專利名稱：一種收發(fā)信機指標的測試裝置及系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及測試收發(fā)信機指標的測試技術，尤其是無線電系統(tǒng)中的一種收/發(fā)信機的測試裝置及系統(tǒng)。
背景技術：
在無線電系統(tǒng)中，收發(fā)信機的各種技術指標通常都是系統(tǒng)的關鍵性指標。如在WCDMA系統(tǒng)中發(fā)信端的誤差矢量幅度(EVM)、鄰道功率泄漏(ACPR)、峰值碼域誤差(PCDE)，收信端的接收靈敏度、臨道選擇性、單板阻塞指標等都對系統(tǒng)的性能有較大的影響。
誤差矢量幅度(EVM)通常用來描述發(fā)射機的調(diào)制質(zhì)量，EVM代表矢量誤差的幅度值，不是一個統(tǒng)計量。如圖1所示，誤差矢量是指定時間理想矢量信號與實際矢量信號之間的矢量差。誤差矢量幅度(EVM)是一段時間之內(nèi)的誤差矢量的均方根值。
靈敏度是滿足指定BER(比特錯誤率)的情況下，接收機所能接收的最小信號的幅值。通常使用信號電壓的幅值來描述靈敏度。在一種特定的調(diào)制方式下，BER與信號的信噪比SNR是一種特定的關系。例如WCDMA系統(tǒng)要求BER＜0.001，相當于SNR＞7dB，信噪比和EVM有EVM=10SNR20]]>(當SNR＞0)的轉(zhuǎn)換關系。即在EVM小于44.7％的情況下，相當于系統(tǒng)的誤碼率BER＜0.001。如果通過誤碼率進行測試，由于誤碼率本身是一個統(tǒng)計值，要達到一定的測試精度必須進行長時間的統(tǒng)計，對碼流中傳輸正確和錯誤的比特分別計數(shù)，所以測試速度比較慢。
在設備使用之前對收發(fā)信機的上述指標進行測量是非常必要的，因為上述指標的惡化對整個無線系統(tǒng)的通信質(zhì)量，系統(tǒng)容量都有較大的影響。通常使用的方式是在設備開發(fā)的初期對收發(fā)信機的各種指標進行詳細的測量認定，而在生產(chǎn)階段，僅僅對少量的收發(fā)信機的樣本進行測量。這樣進行測試的一個問題是，很難保證所有出廠的收發(fā)信機產(chǎn)品的指標。
目前使用較多的一種測試方法是在系統(tǒng)上對包括基帶部分的整個系統(tǒng)進行測試。但是這種測試方法花費的時間較長，因此只能夠?qū)Σ糠謽颖具M行測試，這種方法的另一個問題是，當測試不能通過時很難區(qū)分是收發(fā)信機出了問題還是系統(tǒng)的其他部分有問題。
目前還有的一種測試方式如中國專利CN98813155所述，采用收發(fā)信機自環(huán)的方式進行測量，這種測試方式的優(yōu)點是不需要外加測試裝置，但是這種測試方法的缺點是不能精確的測量發(fā)射和接收指標，而且在發(fā)現(xiàn)問題時不能夠區(qū)分是發(fā)射還是接收的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種收發(fā)信機指標的測試裝置以及測試系統(tǒng)，實現(xiàn)可以方便地對收發(fā)信機的收發(fā)指標進行測試，且在發(fā)現(xiàn)問題時能夠區(qū)分是發(fā)射還是接收的問題的發(fā)明目的。
另外本發(fā)明在進行接收機靈敏度的測試中采用測試EVM值的方法來代替比特誤碼率的測試，提高了測試速度，簡化了測試需要的儀器。
為了解決以上技術問題，本發(fā)明提出了如下的技術方案一種收信機指標的測試裝置，連接于收信機與接收指標測試儀表之間，包括接收測試電路以及為接收測試電路提供時鐘脈沖的時鐘發(fā)生電路；所述的接收測試電路由接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路以及數(shù)模轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路接收收信機傳遞的數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換成數(shù)模轉(zhuǎn)換電路所需要的數(shù)據(jù)格式后傳送給所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路將其轉(zhuǎn)換成模擬信號輸出至接收指標測試儀表。
所述的收信機指標的測試裝置的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路為可編程控制邏輯或數(shù)字信號處理電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路為采用與接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路相適應的速率和位數(shù)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
所述的收信機指標的測試裝置還包括發(fā)送測試電路，所述時鐘發(fā)生電路與該發(fā)送測試電路連接，為該發(fā)送測試電路提供時鐘信號，該發(fā)送測試電路連接于上位機與發(fā)信機之間，該發(fā)送測試電路包括發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路，所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器用于存儲測試用的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路讀出存儲的所述測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
