"FAIL";步驟6:電腦發(fā)命令至測試板中的ARM芯片，要求關(guān)閉一模擬開關(guān)、打開對(duì) 應(yīng)模擬開關(guān)；步驟7:電腦發(fā)按鍵彈起命令至手機(jī)主板；步驟8:測試板中的ARM芯片接受到命令后，通過I2C總線選擇地址及相應(yīng) 打開模擬開關(guān)，表明本次按鍵操作結(jié)束；步驟9:手機(jī)主板接受到按鍵彈起命令后，認(rèn)為本次按鍵操作結(jié)束，并上報(bào) 電腦按鍵彈起應(yīng)答，即上報(bào)給電腦"OK",否則為"FAIL";步驟10:電腦根據(jù)步驟5和步驟9中的手機(jī)主板上報(bào)信息，如果均為"OK",則顯示打印顯示對(duì)應(yīng)4安—鍵，否則為"FAIL";步驟ll:重復(fù)1-10步驟進(jìn)行操作，分別測試其它各個(gè)按鍵；步驟12:如果測試手機(jī)主板所有的^^上4艮信息均為"0K"，則打印鍵盤測試結(jié)果"PASS"，否則為"FAIL"。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法，該智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)包括一電腦；通過異步串行接口與該電腦連接的測試板和通過異步串行接口連接測試工裝裝配的手機(jī)主板；手機(jī)主板上的鍵盤接口通過測試工裝連接至測試板上的復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān)；測試板上的ARM通過I²C總線與該測試板上的復(fù)數(shù)個(gè)模擬開關(guān)相連。本發(fā)明智能手機(jī)的鍵盤測試系統(tǒng)及其測試方法采用電腦在手機(jī)主板表面貼裝技術(shù)(SMT)后對(duì)智能手機(jī)的鍵盤進(jìn)行測試，可以為工廠生產(chǎn)工人提供簡單的操作，提供簡單的判斷依據(jù)，就能得到正確的檢測結(jié)果，可以降低生產(chǎn)人數(shù)，降低生產(chǎn)成本，可以提高生產(chǎn)效率，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
文檔編號(hào)H04M1/24GK101471977SQ20071017298
公開日2009年7月1日 申請(qǐng)日期2007年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月25日
發(fā)明者勇 安 申請(qǐng)人:上海晨興電子科技有限公司