專利名稱：信號(hào)產(chǎn)生裝置及其相關(guān)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種信號(hào)產(chǎn)生裝置，尤指一種具有開(kāi)路調(diào)制補(bǔ)償機(jī)制并以鎖相環(huán)作為基礎(chǔ)的傳輸器(phase-locked loop based transmitter)及其相關(guān)方法， 其中調(diào)制補(bǔ)償機(jī)制依據(jù)信號(hào)產(chǎn)生裝置的可控制振蕩器(controllable oscillator) 的輸出頻率來(lái)校正補(bǔ)償濾波器(compensation filter)。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參閱圖1 ，其所示為現(xiàn)有技術(shù)的S - △分?jǐn)?shù)N鎖相環(huán)傳輸器(Sigma-delta fractional N phase locked loop transmitter) 10。如圖所示，E隱A么、數(shù)N鎖相環(huán) 傳輸器10包含有鎖相環(huán)電路11、 E-A調(diào)制器12、頻道選擇器(channel selector)13、高斯濾波器(Gaussian filter)14以及補(bǔ)償濾波器15。鎖相環(huán)電路 11包含有相位/頻率檢測(cè)器(phase/frequency detector)l la、電荷泵(charge pump) 電路llb、環(huán)路濾波器llc、壓控振蕩器lid以及分頻器lle。基頻數(shù)據(jù)Sb 被輸入至高斯濾波器14，以便取出S-A分?jǐn)?shù)N鎖相環(huán)傳輸器10所需的頻 帶。例如若S-A分?jǐn)?shù)N鎖相環(huán)傳輸器10的傳送信號(hào)是高斯最小相移鍵控 (Gaussian Minimum Shift Keying, GMSK)信號(hào)SGMSK，則高斯濾波器14為高 斯最小相移鍵控濾波器(GMSKfilter)。再者，鎖相環(huán)電路11的頻率響應(yīng)類似 于低通濾波器的頻率響應(yīng)，而補(bǔ)償濾波器15則用來(lái)在基頻數(shù)據(jù)Sb被E-A 調(diào)制器12調(diào)制之前對(duì)基頻數(shù)據(jù)Sb進(jìn)行補(bǔ)償。此外，鎖相環(huán)電路11利用參 考頻率Sr來(lái)合成所需要的頻率以傳送基頻數(shù)據(jù)Sb。在多頻帶系統(tǒng)中，鎖相 環(huán)電路11需要產(chǎn)生不同的頻帶，而頻道選擇器13則用來(lái)選擇所需要的頻帶。 因此，經(jīng)由調(diào)整分頻器lie的分頻數(shù)，鎖相環(huán)電路11可相應(yīng)地產(chǎn)生不同的 頻帶。然而，鎖相環(huán)電路11的環(huán)路頻寬對(duì)于鎖相環(huán)電路11的轉(zhuǎn)換函數(shù)的參數(shù) 變化相當(dāng)敏感。為了處理此問(wèn)題，相關(guān)技術(shù)的方案陸續(xù)被提出；例如美國(guó) 專利第7103337號(hào)、第7068112號(hào)、第6724265號(hào)、以及第6806780號(hào)。發(fā)明內(nèi)容因此，為解決上述環(huán)路頻寬對(duì)于轉(zhuǎn)換函數(shù)的參數(shù)變化敏感的問(wèn)題，本發(fā) 明提供一種具有開(kāi)路調(diào)制補(bǔ)償機(jī)制并以鎖相環(huán)作基礎(chǔ)的傳輸器及其相關(guān)方 法，降低了轉(zhuǎn)換函數(shù)的參數(shù)變化對(duì)環(huán)路頻寬的影響。依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施方式，其揭露一種信號(hào)產(chǎn)生裝置。該信號(hào)產(chǎn)生裝置 依據(jù)輸入信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)，其中信號(hào)產(chǎn)生裝置包含有鎖相環(huán)裝置、控制單 元、檢測(cè)裝置、濾波裝置與調(diào)制裝置。鎖相環(huán)裝置包含有相位/頻率檢測(cè)器， 用來(lái)依據(jù)參考振蕩信號(hào)與反饋信號(hào)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)；控制信號(hào)產(chǎn)生器，耦接至 相位/頻率檢測(cè)器，用來(lái)依據(jù)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生控制信號(hào)；壓控振蕩器，耦接至控 制信號(hào)產(chǎn)生器，用來(lái)依據(jù)控制信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)；以及分頻器，耦接至壓控 振蕩器，用來(lái)依據(jù)分頻因子對(duì)合成信號(hào)進(jìn)行分頻以產(chǎn)生反饋信號(hào)?？刂茊卧?耦接至控制信號(hào)產(chǎn)生器，用來(lái)控制控制信號(hào)產(chǎn)生器以在校正模式中調(diào)整控制 信號(hào)來(lái)調(diào)整合成信號(hào)的頻率，其中相位/頻率檢測(cè)器在校正模式中不輸出檢測(cè) 信號(hào)至控制信號(hào)產(chǎn)生器。檢測(cè)裝置耦接至壓控振蕩器，用來(lái)在校正模式中檢 測(cè)合成信號(hào)以產(chǎn)生校正信號(hào)。濾波裝置耦接至檢測(cè)裝置，用來(lái)對(duì)輸入信號(hào)進(jìn) 行濾波并依據(jù)校正信號(hào)來(lái)調(diào)校輸入信號(hào)以產(chǎn)生濾波信號(hào)。調(diào)制裝置耦接至濾 波裝置與分頻器，用來(lái)調(diào)制濾波信號(hào)以產(chǎn)生分頻因子。依據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方式，其另揭露信號(hào)產(chǎn)生方法。該信號(hào)產(chǎn)生方法 依據(jù)輸入信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)，該信號(hào)產(chǎn)生方法包含有使用鎖相環(huán)裝置來(lái)產(chǎn) 生合成信號(hào)。