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一種按鍵操作檢測(cè)電路的制作方法

文檔序號(hào):12257766閱讀:418來源:國(guó)知局
一種按鍵操作檢測(cè)電路的制作方法與工藝

本實(shí)用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種按鍵操作檢測(cè)電路。



背景技術(shù):

現(xiàn)有技術(shù)采用MCU定時(shí)器做單按鍵檢測(cè)功能。如圖1所示,MCU連接電路中的檢測(cè)點(diǎn),當(dāng)按鍵按下時(shí),檢測(cè)點(diǎn)為低電平,當(dāng)按鍵松開時(shí),檢測(cè)點(diǎn)為高電平,通過MCU設(shè)置定時(shí)計(jì)數(shù)器來計(jì)算低電平的持續(xù)時(shí)間T0,當(dāng)T0小于1s時(shí),識(shí)別為短按按鍵,MCU執(zhí)行開機(jī)操作;小T0大于1s小于3s,識(shí)別為長(zhǎng)按按鍵,MCU執(zhí)行“音量加”或“音量減”等操作;當(dāng)T0大于10s,識(shí)別為超長(zhǎng)按按鍵,MCU執(zhí)行復(fù)位操作。

由于電路完全依賴MCU的的操作,因?yàn)橐ㄟ^此按鍵做開關(guān)機(jī)操作,需要計(jì)算按鍵按下時(shí)間,需要MCU內(nèi)部的定時(shí)計(jì)數(shù)器,而MCU內(nèi)部的定時(shí)計(jì)數(shù)器一般都是比較稀缺的資源。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是,提供一種按鍵操作檢測(cè)電路,不占用MCU的定時(shí)計(jì)數(shù)器資源。

為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種按鍵操作檢測(cè)電路,包括電源端、按鍵、第一電容、第一比較器、第二比較器、第一基準(zhǔn)電壓電路、第二基準(zhǔn)電壓電路、充電電阻、放電電阻、短按控制信號(hào)輸出端和第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端;

所述按鍵在按下時(shí)連通第一觸點(diǎn)和第二觸點(diǎn);所述充電電阻的第一端連接所述電源端,所述充電電阻的第二端連接所述第一觸點(diǎn),所述第二觸點(diǎn)連接所述第一電容的第一端;所述第一電容的第二端接地;所述放電電阻的第一端連接所述第一電容的第一端,所述放電電阻的第二端連接所述第一電容的第二端;

所述第一電容的第一端還連接所述第二比較器的一個(gè)輸入端,所述第二比較器的另一個(gè)輸入端連接所述第二基準(zhǔn)電壓電路的輸出端;所述第二比較器的輸出端連接所述第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端;

所述第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的基準(zhǔn)電壓值小于所述第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的基準(zhǔn)電壓值。

實(shí)施本實(shí)用新型實(shí)施例,具有如下有益效果:

本實(shí)用新型實(shí)施例提供的按鍵操作檢測(cè)電路,利用電容的電壓不瞬變的特點(diǎn)完成按鍵長(zhǎng)短的識(shí)別,具體地,當(dāng)按鍵按下時(shí)間比較短,電容充電時(shí)間比較短,電壓只能上升到第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值,則第一比較器輸出短按信號(hào),通過短按信號(hào)輸出端輸出至MCU;當(dāng)按鍵按下時(shí)間比較長(zhǎng),電容充電時(shí)間比較長(zhǎng),電壓能上升到第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值,則第二比較器輸出第一長(zhǎng)按信號(hào),通過第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端輸出至MCU。MCU僅需延遲判斷,如果短按信號(hào)消失仍未出現(xiàn)長(zhǎng)按信號(hào)則執(zhí)行短按信號(hào)對(duì)應(yīng)的操作,如果短按信號(hào)一直持續(xù)到有長(zhǎng)按信號(hào)出現(xiàn),則根據(jù)長(zhǎng)按信號(hào)執(zhí)行操作,無需使用計(jì)時(shí)器。

