專利名稱：一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及網(wǎng)絡(luò)通信領(lǐng)域，特別涉及一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法和裝置。
背景技術(shù)：
目前很多產(chǎn)品為了提高產(chǎn)品可靠性都采用雙主控冗余設(shè)計，當(dāng)檢測到主用主控板出現(xiàn)問題后，可以將設(shè)備控制權(quán)交給備用主控板進行管理控制。一般都是由主控板上的一個EPLD(Erasable Programmable Logic Device，可擦除可編程邏輯器件)完成整個單板的各種雜散控制功能，如故障檢測，復(fù)位控制、主備倒換等。該邏輯芯片失效后，整個單板乃至整個系統(tǒng)的控制將處于一片混亂狀況，最終將導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。由此可以看出，該邏輯控制芯片對系統(tǒng)正常工作的重要性，所以要對其進行檢測，當(dāng)發(fā)現(xiàn)芯片異常時立即進行主備倒換，不致影響系統(tǒng)后續(xù)正常工作。
該邏輯芯片的故障模式包含以下幾種芯片整體失效、部分失效，邏輯芯片的工作時鐘異常。由于邏輯芯片負(fù)責(zé)主控板上的故障檢測，所以它本身出現(xiàn)以上三種故障均無法進行檢測。
目前系統(tǒng)優(yōu)選的主備倒換策略為主倒備方式，即主用主控板通過復(fù)位方式降為備用，原備用主控板才能升為主用。后退一步，就算目前可以對其故障進行檢測，但由于邏輯芯片也負(fù)責(zé)復(fù)位控制和主備倒換，所以其失效后也無法進行復(fù)位和主備倒換操作，無法完成恢復(fù)故障，導(dǎo)致整個系統(tǒng)處于癱瘓狀態(tài)，影響產(chǎn)品的可靠性。
參見圖1，為控制路徑失效串聯(lián)模型框圖，邏輯芯片的失效率一般為20fit(failure rate，失效率)左右，晶振的失效率一般可以達(dá)到60fit左右，時鐘驅(qū)動器失效率為10fit左右。晶振、時鐘驅(qū)動器和邏輯芯片三者組成了串聯(lián)模型，串聯(lián)系統(tǒng)的可用度小于系統(tǒng)中任一單元的可用度，當(dāng)它出現(xiàn)故障時系統(tǒng)無法進行檢測，更無法進行故障恢復(fù)，屬于系統(tǒng)I類故障，任何一個點出現(xiàn)故障均可能導(dǎo)致系統(tǒng)的癱瘓，所以對于主控板控制邏輯失效問題的檢測和補償措施應(yīng)當(dāng)引起足夠的重視。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有主備倒換方案中因沒有針對邏輯控制芯片進行檢測導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓的問題，本發(fā)明提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法和裝置。所述技術(shù)方案如下本發(fā)明提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，所述方法包括以下步驟步驟A主控板上的指定邏輯控制芯片對所述主控板上的主邏輯控制芯片進行檢測；步驟B當(dāng)所述指定邏輯控制芯片檢測出所述主邏輯控制芯片有異常時，觸發(fā)主備板倒換。
所述步驟A還包括所述主邏輯控制芯片對所述指定邏輯控制芯片進行檢測，相應(yīng)地，所述步驟B還包括所述主邏輯控制芯片將所述指定邏輯控制芯片的檢測結(jié)果寫入原有的故障檢測邏輯。
所述步驟B具體包括所述指定邏輯控制芯片檢測所述主邏輯控制芯片是否有異常，如果沒有異常，打開主備狀態(tài)信號輸出使能，如果有異常，關(guān)閉主備狀態(tài)信號輸出使能，進行主備板倒換。
所述步驟B具體還包括當(dāng)發(fā)現(xiàn)所述指定邏輯控制芯片出現(xiàn)異常時，上報告警，觸發(fā)主備板倒換。
所述主控板沒有信號輸入時，該主控板為備用狀態(tài)。
所述主邏輯控制芯片和所述指定邏輯控制芯片選用不同頻率的工作時鐘。
本發(fā)明還提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，所述裝置包括以下模塊檢測模塊，用于主控板上的指定邏輯控制芯片對所述主控板上的主邏輯控制芯片進行檢測；檢測結(jié)果處理模塊，用于當(dāng)所述指定邏輯控制芯片檢測出所述主邏輯控制芯片有異常時，觸發(fā)主備板倒換。
所述裝置還包括指定邏輯控制芯片檢測模塊，用于所述主邏輯控制芯片對所述指定邏輯控制芯片進行檢測，并將檢測結(jié)果寫入原有的故障檢測邏輯。