所述的收信機指標的測試裝置的發(fā)送測試電路還包括數(shù)據(jù)更新控制電路，用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下從上位機下載測試數(shù)據(jù)并保存到所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下再從所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器讀出測試數(shù)據(jù)。
所述的收信機指標的測試裝置的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
所述的收信機指標的測試裝置的時鐘發(fā)生電路包括鎖相環(huán)電路、晶體震蕩電路、時鐘時序產(chǎn)生電路；所述的鎖相環(huán)電路用于接收由接收指標測試儀表輸入的參考時鐘，鎖相環(huán)電路將該時鐘信號傳送給所述晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，所述時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生收信機以及接收測試電路的工作時鐘。
所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
本發(fā)明還指出一種發(fā)信機指標的測試裝置，連接于上位機與發(fā)信機之間，包括發(fā)送測試電路以及為發(fā)送測試電路提供時鐘脈沖的時鐘發(fā)生電路；該發(fā)送測試電路包括發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路，所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器用于存儲測試用的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路讀出存儲的所述測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
所述的發(fā)信機指標的測試裝置的發(fā)送測試電路還包括數(shù)據(jù)更新控制電路，用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下從上位機下載測試數(shù)據(jù)并保存到所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下再從所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器讀出測試數(shù)據(jù)。
所述的發(fā)信機指標的測試裝置所述的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
所述的發(fā)信機指標的測試裝置的時鐘發(fā)生電路包括鎖相環(huán)電路、晶體震蕩電路、時鐘時序產(chǎn)生電路；所述的鎖相環(huán)電路接收參考時鐘輸入信號，鎖相環(huán)電路將該時鐘信號傳送給所述晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，所述時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生發(fā)信機以及發(fā)送測試電路的工作時鐘。所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
本發(fā)明還指出一種收發(fā)信機指標的測試系統(tǒng)，包括收發(fā)信機測試裝置、待測試收發(fā)信機、上位機、發(fā)射指標測試儀表以及接收指標測試儀表，該收發(fā)信機測試裝置由發(fā)送測試電路和接收測試電路以及時鐘發(fā)生電路組成，所述的時鐘發(fā)生電路為發(fā)送測試電路和接收測試電路以及待測試收發(fā)信機提供工作時鐘脈沖；所述的接收指標測試儀表為時鐘發(fā)生電路提供參考時鐘脈沖；其中上位機與發(fā)送測試電路連接，發(fā)送測試電路將測試數(shù)傳送給待測試收發(fā)信機，再由待測試收發(fā)信機的發(fā)送端口傳送給發(fā)射指標測試儀表；待測試收發(fā)信機通過其接收端口接收測試信號傳送給接收測試電路，接收測試電路對信號轉(zhuǎn)換后輸出給接收指標測試儀表。
所述的收發(fā)信指標測試系統(tǒng)的接收指標測試儀表為測試誤差矢量幅度的儀表。
所述的收發(fā)信指標測試系統(tǒng)的接收測試電路由接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路以及數(shù)模轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路接收收信機傳遞的數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換成數(shù)模轉(zhuǎn)換電路所需要的數(shù)據(jù)格式后傳送給所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路將其轉(zhuǎn)換成模擬信號輸出至接收指標測試儀表。所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路為可編程控制邏輯或數(shù)字信號處理電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路為采用與接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路相適應的速率和位數(shù)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)的發(fā)送測試電路包括發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路，所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器用于存儲測試用的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路讀出存儲的所述測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
