專利名稱：碼分多址通信系統(tǒng)中基帶信號處理子系統(tǒng)的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于CDMA移動通訊設(shè)備的測試領(lǐng)域，具體地說，是一種CDMA移動通信系統(tǒng)基站收發(fā)信機中基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的測試裝置。
背景技術(shù)：
通常，CDMA移動通訊系統(tǒng)一般包括MSC移動交換中心和位置登記系統(tǒng)、BSM基站管理系統(tǒng)、BSC基站控制器和多路BTS基站收發(fā)信機，基站收發(fā)信機主要由基帶信號處理子系統(tǒng)和射頻信號處理子系統(tǒng)組成，請參照圖1，其中基帶信號處理子系統(tǒng)301的主要功能在兩方面一方面將經(jīng)過射頻處理子系統(tǒng)302處理后來的基帶接口信號轉(zhuǎn)換成基帶信號，再從基帶信號中提取移動終端所發(fā)送來的數(shù)據(jù)幀；另一方面將通信網(wǎng)傳送來的數(shù)據(jù)幀轉(zhuǎn)換成基帶信號，再將基帶信號轉(zhuǎn)換成射頻信號，通過空中傳送給移動終端303。
基站收發(fā)信機中基帶信號處理子系統(tǒng)一般由一個單板組成，目前系統(tǒng)設(shè)備生產(chǎn)商在進行單板生產(chǎn)或加工時，需要提供測試手段來保證單板的生產(chǎn)質(zhì)量，一般進行生產(chǎn)測試的測試設(shè)備和相應(yīng)的方法有如下兩種一種是整機測試設(shè)備將各被測單板插入運行中的CDMA移動通訊系統(tǒng)設(shè)備上基站收發(fā)信機BTS上的對應(yīng)槽位，運行系統(tǒng)設(shè)備程序，利用系統(tǒng)網(wǎng)管將整個CDMA移動通訊系統(tǒng)設(shè)備配置為一個模擬的系統(tǒng)，利用測試手機，對一個信道一個信道分別通過打電話，來實現(xiàn)對被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的測試，若每一個信道都能夠打通電話，則表明該單板是正常的；若有一個信道不能打通電話，則該單板是不正常的。
這種測試方法的優(yōu)點是可以對被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板作全面的功能測試和性能測試、測試環(huán)境容易搭建，缺點也是十分明顯的其依賴系統(tǒng)環(huán)境、測試效率較低、不適合于對獨立的基站信號處理子系統(tǒng)組成單板進行判斷。
另一種則采用專用的CDMA綜合測試儀對被測單板進行測試將被測單板插入運行中的CDMA移動通訊系統(tǒng)設(shè)備上基站BTS上的對應(yīng)槽位，運行系統(tǒng)設(shè)備程序，利用系統(tǒng)網(wǎng)管將CDMA移動通訊系統(tǒng)設(shè)備配置為一個模擬的系統(tǒng)。在反向方向，利用CDMA綜合測試儀在射頻端發(fā)出CDMA測試信號，在網(wǎng)管上對CDMA綜合測試儀發(fā)出的測試信號進行監(jiān)測，來實現(xiàn)對基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板反向功能的監(jiān)測；在前向方向，利用網(wǎng)管系統(tǒng)，下達CDMA測試信令，在CDMA綜合測試儀上對所發(fā)信令進行檢測來實現(xiàn)對基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板前向功能的監(jiān)測。
這種測試方法的特點是采用了適合于CDMA系統(tǒng)特殊的信令和信號，可以對基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的功能進行比較全面的檢測，適合于系統(tǒng)設(shè)備研發(fā)人員在對被測單板進行研發(fā)時采用，但相對于大批量的生產(chǎn)過程來說，這種測試方法存在操作不便、測試過程人工參與程度較高、測試效率低的問題。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板生產(chǎn)測試技術(shù)的不足，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種CDMA系統(tǒng)中基帶信號處理子系統(tǒng)的測試裝置，能夠完成對基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的物理通路故障定位，并且成本低，測試效率高。
