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閃存結(jié)構(gòu)及其形成方法與流程

文檔序號:40393236發(fā)布日期:2024-12-20 12:16閱讀:來源:國知局

技術特征:

1.一種閃存結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:

2.如權利要求1所述的閃存結(jié)構(gòu),其特征在于,各所述浮柵還具有與所述第一側(cè)壁相對的第二側(cè)壁;所述第二側(cè)壁呈所述波紋結(jié)構(gòu)。

3.如權利要求2所述的閃存結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第一側(cè)壁具有凸出于所述控制柵側(cè)壁表面的第三尺寸,所述第二側(cè)壁具有凸出于所述控制柵側(cè)壁表面的第四尺寸,所述第三尺寸大于所述第四尺寸。

4.如權利要求3所述的閃存結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第三尺寸和所述第四尺寸的差值范圍為0埃至250埃。

5.如權利要求1所述的閃存結(jié)構(gòu),其特征在于,相鄰所述凸起部之間具有凹槽;所述凹槽在沿所述襯底表面方向上具有第一尺寸,所述第一尺寸的大小范圍為100埃至250埃;所述凹槽在垂直于所述襯底表面方向上具有第二尺寸,所述第二尺寸的大小范圍為30埃至250埃。

6.一種閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,包括:

7.如權利要求6所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述bosch工藝包括若干處理過程,各所述處理過程包括:采用各項同性刻蝕工藝對暴露出的所述浮柵材料層進行刻蝕,在所述浮柵材料層內(nèi)形成凹槽;在所述各項同性刻蝕工藝之后,采用鈍化工藝對所述凹槽進行表面處理,以在所述凹槽側(cè)壁形成保護層。

8.如權利要求7所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述bosch工藝中所述處理過程的次數(shù)范圍為2次至100次。

9.如權利要求7所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述各項同性刻蝕工藝的工藝參數(shù)包括:刻蝕氣體包括sf6,氣體流量范圍為10毫升/分鐘至250毫升/分鐘,射頻功率范圍為200瓦至1000瓦。

10.如權利要求7所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述鈍化工藝的工藝參數(shù)包括:鈍化氣體包括,氣體流量范圍為40毫升/分鐘至130毫升/分鐘,射頻功率范圍為200瓦至1000瓦。

11.如權利要求6所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,各所述控制柵結(jié)構(gòu)包括相對的第三側(cè)壁和第四側(cè)壁,兩個所述控制柵結(jié)構(gòu)的所述第三側(cè)壁相鄰;所述側(cè)墻結(jié)構(gòu)包括位于所述第三側(cè)壁和所述第四側(cè)壁的第一側(cè)墻。

12.如權利要求11所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述側(cè)墻結(jié)構(gòu)的形成方法包括:在所述浮柵材料層和所述控制柵結(jié)構(gòu)表面形成第一側(cè)墻材料層;回刻所述第一側(cè)墻材料層直到暴露出所述浮柵材料層。

13.如權利要求11所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述側(cè)墻結(jié)構(gòu)還包括位于所述第三側(cè)壁的第二側(cè)墻,所述第一側(cè)墻位于所述第三側(cè)壁和所述第二側(cè)墻之間;各所述浮柵還具有與所述第一側(cè)壁相對的第二側(cè)壁,所述第一側(cè)壁具有凸出于所述控制柵側(cè)壁表面的第三尺寸,所述第二側(cè)壁具有凸出于所述控制柵側(cè)壁表面的第四尺寸,所述第三尺寸大于所述第四尺寸。

14.如權利要求13所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述第三尺寸和所述第四尺寸的差值范圍為0埃至250埃。