所述發(fā)送測試電路還包括數(shù)據(jù)更新控制電路，用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下從上位機下載測試數(shù)據(jù)并保存到所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下再從所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器讀出測試數(shù)據(jù)。
所述的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)的時鐘發(fā)生電路包括鎖相環(huán)電路、晶體震蕩電路、時鐘時序產(chǎn)生電路；所述的鎖相環(huán)電路接收由接收指標測試儀表輸入的參考時鐘，將該時鐘信號傳送給所述晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，所述時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生收發(fā)信機、接收測試電路以及發(fā)送測試電路的工作時鐘。
所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
本發(fā)明的技術效果是顯著的，本發(fā)明所述的收發(fā)信機測試裝置具有發(fā)送數(shù)據(jù)存儲、時鐘發(fā)生、接受信號變換電路，使用本裝置在進行發(fā)送測試時可以選擇使用不同的數(shù)據(jù)源進行發(fā)送，在接收測試時在儀器的輔助下可以較快的測試接收指標；本發(fā)明在進行接收機靈敏度的測試中采用測試EVM值的方法來代替比特誤碼率的測試，這種方法顯著地提高了測試的速度，簡化了測試需要的儀器設備；本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比，采用單獨測試收信機和發(fā)信機的方式，可將無線系統(tǒng)中的其他部分的故障隔離出去，可以清楚的判斷是收信機或發(fā)信機的問題。


圖1是誤差矢量幅度的表示圖。
圖2是本發(fā)明的實施例一的結(jié)構(gòu)框圖。
圖3是本發(fā)明的實施例二的結(jié)構(gòu)框圖。
圖4是本發(fā)明的實施例三的結(jié)構(gòu)框圖。
圖5是本發(fā)明的實施例三組成的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
實施例一如圖2所示的收信機指標的測試裝置，該裝置連接于收信機與接收指標測試儀表之間，包括接收測試電路2以及為接收測試電路提供時鐘脈沖的時鐘發(fā)生電路3；所述的接收測試電路2由接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路22以及數(shù)模轉(zhuǎn)換電路21構(gòu)成，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路22接收收信機傳遞的數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換成數(shù)模轉(zhuǎn)換電路所需要的數(shù)據(jù)格式并傳送給所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路21將該數(shù)字信號轉(zhuǎn)換成模擬信號輸出至接收指標測試儀表。
在本實施例中，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路為可編程控制邏輯或數(shù)字信號處理(DSP)電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路為采用與接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路相應的速率和位數(shù)的DA轉(zhuǎn)換器。
所述的時鐘發(fā)生電路3包括鎖相環(huán)電路31、晶體震蕩電路32和時鐘時序產(chǎn)生電路33；由接收指標測試儀表輸入?yún)⒖紩r鐘至所述的鎖相環(huán)電路，鎖相環(huán)電路將該時鐘信號傳送給晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生收信機以及接收測試電路的工作時鐘。該晶體震蕩電路為本裝置中的所有電路提供時鐘基準，并且其精度應滿足本裝置中的電路與被測試收信機對時鐘精度的要求所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
在進行接收指標的測試時將信號源接到待測試的收信機的接收端口，設置信號源輸出一定格式的測試信號。接收測試電路接收來自收信機的數(shù)字信號經(jīng)過接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的格式轉(zhuǎn)換后送入數(shù)模轉(zhuǎn)換電路中。數(shù)模轉(zhuǎn)換電路將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號輸出，供接收測試儀表進行接收指標測試。