為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種碼分多址通信系統(tǒng)中基帶信號處理子系統(tǒng)的測試裝置，包括主控制器、分別與主控制器連接的時鐘電路測試模塊、反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊和通訊接收/發(fā)送測試模塊，所述各測試模塊與被測基帶信號處理子系統(tǒng)相互聯(lián)；其中所述主控制器控制各測試模塊完成對所述被測子系統(tǒng)外圍所需的測試環(huán)境的配置，反向接收解調(diào)功能以及前向調(diào)制功能的物理通路好壞的測試；并接收上報的測試結(jié)果；所述時鐘電路測試模塊，用于提供所述被測子系統(tǒng)所需的時鐘；所述反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊，用于對被測子系統(tǒng)提供反向測試信號，以及對前向測試信號進行處理，實現(xiàn)被測子系統(tǒng)基帶調(diào)制解調(diào)處理功能物理通路的測試；
所述通訊接收/發(fā)送測試模塊，用于將主控制器和被測子系統(tǒng)互連，實現(xiàn)測試控制程序的自動下載及測試裝置和被測單板之間的信息通訊；同時，也用于實現(xiàn)所述被測子系統(tǒng)數(shù)據(jù)幀輸入和輸出的物理通路測試。
上述方案中，所述時鐘測試模塊可采用以下結(jié)構(gòu)，包括高精度時鐘源電路，用于提供高精度的時鐘基準；輸出時鐘產(chǎn)生電路，用于接收輸出的時鐘基準，產(chǎn)生所述被測子系統(tǒng)所需的各種時鐘；電平接口轉(zhuǎn)換電路，用于將產(chǎn)生的各種時鐘轉(zhuǎn)換為被測子系統(tǒng)所需要的時鐘信號，并輸出到所述被測子系統(tǒng)；以及接口模塊，用于輸出時鐘產(chǎn)生電路和主控制器之間的信息交互。
上述方案中，所述反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊可采用以下結(jié)構(gòu)，包括反向測試信號和前向接收信號處理控制電路，用于接收主控制器的控制指令，對反向測試信號產(chǎn)生電路和前向接收信號處理電路進行控制；反向測試信號產(chǎn)生電路，用于向所述被測子系統(tǒng)輸出反向測試信號；前向接收信號處理電路，用于對所述被測子系統(tǒng)送來的前向測試信號進行處理；測試結(jié)果存儲和清零電路，用于保存所述前向接收信號處理電路的處理結(jié)果，通過接口模塊傳送到所述主控制器，并在進行新的測試前將保存結(jié)果清零；接口模塊，用于與所述主控制器之間的信息交互。
上述方案中，所述通訊接收/發(fā)送測試模塊可采用以下結(jié)構(gòu)，包括CPU小系統(tǒng)模塊，用于通過相應(yīng)接口模塊分別與主控制器和所述被測子系統(tǒng)互聯(lián)，完成所述通訊接收/發(fā)送測試模塊和主控制器、主控制器和所述被測子系統(tǒng)之間的信息交互；數(shù)據(jù)幀測試信號產(chǎn)生電路，用于產(chǎn)生模擬的數(shù)據(jù)幀測試信號并輸出到所述被測子系統(tǒng)；數(shù)據(jù)幀接收處理電路，用于對所述被測子系統(tǒng)送來的測試數(shù)據(jù)幀進行處理；數(shù)據(jù)幀測試結(jié)果存儲和清零電路，用于保存測試數(shù)據(jù)幀的處理結(jié)果，并通過接口模塊送回給所述主控制器進行處理，并在進行新的測試前將保存結(jié)果清零。
上述方案中，其特點是，所述時鐘電路測試模塊、反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊與所述主控制器之間的接口模塊為總線接口模塊；所述CPU小系統(tǒng)模塊中與所述主控制器通訊的接口模塊為網(wǎng)絡(luò)接口模塊，與所述被測子系統(tǒng)之間直接通過CPU總線通訊。
由上可知，本發(fā)明的測試裝置不依賴CDMA系統(tǒng)設(shè)備，在一個獨立的環(huán)境中就可以對實現(xiàn)基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的前向發(fā)送調(diào)制和反向接收解調(diào)功能的物理通路好壞、數(shù)據(jù)幀輸入和輸出物理通路好壞的自動快速測試。因為對被測單板的測試在一臺獨立的測試設(shè)備完成，適合于生產(chǎn)/維修過程的批量測試。另外，由于對各被測單板只作物理通路好壞的測試，有利于提高生產(chǎn)測試效率，并且有利于降低測試設(shè)備投入成本。


