專(zhuān)利名稱(chēng)：一種譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明實(shí)施例涉及譯碼技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種譯碼方法、裝置和編譯碼 系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
循環(huán)碼是線(xiàn)性分組碼的一個(gè)重要子集，其最大的特點(diǎn)就是碼字的循環(huán)特 性，所謂循環(huán)特性是指循環(huán)碼中任一許用碼組無(wú)論是向左還是右循環(huán)移位后， 所得到的碼組仍然是許用碼組?？s短循環(huán)碼是一種常見(jiàn)的循環(huán)碼，其縮短的是 碼多項(xiàng)式的高S位。如果用傳統(tǒng)的梅吉特譯碼器進(jìn)行譯碼，伴隨著縮短長(zhǎng)度S 的變化，其對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)子圖樣會(huì)不一樣。
圖1為傳統(tǒng)的梅吉特譯碼器原理圖。所述梅吉特譯碼器的校驗(yàn)子計(jì)算電路 可釆用除法電路，某碼組循環(huán)移位/次的校驗(yàn)子等于原碼組校驗(yàn)子在除法電路 中運(yùn)轉(zhuǎn)/次所得到的結(jié)果。接收到的碼組同時(shí)輸入到校驗(yàn)子計(jì)算電路和緩存器
中；當(dāng)該碼組輸入完畢并且校驗(yàn)子計(jì)算結(jié)束后，將輸入斷開(kāi)，進(jìn)行除法電路運(yùn) 轉(zhuǎn)和錯(cuò)誤圖樣識(shí)別。當(dāng)除法電路運(yùn)轉(zhuǎn)到某個(gè)時(shí)刻，除法電路寄存器的圖樣被電 路識(shí)別，即將該時(shí)刻對(duì)應(yīng)的緩存接收數(shù)據(jù)與相應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣模二力口，實(shí)現(xiàn)糾錯(cuò)。 在圖1所示現(xiàn)有的梅吉特譯碼器原理圖基礎(chǔ)上，請(qǐng)一并參閱圖2，圖2為 循環(huán)碼CRC-CCITT碼的梅吉特譯碼器的實(shí)現(xiàn)示意圖。CRC-CCITT碼的梅吉 特譯碼器的錯(cuò)誤圖樣識(shí)別電路為一個(gè)與門(mén)，識(shí)別的圖樣為對(duì)應(yīng)的碼多項(xiàng)式的最 高位出錯(cuò)時(shí)對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)子圖樣。開(kāi)始工作時(shí)，校驗(yàn)子生成電路的寄存器為0， 門(mén)l打開(kāi)，開(kāi)關(guān)K斷開(kāi)；當(dāng)一個(gè)包輸入完畢時(shí)，計(jì)算得到校驗(yàn)子圖樣^(x)，門(mén) 1關(guān)閉，且使緩沖器停止移動(dòng)；開(kāi)關(guān)K閉合，校驗(yàn)子生成電路的校驗(yàn)子圖樣4x) 送到下面的除法電路中，隨即開(kāi)關(guān)K斷開(kāi)，且校驗(yàn)子生成電路中的寄存器清 空為0。這時(shí)，門(mén)1再次打開(kāi)，緩存器送出當(dāng)前包的數(shù)據(jù)，同時(shí)接收下一包的 數(shù)據(jù)。與此同時(shí)，校驗(yàn)子生成電路計(jì)算下一包接收數(shù)據(jù)的校驗(yàn)子，而下面的除 法電路則對(duì)當(dāng)前包的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正。當(dāng)且僅當(dāng)下面的除法電路的寄存器中的圖 樣為該校-驗(yàn)子圖樣時(shí)，與門(mén)的輸出為l,其余情況與門(mén)的輸出為0。與門(mén)輸出與緩存器中輸出的接收數(shù)據(jù)依次進(jìn)行模二力口，即可對(duì)相應(yīng)位置上的錯(cuò)誤進(jìn)行糾 正。
發(fā)明人在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過(guò)程中發(fā)現(xiàn)，縮短循環(huán)碼進(jìn)行縮短的是碼多項(xiàng)式的 高次位，隨著縮短長(zhǎng)度的變化對(duì)應(yīng)的需識(shí)別的校驗(yàn)子圖樣也會(huì)不一樣。因此， 對(duì)縮短長(zhǎng)度可變的縮短循環(huán)碼進(jìn)行譯碼時(shí)，現(xiàn)有的梅吉特譯碼器的校驗(yàn)子圖樣 識(shí)別電路無(wú)法靈活應(yīng)用；且由于校驗(yàn)子除法電路每轉(zhuǎn)一次就要進(jìn)行校驗(yàn)子圖樣 識(shí)別，難以實(shí)現(xiàn)并行計(jì)算。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例要解決的技術(shù)問(wèn)題是提出一種譯碼方法、裝置和 編譯碼系統(tǒng)，可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變化，并易于并行計(jì)算。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案是這樣的 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種譯碼方法，包括
接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取 原校驗(yàn)子圖樣；
將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗(yàn) 子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，確定錯(cuò) 誤圖樣；
將所述接收的碼多項(xiàng)式的倒序和錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。 本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種譯碼器，包括
原校驗(yàn)子生成單元，用于接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生 成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；