所述指定邏輯控制芯片檢測模塊還用于當(dāng)所述主邏輯控制芯片發(fā)現(xiàn)所述指定邏輯控制芯片出現(xiàn)異常時，上報告警，觸發(fā)主備板倒換。
所述主邏輯控制芯片和所述指定邏輯控制芯片選用不同頻率的工作時鐘。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是通過設(shè)計單板的硬件達(dá)到對主板的邏輯控制芯片進行檢測，防止了因為邏輯控制芯片出現(xiàn)異常而導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)異常的情況。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)中控制邏輯失效串聯(lián)模型示意圖；圖2是本發(fā)明實施例1提供的EPLD1和EPLD2/FPGA進行互檢的示意圖；圖3是本發(fā)明實施例2提供的對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明，但不作為對本發(fā)明的限定。
本發(fā)明主要通過主控板上的主邏輯控制芯片和另一片邏輯控制芯片(EPLD或FPGA)進行互檢達(dá)到檢測主邏輯控制芯片是否失效的目的。
實施例1參見圖2所示，EPLD1和EPLD2/FPGA(Field Programmable Gate Array，現(xiàn)場可編程門陣列)進行互檢。其中，EPLD1是原負(fù)責(zé)整個主控板雜散控制功能的主邏輯控制芯片。主備倒換處理仍然由EPLD1完成，EPLD2/FPGA不參與主備倒換，作為指定的邏輯控制芯片對EPLD1進行檢測。EPLD2/FPGA通過輸出MST_OE信號控制本板輸出到對板的主備狀態(tài)信號的輸出使能。
具體互檢過程如下1)EPLD1將對EPLD2/FPGA檢測結(jié)果寫入到EPLD1原有的故障檢測邏輯，檢測到異常情況后，EPLD1上報告警觸發(fā)復(fù)位倒換。這樣可以防止由于EPLD2/FPGA器件的故障影響主備倒換執(zhí)行。
需要注意的是無需單純?yōu)榱颂岣呖煽啃远匾馓砑覧PLD2/FPGA器件，那樣會增加設(shè)計復(fù)雜程度，并引入新的器件失效率，因為目前的單板基本有兩個邏輯芯片，可以直接借用現(xiàn)有的邏輯芯片進行互檢。
2)EPLD2/FPGA對EPLD1進行故障檢測。當(dāng)EPLD2/FPGA沒有發(fā)現(xiàn)EPLD1出現(xiàn)異常時，打開主備狀態(tài)信號輸出使能；當(dāng)檢測出EPLD2/FPGA異常時，關(guān)閉主備狀態(tài)信號的輸出使能，導(dǎo)致備板看到的主板為備用，觸發(fā)備板升為主用。
MST_OE主備狀態(tài)使能信號在單板上進行上拉處理，使其保持默認(rèn)關(guān)閉狀態(tài)，可以提高設(shè)計的可靠性。
在主控板上分別將接收到對板的主備狀態(tài)差分信號進行上下拉處理，使其在無輸入狀態(tài)下默認(rèn)對板為備用主控板；需要說明的是，雙主控系統(tǒng)是對于兩個主控板而言，每個主控板看到的另外一個主控板即成為對板，在圖中對于主控板來講備板即為對板；對于備板來講主控板即為對板。在子卡上也將收到的兩個主控板的主備狀態(tài)差分信號進行上下拉處理，在主控板無輸入的情況下，默認(rèn)該主控板為備用狀態(tài)。需要說明的是，子卡是除主控板外的其它單板。這樣當(dāng)發(fā)現(xiàn)控制邏輯出現(xiàn)故障時，可以通過關(guān)閉主控板的主備狀態(tài)信號輸出使能，對板和子卡都將默認(rèn)其為備用板。此方案可以通過硬件保證備用主控板升為主用，子卡也可以接收正常主控板下發(fā)的命令。
在上述設(shè)計中如果EPLD1和EPLD2/FPGA采用相同頻率的工作時鐘和時鐘驅(qū)動器，會出現(xiàn)工作時鐘出現(xiàn)異常使系統(tǒng)主備倒換混亂，所以在邏輯器件選型中最好選用不同頻率的工作時鐘，提高故障檢測率和主備倒換成功率。
實施例2參見圖3，本發(fā)明還提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，包括以下模塊檢測模塊，用于主控板上的指定邏輯控制芯片對主控板上的主邏輯控制芯片進行檢測；檢測結(jié)果處理模塊，用于當(dāng)指定邏輯控制芯片檢測出主邏輯控制芯片有異常時，觸發(fā)主備板倒換。
為了增加系統(tǒng)的可靠性，該裝置還包括指定邏輯控制芯片檢測模塊，用于主邏輯控制芯片對指定邏輯控制芯片進行檢測，并將檢測結(jié)果寫入原有的故障檢測邏輯。
指定邏輯控制芯片檢測模塊還用于當(dāng)主邏輯控制芯片發(fā)現(xiàn)指定邏輯控制芯片出現(xiàn)異常時，上報告警，觸發(fā)主備板倒換。
主邏輯控制芯片和指定邏輯控制芯片選用不同頻率的工作時鐘。