進行接收機的靈敏度的測量中，采用EVM值等效比特誤碼率的方式進行測量，由現(xiàn)有技術可知在一種特定的調(diào)制方式下，這兩種指標值之間有一一對應的關系，可以通過數(shù)值計算的方法進行換算，因此兩種指標測試得到的值都可以真實反應收信端的質(zhì)量，所以大大的縮短了測量時間，簡化了測試所需儀器，提高了測試效率。
實施例二圖3所示為一種發(fā)信機指標的測試裝置，該裝置連接于上位機與發(fā)信機之間，包括發(fā)送測試電路1以及為發(fā)送測試電路1提供時鐘脈沖的時鐘發(fā)生電路3；該發(fā)送測試電路1包括數(shù)據(jù)更新控制電路11、發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路13。
數(shù)據(jù)更新控制電路11用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下，控制從上位機下載測試數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)存儲在發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12中。數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路13用于在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下，讀出發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12中存儲的數(shù)據(jù)，進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
在本實施例中所述的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
本實施例中采用的時鐘發(fā)生器電路的結(jié)構(gòu)以及原理可與實施例1所述的內(nèi)容一致，在此不在贅述。
在本實施例中，所述數(shù)據(jù)更新控制電路可以采用網(wǎng)口、串口或者其他接口從上位機接收發(fā)送數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)更新控制電路提供相應的數(shù)據(jù)、地址、控制接口與發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器相連；所述數(shù)據(jù)更新控制電路采用上述接口更新發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器內(nèi)的內(nèi)容。所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路與發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器的數(shù)據(jù)、地址、控制接口相連，并提供相應接口與待測試的收發(fā)信機的發(fā)信機相連。即所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器的數(shù)據(jù)、地址、控制接口同時與數(shù)據(jù)更新控制電路和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路相連。所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器可以是掉電易失的或者是非掉電易失的。所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器的容量根據(jù)測試需求的數(shù)據(jù)量確定，可以選擇存儲一組或者是多組測試數(shù)據(jù)。
在進行發(fā)送指標的測試時，根據(jù)需要的測試內(nèi)容，從上位機下載對應的測試數(shù)據(jù)到發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12，下載的過程由數(shù)據(jù)更新控制電路11控制。如果發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12選用非易失性存儲器可將常用的一組或者幾組測試數(shù)據(jù)存儲在發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12中，這樣就不需要每次測試時都重新下載數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)下載完成后數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路13取得發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12的控制權(quán)，從發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器12中讀出數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為指定的格式后送到待測試的收發(fā)信機的發(fā)信單元。待測試的收發(fā)信機的發(fā)信單元將此數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為射頻信號輸出，將發(fā)射指標測試儀表接到收發(fā)信機的發(fā)送端口就可以方便的對各種發(fā)送指標進行測試。
實施例三如圖4所示，為本發(fā)明的實施例三的結(jié)構(gòu)，在本實施例中，本發(fā)明的裝置可以對接收以及發(fā)送指標進行測試，由圖示可見，本裝置的發(fā)送測試電路1與接收測試電路2是兩個相對獨立的部分，分別用于對收發(fā)信機的發(fā)射通路與接收通路進行測試，而時鐘發(fā)生電路3用來產(chǎn)生發(fā)送測試電路1、接收測試電路2與待測試收發(fā)信機所需要的時鐘，實現(xiàn)同時進行收發(fā)信機的發(fā)送指標測試和接收指標測試。