進(jìn)一步地,所述按鍵操作檢測(cè)電路還包括第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路;

所述第一開關(guān)電路包括第一輸入端、第一輸出端和第一控制端;所述第二開關(guān)電路包括第二輸入端、第二輸出端和第二控制端;

所述電源端連接所述第一輸入端,所述第一輸出端連接所述第二輸入端,所述第二輸出端連接所述第一比較器的供電端,所述第二輸出端還連接所述第二比較器的供電端;

所述第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端連接所述第一控制端;所述第一電容的第一端還連接所述第二控制端。

在進(jìn)一步方案中,按鍵操作電路包括第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路,第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路受第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端和第一電容上的電壓控制,通過設(shè)置第一開關(guān)電路常閉合,第二開關(guān)電路上電時(shí)閉合,相比現(xiàn)有技術(shù)需要MCU在關(guān)機(jī)狀態(tài)下仍有電,本實(shí)用新型可以做到低功耗,甚至0功耗。

進(jìn)一步地,所述按鍵操作檢測(cè)電路還包括第三比較器、第三基準(zhǔn)電壓電路和第二長(zhǎng)按信號(hào)輸出端;

所述第一電容的第一端還連接所述第三比較器的一個(gè)輸入端,所述第三比較器的另一個(gè)輸入端連接所述第三基準(zhǔn)電壓電路的輸出端,所述第三比較器的輸出端連接所述第二長(zhǎng)按信號(hào)輸出端;

所述第二輸出端還連接所述第三比較器的供電端;

所述第三基準(zhǔn)電壓電路輸出的基準(zhǔn)電壓值大于所述第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的基準(zhǔn)電壓值且小于所述第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的基準(zhǔn)電壓值。

在進(jìn)一步方案中,設(shè)置有第三比較器,對(duì)三種時(shí)長(zhǎng)的按鍵按下信號(hào)進(jìn)行區(qū)分,其中,電容充電時(shí)間比較短,電壓只能上升到第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值時(shí),第一比較器輸出短按信號(hào);電容充電時(shí)間長(zhǎng)至電壓可上升到第三基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值時(shí),則第三比較器輸出第二長(zhǎng)按信號(hào);電容充電時(shí)間長(zhǎng)至電壓可上升到第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值時(shí),則第二比較器輸出第一長(zhǎng)按信號(hào)。一般地,短按信號(hào)可執(zhí)行音量加減或播放暫停等單一功能,第二長(zhǎng)按信號(hào)可執(zhí)行關(guān)機(jī)功能,第一長(zhǎng)按信號(hào)可執(zhí)行復(fù)位功能,提高本實(shí)用新型的實(shí)用性。

進(jìn)一步地,所述第一電容的第一端還連接所述第二比較器的一個(gè)輸入端,所述第二比較器的另一個(gè)輸入端連接所述第二基準(zhǔn)電壓電路的輸出端,具體為:

所述第一電容的第一端連接所述第二比較器的反相輸入端,所述第二比較器的正相輸入端連接所述第二基準(zhǔn)電壓電路的輸出端;

所述第一開關(guān)電路還包括反相電路、第一P型MOS管;所述反相電路的輸入端連接所述第一控制端,所述反相電路的輸出端連接所述第一P型MOS管的柵極,所述第一P型MOS管的源極連接所述第一輸入端,所述第一P型MOS管的漏極連接所述第一輸出端。

進(jìn)一步地,所述反相電路包括第一電阻、第二電阻、第三電阻、反相供電端和第一NPN三極管;

所述第一電阻的第一端連接所述反相電路的輸入端,所述第一電阻的第二端連接所述第一NPN三極管的基極,所述第一NPN三極管的集電極連接所述第二電阻的第一端,所述第二電阻的第二端連接所述反相供電端,所述反相供電端連接所述第一輸入端;所述第一NPN三極管的集電極還連接所述第三電阻的第一端,所述第三電阻的第二端連接所述反相電路的輸出端;所述第一NPN三極管的發(fā)射極接地。