以上所述的實施例，只是本發(fā)明較優(yōu)選的具體實施方式
的一種，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)進行的通常變化和替換都應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟步驟A主控板上的指定邏輯控制芯片對所述主控板上的主邏輯控制芯片進行檢測；步驟B當(dāng)所述指定邏輯控制芯片檢測出所述主邏輯控制芯片有異常時，觸發(fā)主備板倒換。
2.如權(quán)利要求1所述的對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，其特征在于，所述步驟A還包括所述主邏輯控制芯片對所述指定邏輯控制芯片進行檢測，相應(yīng)地，所述步驟B還包括所述主邏輯控制芯片將所述指定邏輯控制芯片的檢測結(jié)果寫入原有的故障檢測邏輯。
3.如權(quán)利要求1所述的一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，其特征在于，所述步驟B具體包括所述指定邏輯控制芯片檢測所述主邏輯控制芯片是否有異常，如果沒有異常，打開主備狀態(tài)信號輸出使能，如果有異常，關(guān)閉主備狀態(tài)信號輸出使能，進行主備板倒換。
4.如權(quán)利要求2所述的一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，其特征在于，所述步驟B具體還包括當(dāng)發(fā)現(xiàn)所述指定邏輯控制芯片出現(xiàn)異常時，上報告警，觸發(fā)主備板倒換。
5.如權(quán)利要求1至4任一權(quán)利要求所述的一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，其特征在于，所述主控板沒有信號輸入時，該主控板為備用狀態(tài)。
6.如權(quán)利要求5所述的一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，其特征在于，所述主邏輯控制芯片和所述指定邏輯控制芯片選用不同頻率的工作時鐘。
7.一種對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，其特征在于，所述裝置包括以下模塊檢測模塊，用于主控板上的指定邏輯控制芯片對所述主控板上的主邏輯控制芯片進行檢測；檢測結(jié)果處理模塊，用于當(dāng)所述指定邏輯控制芯片檢測出所述主邏輯控制芯片有異常時，觸發(fā)主備板倒換。
8.如權(quán)利要求7所述的對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，其特征在于，所述裝置還包括指定邏輯控制芯片檢測模塊，用于所述主邏輯控制芯片對所述指定邏輯控制芯片進行檢測，并將檢測結(jié)果寫入原有的故障檢測邏輯。
9.如權(quán)利要求8所述的一種對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，其特征在于，所述指定邏輯控制芯片檢測模塊還用于當(dāng)所述主邏輯控制芯片發(fā)現(xiàn)所述指定邏輯控制芯片出現(xiàn)異常時，上報告警，觸發(fā)主備板倒換。
10.如權(quán)利要求7所述的一種對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，其特征在于，所述主邏輯控制芯片和所述指定邏輯控制芯片選用不同頻率的工作時鐘。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法和裝置，屬于網(wǎng)絡(luò)通信領(lǐng)域。為了解決現(xiàn)有技術(shù)中沒有對邏輯控制芯片進行檢測的問題，本發(fā)明提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的方法，所述方法包括主控板上的指定邏輯控制芯片對所述主控板上的主邏輯控制芯片進行檢測，當(dāng)所述指定邏輯控制芯片檢測出所述主邏輯控制芯片有異常時，觸發(fā)主備板倒換的步驟。本發(fā)明還提供了一種對主控板邏輯控制芯片檢測的裝置，所述裝置包括檢測模塊和檢測結(jié)果處理模塊。采用本發(fā)明所述方案的解決了因主控板邏輯控制芯片出現(xiàn)異常導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓的問題。
文檔編號H04M3/24GK1968031SQ20061014589
公開日2007年5月23日 申請日期2006年11月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月22日
發(fā)明者金敬 申請人:華為技術(shù)有限公司