圖1為CDMA基站收發(fā)信機BTS的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為CDMA基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例測試裝置的整體方框圖；圖4為圖3中時鐘電路測試模塊的方框圖；圖5為圖3中反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊的方框圖；圖6為圖3中和被測子系統(tǒng)通信的通訊接收/發(fā)送電路測試模塊的方框圖。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖，進一步描述本發(fā)明實施例的測試裝置。
圖2所示是CDMA基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板400的結(jié)構(gòu)示意圖，當(dāng)其和本發(fā)明的測試裝置配合使用時，其中的射頻子系統(tǒng)接口電路401，用于接收測試裝置的反向測試信號，處理后送到調(diào)制解調(diào)芯片402，以及接收調(diào)制解調(diào)芯片產(chǎn)生的前向測試信號并送到測試裝置；調(diào)制解調(diào)芯片402，用于從反向測試信號中提取出所發(fā)送來的數(shù)據(jù)幀，以及對測試數(shù)據(jù)幀信號進行調(diào)制，產(chǎn)生前向測試信號；處理器接口電路403，用于接收測試裝置發(fā)來的控制程序并寫入程序存儲器中，完成對被測單板上所有物理通路芯片的初始配置；時鐘接口處理單元404，用于接收測試裝置提供的時鐘信號，處理后供單板上功能模塊使用；數(shù)據(jù)幀處理接口電路405，用于完成調(diào)制解調(diào)芯片和測試裝置之間數(shù)據(jù)幀的發(fā)送和接收。調(diào)制解調(diào)芯片402是上述單板的核心部件，本實施例中，以高通公司的調(diào)制解調(diào)芯片為例，如C5000。
為了實現(xiàn)對BTS基站收發(fā)信機基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的測試，如圖3所示，本發(fā)明實施例的測試裝置500包括主控制器501，通過總線接口(如，ISA總線、VXI總線、CPCI總線)方式并行地連接至內(nèi)部總線507以與主控制器501通訊的時鐘電路測試模塊502和反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊503，以及通過網(wǎng)絡(luò)接口方式用網(wǎng)線508與主控制器501連接的通訊接收/發(fā)送測試模塊504，共同組成了一個測試裝置500。該測試裝置500通過通訊線和電纜線與被測試子系統(tǒng)組成單板相互聯(lián)。
主控制器501控制各測試模塊完成對被測試子系統(tǒng)組成單板外圍所需的測試環(huán)境的配置，以及該組成單板上反向接收解調(diào)功能、前向調(diào)制功能物理通路的測試，同時接收各模塊上報的測試結(jié)果。本實施例中，采用CPCI總線，主控制器501采用通用的系統(tǒng)卡。
時鐘電路測試模塊502，用于提供被測單板所需的時鐘，如19.6608MPECL電平時鐘、PP2S PECL電平時鐘和10M TTL電平時鐘；反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊503，用于對被測子系統(tǒng)組成單板提供反向測試信號，以及對前向測試信號進行處理，實現(xiàn)被測子系統(tǒng)組成單板基帶調(diào)制解調(diào)處理功能物理通路的測試；通訊接收/發(fā)送測試模塊504，用于將主控制器501和被測子系統(tǒng)組成單板互連，實現(xiàn)測試控制程序的自動下載及測試裝置和被測單板之間的信息通訊；同時，也用于實現(xiàn)被測單板數(shù)據(jù)幀輸入和輸出的物理通路測試。
下面結(jié)合圖4、圖5、圖6對本發(fā)明所述的測試裝置做進一步描述。
圖4是時鐘電路測試模塊502的方框圖，如圖所示，其中高精度時鐘源電路601為輸出時鐘產(chǎn)生電路602提供高精度的OCXO時鐘基準；輸出時鐘產(chǎn)生電路602，用于產(chǎn)生被測單板所需的各種時鐘，所輸出的時鐘經(jīng)過PECL電平接口轉(zhuǎn)換電路603，為被測子系統(tǒng)組成單板提供需要的19.6608Mhz時鐘和PP2S時鐘，經(jīng)過TTL電平接口轉(zhuǎn)換電路604，為被測子系統(tǒng)組成單板提供需要的10Mhz時鐘；總線接口模塊605，用于時鐘電路測試模塊502和主控制器501之間的信息交互，實現(xiàn)主控制器對本測試模塊的控制。本述模塊根據(jù)測試時對時鐘信號的需要可以增刪。