其中鎖相環(huán)裝置包含有相位/頻率檢測(cè)器，用來(lái)依據(jù)參考振蕩 信號(hào)與反饋信號(hào)來(lái)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào);控制信號(hào)產(chǎn)生器，耦接至相位/頻率檢測(cè)器， 用來(lái)依據(jù)檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生控制信號(hào)；壓控振蕩器，耦接至控制信號(hào)產(chǎn)生器，用 來(lái)依據(jù)控制信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)；以及分頻器，耦接至壓控振蕩器，用來(lái)依據(jù) 分頻因子對(duì)合成信號(hào)進(jìn)行分頻以產(chǎn)生反饋信號(hào)。信號(hào)產(chǎn)生方法另包含有控 制控制信號(hào)產(chǎn)生器以在校正模式中調(diào)整控制信號(hào)而來(lái)調(diào)整合成信號(hào)的頻率， 其中相位/頻率檢測(cè)器在校正模式中不輸出檢測(cè)信號(hào)至控制信號(hào)產(chǎn)生器；在校正模式中檢測(cè)合成信號(hào)以產(chǎn)生校正信號(hào)；對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行濾波并依據(jù)校正信 號(hào)來(lái)校正輸入信號(hào)以產(chǎn)生濾波信號(hào)；以及調(diào)制濾波信號(hào)以產(chǎn)生分頻因子。上述依據(jù)輸入信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)的信號(hào)產(chǎn)生裝置及信號(hào)產(chǎn)生方法通過(guò) 校正模式中產(chǎn)生的校正信號(hào)對(duì)輸入信號(hào)校正以產(chǎn)生分頻因子，進(jìn)而產(chǎn)生反饋 信號(hào)反饋至鎖相環(huán)裝置，從而降低了鎖相環(huán)對(duì)轉(zhuǎn)換函數(shù)的參數(shù)變化的敏感 度，增加鎖相環(huán)的穩(wěn)定性。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)的E-A分?jǐn)?shù)N鎖相環(huán)傳輸器的示意圖。圖2為本發(fā)明一實(shí)施方式的信號(hào)產(chǎn)生裝置的示意圖。圖3為本發(fā)明第一實(shí)施方式的檢測(cè)裝置與控制信號(hào)產(chǎn)生器的示意圖。圖4為本發(fā)明第二實(shí)施方式的控制信號(hào)產(chǎn)生器的示意圖。圖5為圖2所示的信號(hào)產(chǎn)生裝置所執(zhí)行的信號(hào)產(chǎn)生方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
在說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求當(dāng)中使用了某些詞匯來(lái)指稱特定的元件。所屬領(lǐng)域 中具有通常知識(shí)者應(yīng)可理解，制造商可能會(huì)用不同的名詞來(lái)稱呼同樣的元 件。本說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求并不以名稱的差異來(lái)作為區(qū)分元件的方式，而是以 元件在功能上的差異來(lái)作為區(qū)分的基準(zhǔn)。在通篇說(shuō)明書(shū)及權(quán)利要求當(dāng)中所提 及的"包含"為開(kāi)放式的用語(yǔ)，故應(yīng)解釋成"包含但不限定于"。另外，"耦 接" 一詞在此包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一 裝置耦接于第二裝置，則代表第一裝置可直接電氣連接于第二裝置，或通過(guò) 其它裝置或連接手段間接地電氣連接至第二裝置。請(qǐng)參閱圖2，圖2為本發(fā)明一實(shí)施方式的信號(hào)產(chǎn)生裝置100的示意圖。信號(hào)產(chǎn)生裝置100依據(jù)輸入信號(hào)Sbase產(chǎn)生合成信號(hào)Fve。，而信號(hào)產(chǎn)生裝置100包含有鎖相環(huán)裝置102、控制單元104、檢測(cè)裝置106、濾波裝置108與調(diào)制 裝置IIO。請(qǐng)注意，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)可了解到，信號(hào)產(chǎn)生裝置100可實(shí)際操作為具有適應(yīng)性補(bǔ)償濾波器(adaptive compensation filter,例如，濾波裝 置108)的分?jǐn)?shù)N鎖相環(huán)合成器(fractionalNPLL synthesizer)。鎖相環(huán)裝置102 包含有相位/頻率檢測(cè)器102a、控制信號(hào)產(chǎn)生器102b、環(huán)路濾波器102c、壓 控振蕩器102d與分頻器102e，其中相位/頻率檢測(cè)器102a耦接至參考振蕩 信號(hào)F^并依據(jù)參考振蕩信號(hào)F^與反饋信號(hào)Fft來(lái)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)Sd，而控制 信號(hào)產(chǎn)生器102b耦接至相位/頻率檢測(cè)器102a并依據(jù)檢測(cè)信號(hào)Sd來(lái)產(chǎn)生控 制信號(hào)Se，環(huán)路濾波器102c耦接至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b并對(duì)控制信號(hào)Sc 進(jìn)行濾波以產(chǎn)生參考信號(hào)&，壓控振蕩器102d則耦接至環(huán)路濾波器102c并 依據(jù)控制信號(hào)Se來(lái)產(chǎn)生合成信號(hào)Fve。，以及分頻器102e耦接至壓控振蕩器 102d、調(diào)制裝置110與相位/頻率檢測(cè)器102a，分頻器102e依據(jù)分頻因子 (dividing factor)N來(lái)對(duì)合成信號(hào)Fve。進(jìn)行分頻并輸出反饋信號(hào)Ffb至相位/頻率 檢測(cè)器102a。此外，控制單元104耦接至相位/頻率檢測(cè)器102a、控制信號(hào) 產(chǎn)生器102b與檢測(cè)裝置106，并控制控制信號(hào)產(chǎn)生器102b以在校正模式中 調(diào)整控制信號(hào)Se來(lái)調(diào)整合成信號(hào)Fvc。的頻率，其中相位/頻率檢測(cè)器102a在 校正模式中由控制單元104控制為失能(disabled)。艮卩，相位/頻率檢測(cè)器 102a在校正模式中不輸出檢測(cè)信號(hào)Sd至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b。檢測(cè)裝置106 耦接至壓控振蕩器102d，并用來(lái)在校正模式中檢測(cè)合成信號(hào)Fve。