當然本實施例所述的裝置也可以實現(xiàn)本發(fā)明的實施例一以及實施例二的功能，即可以單獨進行發(fā)送指標測試或者接收指標測試。
在本實施例中，時鐘發(fā)生電路3在上電時自動配置鎖相環(huán)電路31，在有外部輸入?yún)⒖紩r鐘的情況下使晶體振蕩電路32鎖定到外部輸入?yún)⒖紩r鐘，在沒有外部輸入?yún)⒖紩r鐘的情況下使晶體振蕩電路32工作在預設的頻率輸出。時鐘時序產(chǎn)生電路33根據(jù)晶體振蕩電路32輸出的時鐘產(chǎn)生待測試的收發(fā)信機所需的各種時鐘和發(fā)送測試電路1、接收測試電路2所需的工作時鐘。
本實施例的接收以及發(fā)送指標的測試過程與實施例一和實施例二一致，故在此不再贅述。
綜上所述，本發(fā)明提出的收發(fā)信機測試裝置，由于采用單獨測試收信機和發(fā)信機的方法，故較現(xiàn)有技術相比，將無線系統(tǒng)中其它部分的故障隔離出去，可以清楚的判斷是收信機或是發(fā)信機出現(xiàn)問題。發(fā)信機測試電路部分采用可更新的數(shù)據(jù)存儲器，可以加載任意需要的測試數(shù)據(jù)進行測試。接收測試電路將收信機的接收信號重新轉(zhuǎn)換為模擬信號輸出，方便使用各種儀器進行測量。在接收機靈敏度的測量中，采用EVM值等效比特誤碼率的方式進行測量，大大縮短了測量時間，簡化了測試所需的儀器，提高了測試的效率。
以下對本發(fā)明提出的系統(tǒng)進行說明本發(fā)明在上述的測試裝置的基礎上，提出了一種收發(fā)信機指標的測試系統(tǒng)，如圖5所示，該系統(tǒng)包括收發(fā)信機測試裝置、待測試收發(fā)信機、上位機、發(fā)射指標測試儀表以及接收指標測試儀表，該收發(fā)信機測試裝置由發(fā)送測試電路和接收測試電路以及時鐘發(fā)生電路組成，所述的時鐘發(fā)生電路為發(fā)送測試電路和接收測試電路以及待測試收發(fā)信機提供工作時鐘脈沖；所述的接收指標測試儀表為時鐘發(fā)生電路提供參考時鐘脈沖；其中上位機與發(fā)送測試電路連接，發(fā)送測試電路將測試數(shù)傳送給待測試收發(fā)信機，再由待測試收發(fā)信機的發(fā)送端口傳送給發(fā)射指標測試儀表；待測試收發(fā)信機通過其接收端口接收測試信號傳送給接收測試電路，接收測試電路對信號轉(zhuǎn)換后輸出給接收指標測試儀表。
本系統(tǒng)中的收發(fā)信機測試裝置中包括的發(fā)送測試電路、接收測試電路以及時鐘發(fā)生電路的構(gòu)成與上述實施例的結(jié)構(gòu)以及工作原理相同，在此不再贅述。
本發(fā)明所指的系統(tǒng)采用了帶發(fā)送數(shù)據(jù)存儲、時鐘發(fā)生、接受信號變換的收發(fā)信機測試裝置，使用了該裝置的系統(tǒng)可以方便的對收發(fā)信機的收發(fā)指標進行測試，在進行發(fā)送測試的時候，可以選擇使用不同的數(shù)據(jù)源進行發(fā)送，在接收測試時在儀器的輔助下可以較快的測試接收指標，尤其是在進行接收機靈敏度的測試中采用測試EVM值的方法來代替比特誤碼率的測試，根據(jù)現(xiàn)有技術的內(nèi)容可知在特定的調(diào)制方式下，這兩種指標值之間有一一對應的關系，是可以通過數(shù)值計算的方法進行換算，因此兩種指標測試得到的值可以真實反應收信端的質(zhì)量。這種測試顯著提高了測試的速度，簡化了測試需要的儀器設備。
另外本系統(tǒng)的發(fā)送測試電路中設置數(shù)據(jù)存儲器，這樣就不需要每次測試的時候都重新機進行數(shù)據(jù)下載，也提高了測試效率。
綜上所述，本發(fā)明所述的系統(tǒng)可以解決現(xiàn)有技術中存在的技術問題，并實現(xiàn)本發(fā)明的目的，可以方便地對收發(fā)信機的收發(fā)指標進行測試，且在發(fā)現(xiàn)問題時能夠區(qū)分是發(fā)射還是接收的問題。
權(quán)利要求
1.一種收信機指標的測試裝置，連接于收信機與接收指標測試儀表之間，其特征在于，包括接收測試電路以及為接收測試電路提供時鐘脈沖的時鐘發(fā)生電路；所述的接收測試電路由接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路以及數(shù)模轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路接收收信機傳遞的數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換成數(shù)模轉(zhuǎn)換電路所需要的數(shù)據(jù)格式后傳送給所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路將其轉(zhuǎn)換成模擬信號輸出至接收指標測試儀表。
2.如權(quán)利要求1所述的收信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路為可編程控制邏輯或數(shù)字信號處理電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路為采用與接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路相適應的速率和位數(shù)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