圖5是反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊503的方框圖，如圖所示，其中反向測試信號和前向接收信號處理控制電路701，用于通過總線接口模塊705從主控制器501接收控制指令，對反向測試信號產(chǎn)生電路702和前向接收信號處理電路703進行控制；反向測試信號產(chǎn)生電路702，用于提供被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板所需要的反向測試信號；前向接收信號處理電路703，用于對基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板送來的前向測試信號進行處理；測試結(jié)果存儲和清零電路704，用于保存前向接收信號處理電路703的處理結(jié)果，通過總線接口模塊705傳送到主控制器501，并在進行新的測試前將保存結(jié)果清零；總線接口模塊705，用于實現(xiàn)反向測試信號和前向接收信號處理控制電路701和主控制器501之間的信息交互。
圖6是通訊接收/發(fā)送測試模塊504的方框圖，其中，CPU小系統(tǒng)模塊911一方面通過其內(nèi)配置的網(wǎng)絡(luò)接口模塊915，與主控制器501互連，實現(xiàn)對本測試模塊的控制，另一方面通過CPU接口總線與被測子系統(tǒng)組成單板互聯(lián)，用以完成主控制器501和被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板之間的信息交互，本實施例中，CPU總線采用標(biāo)準的PrPMC總線。數(shù)據(jù)幀測試信號產(chǎn)生電路912，用于產(chǎn)生模擬的數(shù)據(jù)幀測試信號；數(shù)據(jù)幀接收處理電路914，用于完成對輸入測試數(shù)據(jù)幀的處理；數(shù)據(jù)幀測試結(jié)果存儲和清零電路913，用于保存測試數(shù)據(jù)幀的處理結(jié)果，通過所述網(wǎng)絡(luò)接口模塊915送回給主控制器501進行處理，并在進行新的測試前將保存結(jié)果清零。
基于上述的測試裝置，本發(fā)明在對被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板進行測試時，主要包括以下步驟測試裝置中的主控制器501先通過通訊接收/發(fā)送測試模塊504中的CPU小系統(tǒng)模塊911內(nèi)配置的網(wǎng)絡(luò)接口模塊915，經(jīng)CPU接口總線，將測試控制程序?qū)懭氡粶y子系統(tǒng)組成單板內(nèi)處理器接口單元電路403中的程序存儲器中，完成對被測單板上所有物理通路芯片的初始配置，如調(diào)制解調(diào)芯片、接口電路接口芯片等等；時鐘電路測試模塊502根據(jù)指令對時鐘源電路進行選擇，配置完成所需的時鐘源；通訊接收/發(fā)送測試模塊504根據(jù)需要下載被測單板所需的測試程序；然后下達測試指令給各測試模塊，執(zhí)行測試任務(wù)；反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊503、通訊接收/發(fā)送測試模塊504，在被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板內(nèi)處理器接口單元電路403程序存儲器中測試控制程序的配合下，完成對被測單板的測試工作；測試完成后將測試結(jié)果送回給主控制器，并將測試結(jié)果存儲單元清零，準備進行下一次測試。
進行被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板反向接收解調(diào)功能的物理通路好壞的測試時包括以下步驟反向測試信號和前向接收信號處理控制電路701，通過總線接口模塊705，接收主控制器501發(fā)來的命令，處理后送給反向測試信號產(chǎn)生電路702，產(chǎn)生模擬的反向測試信號；所述模擬反向測試信號送到被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板400的射頻子系統(tǒng)接口電路401，處理后到調(diào)制解調(diào)芯片402；調(diào)制解調(diào)芯片402從測試信號中提取出所發(fā)送來的數(shù)據(jù)幀，經(jīng)數(shù)據(jù)處理接口電路405送入通訊接收/發(fā)送測試模塊504中的數(shù)據(jù)幀接收處理電路914；數(shù)據(jù)幀接收處理電路完成對輸入測試數(shù)據(jù)幀的處理，同時將測試結(jié)果存放在測試結(jié)果存儲和清零電路913中；測試結(jié)果再通過CPU小系統(tǒng)模塊911內(nèi)配置的網(wǎng)絡(luò)接口模塊915送回給主控制器501進行處理。