以產(chǎn)生校正 信號(hào)Scab，而濾波裝置108耦接至檢測(cè)裝置106并由校正信號(hào)Seab所校正。在被校正之后，濾波裝置108對(duì)輸入信號(hào)Sbase進(jìn)行濾波以產(chǎn)生濾波信號(hào)Sr。另外，調(diào)制裝置110耦接至濾波裝置108與分頻器102e并用來(lái)調(diào)制濾波信 號(hào)Sf以產(chǎn)生分頻因子N。請(qǐng)參閱圖3，圖3為本發(fā)明第一實(shí)施方式的檢測(cè)裝置106與控制信號(hào)產(chǎn) 生器102b的示意圖。檢測(cè)裝置106包含有頻率檢測(cè)器106a、寄存單元106b 與計(jì)算單元106c。頻率檢測(cè)器106a耦接至壓控振蕩器102d與控制單元104， 用來(lái)檢測(cè)第一合成信號(hào)FVMl與第二合成信號(hào)Fve。2以分別產(chǎn)生第一計(jì)數(shù)值N， 與第二計(jì)數(shù)值N2。寄存單元106b耦接至頻率檢測(cè)器106a與控制單元104，用來(lái)暫存第一計(jì)數(shù)值Ni與第二計(jì)數(shù)值N2。計(jì)算單元106c耦接至寄存單元 106b與控制單元104，用來(lái)依據(jù)預(yù)定差值A(chǔ)Ne以及第一計(jì)數(shù)值N,與第二計(jì) 數(shù)值N2之間的差值A(chǔ)N^以產(chǎn)生校正信號(hào)Scab。此外，控制信號(hào)產(chǎn)生器102b包含有放電電流源1021、第一開(kāi)關(guān)1022、 充電電流源1023、第二開(kāi)關(guān)1024、偏壓電流源1025與阻抗單元1026。放電 電流源1021產(chǎn)生放電電流Idn。第一開(kāi)關(guān)1022耦接至放電電流Idn并用來(lái)選 擇性地耦接放電電流源1021至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M，其中第 一開(kāi)關(guān)1022在正常模式中由檢測(cè)信號(hào)Sd (未顯示于圖3中)控制，并且第 一開(kāi)關(guān)1022在校正模式中由控制單元104控制。請(qǐng)注意，為了更詳細(xì)的說(shuō) 明本發(fā)明，環(huán)路濾波器102c并未顯示于圖3中。然而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員 應(yīng)可充分了解，環(huán)路濾波器102c可設(shè)置在控制信號(hào)產(chǎn)生器102b與壓控振蕩 器102d之間。充電電流源1023產(chǎn)生充電電流Iup。第二開(kāi)關(guān)1024耦接至充 電電流Iup并用來(lái)選擇性地耦接充電電流源1023至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的 輸出節(jié)點(diǎn)M，其中第二開(kāi)關(guān)1024在正常模式中由檢測(cè)信號(hào)Sd (未顯示于圖 3中)控制，并且第二開(kāi)關(guān)1024在校正模式中由控制單元104控制。偏壓電 流源1025耦接至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M并用來(lái)產(chǎn)生偏壓電流 Ibias。阻抗單元1026耦接至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M并用來(lái)依據(jù) 流經(jīng)阻抗單元1026的等效電流Ieq來(lái)設(shè)定控制信號(hào)Se，其中當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)1022 由控制單元104閉合且第二開(kāi)關(guān)1024由控制單元104斷開(kāi)時(shí)，第一控制信 號(hào)Sel被輸出至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩器102d產(chǎn)生第一合成信號(hào) FVW)1，以及當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)1022由控制單元104斷開(kāi)且第二開(kāi)關(guān)1024由控制單 元104閉合時(shí)，第二控制信號(hào)Se2被輸出至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩器 102d產(chǎn)生第二合成信號(hào)Fvc。2。如本領(lǐng)域的技術(shù)人員所熟知，鎖相環(huán)裝置102的開(kāi)路轉(zhuǎn)換函數(shù)T。p(s)可 利用下列方程式(l)來(lái)加以表示<formula>formula see original document page 14</formula>其中Kpfd代表從相位/頻率檢測(cè)器102a至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的轉(zhuǎn)換函 數(shù)，Kve。代表壓控振蕩器102d的靈敏度，N代表分頻器102e的分頻因子。 因此，鎖相環(huán)裝置102的閉環(huán)路轉(zhuǎn)換函數(shù)T(s)可利用下列方程式(2)加以表示 T(s)= KG*L(s)/(l+KG*L(s)) (2) 在真實(shí)狀況下，如本領(lǐng)域的技術(shù)人員所熟知，濾波裝置108的補(bǔ)償轉(zhuǎn)換 函數(shù)Comp(s)可利用下列方程式(3)加以表示 Comp(s) =1/T'(s)=(1/T(s))* Gcal=1+ l/(KG*L(s))* Gcal=l+(N/Kpfd*KVC0)/L(s"Gcal (3)其中"，"意指真實(shí)狀況下的實(shí)際數(shù)值，而Gea,代表濾波裝置108的校正因子。因此，為了讓濾波裝置108的轉(zhuǎn)換函數(shù)能符合鎖相環(huán)裝置102的真實(shí) 響應(yīng)，校正因子G^可依據(jù)下列方程式(4)加以設(shè)定Gcal=(N，/K，pfd*K，VC0) /(N/Kpfd*KVC0) (4)如此，濾波裝置108的補(bǔ)償轉(zhuǎn)換函數(shù)Comp(s)變成Comp(s)= (1/T，叩(s))其中T'。P(S)代表鎖相環(huán)裝置102的開(kāi)路轉(zhuǎn)換函數(shù)，K'pfd代表從相位/頻 率檢測(cè)器102a至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的轉(zhuǎn)換函數(shù)，K'，代表壓控振蕩器 102d的靈敏度，且N'代表分頻器102e的分頻因子。