3.如權(quán)利要求1所述的收信機指標的測試裝置，其特征在于，該測試裝置還包括發(fā)送測試電路，所述時鐘發(fā)生電路與該發(fā)送測試電路連接，為該發(fā)送測試電路提供時鐘信號，該發(fā)送測試電路連接于上位機與發(fā)信機之間，該發(fā)送測試電路包括發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路，所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器用于存儲測試用的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路讀出存儲的所述測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
4.如權(quán)利要求3所述的收信機指標的測試裝置，其特征在于，所述發(fā)送測試電路還包括數(shù)據(jù)更新控制電路，用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下從上位機下載測試數(shù)據(jù)并保存到所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下再從所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器讀出測試數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求4所述的收信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
6.如權(quán)利要求1所述的收信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的時鐘發(fā)生電路包括鎖相環(huán)電路、晶體震蕩電路、時鐘時序產(chǎn)生電路；所述的鎖相環(huán)電路用于接收由接收指標測試儀表輸入的參考時鐘，鎖相環(huán)電路將該時鐘信號傳送給所述晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，所述時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生收信機以及接收測試電路的工作時鐘。
7.如權(quán)利要求6所述的收信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
8.一種發(fā)信機指標的測試裝置，連接于上位機與發(fā)信機之間，其特征在于，包括發(fā)送測試電路以及為發(fā)送測試電路提供時鐘脈沖的時鐘發(fā)生電路；該發(fā)送測試電路包括發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路，所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器用于存儲測試用的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路讀出存儲的所述測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
9.如權(quán)利要求8所述的發(fā)信機指標的測試裝置，其特征在于，所述發(fā)送測試電路還包括數(shù)據(jù)更新控制電路，用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下從上位機下載測試數(shù)據(jù)并保存到所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下再從所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器讀出測試數(shù)據(jù)。
10.如權(quán)利要求9所述的發(fā)信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
11.如權(quán)利要求8所述的發(fā)信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的時鐘發(fā)生電路包括鎖相環(huán)電路、晶體震蕩電路、時鐘時序產(chǎn)生電路；所述的鎖相環(huán)電路接收參考時鐘輸入信號，鎖相環(huán)電路將該時鐘信號傳送給所述晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，所述時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生發(fā)信機以及發(fā)送測試電路的工作時鐘。
12.如權(quán)利要求11所述的發(fā)信機指標的測試裝置，其特征在于，所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
13.一種收發(fā)信機指標的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括收發(fā)信機測試裝置、待測試收發(fā)信機、上位機、發(fā)射指標測試儀表以及接收指標測試儀表，該收發(fā)信機測試裝置由發(fā)送測試電路和接收測試電路以及時鐘發(fā)生電路組成，所述的時鐘發(fā)生電路為發(fā)送測試電路和接收測試電路以及待測試收發(fā)信機提供工作時鐘脈沖；所述的接收指標測試儀表為時鐘發(fā)生電路提供參考時鐘脈沖；其中上位機與發(fā)送測試電路連接，發(fā)送測試電路將測試數(shù)傳送給待測試收發(fā)信機，再由待測試收發(fā)信機的發(fā)送端口傳送給發(fā)射指標測試儀表；待測試收發(fā)信機通過其接收端口接收測試信號傳送給接收測試電路，接收測試電路對信號轉(zhuǎn)換后輸出給接收指標測試儀表。
