專利名稱:能夠校準的收發(fā)器裝置及其校準方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種具有直接轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的收發(fā)器裝置和一種由該收發(fā)器裝置使用的校準方法。
背景技術(shù):
在相關(guān)技術(shù)中,無線局域網(wǎng)(WLAN)是無線系統(tǒng)的新興應(yīng)用。電氣電子工程師協(xié)會(IEEE)802.11是WLAN標準。802.11b標準是第一個商業(yè)化的標準,802.11a標準是針對WLAN市場的新需求而開發(fā)的。802.11a標準使用5GHz頻率并采用正交頻分復用(OFDM)作為它的調(diào)制方案。OFDM在在特定頻率范圍中彼此相隔預定距離的大量載波之中分配數(shù)據(jù)。所述預定距離提供“正交性”,其防止解調(diào)器涉及除其自身的頻率之外的頻率。
相關(guān)技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器是在諸如WLAN的無線系統(tǒng)中使用的一類收發(fā)器。由于相關(guān)技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器通過使用互補型金屬氧化物半導體(CMOS)技術(shù)可以以低成本的單芯片結(jié)構(gòu)來實現(xiàn),所以相關(guān)技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器的使用正變得普遍。另外,通過使用數(shù)字信號處理器(DSP)或微處理器,在校準過程中可最小化諸如同相和正交(IQ)失配、本振(LO)泄漏和DC偏移的相關(guān)技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器問題。
為了實現(xiàn)高效率數(shù)據(jù)傳輸,正積極開發(fā)使用采用多個這種直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器的多輸入多輸出(MIMO)方法的相關(guān)技術(shù)的收發(fā)器裝置。
圖1是包括具有相同結(jié)構(gòu)的第一收發(fā)器110到第n收發(fā)器150的相關(guān)技術(shù)的MIMO收發(fā)器裝置100的示意性方框圖。以下作為示例描述第一收發(fā)器110的結(jié)構(gòu)。
第一收發(fā)器110包括上混頻器111、包絡(luò)檢波器112、下混頻器113和多個開關(guān)114到116。上混頻器111將輸入的基帶信號轉(zhuǎn)換成RF信號并輸出該RF信號。下混頻器113將輸入的RF信號轉(zhuǎn)換成基帶信號并輸出該基帶信號。包絡(luò)檢波器112檢測并輸出輸入信號的包絡(luò)。第一開關(guān)114到第三開關(guān)116用于形成多個校準路徑。通常,可使用二極管容易地實現(xiàn)包絡(luò)檢波器112。
由于相關(guān)技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器的結(jié)構(gòu)特征,導致它們受IQ失配、LO泄漏、DC偏移等的損害。理想情況是,直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器的同相信號路徑和正交信號路徑之間的相差必須為90度,同相信號和正交信號之間的增益必須為0dB。當同相信號路徑和正交信號路徑之間的相差及增益的條件不滿足時,發(fā)生IQ失配。更具體地講,I是指同相,Q是指正交。IQ失配主要是由上混頻器111和下混頻器113的不完善的性能引起的。此外,LO泄漏的主要原因是本機振蕩器性能不完善。由于發(fā)送或接收路徑上的直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器的部件不能理想地執(zhí)行,所以DC偏移出現(xiàn)在基帶信號中。
需要校準來最小化諸如IQ失配的這樣的相關(guān)技術(shù)問題。通常,在收發(fā)器裝置的初始化期間執(zhí)行校準。以下參考圖1的MIMO收發(fā)器裝置100來描述通常,校準分為發(fā)送校準和接收校準。在發(fā)送校準中,在第一開關(guān)116和第二開關(guān)114閉合且第三開關(guān)115斷開之后,測試信號通過基帶發(fā)送端口117被發(fā)送到上混頻器111。上混頻器111將該測試信號調(diào)制為,例如,具有5GHz的高頻的RF信號,并輸出該RF信號。該RF信號通過包絡(luò)檢波器112被解調(diào)回基帶信號,并通過基帶接收端口120被輸出。從基帶接收端口120輸出的基帶信號被輸入到DSP或中央處理單元(CPU)?;谠摶鶐盘?,DSP或CPU根據(jù)預定校準算法進行收發(fā)器裝置的校準。
在接收校準中,在第二開關(guān)114和第三開關(guān)115閉合且第一開關(guān)116斷開之后,測試信號通過基帶發(fā)送端口117被發(fā)送到上混頻器111。上混頻器111將該測試信號調(diào)制成高頻的RF信號并輸出該RF信號。該RF信號通過下混頻器113被下轉(zhuǎn)換回基帶信號,并通過基帶接收端口120被輸出。與在發(fā)送校準中一樣,從基帶接收端口120輸出的基帶信號被輸入到DSP或CPU?;谠摶鶐盘枺珼SP或CPU根據(jù)預定校準算法進行校準。
