專利名稱：可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種測試裝置，且特別是關(guān)于一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的 測試裝置。
背景技術(shù)：
應用以太網(wǎng)絡(luò)供電(Power over Ethernet, PoE )技術(shù)的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備 (如交換機，switches),可直接經(jīng)由以太網(wǎng)絡(luò)傳輸電源，免除網(wǎng)絡(luò)設(shè) 備對于電源插座的需求，同時也降低配設(shè)電源線的復雜度。但是，網(wǎng)絡(luò) 設(shè)備中用來控制以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊供電動作的開關(guān)晶體管與保險絲很 容易受到靜電破壞。因此，常常在出貨后才發(fā)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中的以太網(wǎng)絡(luò) 供電模塊已經(jīng)損毀，無法正常運作。因此，如能在產(chǎn)品完成后，先進行靜電損傷的檢驗，就能在出貨前 便可先行發(fā)現(xiàn)開關(guān)晶體管與保險絲，加以修補，以提高產(chǎn)品良率。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提供一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，利用發(fā)光二 極管與電阻形成 一 測試電路，將網(wǎng)絡(luò)設(shè)備所輸出的電信號轉(zhuǎn)換為光信 號，并以不同的光信號表示網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中控制以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊供電動作 的開關(guān)晶體管與保險絲是否被靜電損壞。本發(fā)明的另一目的是提供一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，利用多 個發(fā)光二極管與多個電阻形成一測試電路，可同步檢測具有多個網(wǎng)絡(luò)插 座的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，同時將其輸出的電信號轉(zhuǎn)換為光信號，測試裝置的發(fā)光 二極管并以不同的光信號分別表示網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中控制以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊 供電動作的開關(guān)晶體管與保險絲是否被靜電損壞。為達成上述與其它目的，本發(fā)明提出一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝 置，此網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括有至少一個以上的網(wǎng)絡(luò)插座，以及一以太網(wǎng)絡(luò)供電 模塊。上述測試裝置包括有至少一個以上的網(wǎng)絡(luò)連接器、至少一個以上
的電阻以及至少一個以上的發(fā)光二極管。其中，網(wǎng)絡(luò)連接器具有8個管 腳(pin)，其具有一第一管腳， 一第二管腳， 一第三管腳與一第四管腳。 電阻的其中一端耦接至第一管腳與第二管腳，發(fā)光二極管的陰極耦接于 電阻的另 一 端，發(fā)光二極管的陽極耦接于第三管腳與第四管腳。其中，當測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，測 試裝置根據(jù)內(nèi)部發(fā)光二極管產(chǎn)生的光信號，辨識網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太網(wǎng)絡(luò)供 電模塊的損壞狀態(tài)。為達成上述與其它目的，本發(fā)明提出一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝 置，此網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括有一以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊。上述測試裝置包括N個 網(wǎng)絡(luò)連接器、N個電阻與N個發(fā)光二極管，N為正整數(shù)。其中，每一個 網(wǎng)絡(luò)連接器皆具有一第一管腳， 一第二管腳， 一第三管腳與一第四管腳， 電阻對應于網(wǎng)絡(luò)連接器，其中第i電阻的一端耦接于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器 的第一管腳與第二管腳，為正整數(shù)，且(KKN。發(fā)光二極管亦對應于網(wǎng)絡(luò)連接器，其中第i個發(fā)光二極管的陰極耦 接于第i個電阻的另一端:且第i個發(fā)光二極管的陽極耦接于第i個網(wǎng) 絡(luò)連接器的該第三管腳與該第四管腳。其中，當網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng) 絡(luò)設(shè)備時，測試裝置根據(jù)發(fā)光二極管產(chǎn)生的光信號，辨識以太網(wǎng)絡(luò)供電 模塊的損壞狀態(tài)。上述的測試模塊，若發(fā)光二極管產(chǎn)生間歇性閃爍的光信號，則表示 網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊未損壞。綜合上述，本發(fā)明因采用多個發(fā)光二極管，利用網(wǎng)絡(luò)設(shè)備在運作中 所輸出的測試信號，將其轉(zhuǎn)換為光信號，并藉由光信號的變化，可以快 速的辨識網(wǎng)絡(luò)設(shè)備是否被靜電所損壞，進而提高良率。為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特 舉本發(fā)明的較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。


圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的網(wǎng)絡(luò)連接器的示意圖。 圖2為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試裝置的電路圖。 圖3為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試裝置的示意圖。 圖4為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試電路狀態(tài)的示意圖。 圖5為根據(jù)圖4實施例的硬件測試的示意圖。主要組件符號說明Pi p"管腳Fl:第一管腳F2:第二管腳F3:第三管腳F6:第四管腳P0EC:控制信號ES:網(wǎng)絡(luò)信號Vdc:直流電壓200、 300:測試裝置210、 311 ~ 31i—31N、 410:發(fā)光220> 321 ~ 32i—32N、 420:電阻230、 301—30i—30N:網(wǎng)絡(luò)連接器440以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊450光電耦合組件460變壓器470開關(guān)晶體管480保險絲510測試裝置520網(wǎng)絡(luò)連接器530發(fā)光二極管540網(wǎng)絡(luò)設(shè)備550網(wǎng)絡(luò)插座具體實施方式
圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的網(wǎng)絡(luò)連接器的示意圖。圖l所示為一RJ45的網(wǎng)絡(luò)連接器示意圖，其中包括8個管腳P, Ps，每一管腳均有固 定的規(guī)格。管腳P為RTS管腳，用以要求數(shù)據(jù)傳送之用，管腳P,為DTR 管腳，用以確認數(shù)據(jù)終端機是否備妥。管腳P3為TXD管腳，用以傳輸數(shù) 據(jù)，管腳P6為RXD管腳，用以接收數(shù)據(jù)。關(guān)于其余管腳的功能，在本技
術(shù)領(lǐng)i或具有通常知識應可輕易4侏知，在此不加累述。圖2為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試裝置的電路圖，以下說明請同時 參照圖1，本實施例的測試裝置適用于測試具有以太網(wǎng)絡(luò)供電功能的網(wǎng) 絡(luò)設(shè)備，其以太網(wǎng)絡(luò)供電功能通常藉由一以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊所控制，而 以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊通常具有一開關(guān)晶體管與一保險絲控制以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的供電動作。測試裝置200包括網(wǎng)絡(luò)連接器230、發(fā)光二極管210 以及電阻220。在本實施例中，令網(wǎng)絡(luò)連接器230的第一管腳Fl為管腳 第二管腳F2為管腳P2，第三管腳F3為管腳P"第四管腳F6為管腳 P6。電阻220的一端耦接至上述網(wǎng)絡(luò)連接器2 30的第一管腳Fl與第二管 腳F2。發(fā)光二極管210的陰極耦接于電阻220的另一端，發(fā)光二極管210 的陽極耦接于上述網(wǎng)絡(luò)連接器230的第三管腳F3與第四管腳F6。當網(wǎng) 絡(luò)連接器230耦接至網(wǎng)絡(luò)設(shè)備(未繪示)的網(wǎng)絡(luò)插座時，根據(jù)發(fā)光二極 管產(chǎn)生的光信號，辨識以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)。并將之傳達給使 用者，告知使用者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備是否被靜電所損壞。若發(fā)光二極管210產(chǎn)生 間歇性閃爍的光信號，則表示網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊未損壞。若 發(fā)光二極管210產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號，則表示以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的開 關(guān)晶體管損毀。若發(fā)光二極管未產(chǎn)生光信號，則表示以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊 的保險絲損毀。圖3為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試裝置的示意圖，適用于測試具有 多個網(wǎng)絡(luò)插座的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，例如交換機(switches )，且更適用于具有 以太網(wǎng)絡(luò)供電功能的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備。測試裝置300包括N個網(wǎng)絡(luò)連接器301 ~ 30N, N個電阻221 ~ 22N以及N個發(fā)光二極管311 ~ 31N。測試裝置300中的每一個網(wǎng)絡(luò)連接器皆具有第一管腳Fl，第二管腳 F2,第三管腳F3與第四管腳F6, N為正整數(shù)。其中，各個網(wǎng)絡(luò)連接器 的管腳則如圖1所述，在本實施例中，令第一管腳Fl為管腳Pn第二 管腳F2為管腳P2，第三管腳F3為管腳P"第四管腳F6為管腳P"N個電阻321 ~ 32N —對一對應于N個網(wǎng)絡(luò)連接器301 ~ 30N,其中 第i電阻32i的一端耦接于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器30i的第一管腳Fl與第 二管腳F2， i為正整數(shù)，且(Ki〈N。