接下來(lái)的段落著重于描述用來(lái)得到信號(hào)產(chǎn)生裝置100的校正因子Gcal的 操作。請(qǐng)?jiān)俅螀⒄請(qǐng)D3。在理想狀況下，控制單元104控制第一開(kāi)關(guān)1022 以耦接放電電流Idn至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M并斷開(kāi)第二開(kāi)關(guān) 1024，然后第一控制信號(hào)Sd被輸出至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩器102d產(chǎn)生第一合成信號(hào)Fve。i，即如方程式(5)所示，F(xiàn)vcol=Ffree+(WIdn)*R*Kvco=Fr* Ni， (5)其中Ffree代表僅由偏壓電流Ibias所產(chǎn)生的頻率，&代表輸入至頻率檢測(cè)器106a的參考頻率，而R代表阻抗單元1026的電阻值。于是，頻率檢測(cè)器 106a產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于第一合成信號(hào)Fvc。,的第一計(jì)數(shù)值N,。控制單元104控制第 二開(kāi)關(guān)1024以耦接充電電流Iup至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M并斷 開(kāi)第一開(kāi)關(guān)1022，然后第二控制信號(hào)Se2被輸出至控振蕩器102d以使壓控 振蕩器102d產(chǎn)生第二合成信號(hào)Fve。2，即如方程式(6)所示，F(xiàn)vco2=Ffree+(Ibias+Iup)*R*Kvco=Fr* N2. (6)于是，頻率檢測(cè)器106a產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于第二合成信號(hào)Fve。2的第二計(jì)數(shù)值N2。因此，第一合成信號(hào)Fv^與第二合成信號(hào)Fve。2之間的頻率差可利用下列方程式加以表示Fvc。2"Fvc。產(chǎn)Fr * (N2 - N!)=(1叩+ U)*R* Kvc。 —2* IChp*R* Kvco =A其中為了簡(jiǎn)明起見(jiàn)，將Iup與U設(shè)定為彼此相等，且都等于Up。相仿地，在真實(shí)狀況下，控制單元104控制第一開(kāi)關(guān)1022以耦接放電 電流Idn'至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M并斷開(kāi)第二開(kāi)關(guān)1024，然后 第一控制信號(hào)Ser被輸出至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩器102d產(chǎn)生第一 合成信號(hào)Fv^'，即如方程式(7)所示，F(xiàn)vcor=Ffree，+(Ibias，-Idn，)*R，*Kvco，=Fr* Ni，, (7)其中"，"意指真實(shí)狀況下的實(shí)際數(shù)值。因此，頻率檢測(cè)器106a產(chǎn)生對(duì) 應(yīng)于第一合成信號(hào)Fv^'的第一計(jì)數(shù)值Ni'。接著，控制單元104控制第二開(kāi) 關(guān)1024以耦接充電電流Iup'至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的輸出節(jié)點(diǎn)M并斷開(kāi)第 一開(kāi)關(guān)1022，而第二控制信號(hào)Sc2'被輸出至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩 器102d產(chǎn)生第二合成信號(hào)FTC。2'，即如方程式(8)所示，F(xiàn)vco2，=Ffree,+(W+Iup，)*R，*Kvco，=Fr* N2， (8)于是，頻率檢測(cè)器106a產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于第二合成信號(hào)Fve。2'的第二計(jì)數(shù)值N2'。因此，第一合成信號(hào)Fve。r與第二合成信號(hào)Fve。2，之間的頻率差可利用下 列方程式加以表示Fvco2,曙Fv^，-Fr承(N2,-W)=(1叩，+ W)*R，* Kvco，一2* Ichp *R_ * Kvco相仿地，為了簡(jiǎn)明起見(jiàn)，將Iup，與Idn'設(shè)定為彼此相等，且都等于Up，。 此外，A/B = (N2- Ni)/(N2，-N!，) =ANc/ANcl=(Ichp*R* KVC0)/(Ichp,*R，* Kvco,) 由方程式(4)來(lái)得出下列關(guān)系式 Gcal=(Kpfd*KVC0* N，)/( Kpfd，*K，VC0* N)=(IChP*KVC0* N，)/( Ichp，*K，VC0* N)， 若R=R，，則上式可進(jìn)一步整理如下 Gcal=(ANc/ANcl)* (NV N)值得注意的是，當(dāng)分頻器102e的分頻因子N與N'在校正模式中為已知且ANe被預(yù)先設(shè)定，則計(jì)算單元106C只計(jì)算差值A(chǔ)N^并將校正信號(hào)S^設(shè) 定為校正因子Gca!。請(qǐng)參閱圖4，圖4為本發(fā)明第二實(shí)施方式的控制信號(hào)產(chǎn)生器102b'的示 意圖?？刂菩盘?hào)產(chǎn)生器102b'包含有放電電流源1031、第一開(kāi)關(guān)1032、充電 電流源1033、第二開(kāi)關(guān)1034與可調(diào)整阻抗單元1036。放電電流源1031產(chǎn)生放電電流Iehp。第一開(kāi)關(guān)1032耦接至放電電流Iehp并用來(lái)選擇性地耦接放電電流源1031至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b'的輸出節(jié)點(diǎn)M'，其中第一幵關(guān)1032 在正常模式中由檢測(cè)信號(hào)Sd控制，并且第一開(kāi)關(guān)1032在校正模式中由控制 單元104控制；可調(diào)整阻抗單元1036耦接至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b'的輸出節(jié)點(diǎn)M'，并用來(lái)依據(jù)流經(jīng)可調(diào)整阻抗單元1036的等效電流Ieq"設(shè)定控制信號(hào)Se"，其中當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)1032與第二開(kāi)關(guān)1034中的任一個(gè)由控制單元104 閉合時(shí)，控制單元104設(shè)定可調(diào)整阻抗單元1036至第一阻抗值R廣以使壓 控振蕩器102d產(chǎn)生第一合成信號(hào)FWQl，以及控制單元104還設(shè)定可調(diào)整阻 抗單元1036至第二阻抗值R2"以使壓控振蕩器102d產(chǎn)生第二合成信號(hào)Fvc。