根據(jù)相關(guān)技術(shù),在接收校準中使用發(fā)送路徑上的上混頻器111。因而,發(fā)送校準必須在接收校準之前進行。對第二收發(fā)器130到第n收發(fā)器150執(zhí)行相同的校準過程。
對于相關(guān)技術(shù)的MIMO收發(fā)器裝置100的校準,第一收發(fā)器110到第n收發(fā)器150中的每個必須包括包絡(luò)檢波器。因此,當以單芯片結(jié)構(gòu)實現(xiàn)收發(fā)器裝置100時,不能實現(xiàn)空間使用的效率。另外,在不使用多個發(fā)送路徑之一的非對稱MIMO收發(fā)器裝置的情況下,即使對接收校準沒有使用的發(fā)送路徑也必須執(zhí)行發(fā)送校準,從而延長了整個校準時間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種MIMO收發(fā)器裝置和一種由該MIMO收發(fā)器裝置使用的校準方法,該MIMO收發(fā)器裝置可以以簡單的結(jié)構(gòu)和低成本實現(xiàn),并可提高校準精度。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,提供一種具有直接轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的收發(fā)器裝置。該裝置包括基準收發(fā)器;多個其余收發(fā)器;和多個發(fā)送校準路徑,連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器,以用于所述其余收發(fā)器的發(fā)送校準。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供一種由包括基準收發(fā)器和多個其余收發(fā)器的收發(fā)器裝置使用的校準方法。該方法包括激活連接所述其余收發(fā)器和基準收發(fā)器的多個發(fā)送校準路徑之一,激活的發(fā)送校準路徑與從用于發(fā)送校準的所述其余收發(fā)器中選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的發(fā)送校準路徑對應(yīng);將測試信號發(fā)送給選擇的收發(fā)器;和基于通過激活的發(fā)送校準路徑輸出的測試信號,執(zhí)行選擇的收發(fā)器的發(fā)送校準。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供一種由包括基準收發(fā)器和多個其余收發(fā)器的收發(fā)器裝置使用的校準方法。該方法包括激活連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器的多個接收校準路徑之一,激活的接收校準路徑與從用于接收校準的所述其余收發(fā)器中選擇的收發(fā)器和基準收發(fā)器之間的接收校準路徑對應(yīng);將測試信號發(fā)送給基準收發(fā)器;和基于通過激活的接收校準路徑輸出的測試信號,執(zhí)行選擇的收發(fā)器的接收校準。
通過參考附圖對本發(fā)明的示例性實施例進行詳細描述,本發(fā)明的以上和其它方面將變得更清楚,其中圖1是相關(guān)技術(shù)的多輸入多輸出(MIMO)收發(fā)器裝置的示意性方框圖;圖2是根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的MIMO收發(fā)器裝置的方框圖;圖3是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的校準方法的流程圖;和圖4是示出根據(jù)本發(fā)明另一示例性實施例的校準方法的流程圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述本發(fā)明,在附圖中顯示了示例性實施例。然而,本發(fā)明可以以許多不同的形式被實施,而不應(yīng)該理解為局限于這里所闡述的實施例;相反,提供這些示例性實施例是為了使本公開徹底和完整,并將本發(fā)明的構(gòu)思全面地傳達給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。附圖中相同的標號表示相同的部件,因而將省略它們的描述。
圖2是根據(jù)示例性實施例的MIMO收發(fā)器裝置200的方框圖。MIMO收發(fā)器裝置200是3×3對稱收發(fā)器裝置,包括第一收發(fā)器210、第二收發(fā)器230、第三收發(fā)器250和數(shù)字接口270。收發(fā)器裝置200還包括第一收發(fā)器210和第二收發(fā)器230之間的發(fā)送/接收校準路徑以及第一收發(fā)器210和第三收發(fā)器250之間的發(fā)送/接收校準路徑。
在每個校準路徑上存在至少一個開關(guān)。通過控制每個校準路徑上的開關(guān)來激活或不激活每個校準路徑。通過從數(shù)字接口270輸出的控制信號來控制校準路徑上的開關(guān),所述控制信號被從外部處理器(未顯示)輸入到數(shù)字接口270。發(fā)送/接收校準路徑也被包括在第一收發(fā)器210中,并通過開關(guān)214到216被激活或不被激活。