N個發(fā)光二極管31131N —對一對應于網(wǎng)絡(luò)連接器301 ~ 30N,其 中第i個發(fā)光二極管31 i的陰極耦接于第i個電阻32i的另一端，且第 i個發(fā)光二極管31i的陽極耦接于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器30i的第三管腳F3 與第四管腳F4。其中，當測試裝置300的網(wǎng)絡(luò)連接器301 ~ 30N耦接至該網(wǎng)絡(luò)i殳備 時，根據(jù)發(fā)光二極管311-31N所產(chǎn)生的光信號，辨識網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太 網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài),若發(fā)光二極管311-31N皆產(chǎn)生間歇性閃爍 的光信號，則表示網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊未損壞。請參照圖2的 實施例，圖3所示的測試裝置200可視為多個圖2所示電路的集合。因 此，利用圖3測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備時，每一個發(fā)光二極管311 31N則分別對 應于網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中不同的網(wǎng)絡(luò)插座，其辨識燈號與所對應的網(wǎng)絡(luò)插座的以 太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)則如圖2實施例所述，在此不加累述。圖4為根據(jù)本發(fā)明一實施例的測試電路狀態(tài)的示意圖。圖4僅以測 試一個網(wǎng)絡(luò)連接器的方式敘述本發(fā)明的主要技術(shù)手段，在本技術(shù)領(lǐng)域具 有通常知識者，經(jīng)由本發(fā)明的揭露應可輕易推知多個網(wǎng)絡(luò)連接器的測試 方式，在此不加累述。如圖4所示，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440,并可經(jīng)由網(wǎng)絡(luò) 插座的管腳提供直流電壓，在本實施例中，以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440則將 網(wǎng)絡(luò)插座的第1、 2管腳定義為負電壓端，第3、 6管腳定義為正電壓端。 當然其腳位的定義可因設(shè)定而不同，本實施例^f叉以上述腳位設(shè)定條件為例，其余可能的腳位設(shè)定方式，僅需對應調(diào)整測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器的 腳位即可，在此不加累述，以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440包括光電耦合組件450、變壓器460、開關(guān) 晶體管470以及保險絲480。網(wǎng)絡(luò)設(shè)備經(jīng)由光電耦合組件450輸入控制 信號POEC至開關(guān)晶體管470，當開關(guān)晶體管470導通時，則輸出直流電 壓Vde至網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座，并在其正電壓端(網(wǎng)絡(luò)插座的第3、 6管 腳)與負電壓端(網(wǎng)絡(luò)插座的第1、 2管腳)之間形成一直流電壓差， 在本實施例中為48伏特。然而，以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440中的開關(guān)晶體管470與保險絲480可 能被靜電所損傷。若開關(guān)晶體管470與保險絲480其中之一被靜電所損 傷，則以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440便無法正常供電。因此，在測試時，將測 試裝置耦-接至網(wǎng)絡(luò)i殳備，經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)連接器，測試裝置中的電阻420井禺接 于負電壓端(網(wǎng)絡(luò)插座的第1、 2管腳)與發(fā)光二極管410之間，而發(fā) 光二極管410的另一端則耦接于正電壓端(網(wǎng)絡(luò)插座的第3、 6管腳)。 在以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440未供電的情況下，也就是開關(guān)晶體管470關(guān)閉 的狀態(tài)下，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備會經(jīng)由變壓器460傳送網(wǎng)絡(luò)信號ES。因此，若發(fā)光 二極管410產(chǎn)生間歇性的閃爍，則表示以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440中的開關(guān) 晶體管470與保險絲480皆為正常的狀態(tài)，未受靜電所損壞。若發(fā)光二極管410產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號，則表示以太網(wǎng)絡(luò)供電模 塊440中的開關(guān)晶體管470已經(jīng)損壞，其破壞原因可能為靜電。若發(fā)光 二極管410未產(chǎn)生光信號，則表示以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊440的保險絲480 損毀，其破壞原因可能為靜電。另外，在網(wǎng)絡(luò)設(shè)備剛開機時，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備會進入初始化狀態(tài)，此時， 若發(fā)光二極管410產(chǎn)生持續(xù)性發(fā)亮的光信號，則表示以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊 440的開關(guān)晶體管470已經(jīng)損毀，其破壞原因可能為靜電。