進(jìn)一步地,所述第二開關(guān)電路還包括開機(jī)使能端、第一二極管、第二二極管、第四電阻、第五電阻、第六電阻、第二NPN型三極管、第二P型MOS管;

所述開機(jī)使能端連接所述第一二極管的正極,所述第一二極管的負(fù)極連接所述第四電阻的第一端;所述第二控制端連接所述第二二極管的正極,所述第二二極管的負(fù)極連接所述第四電阻的第一端;

所述第四電阻的第二端連接所述第二NPN型三極管的基極,所述第二NPN三極管的集電極連接所述第五電阻的第一端,所述第五電阻的第二端連接所述第二輸入端;所述第二NPN三極管的集電極還連接所述第六電阻的第一端,所述第六電阻的第二端連接所述第二P型MOS管的柵極;所述第二P型MOS管的源極連接所述第二輸入端,所述第二P型MOS管的漏極連接所述第二輸出端。

進(jìn)一步地,其特征在于,所述按鍵操作檢測(cè)電路還包括外部MCU供電端;所述外部MCU供電端連接所述第二開關(guān)電路的第二輸出端。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的按鍵操作檢測(cè)電路的示意圖;

圖2是本實(shí)用新型提供的按鍵操作檢測(cè)電路的一個(gè)實(shí)施例的示意圖;

圖3是本實(shí)用新型提供的按鍵操作檢測(cè)電路的另一個(gè)實(shí)施例的示意圖;

圖4是按鍵操作檢測(cè)電路中的第一開關(guān)電路的一個(gè)實(shí)施例的示意圖;

圖5是按鍵操作檢測(cè)電路中的第二開關(guān)電路的一個(gè)實(shí)施例的示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

參見圖2,是本實(shí)用新型提供的按鍵操作檢測(cè)電路的一個(gè)實(shí)施例的示意圖。

本實(shí)施例的按鍵操作檢測(cè)電路,包括電源端VCC、按鍵KEY、第一電容C1、第一比較器U1、第二比較器U2、第一基準(zhǔn)電壓電路11、第二基準(zhǔn)電壓電路12、短按控制信號(hào)輸出端OUT1和第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT2;

按鍵在按下時(shí)連通第一觸點(diǎn)1和第二觸點(diǎn)2;電源端VCC連接第一觸點(diǎn)1,第二觸點(diǎn)2連接第一電容C1的第一端KEY1;第一電容C1的第二端接地;

第一電容C1的第一端還連接第一比較器U1的一個(gè)輸入端,第一比較器U1的另一個(gè)輸入端連接第一基準(zhǔn)電壓電路11的輸出端;第一比較器U1的輸出端連接短按信號(hào)輸出端OUT1;

第一電容C1的第一端KEY1還連接第二比較器U2的一個(gè)輸入端,第二比較器U2的另一個(gè)輸入端連接第二基準(zhǔn)電壓電路12的輸出端;第二比較器U2的輸出端連接第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT2;

第一基準(zhǔn)電壓電路11輸出的基準(zhǔn)電壓值小于第二基準(zhǔn)電壓電路12輸出的基準(zhǔn)電壓值;

按鍵操作檢測(cè)電路還包括充電電阻R7;

電源端VCC連接第一觸點(diǎn)1,具體為:電源端VCC通過充電電阻R7連接第一觸點(diǎn)1;其中,充電電阻R7的第一端連接電源端VCC,充電電阻R7的第二端連接第一觸點(diǎn)1。

電阻R7是充電電阻,用于在按鍵按下后,給第一電容C1充電;

按鍵操作檢測(cè)電路還包括放電電阻,放電電阻的第一端連接第一電容的第一端,放電電阻的第二端連接第一電容的第二端。

放電電阻R8是放電電阻,用于在按鍵松開后,給第一電容C1放電。

本實(shí)施例提供的按鍵操作檢測(cè)電路,利用電容的電壓不瞬變的特點(diǎn)完成按鍵長(zhǎng)短的識(shí)別,具體地,當(dāng)按鍵按下時(shí)間比較短,電容充電時(shí)間比較短,電壓只能上升到第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值,則第一比較器U1輸出短按信號(hào);通過短按信號(hào)輸出端輸出至MCU;