第一收發(fā)器210包括基帶發(fā)送端口217、RF發(fā)送端口218、RF接收端口219和基帶接收端口220。第二收發(fā)器230包括基帶發(fā)送端口237、RF發(fā)送端口238、RF接收端口239和基帶接收端口240。第三收發(fā)器250包括基帶發(fā)送端口257、RF發(fā)送端口258、RF接收端口259和基帶接收端口260。RF發(fā)送端口218、RF接收端口219、RF發(fā)送端口238、RF接收端口239、RF發(fā)送端口258和RF接收端口259連接到天線單元(未顯示)。RF發(fā)送端口218、238和258將RF信號發(fā)送給天線單元。由天線單元接收的RF信號被輸入到RF接收端口219、239和259。
基帶發(fā)送端口217、基帶接收端口220、基帶發(fā)送端口237、基帶接收端口240、基帶發(fā)送端口257和基帶接收端口260連接到處理器(未顯示)。基帶發(fā)送端口217、237和257從處理器接收基帶信號。基帶接收端口220、240和260將通過天線單元接收的RF信號下變換為基帶信號,并將該基帶信號發(fā)送給處理器。
通常,使用互補型金屬氧化物半導體(CMOS)集成電路芯片實現(xiàn)該示例性實施例的收發(fā)器裝置200。然而,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解,可以不同地實現(xiàn)收發(fā)器裝置200。該示例性實施例的所有第一收發(fā)器210、第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250是直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器。
第一收發(fā)器210包括上混頻器211、包絡(luò)檢波器212、下混頻器213和多個開關(guān)214、215和216。上混頻器211將輸入的基帶信號轉(zhuǎn)換為RF信號并輸出該RF信號。下混頻器213將RF信號轉(zhuǎn)換為基帶信號并輸出該基帶信號。包絡(luò)檢波器212檢測并輸出輸入信號的包絡(luò)。通常,可使用二極管容易地實現(xiàn)包絡(luò)檢波器212。包絡(luò)檢波器212在發(fā)送校準期間檢測從上混頻器211輸出的RF信號的包絡(luò)。
第二收發(fā)器230包括上混頻器231和下混頻器233。第三收發(fā)器250包括上混頻器251和下混頻器253。雖然第一收發(fā)器210包括包絡(luò)檢波器212,但是第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250不包括用于發(fā)送校準的包絡(luò)檢波器。根據(jù)示例性實施例,第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250使用第一收發(fā)器210的包絡(luò)檢波器212來執(zhí)行發(fā)送校準。
以下參考圖2的收發(fā)器裝置200的結(jié)構(gòu)來描述根據(jù)示例性實施例的校準方法。
通常,在收發(fā)器裝置200的初始化期間執(zhí)行校準。然而,如果必要的話,可在收發(fā)器裝置200的操作期間執(zhí)行校準。
如果包括包絡(luò)檢波器212的第一收發(fā)器210是基準收發(fā)器,則當收發(fā)器裝置200開啟時,在接收校準之前執(zhí)行第一收發(fā)器210(即,基準收發(fā)器)的發(fā)送校準。第一收發(fā)器210的發(fā)送和接收校準與圖1中示出的相關(guān)技術(shù)的第一收發(fā)器110的發(fā)送和接收校準基本相同。
在發(fā)送校準中,在開關(guān)214和216變?yōu)殚]合且開關(guān)215變?yōu)閿嚅_之后,第一收發(fā)器210的發(fā)送校準路徑被激活。然后,測試信號通過基帶發(fā)送端口217被發(fā)送到上混頻器211。上混頻器211將該測試信號調(diào)制為,例如但并不是作為限制,具有5GHz的高頻的RF信號,并輸出該RF信號。該RF信號被包絡(luò)檢波器212解調(diào)回基帶信號,并通過基帶接收端口220被輸出。從基帶接收端口220輸出的基帶信號被輸入到處理器(未顯示)?;诮邮盏幕鶐盘枺幚砥鞲鶕?jù)預定校準算法校準收發(fā)器裝置200的IQ失配、DC偏移或本振(LO)泄漏??墒褂酶鞣N相關(guān)技術(shù)的校準算法,它們的詳細描述被省略。
當終止發(fā)送校準時,在處理器的控制下執(zhí)行接收校準。在接收校準中,在開關(guān)214和215變?yōu)殚]合且開關(guān)216變?yōu)閿嚅_之后,第一收發(fā)器210的接收校準路徑被激活。然后,測試信號通過基帶發(fā)送端口217被發(fā)送到上混頻器211。上混頻器211將該測試信號調(diào)制為高頻的RF信號并輸出該RF信號。該RF信號被下混頻器213下變換回基帶信號,并通過基帶接收端口220被輸出。與在發(fā)送校準中一樣,從基帶接收端口220輸出的基帶信號被輸入到處理器。基于接收的基帶信號,處理器根據(jù)校準算法進行校準。然而,在接收校準中,只有IQ失配被校準。