圖4雖僅說明單一網(wǎng)絡(luò)插座的測試情況，但本發(fā)明并不限定于測試 插座的數(shù)量，在本技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者，經(jīng)由本發(fā)明的揭露，應可 輕易推知多個網(wǎng)絡(luò)插座的測試方法，在此不加累述。圖5為根據(jù)圖4實施例的硬件測試的示意圖。圖5包括測試裝置510 與網(wǎng)絡(luò)設(shè)備540,其中網(wǎng)絡(luò)設(shè)備54Q僅繪示一部份，包括部分網(wǎng)絡(luò)插座 550，僅用以示意表示測試裝置510與網(wǎng)絡(luò)設(shè)備540在測試時的相對關(guān) 系。在本實施例中，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備540可例如為交換機(switches )。在本實施例中測試裝置510包括8個網(wǎng)絡(luò)連接器520,網(wǎng)絡(luò)連接器 520則以4個為一組，上下并排，設(shè)置于測試裝置510之中。其中，每 一個網(wǎng)絡(luò)連接器520的間距則對應于網(wǎng)絡(luò)設(shè)備540的網(wǎng)絡(luò)插座550的間 距。每一個網(wǎng)絡(luò)連接器520接對應于一個電阻(未繪示)與一個發(fā)光二 極管，詳細電路請參照圖3的說明。發(fā)光二極管可設(shè)置于測試裝置510 的后方(如本實施例中的發(fā)光二極管530 ),對應于網(wǎng)絡(luò)連接器520的方 向。當然，發(fā)光二極管亦可依照使用者的需要而設(shè)置于測試裝置510其 它地方，并不影響其測試結(jié)果。在測試的時候，將測試裝置510直接耦接至網(wǎng)絡(luò)設(shè)備540的網(wǎng)絡(luò)插
座550中，便可經(jīng)由發(fā)光二極管530的光信號，得知網(wǎng)絡(luò)設(shè)備540中的
開關(guān)晶體管與保險絲的損壞狀況。利用光信號的變化取得網(wǎng)絡(luò)設(shè)備5 4 0 中的開關(guān)晶體管與保險絲損壞狀態(tài)的技術(shù)手段皆已詳述于圖3、 4的實
施利說明中，在此不加累:主。
本發(fā)明利用網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的輸出信號，以發(fā)光二極管將其轉(zhuǎn)換為光信 號，讓制造者可以輕易得知網(wǎng)絡(luò)設(shè)備是否被靜電所損壞，并預先修復， 進而提供產(chǎn)品的良率。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明， 任何熟習此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作些許的更 動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的權(quán)利要求所界定者為準。
權(quán)利要求
1.一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，用以搭配一網(wǎng)絡(luò)設(shè)備使用，該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備具有一以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊及一網(wǎng)絡(luò)插座，該測試裝置包括一網(wǎng)絡(luò)連接器，具有多個網(wǎng)絡(luò)管腳，該等網(wǎng)絡(luò)管腳具有一第一管腳，一第二管腳，一第三管腳與一第四管腳；一電阻，該電阻的一端耦接至該第一管腳與該第二管腳；以及一發(fā)光二極管，該發(fā)光二極管的陰極耦接于該電阻的另一端，該發(fā)光二極管的陽極耦接于該第三管腳與該第四管腳；其中，當該測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，該測試裝置根據(jù)該發(fā)光二極管產(chǎn)生的光信號，辨識該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)。
2. 如權(quán)利要求1所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中該網(wǎng)絡(luò)連 接器系為一 RJ45接頭、且該RJ45接頭的第一管腳為一 RTS管腳，該RJ45 接頭的第二管腳為一 DTR管腳、該RJ45接頭的第三管腳為一 TXD管腳 及該RJ45接頭的第四管腳為一 RXD管腳。
3. 如權(quán)利要求1所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當該測試 裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，若該發(fā)光二極管產(chǎn) 生間歇性閃爍的光信號，則表示該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊未損 壞。
4. 如權(quán)利要求1所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中該以太網(wǎng) 絡(luò)供電模塊更包括一開關(guān)晶體管與 一保險絲，用以控制該以太網(wǎng)絡(luò)供電 模塊的供電動作。
5. 如權(quán)利要求4所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當該測試 裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，若該發(fā)光二極管產(chǎn) 生持續(xù)發(fā)亮的光信號，則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損 毀，若該發(fā)光二極管未產(chǎn)生光信號，則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該保 險絲損毀。