具體地,短按信號(hào)可以是高電平,也可以是低電平,本實(shí)用新型不對(duì)此限定,若要使短按信號(hào)為高電平,可以將KEY1結(jié)點(diǎn)連接至第一比較器的正相輸入端,第一基準(zhǔn)電壓電路11的輸出端連接至第一比較器的反相輸入端;若要使短按信號(hào)為低電平,則將KEY1結(jié)點(diǎn)連接至第一比較器的反相輸入端,第一基準(zhǔn)電壓電路11的輸出端連接至第一比較器的正相輸入端;

當(dāng)按鍵按下時(shí)間比較長(zhǎng),電容充電時(shí)間比較長(zhǎng),電壓能上升到第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值,則第二比較器輸出第一長(zhǎng)按信號(hào),通過第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端輸出至MCU(第一長(zhǎng)按信號(hào)的電平高低設(shè)置與短按信號(hào)的電平高低設(shè)置相類似)。MCU僅需延遲判斷,如果短按信號(hào)消失仍未出現(xiàn)長(zhǎng)按信號(hào)則執(zhí)行短按信號(hào)對(duì)應(yīng)的操作,如果短按信號(hào)一直持續(xù)到有長(zhǎng)按信號(hào)出現(xiàn),則根據(jù)長(zhǎng)按信號(hào)執(zhí)行操作,無需使用計(jì)時(shí)器。

參見圖3,是本實(shí)用新型提供的按鍵操作檢測(cè)電路的另一個(gè)實(shí)施例的示意圖;

本實(shí)施例的按鍵操作檢測(cè)電路,包括電源端VCC、按鍵KEY、第一電容C1、第一比較器U1、第二比較器U2、第一基準(zhǔn)電壓電路11、第二基準(zhǔn)電壓電路12、充電電阻R7、放電電阻R8、短按控制信號(hào)輸出端OUT1和第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT2;

按鍵在按下時(shí)連通第一觸點(diǎn)1和第二觸點(diǎn)2;充電電阻R7的第一端連接電源端VCC,充電電阻R7的第二端連接第一觸點(diǎn)1,第二觸點(diǎn)2連接第一電容C1的第一端KEY1;第一電容C1的第二端接地;放電電阻R8的第一端連接第一電容C1的第一端,放電電阻R8的第二端連接第一電容C1的第二端;

第一電容C1的第一端還連接第一比較器U1的一個(gè)輸入端,第一比較器U1的另一個(gè)輸入端連接第一基準(zhǔn)電壓電路11的輸出端;第一比較器U1的輸出端連接短按信號(hào)輸出端OUT1;

第一電容C1的第一端KEY1還連接第二比較器U2的一個(gè)輸入端,第二比較器U2的另一個(gè)輸入端連接第二基準(zhǔn)電壓電路12的輸出端;第二比較器U2的輸出端連接第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT2;

第一基準(zhǔn)電壓電路11輸出的基準(zhǔn)電壓值小于第二基準(zhǔn)電壓電路12輸出的基準(zhǔn)電壓值。

按鍵操作檢測(cè)電路還包括第一開關(guān)電路L1和第二開關(guān)電路L2;

第一開關(guān)電路L1包括第一輸入端IN1、第一輸出端OUT11和第一控制端;第二開關(guān)電路L2包括第二輸入端IN2、第二輸出端OUT12和第二控制端;

所述電源端VCC連接所述第一輸入端IN1,所述第一輸出端OUT11連接所述第二輸入端IN2,所述第二輸出端OUT12連接所述第一比較器U1的供電端,所述第二輸出端OUT12還連接所述第二比較器U2的供電端;