2。 值得注意的是，為了更清楚說(shuō)明本發(fā)明的精神，壓控振蕩器102d與頻率檢 測(cè)器106a也顯示于圖4。此外，在此實(shí)施方式中，輸入至頻率檢測(cè)器106a 的參考頻率為Xf^，其中X為整數(shù)數(shù)值。相仿于上述實(shí)施方式的控制信號(hào)產(chǎn)生器102b，在理想狀況下，控制單元 104控制第二開(kāi)關(guān)1034以耦接充電電流Up至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b'的輸出 節(jié)點(diǎn)M"并斷開(kāi)第一開(kāi)關(guān)1032，而控制單元104調(diào)整可調(diào)整阻抗單元1036 的比例P以產(chǎn)生第一阻抗值R廣與第二阻抗值R2"。因此，壓控振蕩器102d 產(chǎn)生第一頻率差A(yù)F，即，<formula>formula see original document page 17</formula>其中R，^R2，,-R廣。相仿地，在真實(shí)狀況下，控制單元104控制第二開(kāi)關(guān)1034以耦接充電 電流Up，至控制信號(hào)產(chǎn)生器102b，的輸出節(jié)點(diǎn)M"并斷開(kāi)第一開(kāi)關(guān)1032，而 控制單元104調(diào)整可調(diào)整阻抗單元1036的比例P，以產(chǎn)生第一阻抗值R廣'與 第二阻抗值R2，"。因此，壓控振蕩器102d產(chǎn)生第一頻率差A(yù)F，，即， AF, = (Fr*X)* ANC，<formula>formula see original document page 17</formula>若R，^p被校正成等于R"^P，，則上式可進(jìn)一步整理如下 A/B-認(rèn)c線，所以，校正因子G^可由下列關(guān)系式得到Gcal=(ANc/ANc，)* (N,/ N)值得注意的是，在本發(fā)明控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的其它實(shí)施方式中，控 制信號(hào)產(chǎn)生器102b可通過(guò)將偏壓電流源1025取代為可調(diào)整偏壓電流源來(lái)實(shí) 施，其中可調(diào)整偏壓電流源由控制單元104控制。由于本領(lǐng)域的技術(shù)人員在 閱讀上述實(shí)施方式的揭露后應(yīng)可輕易了解此實(shí)施方式的操作，故在此便省略 進(jìn)一步的說(shuō)明而不再重復(fù)贅述。此外，在本發(fā)明控制信號(hào)產(chǎn)生器102b的另一實(shí)施方式，控制信號(hào)產(chǎn)生 器102b可通過(guò)將阻抗單元1026取代為可調(diào)整阻抗單元來(lái)實(shí)際操作，其中可 調(diào)整阻抗單元由控制單元104控制。由于本領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀上述實(shí)施 方式的揭露后應(yīng)可輕易了解此實(shí)施方式的操作，故在此便省略進(jìn)一步的說(shuō)明 而不再重復(fù)贅述。請(qǐng)參閱圖5，圖5為圖2所示的信號(hào)產(chǎn)生裝置100所執(zhí)行的信號(hào)產(chǎn)生方 法的流程圖。換言之，信號(hào)產(chǎn)生方法通過(guò)具有適應(yīng)性補(bǔ)償濾波器(例如濾波 裝置108)的分?jǐn)?shù)N鎖相環(huán)合成器(fractional N PLL synthesizer)的運(yùn)作來(lái)加以 描述。信號(hào)產(chǎn)生方法包含有下列步驟步驟402:開(kāi)始校正模式；步驟404:使用控制單元104以使相位/頻率檢測(cè)器102a失能(disable);步驟406:使用控制單元104以閉合第一開(kāi)關(guān)1022并斷開(kāi)第二開(kāi)關(guān)1024 以使第一等效電流Ieql流經(jīng)阻抗單元1026;步驟408:輸出第一控制信號(hào)Sel至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩器 102d產(chǎn)生第一合成信號(hào)Fvw;步驟410:檢測(cè)第一合成信號(hào)Fv。。，以產(chǎn)生第一計(jì)數(shù)值Np并進(jìn)入步驟418;步驟412:使用控制單元104來(lái)斷開(kāi)第一開(kāi)關(guān)1022并閉合第二開(kāi)關(guān)1024以使第二等效電流Ieq2流經(jīng)阻抗單元1026;步驟414:輸出第二控制信號(hào)S。至壓控振蕩器102d以使壓控振蕩器 102d產(chǎn)生第二合成信號(hào)Fvc。2;步驟416:檢測(cè)第二合成信號(hào)Fve。2以產(chǎn)生第二計(jì)數(shù)值N2; .步驟418:暫存第一計(jì)數(shù)值A(chǔ)與第二計(jì)數(shù)值N2;步驟420:依據(jù)預(yù)定差值A(chǔ)Ne以及第一計(jì)數(shù)值Ni與第二計(jì)數(shù)值N2之間 的差值A(chǔ)Na來(lái)產(chǎn)生校正信號(hào)Scab;步驟422:依據(jù)校正信號(hào)Seab來(lái)校正濾波裝置108。在步驟404中，當(dāng)控制單元104使相位/頻率檢測(cè)器102a失能時(shí)，控制 信號(hào)產(chǎn)生器102b不會(huì)受相位/頻率檢測(cè)器102a的檢測(cè)信號(hào)Sd影響。換言之， 信號(hào)產(chǎn)生裝置100在校正模式中為開(kāi)路。