在第一收發(fā)器210(即,基準收發(fā)器)的發(fā)送/接收校準結(jié)束之后,執(zhí)行第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250的發(fā)送/接收校準。在第一收發(fā)器210的情況下,在接收校準之前執(zhí)行發(fā)送校準。然而,在第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250的情況下,在接收校準之前沒有必要執(zhí)行發(fā)送校準,這是因為當執(zhí)行第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250的接收校準時,第一收發(fā)器210和第二收發(fā)器230之間的接收校準路徑以及第一收發(fā)器210和第三收發(fā)器250之間的接收校準路徑被激活,并且校準的第一收發(fā)器210的發(fā)送路徑被使用。
參考圖3描述第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250的發(fā)送校準,圖3是示出根據(jù)示例性實施例的校準方法的流程圖。具體地講,圖3示出第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250的發(fā)送校準方法。
當從第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250中選擇將對其執(zhí)行發(fā)送校準的收發(fā)器(S310)時,處理器激活連接選擇的收發(fā)器和第一收發(fā)器210的發(fā)送校準路徑(S330)。如果第二收發(fā)器230被選擇,則開關(guān)234和216變?yōu)殚]合且其余的開關(guān)變?yōu)閿嚅_,從而激活第二收發(fā)器230和第一收發(fā)器210之間的發(fā)送校準路徑。
接下來,基帶測試信號通過第二收發(fā)器230的基帶發(fā)送端口237被發(fā)送到上混頻器231。發(fā)送的測試信號被上混頻器231調(diào)制為RF信號,被第一收發(fā)器210的包絡(luò)檢波器212解調(diào),并通過第一收發(fā)器210的基帶接收端口220被輸出。通過基帶接收端口220輸出的基帶信號被輸入到處理器。處理器根據(jù)校準算法執(zhí)行第二收發(fā)器230的發(fā)送校準(S370)。具體地講,處理器校準第二收發(fā)器230的IQ失配、DC偏移和LO泄漏。
如果第三收發(fā)器250被選擇,則開關(guān)254和216變?yōu)殚]合且其余的開關(guān)變?yōu)閿嚅_,從而激活第三收發(fā)器250和第一收發(fā)器210之間的發(fā)送校準路徑。隨后的過程與第二收發(fā)器230的發(fā)送校準基本類似。
圖4是示出根據(jù)另一示例性實施例的校準方法的流程圖。具體地講,圖4示出第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250的接收校準方法。
當從第二收發(fā)器230和第三收發(fā)器250中選擇將對其執(zhí)行接收校準的收發(fā)器(S410)時,處理器激活連接選擇的收發(fā)器和第一收發(fā)器210(即,基準收發(fā)器)的接收校準路徑(S430)。如果第二收發(fā)器230被選擇,則開關(guān)214和235變?yōu)殚]合且其余的開關(guān)變?yōu)閿嚅_,從而激活第二收發(fā)器230和第一收發(fā)器210之間的接收校準路徑。
接下來,基帶測試信號通過第一收發(fā)器210的基帶發(fā)送端口217被發(fā)送到上混頻器211(S450)。發(fā)送的測試信號被上混頻器211調(diào)制為RF信號,被第二收發(fā)器230的下混頻器233解調(diào)為基帶信號,并通過第二收發(fā)器230的基帶接收端口240被輸出。通過基帶接收端口240輸出的基帶信號被輸入到處理器。處理器根據(jù)校準算法執(zhí)行第二收發(fā)器230的接收校準(S470)。具體地講,處理器校準第二收發(fā)器230的IQ失配。
如果第三收發(fā)器250被選擇,則開關(guān)214和255變?yōu)殚]合且其余的開關(guān)變?yōu)閿嚅_,從而激活第三收發(fā)器250和第一收發(fā)器210之間的接收校準路徑。隨后的過程與第二收發(fā)器230的接收校準基本類似。
如果圖2的對稱收發(fā)器裝置200是2×3非對稱收發(fā)器裝置,因而不使用RF發(fā)送端口238,則根據(jù)該示例性實施例不需要第二收發(fā)器230的發(fā)送校準,這是因為使用對其執(zhí)行發(fā)送校準的第一收發(fā)器210的上混頻器211來執(zhí)行第二收發(fā)器230的接收校準。
已使用3×3對稱或2×3非對稱收發(fā)器裝置描述了示例性實施例。該示例性實施例也可被應(yīng)用于N×N對稱或(N-1)×N非對稱收發(fā)器。