所述第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT2連接所述第一控制端;所述第一電容C1的第一端KEY1還連接所述第二控制端。

按鍵操作電路包括第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路,第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路受第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端和第一電容上的電壓控制,通過設(shè)置第一開關(guān)電路常閉合,第二開關(guān)電路上電時(shí)閉合,相比現(xiàn)有技術(shù)需要MCU在關(guān)機(jī)狀態(tài)下仍有電,本實(shí)用新型可以做到低功耗,甚至0功耗。

按鍵操作檢測(cè)電路還包括第三比較器U3、第三基準(zhǔn)電壓電路13和第二長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT3;

所述第一電容C1的第一端KEY1還連接所述第三比較器U3的一個(gè)輸入端,所述第三比較器U3的另一個(gè)輸入端連接所述第三基準(zhǔn)電壓電路13的輸出端,所述第三比較器U3的輸出端連接所述第二長(zhǎng)按信號(hào)輸出端OUT3;

所述第二輸出端OUT12還連接所述第三比較器U3的供電端;

所述第三基準(zhǔn)電壓電路13輸出的基準(zhǔn)電壓值大于所述第一基準(zhǔn)電壓電路11輸出的基準(zhǔn)電壓值且小于所述第二基準(zhǔn)電壓電路12輸出的基準(zhǔn)電壓值。

本實(shí)施例設(shè)置有三個(gè)比較器,對(duì)三種時(shí)長(zhǎng)的按鍵按下信號(hào)進(jìn)行區(qū)分,其中,電容充電時(shí)間比較短,電壓只能上升到第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值時(shí),第一比較器輸出短按信號(hào);電容充電時(shí)間長(zhǎng)至電壓可上升到第三基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值時(shí),則第三比較器輸出第二長(zhǎng)按信號(hào);電容充電時(shí)間長(zhǎng)至電壓可上升到第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值時(shí),則第二比較器輸出第一長(zhǎng)按信號(hào)。一般地,短按信號(hào)可執(zhí)行音量加減或播放暫停等單一功能,第二長(zhǎng)按信號(hào)可執(zhí)行關(guān)機(jī)功能,第一長(zhǎng)按信號(hào)可執(zhí)行復(fù)位功能,提高本實(shí)用新型的實(shí)用性。短按信號(hào)和第二長(zhǎng)按信號(hào)之間可以由MCU做延時(shí)判斷實(shí)現(xiàn)區(qū)分,當(dāng)識(shí)別有短按信號(hào)后,如果出現(xiàn)第二長(zhǎng)按信號(hào)則執(zhí)行第二長(zhǎng)按信號(hào)對(duì)應(yīng)的操作,如果短按信號(hào)消失而第二長(zhǎng)按信號(hào)仍未出現(xiàn)則執(zhí)行短按信號(hào)對(duì)應(yīng)的操作,而第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端可設(shè)置為復(fù)位功能,屬于非常規(guī)情況下使用,一旦第一長(zhǎng)按信號(hào)出現(xiàn)則可斷開第一開關(guān)電路,斷掉系統(tǒng)供電,無需MCU作區(qū)分判斷。

進(jìn)一步地,所述按鍵操作檢測(cè)電路還包括外部MCU供電端VCC_M;所述外部MCU供電端VCC_M連接所述第二開關(guān)電路L2的第二輸出端OUT12。

