本實用新型屬于芯片開關(guān)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種HUB模塊。

背景技術(shù)：

在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，隨著需要測試產(chǎn)品的種類的增加，測試系統(tǒng)所要處理的信號變得越復(fù)雜，對于測試系統(tǒng)的性能和適用性要求也就變得越來越高，但現(xiàn)有的測試系統(tǒng)還無法滿足較大的動態(tài)范圍信號的接收，處理和輸出，所以導(dǎo)致現(xiàn)有的測試系統(tǒng)適用性受到很大的限制。同時，現(xiàn)有的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)里的自動衰減網(wǎng)絡(luò)大多采用機械開關(guān)，相比較于芯片開關(guān)，它的切換速度慢，成本高，體積也較大。對于現(xiàn)在高度集成化的高速電子信息時代，這是致命的缺陷。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

實用新型目的：針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本實用新型的目的是提供一種HUB模塊，提高測試速率和集成度，且降低了設(shè)計成本，提高測試的動態(tài)范圍，以獲得更寬的功率工作范圍。

技術(shù)方案：為了實現(xiàn)上述實用新型目的，本實用新型采用的技術(shù)方案如下：

一種HUB模塊，包括焊接在PCB板上的2個以上芯片開關(guān)和1個以上衰減器；所述的芯片開關(guān)接收到端口輸入的信號后進行HP信號、MP信號、ULP信號三路細化處理，所述的HP、MP信號先分別輸入對應(yīng)的芯片開關(guān)然后經(jīng)衰減器衰減后通過芯片開關(guān)直接輸出，所述的ULP信號通過芯片開關(guān)直接輸出。

所述的芯片開關(guān)包括芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343、芯片開關(guān)SU344、芯片開關(guān)SU241、芯片開關(guān)SU242、芯片開關(guān)SU243、芯片開關(guān)SU244以及芯片開關(guān)SU221；芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343、芯片開關(guān)SU344均設(shè)置在PCB板的最右側(cè)，從上到下成列設(shè)置，其中，芯片開關(guān)SU341與信號接收端ANT01連接，芯片開關(guān)SU342與信號接收端ANT02連接，芯片開關(guān)SU343與信號接收端ANT03連接，芯片開關(guān)SU344同時與信號接收端LPBK1、信號接收端LPBK2、信號接收端LPBK3、信號接收端LPBK4連接。

所述的芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343、芯片開關(guān)SU344是型號為RF1604的芯片開關(guān)。

所述的芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343均是一分四的芯片開關(guān)，并在芯片開關(guān)上設(shè)50 ohm端子端口。

所述的芯片開關(guān)SU241、芯片開關(guān)SU242、芯片開關(guān)SU243位于芯片開關(guān)SU341的左側(cè)，從上到下成列設(shè)置，在芯片開關(guān)SU243設(shè)三個端口分別與芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343的MP通路連通，在芯片開關(guān)SU242設(shè)三個端口分別與芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343的HP通路連通，在芯片開關(guān)SU241設(shè)三個端口分別與芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343的ULP通路連通。

所述的芯片開關(guān)SU241、芯片開關(guān)SU242、芯片開關(guān)SU243是型號為HMC344的芯片開關(guān)。

所述的芯片開關(guān)SU244設(shè)置在PCB板的最左側(cè)，并與信號輸出端CFO連接。

所述的芯片開關(guān)SU244是型號為HMC344的芯片開關(guān)。

所述的芯片開關(guān)SU241通過芯片開關(guān)SU221與芯片開關(guān)SU244相連；芯片開關(guān)SU242通過20dB衰減器與芯片開關(guān)SU244相連；芯片開關(guān)SU243通過10dB衰減器與芯片開關(guān)SU244相連。

所述的芯片開關(guān)SU221是型號為HMC849的芯片開關(guān)。

有益效果：與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本實用新型使用芯片開關(guān)，切換速度提高到微秒級，從而提高了整體測試速度。采用多通道信號處理的方式，不僅可以將接收到的信號（大功率、中功率、小功率信號）進行自動分類，還可以根據(jù)功率的大小進行不同程度的衰減處理，從而在該模塊的輸出端可以得到想要的輸出信號。通過本模塊可以對整個測試系統(tǒng)的動態(tài)范圍進行較大范圍的調(diào)整，大大提高了測試系統(tǒng)的適用性。