如上所述,根據(jù)以上示例性實施例,包括在基準收發(fā)器中的包絡(luò)檢波器被其它收發(fā)器共享。因此,當在單一芯片中實現(xiàn)MIMO收發(fā)器時,可顯著地減小芯片大小和MIMO收發(fā)器裝置的制造成本。在非對稱MIMO收發(fā)器裝置的情況下,沒有必要對非對稱MIMO收發(fā)器裝置不使用的發(fā)送路徑執(zhí)行發(fā)送校準。因而,可顯著縮短整個校準時間。由于基準收發(fā)器的校準的發(fā)送路徑被用于對其余的收發(fā)器執(zhí)行接收校準,所以可顯著地減小在其余收發(fā)器的接收校準期間發(fā)生差錯的可能性。
以上示例性實施例還可被實現(xiàn)為計算機可讀記錄介質(zhì)上的計算機可讀代碼。所述計算機可讀記錄介質(zhì)可以是,例如,可存儲其后可由計算機系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)的任何數(shù)據(jù)存儲裝置。所述計算機可讀記錄介質(zhì)的示例包括(但并不局限于)只讀存儲器(ROM)、隨機存儲存儲器(RAM)、CD-ROM、磁帶、軟盤、光學數(shù)據(jù)存儲裝置和載波(諸如通過互聯(lián)網(wǎng)的數(shù)據(jù)傳輸)。
所述計算機可讀記錄介質(zhì)還可分布在網(wǎng)絡(luò)連接的計算機系統(tǒng)上,從而所述計算機可讀代碼以分布式方式被存儲并被執(zhí)行。
盡管已參考本發(fā)明的示例性實施例具體顯示并描述了本發(fā)明,但是本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解,在不脫離由權(quán)利要求所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下,可對其進行形式和細節(jié)的各種改變。
權(quán)利要求
1.一種具有直接轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)的收發(fā)器裝置,該裝置包括基準收發(fā)器;多個其余收發(fā)器;和多個發(fā)送校準路徑,被構(gòu)造為通過連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器來執(zhí)行所述其余收發(fā)器的發(fā)送校準。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置,還包括多個接收校準路徑,被構(gòu)造為通過連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器來執(zhí)行所述其余收發(fā)器的接收校準。
3.如權(quán)利要求2所述的裝置,其中,所述接收校準路徑之一被連接到所述收發(fā)器裝置的處理器激活,以用于所述其余收發(fā)器之一的接收校準。
4.如權(quán)利要求2所述的裝置,其中,所述接收校準路徑被激活以僅測量同相和正交失配。
5.如權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述基準收發(fā)器包括第一上混頻器,被構(gòu)造為將基帶信號轉(zhuǎn)換為射頻信號;和包絡(luò)檢波器,被構(gòu)造為檢測從所述上混頻器輸出的射頻信號的包絡(luò),以用于發(fā)送校準,并且所述其余收發(fā)器中的每個包括被構(gòu)造為將相應(yīng)的基帶信號轉(zhuǎn)換為射頻信號的第二上混頻器;和其中,所述發(fā)送校準路徑連接所述其余收發(fā)器的第二上混頻器和所述基準收發(fā)器的包絡(luò)檢波器。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置,還包括多個接收校準路徑,連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器,以被構(gòu)造為執(zhí)行所述其余收發(fā)器的接收校準。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置,其中,所述其余收發(fā)器中的每個包括被構(gòu)造為將相應(yīng)的射頻信號轉(zhuǎn)換為基帶信號的下混頻器,所述接收校準路徑連接所述其余收發(fā)器的下混頻器和所述基準收發(fā)器的上混頻器。
8.如權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述發(fā)送校準路徑之一被連接到所述收發(fā)器裝置的處理器激活,以被構(gòu)造為用于所述其余收發(fā)器之一的發(fā)送校準。
9.如權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述基準收發(fā)器和所述其余收發(fā)器包括直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器。
10.如權(quán)利要求1所述的裝置,其中,所述收發(fā)器裝置包括互補型金屬氧化物半導體集成電路芯片。