本實(shí)施例,通過兩個(gè)開關(guān)電路為MCU和三個(gè)比較器供電,通過使開關(guān)電路在按鍵按下實(shí)現(xiàn)開機(jī)后常閉,按鍵長(zhǎng)按關(guān)機(jī)或超長(zhǎng)按復(fù)位后任意一個(gè)開關(guān)電路斷開,即可實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)斷電。具體地,可設(shè)置KEY1結(jié)點(diǎn)通電后使系統(tǒng)上電,控制第二開關(guān)電路保持閉合,當(dāng)系統(tǒng)掉電時(shí)才斷開(系統(tǒng)掉電可由MCU輸出信號(hào)實(shí)現(xiàn));同時(shí)第一開關(guān)電路在長(zhǎng)按關(guān)機(jī)信號(hào)或超長(zhǎng)按復(fù)位信號(hào)為指定電平時(shí)斷開,其余情況下保持閉合。通過這樣設(shè)置可以使系統(tǒng)在待機(jī)時(shí)實(shí)現(xiàn)低功耗,甚至0功耗。同時(shí)全部功能由模擬電路組成,可靠性高,不受程序影響。而現(xiàn)有技術(shù)依賴MCU的計(jì)時(shí)操作,當(dāng)MCU或MCU的電源死機(jī)時(shí),超長(zhǎng)按按鍵功能失效,只能通過拆機(jī)斷電解決。

下面通過圖4和圖5給出具體設(shè)置第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路的實(shí)施方式。

參見圖4,是按鍵操作檢測(cè)電路中的第一開關(guān)電路的一個(gè)實(shí)施例的示意圖;

第一開關(guān)電路還包括反相電路、第一P型MOS管;其中,反相電路可由以下方案實(shí)現(xiàn):

反相電路包括第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、反相供電端、第一NPN三極管Q3以及反相電路的輸入端和輸出端;第一電阻R1的第一端連接所述反相電路的輸入端,所述第一電阻R1的第二端連接所述第一NPN三極管Q3的基極,所述第一NPN三極管Q3的集電極連接所述第二電阻R2的第一端,所述第二電阻R2的第二端連接所述反相供電端;所述第一NPN三極管Q3的集電極還連接所述第三電阻R3的第一端,所述第三電阻R3的第二端連接所述反相電路的輸出端;所述第一NPN三極管Q3的發(fā)射極接地;

所述反相供電端連接所述第一輸入端IN1;所述反相電路的輸入端連接所述第一控制端CTRL1,所述反相電路的輸出端連接所述第一P型MOS管Q1的柵極,所述第一P型MOS管Q1的源極連接所述第一輸入端IN1,所述第一P型MOS管Q1的漏極連接所述第一輸出端OUT11。

本實(shí)施例通過反相電路,使第一控制端CTRL1的信號(hào)為高電平時(shí),拉低第一P型MOS管的柵極電壓,即實(shí)現(xiàn)第一開關(guān)電路閉合,使IN1和OUT11連通。而在CTRL1的信號(hào)為低電平時(shí),第一開關(guān)電路斷開。由于要使第一開關(guān)電路在長(zhǎng)按關(guān)機(jī)信號(hào)或超長(zhǎng)按復(fù)位信號(hào)為指定電平時(shí)斷開,其余情況下保持閉合,而第一控制端CTRL1受超長(zhǎng)按信號(hào)控制,即第一長(zhǎng)按信號(hào),因此第一長(zhǎng)按信號(hào)需以低電平輸出,因此,KEY1結(jié)點(diǎn)應(yīng)連接至第二比較器的反相輸入端,即第一電容C1的第一端還連接所述第二比較器U2的一個(gè)輸入端,所述第二比較器U2的另一個(gè)輸入端連接所述第二基準(zhǔn)電壓電路12的輸出端,具體為:

所述第一電容C1的第一端連接所述第二比較器U2的反相輸入端,所述第二比較器U2的正相輸入端連接所述第二基準(zhǔn)電壓電路12的輸出端。

需要說明的是,本實(shí)施例采用低電平控制第一控制端CRTL1,在其他實(shí)施例中,也可以使用高電平控制CRTL1;采用高電平控制時(shí),可選擇不使用反相電路控制Q1,也可以將Q1替換為高電平導(dǎo)通的開關(guān)管,或者以其他電路形式實(shí)現(xiàn)第一開關(guān)電路。

參見圖5,是按鍵操作檢測(cè)電路中的第二開關(guān)電路的一個(gè)實(shí)施例的示意圖。

所述第二開關(guān)電路還包括開機(jī)使能端CMD0、第一二極管D1、第二二極管D2、第四電阻R4、第五電阻R5、第六電阻R6、第二NPN型三極管Q4、第二P型MOS管Q2;