附圖說明

圖1是HUB模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合具體附圖對本實用新型做進一步的說明。

如圖1所示，HUB模塊采用多通道信號采集，包括焊接在PCB板上的芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343、芯片開關(guān)SU344、芯片開關(guān)SU241、芯片開關(guān)SU242、芯片開關(guān)SU243、芯片開關(guān)SU244以及芯片開關(guān)SU221。

芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343、芯片開關(guān)SU344均設(shè)置在PCB板的最右側(cè)，從上到下成列設(shè)置，其中，芯片開關(guān)SU341與信號接收端ANT01連接，芯片開關(guān)SU342與信號接收端ANT02連接，芯片開關(guān)SU343與信號接收端ANT03連接，芯片開關(guān)SU344同時與信號接收端LPBK1、信號接收端LPBK2、信號接收端LPBK3、信號接收端LPBK4連接。芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343、芯片開關(guān)SU344優(yōu)選使用型號為RF1604的芯片開關(guān)。

芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343均是一分四的芯片開關(guān)，將對接收信號進行分三路細化處理，即將接收到的信號優(yōu)選分為三個通路：HP（大功率）、MP（中功率）、ULP（小功率），并在芯片開關(guān)上設(shè)50 ohm端子端口。不同的測試系統(tǒng)會有不同的功率劃分界限，例如當本專利的模塊用在NOVA射頻測試系統(tǒng)時，當接收到超過30dB的載波信號時，選HP通路；當接收到雜散信號時，選擇ULP通路，其他的信號則選擇MP通路。同時當要對信號更細化處理的時候也可以選擇配置更多通路以滿足需求。

芯片開關(guān)SU241、芯片開關(guān)SU242、芯片開關(guān)SU243位于芯片開關(guān)SU341的左側(cè)，從上到下成列設(shè)置，在芯片開關(guān)SU243設(shè)三個端口分別與芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343的MP通路連通，在芯片開關(guān)SU242設(shè)三個端口分別與芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343的HP通路連通，在芯片開關(guān)SU241設(shè)三個端口分別與芯片開關(guān)SU341、芯片開關(guān)SU342、芯片開關(guān)SU343的ULP通路連通，其中，芯片開關(guān)SU241、芯片開關(guān)SU242、芯片開關(guān)SU243均優(yōu)選使用型號為HMC344的芯片開關(guān)。

芯片開關(guān)SU244設(shè)置在PCB板的最左側(cè)，并與信號輸出端CFO連接；芯片開關(guān)SU244優(yōu)選使用型號為HMC344的芯片開關(guān)。

芯片開關(guān)SU241通過芯片開關(guān)SU221與芯片開關(guān)SU244相連；芯片開關(guān)SU242通過20dB衰減器與芯片開關(guān)SU244相連；芯片開關(guān)SU243通過10dB衰減器與芯片開關(guān)SU244相連。芯片開關(guān)SU221選用的開關(guān)型號優(yōu)先選用HMC849。芯片開關(guān)SU221與INV端口相連，INV端口為信號的反向輸出端口。

該HUB模塊工作時，將接收到的大功率信號選擇HP通路連接到芯片開關(guān)SU242后接20dB衰減器，對接收到的信號進行20dB的衰減處理，經(jīng)過衰減器后接到芯片開關(guān)SU244后輸出。將接收到中功率信號選擇MP通路連接到芯片開關(guān)SU243后接10dB衰減器，對信號進行10dB衰減處理，經(jīng)過衰減器后接到芯片開關(guān)SU244后輸出；當接收到的小功率信號時則選擇ULP通路無需進行衰減處理，直接連接到芯片開關(guān)SU221后接到芯片開關(guān)SU244輸出。

本芯片開關(guān)SU344為一分四的芯片開關(guān)，在該模塊中起到信號接收端的擴展和備用的作用。

通過上述處理，本HUB模塊通過右側(cè)ANT01、ANT02、ANT03端口可以接收高達120dB的動態(tài)范圍的信號，在本模塊的左側(cè)CFO端口則可以接收到一個波動幅度很小的理想輸出信號，這樣就大大的提高半導(dǎo)體測試的動態(tài)范圍。