雖然本發(fā)明已以實(shí)施方式揭露如上，但是對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員，依據(jù) 本發(fā)明實(shí)施方式的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜 上所述，本說(shuō)明書(shū)內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種信號(hào)產(chǎn)生裝置，該信號(hào)產(chǎn)生裝置依據(jù)輸入信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)，其特征在于，所述信號(hào)產(chǎn)生裝置包含有鎖相環(huán)裝置，其包含有相位/頻率檢測(cè)器，用來(lái)依據(jù)參考振蕩信號(hào)與反饋信號(hào)來(lái)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)；控制信號(hào)產(chǎn)生器，其耦接至所述相位/頻率檢測(cè)器，用來(lái)依據(jù)所述檢測(cè) 信號(hào)產(chǎn)生控制信號(hào)；壓控振蕩器，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器，用來(lái)依據(jù)所述控制信號(hào)產(chǎn)生所述合成信號(hào)；以及分頻器，其耦接至所述壓控振蕩器，用來(lái)依據(jù)分頻因子對(duì)所述合成信號(hào)進(jìn)行分頻，以產(chǎn)生所述反饋信號(hào)；控制單元，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器，用來(lái)控制所述控制信號(hào)產(chǎn)生器以在校正模式中調(diào)整所述控制信號(hào)來(lái)調(diào)整所述合成信號(hào)的頻率，其中所述相位/頻率檢測(cè)器在所述校正模式中不輸出所述檢測(cè)信號(hào)至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器；檢測(cè)裝置，其耦接至所述壓控振蕩器，用來(lái)在所述校正模式中檢測(cè)所述合成信號(hào)以產(chǎn)生校正信號(hào)；濾波裝置，其耦接至所述檢測(cè)裝置，用來(lái)對(duì)所述輸入信號(hào)進(jìn)行濾波并依據(jù)所述校正信號(hào)來(lái)調(diào)校所述輸入信號(hào)，以產(chǎn)生濾波信號(hào)；以及調(diào)制裝置，其耦接至所述濾波裝置與所述分頻器，用來(lái)調(diào)制所述濾波信號(hào)以產(chǎn)生所述分頻因子。
2. 如權(quán)利要求1所述的信號(hào)產(chǎn)生裝置，其特征在于，所述檢測(cè)裝置還包 含有頻率檢測(cè)器，其耦接至所述壓控振蕩器，用來(lái)檢測(cè)第一合成信號(hào)與第二合成信號(hào)以分別產(chǎn)生第一計(jì)數(shù)值與第二計(jì)數(shù)值；寄存單元，其耦接至所述頻率檢測(cè)器，用來(lái)暫存所述第一計(jì)數(shù)值與所述 第二計(jì)數(shù)值；以及計(jì)算單元，其耦接至所述寄存單元，用來(lái)依據(jù)預(yù)定差值以及所述第一計(jì) 數(shù)值與所述第二計(jì)數(shù)值之間的差值產(chǎn)生所述校正信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的信號(hào)產(chǎn)生裝置，其特征在于，所述控制信號(hào)產(chǎn)生 器還包含有充電電流源，用來(lái)產(chǎn)生充電電流；第一開(kāi)關(guān)，其耦接至所述充電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述充電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第一開(kāi)關(guān)在正常模式中由所述 檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；放電電流源，用來(lái)產(chǎn)生放電電流；第二開(kāi)關(guān)，其耦接至所述放電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述放電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第二開(kāi)關(guān)在所述正常模式 中由所述檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；偏壓電流源，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，用來(lái)產(chǎn)生 偏壓電流；以及阻抗單元，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，用來(lái)依據(jù)流 經(jīng)所述阻抗單元的等效電流設(shè)定所述控制信號(hào)，其中當(dāng)所述第一開(kāi)關(guān)由所述 控制單元閉合與所述第二開(kāi)關(guān)由所述控制單元斷開(kāi)時(shí)，第一控制信號(hào)被輸出 至所述壓控振蕩器以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及當(dāng)所述 第一開(kāi)關(guān)由所述控制單元斷開(kāi)與所述第二開(kāi)關(guān)由所述控制單元閉合時(shí)，第二 控制信號(hào)被輸出至所述壓控振蕩器以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成 信號(hào)。
4.如權(quán)利要求2所述的信號(hào)產(chǎn)生裝置，其特征在于，所述控制信號(hào)產(chǎn)生 器還包含有充電電流源，用來(lái)產(chǎn)生充電電流；第一開(kāi)關(guān)，其耦接至所述充電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述充電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第一開(kāi)關(guān)在正常模式中由所述 檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；放電電流源，用來(lái)產(chǎn)生放電電流；第二開(kāi)關(guān)，其耦接至所述放電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述放電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第二開(kāi)關(guān)在所述正常模式 中由所述檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；以及可調(diào)整阻抗單元，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)與所述 控制單元，用來(lái)依據(jù)流經(jīng)所述可調(diào)整阻抗單元的電流來(lái)設(shè)定所述控制信號(hào)， 其中當(dāng)所述第一開(kāi)關(guān)與所述第二開(kāi)關(guān)其中之一由所述控制單元閉合時(shí)，所述 控制單元設(shè)定所述可調(diào)整阻抗單元至第一阻抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生 所述第一合成信號(hào)，以及所述控制單元還設(shè)定所述可調(diào)整阻抗單元至第二阻 抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成信號(hào)。