進行被測基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板前向調(diào)制功能的物理通路好壞的測試時包括以下步驟通訊接收/發(fā)送測試模塊504中的數(shù)據(jù)幀測試信號產(chǎn)生電路912，通過CPU小系統(tǒng)模塊911內(nèi)配置的網(wǎng)絡(luò)接口模塊915，接收主控制器501發(fā)來的測試命令，產(chǎn)生模擬的數(shù)據(jù)幀測試信號；所述數(shù)據(jù)幀測試信號送入被測單板的數(shù)據(jù)處理接口電路405處理后，輸出到調(diào)制解調(diào)芯片402；調(diào)制解調(diào)芯片402將測試數(shù)據(jù)幀信號進行調(diào)制，產(chǎn)生前向測試信號；所述前向測試信號經(jīng)射頻子系統(tǒng)接口電路401輸出到前向接收信號處理電路703，完成對送來前向測試信號的處理；處理完成后的測試結(jié)果存放在測試結(jié)果存儲和清零電路704中，主控制器501通過總線接口模塊605獲得測試結(jié)果并進行處理。
對于具體的信號產(chǎn)生和處理，本發(fā)明本實施例采用下述方案對于前向，產(chǎn)生的前向測試信號為有一定幅值的正弦波信號。若被測子系統(tǒng)無法產(chǎn)生所預(yù)期的的前向正弦波，則判斷為前向鏈路的物理通路有故障。也可以采用標(biāo)準的I、Q測試信號。
對于反向，反向測試信號采用滿足一定能量要求的10M正弦波或方波，發(fā)送二次測試信號，第一次幅值為4.0~5.0V，第二次幅值為0.0~0.5V，數(shù)據(jù)幀接收處理電路根據(jù)測試結(jié)果判斷，如第一次或第二次的測試結(jié)果均小于一個設(shè)定的閥值，或者第一次和第二次的測試結(jié)果的比值小于一個設(shè)定的閥值，判斷為反向鏈路的物理通路有故障。反向測試信號也可以采用標(biāo)準的I、Q測試信號反向。
需說明的是，本發(fā)明的測試方法并不局限于此，現(xiàn)有技術(shù)中的相關(guān)測試手段均可以加以運用。
和背景技術(shù)中采用CDMA綜合測試儀對被測單板進行測試的方法相比，本發(fā)明在測試過程時將原來由網(wǎng)管系統(tǒng)、CDMA系統(tǒng)以及綜合測試儀完成的功能由一個獨立的測試裝置來實現(xiàn)，從而在一個獨立的環(huán)境中就可以實現(xiàn)基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的前向發(fā)送調(diào)制和反向接收解調(diào)功能的物理通路好壞、數(shù)據(jù)幀輸入和輸出物理通路好壞的自動快速測試。本發(fā)明組成的測試裝置結(jié)構(gòu)簡單、操作方便，因而特別適合生產(chǎn)/維修過程中對CDMA基站收發(fā)信機基帶信號處理子系統(tǒng)組成單板的大批量測試，由于對各被測單板只作物理通路好壞的測試，有利于提高生產(chǎn)測試效率，并且有利于降低測試設(shè)備投入成本。
在上述實施例的基礎(chǔ)上還可以進行各種變換，各測試模塊之間以及測試模塊與被測子系統(tǒng)之間的接口方式并不局限在實施例中的方式，各功能單元的布置也可分可合。如圖6中的網(wǎng)絡(luò)接口模塊也可以改為用總線接口實現(xiàn)主控制器和通訊接收/發(fā)送測試模塊的通信，各測試模塊可以共用一個接口模塊等。
權(quán)利要求