11.一種由包括基準收發(fā)器和多個其余收發(fā)器的收發(fā)器裝置使用的校準方法,該方法包括激活連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器的多個發(fā)送校準路徑之一,激活的發(fā)送校準路徑與從用于發(fā)送校準的所述其余收發(fā)器中選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的發(fā)送校準路徑對應(yīng);將測試信號發(fā)送給選擇的收發(fā)器;和基于通過激活的發(fā)送校準路徑輸出的測試信號,執(zhí)行選擇的收發(fā)器的發(fā)送校準。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述發(fā)送校準路徑連接所述其余收發(fā)器的各個上混頻器和所述基準收發(fā)器的包絡(luò)檢波器。
13.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的發(fā)送校準路徑被連接到所述收發(fā)器裝置的處理器激活。
14.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述基準收發(fā)器和所述其余收發(fā)器是直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器。
15.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,所述收發(fā)器裝置包括互補型金屬氧化物半導體集成電路芯片。
16.一種由包括基準收發(fā)器和多個其余收發(fā)器的收發(fā)器裝置使用的校準方法,該方法包括激活連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器的多個接收校準路徑之一,激活的接收校準路徑與從用于接收校準的所述其余收發(fā)器中選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的接收校準路徑對應(yīng);將測試信號發(fā)送給所述基準收發(fā)器;和基于通過激活的接收校準路徑輸出的測試信號,執(zhí)行選擇的收發(fā)器的接收校準。
17.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述接收校準路徑連接所述其余收發(fā)器的各個下混頻器和所述基準收發(fā)器的上混頻器。
18.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的接收校準路徑被連接到所述收發(fā)器裝置的處理器激活。
19.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述基準收發(fā)器和所述其余收發(fā)器是直接轉(zhuǎn)換收發(fā)器。
20.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述接收校準路徑被激活以僅測量同相和正交失配。
21.如權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述收發(fā)器裝置包括互補型金屬氧化物半導體集成電路芯片。
22.一種存儲用于執(zhí)行由包括基準收發(fā)器和多個其余收發(fā)器的收發(fā)器裝置使用的校準方法的程序的計算機可讀記錄介質(zhì),所述方法包括激活連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器的多個發(fā)送校準路徑之一,激活的發(fā)送校準路徑與從用于發(fā)送校準的所述其余收發(fā)器中選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的發(fā)送校準路徑對應(yīng);將測試信號發(fā)送給選擇的收發(fā)器;和基于通過激活的發(fā)送校準路徑輸出的測試信號,執(zhí)行選擇的收發(fā)器的發(fā)送校準。
23.一種存儲用于執(zhí)行由包括基準收發(fā)器和多個其余收發(fā)器的收發(fā)器裝置使用的校準方法的程序的計算機可讀記錄介質(zhì),所述方法包括激活連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器的多個接收校準路徑之一,激活的接收校準路徑與從用于接收校準的所述其余收發(fā)器中選擇的收發(fā)器和所述基準收發(fā)器之間的接收校準路徑對應(yīng);將測試信號發(fā)送給所述基準收發(fā)器;和基于通過激活的接收校準路徑輸出的測試信號,執(zhí)行選擇的收發(fā)器的接收校準。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能夠校準的收發(fā)器裝置和一種由該收發(fā)器裝置使用的校準方法。所述收發(fā)器裝置包括基準收發(fā)器;多個其余收發(fā)器;和多個發(fā)送校準路徑,連接所述其余收發(fā)器和所述基準收發(fā)器,以用于所述其余收發(fā)器的發(fā)送校準。包括在基準收發(fā)器中的包絡(luò)檢波器被所述其余收發(fā)器共享。當在單一芯片中實現(xiàn)多輸入多輸出(MIM0)收發(fā)器時,可顯著地減小芯片大小和MIMO收發(fā)器裝置的制造成本。
文檔編號H04B7/04GK1808939SQ20061000190
公開日2006年7月26日 申請日期2006年1月19日 優(yōu)先權(quán)日2005年1月19日
發(fā)明者鄭元教, 樸重錫, 金大淵, 金熙勝 申請人:三星電子株式會社