5.如權(quán)利要求2所述的信號(hào)產(chǎn)生裝置，其特征在于，所述控制信號(hào)產(chǎn)生器還包含有充電電流源，用來(lái)產(chǎn)生充電電流；第一開(kāi)關(guān)，其耦接至所述充電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述充電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第一開(kāi)關(guān)在正常模式中由所述 檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；放電電流源，用來(lái)產(chǎn)生放電電流；第二開(kāi)關(guān)，其耦接至所述放電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述放電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第二開(kāi)關(guān)在所述正常模式 中由所述檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；可調(diào)整偏壓電流源，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)與所 述控制單元，用來(lái)產(chǎn)生偏壓電流；以及阻抗單元，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，用來(lái)依據(jù)流 經(jīng)所述阻抗單元的等效電流來(lái)設(shè)定所述控制信號(hào)，其中在所述校正模式中， 所述控制單元設(shè)定所述可調(diào)整偏壓電流源以提供第一偏壓電流以使所述壓 控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及所述控制單元還設(shè)定所述可調(diào)整偏壓 電流源以提供第二偏壓電流以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成信號(hào)。
6. 如權(quán)利要求2所述的信號(hào)產(chǎn)生裝置，其特征在于，所述控制信號(hào)產(chǎn)生器還包含有充電電流源，用來(lái)產(chǎn)生充電電流；第一開(kāi)關(guān)，其耦接至所述充電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述充電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第一開(kāi)關(guān)在正常模式中由所述 檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；放電電流源，用來(lái)產(chǎn)生放電電流；第二開(kāi)關(guān)，其耦接至所述放電電流，用來(lái)選擇性地耦接所述放電電流源 至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，其中所述第二開(kāi)關(guān)在所述正常模式 中由所述檢測(cè)信號(hào)控制以及在所述校正模式中由所述控制單元控制；偏壓電流源，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)，用來(lái)產(chǎn)生 偏壓電流；以及可調(diào)整阻抗單元，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)與所述 控制單元，用來(lái)依據(jù)流經(jīng)所述可調(diào)整阻抗單元的等效電流來(lái)設(shè)定所述控制信 號(hào)，其中在所述校正模式中，所述控制單元設(shè)定所述可調(diào)整阻抗單元至第一 阻抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及所述控制單元還設(shè) 定所述可調(diào)整阻抗單元至第二阻抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合 成信號(hào)。
7. —種信號(hào)產(chǎn)生方法，該方法依據(jù)輸入信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)，所述方法包 含有(a)使用鎖相環(huán)裝置來(lái)產(chǎn)生所述合成信號(hào)，其中所述鎖相環(huán)裝置包含有相位/頻率檢測(cè)器，用來(lái)依據(jù)參考振蕩信號(hào)與反饋信號(hào)來(lái)產(chǎn)生檢測(cè)信號(hào)； 控制信號(hào)產(chǎn)生器，其耦接至所述相位/頻率檢測(cè)器，用來(lái)依據(jù)所述檢測(cè)信 號(hào)產(chǎn)生控制信號(hào)；壓控振蕩器，其耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器，用來(lái)依據(jù)所述控制信號(hào)產(chǎn) 生所述合成信號(hào)；以及分頻器，其耦接至所述壓控振蕩器，用來(lái)依據(jù)分頻因子對(duì)所述合成信號(hào)進(jìn)行分頻以產(chǎn)生所述反饋信號(hào)；(b) 控制所述控制信號(hào)產(chǎn)生器以在校正模式中調(diào)整所述控制信號(hào)來(lái)調(diào)整 所述合成信號(hào)的頻率，其中所述相位/頻率檢測(cè)器在所述校正模式中不輸出所 述檢測(cè)信號(hào)至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器；(c) 在所述校正模式中檢測(cè)所述合成信號(hào)以產(chǎn)生校正信號(hào)；(d) 對(duì)所述輸入信號(hào)進(jìn)行濾波并依據(jù)所述校正信號(hào)來(lái)校正所述輸入信號(hào) 以產(chǎn)生濾波信號(hào)；以及(e) 調(diào)制所述濾波信號(hào)以產(chǎn)生所述分頻因子。
8. 如權(quán)利要求7所述的信號(hào)產(chǎn)生方法，其特征在于，所述步驟(c)還包 含有檢測(cè)第一合成信號(hào)與第二合成信號(hào)以分別產(chǎn)生第一計(jì)數(shù)值與第二計(jì)數(shù)值；暫存所述第一計(jì)數(shù)值與所述第二計(jì)數(shù)值；以及依據(jù)預(yù)定差值以及所述第一計(jì)數(shù)值與所述第二計(jì)數(shù)值之間的差值產(chǎn)生 所述校正信號(hào)。
