專利名稱：光纖同心度檢測方法
技術領域：
本發(fā)明是關于一種光纖同心度檢測方法，特別是關于一種利用光功率分析的方式直接檢測光纖同心度的檢測方法。
背景技術：
光纖是一種利用光作為傳導媒介的線材，由于其可以避免傳遞訊號時的損耗，目前已普遍用在信息傳輸?shù)念I域上，例如網(wǎng)絡線等。
傳統(tǒng)技術的光纖請參照圖1所示，本圖為光纖的剖面示意圖，光纖1由一光纖芯10、一包覆層12、一填膠區(qū)13以及一外殼層14所組成，光纖芯10由包覆層12包覆，其間即可以使光線產(chǎn)生全反射，使光線可以于光纖中不斷地前反射后，自一端傳遞到另一端，而整個包覆層12借由一填膠區(qū)13固定于一外殼層14之中，外殼層14通常作為保護光纖芯10用途，以避免光纖芯10因折彎、斷裂等而損壞。
但是，傳統(tǒng)技術的光纖1于制造時，可能因為制作工藝的因素，導致光纖芯10并非位于光纖1的中心處，舉例而言，請參照圖2所示，如果光纖1的包覆層12在與外殼層14填膠接合時，可能會產(chǎn)生光纖芯10并非位于光纖1的中心處的狀況，此時如果此光纖1應用于光線訊號傳遞裝置(圖中未顯示)上，例如一光線收發(fā)器(Transceiver)上，因為與光線訊號傳遞裝置(圖中未顯示)的同心度有偏移，故產(chǎn)生一光功率耗損區(qū)100，也就是說，光線有部分因此無法承接而損耗，如圖2所示，使光線傳遞時的光功率耗損，這可能會使光線訊號傳遞因此不穩(wěn)定，或甚至會出現(xiàn)斷訊的問題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種光纖同心度檢測方法，可以測試光纖的同心度是否合于規(guī)范，以事先避免光線傳遞時的光功率耗損問題。
基于上述構想，本發(fā)明提供一種光纖同心度檢測方法，其步驟包括準備一光源，將光源位于一殼體的一側(cè)，殼體的另一側(cè)具有一定位襯套，定位襯套中的靠近光源的一端夾持一導光段；接著，將一待檢測的光纖插入至定位襯套中的遠離光源的一端，光纖的另一端連接至一光功率檢測器，獲得一光功率值；以光纖的中心軸為圓心，旋轉(zhuǎn)光纖至一特定角度后再插入至定位襯套中的遠離光源的一端，獲得另一光功率值；以及分析所述光功率值獲得光纖的同心度。
根據(jù)上述構想，該導光段為一內(nèi)徑與該光纖的內(nèi)徑相同的光纖殘段。
根據(jù)上述構想，該光纖插入該定位襯套中的遠離該光源的一端時，該光纖的截面需與該導光段的截面貼齊。
根據(jù)上述構想，光纖所旋轉(zhuǎn)的特定角度為不大于360度，優(yōu)選地，該特定角度選自于下列群組45度、90度、135度、180度、225度、270度與315度等。
根據(jù)上述構想，旋轉(zhuǎn)該光纖至一特定角度的步驟可以重復實施，以獲得多個光功率值，作為分析該光纖的同心度的依據(jù)。
根據(jù)上述構想，分析所述光功率值的方式用一雷達圖。


圖1為傳統(tǒng)技術的光纖的剖面示意圖。
圖2為傳統(tǒng)技術的光纖當其光纖芯偏移時的剖面示意圖。
圖3為本發(fā)明光纖插入定位襯套時的橫剖面示意圖。
圖4為本發(fā)明的檢測方法的一實施例的分析結果示意圖。
主要組件符號說明1光纖10 光纖芯100 光功率耗損區(qū)12 包覆層13 填膠區(qū)14 外殼層18 中心軸20 殼體22 光源220 電源供應線
24 定位襯套26 導光段具體實施方式
為了詳細說明本發(fā)明的光纖同心度檢測方法，請同時參照圖1以及圖3，其詳細步驟如下所述首先，準備一裝置如圖3所示，其中該裝置由一殼體20、一光源22、一定位襯套24以及一導光段26所組成，其中，光源22位于殼體20的一側(cè)，該定位襯套24位于該殼體20的另一側(cè)，定位襯套24中的靠近光源22的一端夾持一導光段26，導光段26可以為一內(nèi)徑與光纖1的內(nèi)徑相同的光纖殘段，其中，導光段26的同心度已經(jīng)事先經(jīng)過檢驗已符合規(guī)范者。
接下來，將一待檢測的光纖1插入至定位襯套24中的遠離光源22的一端，光纖1的另一端則連接至一檢測器(圖中未顯示)，例如，此實施例中所述的檢測器可以為一光功率檢測器，光源20所發(fā)出的光線，經(jīng)過導光段26，再由光纖1的傳遞，光功率檢測器可以獲得一光功率值；其中，光纖1插入定位襯套24中的遠離光源22的一端時，光纖1的截面需平整，且應與導光段26的平整截面貼齊，以避免光線自兩者的接縫處泄漏，而造成光功率下降的問題。
接下來，以光纖1的中心軸18為圓心，旋轉(zhuǎn)光纖1至一特定角度后，再插入至定位襯套24中的遠離光源22的一端，光功率檢測器可以獲得另一光功率值；此步驟可以重復進行數(shù)次，每進行一次，即可以取得光纖1在此一特定角度時插入定位襯套24中時，光功率檢測器所獲得的一光功率值；以此步驟為例，本案提供一個實際上實驗的方式，光纖1在前一個步驟完成之后，可以依序旋轉(zhuǎn)至45度、90度、135度、180度、225度、270度與315度處，再分別由光功率檢測器記錄下所獲得的光功率值。