所述開機(jī)使能端CMD0連接所述第一二極管D1的正極,所述第一二極管D1的負(fù)極連接所述第四電阻R4的第一端;所述第二控制端CTRL2連接所述第二二極管D2的正極,所述第二二極管D2的負(fù)極連接所述第四電阻R4的第一端;

所述第四電阻R4的第二端連接所述第二NPN型三極管Q4的基極,所述第二NPN三極管Q4的集電極連接所述第五電阻R5的第一端,所述第五電阻R5的第二端連接所述第二輸入端IN2;所述第二NPN三極管Q2的集電極還連接所述第六電阻R6的第一端,所述第六電阻R5的第二端連接所述第二P型MOS管Q2的柵極;所述第二P型MOS管Q2的源極連接所述第二輸入端IN2,所述第二P型MOS管Q2的漏極連接所述第二輸出端。

按鍵按下后,KEY結(jié)點(diǎn)的電壓為高電平,按鍵松開后,KEY結(jié)點(diǎn)的電壓為低電平,但由于開機(jī)后MCU會(huì)輸出開機(jī)使能信號(hào)CMD0持續(xù)拉高,因此Q6導(dǎo)通,Q4導(dǎo)通,第二開關(guān)電路閉合。在MCU識(shí)別到代表關(guān)機(jī)的第二長(zhǎng)按信號(hào)后(具體地,MCU識(shí)別到短按信號(hào)時(shí),不會(huì)立刻執(zhí)行短按信號(hào),如果短按信號(hào)消失未出現(xiàn)長(zhǎng)按信號(hào)則執(zhí)行短按信號(hào),如果短按信號(hào)持續(xù)到長(zhǎng)按信號(hào)出現(xiàn),則執(zhí)行長(zhǎng)按信號(hào)),CMD0才置低,第二開關(guān)電路斷開。

通過上述第一開關(guān)電路和第二開關(guān)電路的設(shè)置,可實(shí)現(xiàn)在關(guān)機(jī)信號(hào)、超長(zhǎng)按信號(hào)出現(xiàn)時(shí),系統(tǒng)斷開供電,而在開機(jī)狀態(tài)下,若無長(zhǎng)按信號(hào)和超長(zhǎng)按信號(hào),則系統(tǒng)一直保持供電,且無需計(jì)時(shí)器即能準(zhǔn)確識(shí)別短按信號(hào)、關(guān)機(jī)信號(hào)(第二長(zhǎng)按信號(hào))和超長(zhǎng)按信號(hào)(第一長(zhǎng)按信號(hào))。

本實(shí)用新型實(shí)施例提供的按鍵操作檢測(cè)電路,利用電容的電壓不瞬變的特點(diǎn)完成按鍵長(zhǎng)短的識(shí)別,具體地,當(dāng)按鍵按下時(shí)間比較短,電容充電時(shí)間比較短,電壓只能上升到第一基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值,則第一比較器輸出短按信號(hào),通過短按信號(hào)輸出端輸出至MCU;當(dāng)按鍵按下時(shí)間比較長(zhǎng),電容充電時(shí)間比較長(zhǎng),電壓能上升到第二基準(zhǔn)電壓電路輸出的電壓值,則第二比較器輸出第一長(zhǎng)按信號(hào),通過第一長(zhǎng)按信號(hào)輸出端輸出至MCU。MCU僅需延遲判斷,如果短按信號(hào)消失仍未出現(xiàn)長(zhǎng)按信號(hào)則執(zhí)行短按信號(hào)對(duì)應(yīng)的操作,如果短按信號(hào)一直持續(xù)到有長(zhǎng)按信號(hào)出現(xiàn),則根據(jù)長(zhǎng)按信號(hào)執(zhí)行操作,無需使用計(jì)時(shí)器。

以上所述是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和變形,這些改進(jìn)和變形也視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。

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