14.如權(quán)利要求13所述的收發(fā)信指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的接收指標測試儀表為測試誤差矢量幅度的儀表。
15.如權(quán)利要求13所述的收發(fā)信指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的接收測試電路由接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路以及數(shù)模轉(zhuǎn)換電路構(gòu)成，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路接收收信機傳遞的數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換成數(shù)模轉(zhuǎn)換電路所需要的數(shù)據(jù)格式后傳送給所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路將其轉(zhuǎn)換成模擬信號輸出至接收指標測試儀表。
16.如權(quán)利要求15所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路為可編程控制邏輯或數(shù)字信號處理電路，所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換電路為采用與接收數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路相適應的速率和位數(shù)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器。
17.如權(quán)利要求13所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的發(fā)送測試電路包括發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器和數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路，所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器用于存儲測試用的數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路讀出存儲的所述測試數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換后傳送至發(fā)信機。
18.如權(quán)利要求17所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)送測試電路還包括數(shù)據(jù)更新控制電路，用于在數(shù)據(jù)更新狀態(tài)下從上位機下載測試數(shù)據(jù)并保存到所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器，所述數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路在數(shù)據(jù)發(fā)送狀態(tài)下再從所述發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器讀出測試數(shù)據(jù)。
19.如權(quán)利要求18所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的數(shù)據(jù)更新控制電路為CPU或可編程邏輯電路；所述的發(fā)送數(shù)據(jù)存儲器為內(nèi)存或閃存；所述的數(shù)據(jù)發(fā)送控制電路為可編程邏輯或數(shù)字信號處理電路。
20.如權(quán)利要求13所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的時鐘發(fā)生電路包括鎖相環(huán)電路、晶體震蕩電路、時鐘時序產(chǎn)生電路；所述的鎖相環(huán)電路接收由接收指標測試儀表輸入的參考時鐘，將該時鐘信號傳送給所述晶體震蕩電路，使晶體震蕩電路與外部輸入的時鐘參考信號同步；所述的晶體振蕩電路將時鐘信號傳送至所述的時鐘時序產(chǎn)生電路，所述時鐘時序產(chǎn)生電路依據(jù)接收的時鐘信號產(chǎn)生收發(fā)信機、接收測試電路以及發(fā)送測試電路的工作時鐘。
21.如權(quán)利要求20所述的收發(fā)信機指標測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的鎖相環(huán)電路為鎖相環(huán)芯片構(gòu)成；所述的晶體震蕩電路為恒溫或壓控晶振；所述時鐘時序產(chǎn)生電路為可編程邏輯芯片。
全文摘要
本發(fā)明提出一種收發(fā)信機指標的測試裝置及系統(tǒng)，該測試裝置由發(fā)送測試電路、接收測試電路以及時鐘發(fā)生電路組成，其中時鐘發(fā)生電路提供本裝置中各組成電路以及系統(tǒng)的待測試收發(fā)信機提供工作時鐘，本發(fā)明所述的方案可以方便地對收發(fā)信機的收發(fā)指標進行測試，且在發(fā)現(xiàn)問題時能夠區(qū)分是發(fā)射還是接收的問題；本發(fā)明在進行接收機靈敏度的測試中采用測試EMV值的方法來代替比特誤碼率的測試，使得本測試裝置以及系統(tǒng)顯著的提高了測試的速度，簡化了測試需要的儀器設備。
文檔編號H04B17/00GK1980103SQ20051013008
公開日2007年6月13日 申請日期2005年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月8日
發(fā)明者高嵩, 由武軍, 林志華, 姜軍, 王強 申請人:中興通訊股份有限公司