6. 如權(quán)利要求4所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當該網(wǎng)絡(luò) 設(shè)備處于初始化狀態(tài)中時，若該發(fā)光二極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號，則 表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開矣晶體管損毀。
7. —種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，用以搭配一網(wǎng)絡(luò)設(shè)備使用，該 網(wǎng)絡(luò)設(shè)備包括至少 一 以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊及至少 一 網(wǎng)絡(luò)插座，該測試裝置包括N個網(wǎng)絡(luò)連接器，分別具有多個網(wǎng)絡(luò)管腳，每一該些網(wǎng)絡(luò)連接器皆 具有一第一管腳， 一第二管腳， 一第三管腳與一第四管腳，N為正整數(shù)；N個電阻，該些電阻對應于該些網(wǎng)絡(luò)連接器，其中第i電阻的一端 耦接于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器的該第一管腳與該第二管腳，i為正整數(shù)，且 0<i<N;以及N個發(fā)光二極管，該些發(fā)光二極管對應于該些網(wǎng)絡(luò)連接器，其中第 i個發(fā)光二極管的陰極耦接于第i個電阻的另一端，且第i個發(fā)光二極 管的陽極耦接于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器的該第三管腳與該第四管腳；其中，當該些網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備時，根據(jù)該些發(fā)光二極 管產(chǎn)生的光信號，辨識該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)。
8. 如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中該些網(wǎng)絡(luò) 連接器包括RJ45接頭，其中該第一管腳為RTS管腳，該第二管腳為DTR 管腳，該第三管腳為TXD管腳，該第四管腳為RXD管腳。
9. 如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當該測試 裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，若該些發(fā)光二極管 皆產(chǎn)生間歇性閃爍的光信號，則表示該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊 未損壞。
10. 如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中該以太 網(wǎng)絡(luò)供電模塊包括一開關(guān)晶體管與一保險絲，用以控制該以太網(wǎng)絡(luò)供電 模塊的供電動作。
11. 如權(quán)利要求10所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當該測 試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，若第i個發(fā)光二 極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號，則表示對應于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器的該以太 網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損毀，若第i個發(fā)光二極管未產(chǎn)生光信號， 則表示對應于第i個網(wǎng)絡(luò)連接器的該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該保險絲損 毀。
12. 如權(quán)利要求10所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當該網(wǎng) 絡(luò)設(shè)備處于初始化狀態(tài)中時，若該發(fā)光二極管產(chǎn)生持續(xù)發(fā)亮的光信號， 則表示該以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的該開關(guān)晶體管損毀。
13.如權(quán)利要求7所述的可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，其中當N等 于8時，該些網(wǎng)絡(luò)連接器以兩列的分布方式，上下對稱的設(shè)置于該測試 裝置之中。
全文摘要
一種可測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，適用于測試具有以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，此測試裝置包括有至少一網(wǎng)絡(luò)連接器、至少一電阻、及至少一發(fā)光二極管。網(wǎng)絡(luò)連接器包括有8個管腳，電阻的其中一端耦接至網(wǎng)絡(luò)連接器的第一管腳與第二管腳。發(fā)光二極管的陰極耦接于電阻的另一端，發(fā)光二極管的陽極耦接于網(wǎng)絡(luò)連接器的第三管腳與第四管腳。其中，當測試裝置的網(wǎng)絡(luò)連接器耦接至網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)插座時，根據(jù)測試裝置的發(fā)光二極管產(chǎn)生的光信號，辨識網(wǎng)絡(luò)設(shè)備內(nèi)部的以太網(wǎng)絡(luò)供電模塊的損壞狀態(tài)。
文檔編號H04M3/22GK101163169SQ200610131799
公開日2008年4月16日 申請日期2006年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月12日
發(fā)明者黃國峰 申請人:智邦科技股份有限公司