1.一種碼分多址通信系統(tǒng)中基帶信號處理子系統(tǒng)的測試裝置，其特征在于包括主控制器、分別與主控制器連接的時鐘電路測試模塊、反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊和通訊接收/發(fā)送測試模塊，所述各測試模塊與被測基帶信號處理子系統(tǒng)相互聯(lián)，其中所述主控制器控制各測試模塊完成對所述被測子系統(tǒng)外圍所需的測試環(huán)境的配置，反向接收解調(diào)功能以及前向調(diào)制功能的物理通路好壞的測試；并接收上報的測試結(jié)果；所述時鐘電路測試模塊，用于提供所述被測子系統(tǒng)所需的時鐘；所述反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊，用于對被測子系統(tǒng)提供反向測試信號，以及對前向測試信號進行處理，實現(xiàn)被測子系統(tǒng)基帶調(diào)制解調(diào)處理功能物理通路的測試；所述通訊接收/發(fā)送測試模塊，用于將主控制器和被測子系統(tǒng)互連，實現(xiàn)測試控制程序的自動下載及測試裝置和被測單板之間的信息通訊；同時，也用于實現(xiàn)所述被測子系統(tǒng)數(shù)據(jù)幀輸入和輸出的物理通路測試。
2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述時鐘測試模塊包括高精度時鐘源電路，用于提供高精度的時鐘基準；輸出時鐘產(chǎn)生電路，用于接收輸出的時鐘基準，產(chǎn)生所述被測子系統(tǒng)所需的各種時鐘；電平接口轉(zhuǎn)換電路，用于將產(chǎn)生的各種時鐘轉(zhuǎn)換為被測子系統(tǒng)所需要的時鐘信號，并輸出到所述被測子系統(tǒng)；以及接口模塊，用于輸出時鐘產(chǎn)生電路和主控制器之間的信息交互。
3.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊包括反向測試信號和前向接收信號處理控制電路，用于接收主控制器的控制指令，對反向測試信號產(chǎn)生電路和前向接收信號處理電路進行控制；反向測試信號產(chǎn)生電路，用于向所述被測子系統(tǒng)輸出反向測試信號；前向接收信號處理電路，用于對所述被測子系統(tǒng)送來的前向測試信號進行處理；測試結(jié)果存儲和清零電路，用于保存所述前向接收信號處理電路的處理結(jié)果，通過接口模塊傳送到所述主控制器，并在進行新的測試前將保存結(jié)果清零；接口模塊，用于與所述主控制器之間的信息交互。
4.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述通訊接收/發(fā)送測試模塊包括CPU小系統(tǒng)模塊，用于通過相應(yīng)接口模塊分別與主控制器和所述被測子系統(tǒng)互聯(lián)，完成所述通訊接收/發(fā)送測試模塊和主控制器、主控制器和所述被測子系統(tǒng)之間的信息交互；數(shù)據(jù)幀測試信號產(chǎn)生電路，用于產(chǎn)生模擬的數(shù)據(jù)幀測試信號并輸出到所述被測子系統(tǒng)；數(shù)據(jù)幀接收處理電路，用于對所述被測子系統(tǒng)送來的測試數(shù)據(jù)幀進行處理；數(shù)據(jù)幀測試結(jié)果存儲和清零電路，用于保存測試數(shù)據(jù)幀的處理結(jié)果，并通過接口模塊送回給所述主控制器進行處理，并在進行新的測試前將保存結(jié)果清零。
5.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述時鐘電路測試模塊、反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊與所述主控制器之間的接口模塊為總線接口模塊；所述CPU小系統(tǒng)模塊中與所述主控制器通訊的接口模塊為網(wǎng)絡(luò)接口或者總線接口模塊，與所述被測子系統(tǒng)之間則直接通過CPU總線通訊。
全文摘要
本發(fā)明公開一種CDMA系統(tǒng)中基帶信號處理子系統(tǒng)的測試裝置，包括主控制器，用于對被測子系統(tǒng)所需測試環(huán)境進行配置，控制各測試模塊完成反向接收解調(diào)功能以及前向調(diào)制功能的物理通路的測試，并接收測試結(jié)果；反向測試信號產(chǎn)生和前向接收信號處理測試模塊，用于提供反向測試信號及對前向測試信號進行處理；通訊接收/發(fā)送測試模塊，用于將主控制器和被測子系統(tǒng)互連，及所述被測子系統(tǒng)數(shù)據(jù)幀輸入和輸出的物理通路測試；以及時鐘電路測試模塊，用于提供測試單板所需的時鐘信號。本發(fā)明的測試裝置不依賴CDMA系統(tǒng)設(shè)備，在一個獨立的環(huán)境中對被測單板物理通路的好壞進行測試，操作簡單，可提高測試效率，降低成本。
文檔編號H04W24/00GK1555209SQ20031011294
公開日2004年12月15日 申請日期2003年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月26日
發(fā)明者吳德榮, 閻曉艷, 丁國興, 柳永勝, 朱紅軍 申請人:中興通訊股份有限公司