9. 如權(quán)利要求8所述的信號(hào)產(chǎn)生方法，其特征在于，所述步驟(a)還包 含有產(chǎn)生充電電流；選擇性地耦接所述充電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)； 產(chǎn)生放電龜流；選擇性地耦接所述放電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)； 產(chǎn)生偏壓電流；以及使用阻抗單元以依據(jù)流經(jīng)所述阻抗單元的等效電流來(lái)設(shè)定所述控制信 號(hào)，其中當(dāng)所述充電電流耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)以及所述放電電流不耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)時(shí)，將第一控制信 號(hào)輸出至所述壓控振蕩器以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及 當(dāng)所述充電電流不耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)以及所述放 電電流耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)時(shí)，將第二控制信號(hào)輸出 至所述壓控振蕩器以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成信號(hào)。
10. 如權(quán)利要求8所述的信號(hào)產(chǎn)生方法，其特征在于，所述步驟(a)還包含有產(chǎn)生充電電流；選擇性地耦接所述充電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)； 產(chǎn)生放電電流；選擇性地耦接所述放電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)；以及使用可調(diào)整阻抗單元以依據(jù)流經(jīng)所述阻抗單元的所述電流來(lái)設(shè)定所述 控制信號(hào)，其中當(dāng)所述充電電流與所述放電電流之一耦接至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)時(shí)，將所述可調(diào)整阻抗單元設(shè)定至第一阻抗值以使所述 壓控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及還將所述可調(diào)整阻抗單元設(shè)定至第 二阻抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成信號(hào)。
11. 如權(quán)利要求8所述的信號(hào)產(chǎn)生方法，其特征在于，步驟(a)還包含有: 產(chǎn)生充電龜流；選擇性地耦接所述充電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)； 產(chǎn)生放電電流；選擇性地耦接所述放電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)；使用可調(diào)整偏壓電流源來(lái)產(chǎn)生偏壓電流；以及使用阻抗單元以依據(jù)流經(jīng)所述阻抗單元的等效電流來(lái)設(shè)定所述控制信 號(hào)，其中在所述校正模式中，所述可調(diào)整偏壓電流源提供第一偏壓電流以使 所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及所述可調(diào)整偏壓電流源還提供 第二偏壓電流以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成信號(hào)。
12.如權(quán)利要求8所述的信號(hào)產(chǎn)生方法，其特征在于，步驟(a)還包含有產(chǎn)生充電電流；選擇性地耦接所述充電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的輸出節(jié)點(diǎn)； 產(chǎn)生放電電流；選擇性地耦接所述放電電流至所述控制信號(hào)產(chǎn)生器的所述輸出節(jié)點(diǎn)； 產(chǎn)生偏壓電流；以及使用可調(diào)整阻抗單元以依據(jù)流經(jīng)所述可調(diào)整阻抗單元的等效電流來(lái)設(shè) 定所述控制信號(hào)，其中在所述校正模式中，將所述可調(diào)整阻抗單元設(shè)定至第 一阻抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第一合成信號(hào)，以及將所述可調(diào)整阻 抗單元設(shè)定至第二阻抗值以使所述壓控振蕩器產(chǎn)生所述第二合成信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種信號(hào)產(chǎn)生裝置及其相關(guān)方法，該信號(hào)產(chǎn)生裝置依據(jù)輸入信號(hào)產(chǎn)生合成信號(hào)，其包含有鎖相環(huán)裝置、控制單元、檢測(cè)裝置、濾波裝置及調(diào)制裝置。鎖相環(huán)裝置包含相位/頻率檢測(cè)器、控制信號(hào)產(chǎn)生器、壓控振蕩器及分頻器?？刂茊卧刂瓶刂菩盘?hào)產(chǎn)生器以于校正模式中調(diào)整控制信號(hào)以調(diào)整合成信號(hào)的頻率，其中相位/頻率檢測(cè)器在校正模式中不輸出檢測(cè)信號(hào)。檢測(cè)裝置，用于校正模式中檢測(cè)合成信號(hào)以產(chǎn)生校正信號(hào)。濾波裝置，對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行濾波并依據(jù)校正信號(hào)校正輸入信號(hào)以產(chǎn)生濾波信號(hào)。調(diào)制裝置，調(diào)制濾波信號(hào)，以產(chǎn)生分頻因子。上述信號(hào)產(chǎn)生裝置降低了鎖相環(huán)對(duì)轉(zhuǎn)換函數(shù)的參數(shù)變化的敏感度，增加了鎖相環(huán)的穩(wěn)定性。
文檔編號(hào)H04L27/00GK101272365SQ20071016054
公開(kāi)日2008年9月24日 申請(qǐng)日期2007年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月23日
發(fā)明者余岱原, 柯凌維, 汪炳穎, 陳信宏 申請(qǐng)人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司