15.如權利要求13所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述側(cè)墻結(jié)構(gòu)的形成方法包括:在所述浮柵材料層和所述控制柵結(jié)構(gòu)表面形成第一側(cè)墻材料層;回刻所述第一側(cè)墻材料層直到暴露出所述浮柵材料層,在所述控制柵結(jié)構(gòu)側(cè)壁形成所述第一側(cè)墻;在形成所述第一側(cè)墻之后,在所述浮柵材料層和所述控制柵結(jié)構(gòu)表面形成第二側(cè)墻材料層;回刻所述第二側(cè)墻材料層,直到暴露出所述浮柵材料層表面,在所述第一側(cè)墻側(cè)壁表面形成第二側(cè)墻;在形成所述第二側(cè)墻之后,在所述浮柵材料層表面形成掩膜層,所述掩膜層暴露出所述第二側(cè)壁的所述第二側(cè)墻;去除所述第二側(cè)壁的所述第二側(cè)墻。

16.如權利要求6所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,相鄰所述凸起部之間具有凹槽;所述凹槽在沿所述襯底表面方向上具有第一尺寸,所述第一尺寸的大小范圍為100埃至250埃;所述凹槽在垂直于所述襯底表面方向上具有第二尺寸,所述第二尺寸的大小范圍為30埃至250埃。

17.如權利要求6所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述擦除柵結(jié)構(gòu)包括隧穿氧化層和位于所述隧穿氧化層表面的擦除柵;所述字線結(jié)構(gòu)包括字線氧化層和位于所述字線氧化層表面的字線;所述擦除柵結(jié)構(gòu)和所述字線結(jié)構(gòu)的形成方法包括:在形成所述浮柵之后,在所述襯底和所述存儲柵結(jié)構(gòu)表面形成氧化材料層;在所述氧化材料層表面形成柵極材料層,所述柵極材料層表面高于所述存儲柵結(jié)構(gòu)頂部表面;平坦化所述柵極材料層和所述氧化材料層,直到暴露出所述存儲柵結(jié)構(gòu)頂部表面,以所述氧化材料層形成所述隧穿氧化層和所述字線氧化層,以所述柵極材料層形成所述擦除柵和所述字線。

18.如權利要求17所述的閃存結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,所述襯底包括存儲區(qū)和外圍區(qū);所述存儲柵結(jié)構(gòu)位于所述存儲區(qū);所述氧化材料層位于所述存儲區(qū);所述方法還包括:在形成所述氧化材料層之后,且在形成柵極材料層之前,在所述外圍區(qū)表面形成外圍氧化材料層;在暴露出所述存儲柵結(jié)構(gòu)頂部表面之后,且在形成所述擦除柵和所述字線之前,還回刻所述柵極材料層;在回刻所述柵極材料層之后,圖形化所述外圍區(qū)上的所述柵極材料層和所述外圍氧化材料層,以所述外圍氧化材料層形成外圍氧化層,以所述柵極材料層形成外圍柵極層。


技術總結(jié)
一種閃存結(jié)構(gòu)及其形成方法,其中結(jié)構(gòu)包括:襯底;位于所述襯底上的相互分立的兩個存儲柵結(jié)構(gòu),所述兩個存儲結(jié)構(gòu)之間具有開口,各存儲柵結(jié)構(gòu)包括浮柵、位于所述浮柵上的控制柵介質(zhì)層和位于所述控制柵介質(zhì)層上的控制柵,各所述浮柵具有所述開口暴露出的第一側(cè)壁,所述第一側(cè)壁呈波紋結(jié)構(gòu),所述波紋結(jié)構(gòu)包括若干凸起部,所述若干凸起部在垂直于所述襯底表面方向上排布,所述凸起部的底部尺寸大于頂部尺寸;位于所述開口內(nèi)的擦除柵結(jié)構(gòu);分別位于所述存儲柵結(jié)構(gòu)和擦除柵結(jié)構(gòu)兩側(cè)的字線結(jié)構(gòu),提高所形成的閃存結(jié)構(gòu)的擦除效率。

技術研發(fā)人員:馮威,張偉,石強
受保護的技術使用者:中芯國際集成電路制造(北京)有限公司
技術研發(fā)日:
技術公布日:2024/12/19
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