最后，分析上述所獲得的光功率值相對于旋轉(zhuǎn)的特定角度下的值，以獲得光纖1的同心度，優(yōu)選地，可以雷達圖作為分析的手段；以上述的實驗而言，可以將光纖1在0度、45度、90度、135度、180度、225度、270度與315度處所分別獲得的光功率值，以特定角度相對于光功率值的方式記錄于一雷達圖中，請參照圖4所示，由圖可知，該光纖1于225度時所接收的光功率明顯高于位于其它角度時的光功率值，可見該光纖1的光纖芯10于旋轉(zhuǎn)至225度之外時均有偏離中心點的情形，但如果偏離的程度仍能在可以接受的范圍之內(nèi)，則該光纖1仍是在可以使用的范圍內(nèi)，最佳狀態(tài)則是該光纖1無論在任何的角度狀態(tài)之下，其光功率值應該均為相同，即表示光纖1的同心度達到最佳的狀態(tài)，以此結果，即可以判定該光纖的同心度是否滿足需求。
此外，以上是以光纖1旋轉(zhuǎn)至45度、90度、135度、180度、225度、270度與315度處為例，作為分析該光纖1的同心度的依據(jù)，但并不以此為限，可以依據(jù)需求，將光纖1旋轉(zhuǎn)至任一小于360度的一特定角度處并擷取其光功率值，作為分析光纖1的同心度的依據(jù)。
此外，上述實施例中的光功率檢測器亦可以由光亮度檢測器來代替，經(jīng)由光亮度檢測器所獲得的多個光亮度值，亦可以通過雷達圖的分析后，亦可以得到光纖1的同心度。
綜上所述，本發(fā)明提供可以直接檢測光纖的同心度的方法，不僅可以預先檢測光纖的同心度是否合于規(guī)范，以避免當光纖用于光線訊號傳遞裝置(圖中未顯示)時，因其同心度不佳而產(chǎn)生光功率耗損問題，使光線訊號傳遞因此不穩(wěn)定，或甚至會出現(xiàn)斷訊的狀況；同時，本發(fā)明僅應用一特定工具，配合例如光功率檢測器，即可以進行，可見本發(fā)明亦具有簡易且低成本的功效。
以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，上述實施例僅用來說明而非用以限定本發(fā)明，本發(fā)明的范疇由權利要求書所界定。凡依本發(fā)明所作的均等變化與修飾，均應屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權利要求
1.一種光纖同心度檢測方法，其步驟包括準備一光源，該光源位于一殼體的一側(cè)，該殼體的另一側(cè)具有一定位襯套，該定位襯套中的靠近該光源的一端夾持一導光段；將一待檢測的光纖插入至該定位襯套中的遠離該光源的一端，該光纖的另一端連接至一檢測器，獲得一檢測值；以該光纖的一中心軸為圓心，旋轉(zhuǎn)該光纖至一特定角度后再插入至該定位襯套中的遠離該光源的一端，獲得另一檢測值；以及分析所述檢測值以獲得該光纖的同心度。
2.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該導光段為一光纖殘段。
3.根據(jù)權利要求2所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該光纖殘段的內(nèi)徑與該光纖的內(nèi)徑相同。
4.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該光纖插入該定位襯套中的遠離該光源的一端時，該光纖的截面需與該導光段的截面貼齊。
5.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該特定角度為不大于360度。
6.根據(jù)權利要求4所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該特定角度選自于下列群組45度、90度、135度、180度、225度、270度與315度等。
7.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，旋轉(zhuǎn)該光纖至該特定角度的步驟可以重復實施，以獲得多個檢測值，作為分析該光纖的同心度的依據(jù)。
8.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，分析所述檢測值的方式用一雷達圖。
9.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該檢測器為一光功率檢測器，而所述檢測值分別為多個光功率值。
10.根據(jù)權利要求1所述的光纖同心度檢測方法，其特征在于，該檢測器為一光亮度檢測器，而所述檢測值分別為多個光亮度值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光纖同心度檢測方法，其步驟主要將一待檢測的光纖插入至定位襯套中，另一端則連接至一光功率檢測器，并獲得一光功率值；之后旋轉(zhuǎn)光纖至一特定角度后再插入至定位襯套中，即可以獲得另一光功率值；重復進行數(shù)次；以及分析上述的光功率值獲得光纖的同心度。
文檔編號H04B10/08GK1900672SQ20051008476
公開日2007年1月24日 申請日期2005年7月20日 優(yōu)先權日2005年7月20日
發(fā)明者張世津, 田章鴻, 何俊慶 申請人:臺達電子工業(yè)股份有限公司