基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元，用于接收所述原校驗(yàn)子圖樣并運(yùn) 轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移 位；確定錯(cuò)誤圖樣并輸出；
緩存器，用于接收碼多項(xiàng)式，并輸出；
糾錯(cuò)單元，用于將緩存器輸出的碼多項(xiàng)式的倒序和基于生成多項(xiàng)式的反多 項(xiàng)式的電路單元輸出的錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。
本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種編譯碼系統(tǒng)，包括譯碼器，與編碼器以可通信 方式連4妻，所述譯碼器，用于接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng) 式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；
將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)，原校
驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位；由電 路的寄存器圖樣確定錯(cuò)誤圖樣，并輸出；
將所述接收到的碼多項(xiàng)式的倒序和所述輸出的錯(cuò)誤圖樣和進(jìn)行模二加。 本發(fā)明實(shí)施例基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的應(yīng)用，由于縮短循環(huán)碼縮 短的是碼多項(xiàng)式的高次位不會(huì)影響到低次位，且本發(fā)明實(shí)施例應(yīng)用基于生成多 項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路對(duì)原校驗(yàn)子圖樣進(jìn)行運(yùn)算，等效于與原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的 錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收到的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，所述碼多項(xiàng)式的低次位 出錯(cuò)對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)子圖樣不會(huì)隨著縮短長(zhǎng)度的變化而變化，可以靈活適應(yīng)縮短循 環(huán)碼的縮短長(zhǎng)度的變化，并易于并行計(jì)算。


圖1為現(xiàn)有的梅吉特譯碼器的原理圖2為現(xiàn)有技術(shù)中CRC-CCITT碼的糾錯(cuò)方法的實(shí)現(xiàn)示意圖； 圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的譯碼方法的流程示意圖； 圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種譯碼方法的實(shí)現(xiàn)示意圖； 圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種譯碼方法的實(shí)現(xiàn)示意圖； 圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種譯碼器的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)，使與原校驗(yàn)子圖 樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，靈活適應(yīng)縮短循 環(huán)碼的縮短長(zhǎng)度的變化，并易于并行計(jì)算。
為了便于對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)一步的理解，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn) 4亍i羊纟田4苗述。
請(qǐng)參閱圖3，圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的譯碼方法的流程示意圖，該方法 具體可以包括
步驟301:接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式進(jìn)行 求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣。其中，所述接收的碼多項(xiàng)式由編碼器發(fā)送的碼多項(xiàng)式和傳輸過(guò)程中產(chǎn)生的
4晉i吳多項(xiàng)式才莫二加而成；
所述接收的碼多項(xiàng)式除以生成多項(xiàng)式并取余式，得到原校驗(yàn)子圖樣；所述 生成多項(xiàng)式是編碼時(shí)預(yù)先設(shè)定的，譯碼時(shí)采用與編碼時(shí)完全相同的生成多項(xiàng)式 進(jìn)行譯碼糾檢錯(cuò)。
假設(shè)編碼時(shí)發(fā)射的碼多項(xiàng)式為C(x)，譯碼時(shí)接收到的碼多項(xiàng)式為r(;c)，錯(cuò) 誤多項(xiàng)式為e(x),有r(x)二C(x) + e(jc)。
對(duì)于循環(huán)碼，原校驗(yàn)子圖樣4x)常定義為r(x)除以生成多項(xiàng)式g(x)的余 式，即
二r(x)modg(x) ( 1 )
對(duì)式(1)進(jìn)行分解，且利用發(fā)射的碼多項(xiàng)式C(:c)必定能被g(;c)整除的性 質(zhì)，得
= r(x)modg(x) = (C(x) + e(x))modg(x) =C(x)modg(x) + e(x)modg(x) ( )
=e(x)modg(x)
可見(jiàn)，原校驗(yàn)子圖樣4x)僅和錯(cuò)誤多項(xiàng)式44有關(guān)，和編碼時(shí)發(fā)射的碼多 項(xiàng)式為C(^無(wú)關(guān)。當(dāng)錯(cuò)誤多項(xiàng)式e(x)^時(shí)，原校驗(yàn)子圖樣4^ = 0，則認(rèn)為接 收碼字r(x)正確；當(dāng)錯(cuò)誤多項(xiàng)式e(xpO時(shí)，原校驗(yàn)子圖樣x(;c)^0,則認(rèn)為接 收碼字r(x)不正確。
步驟302:應(yīng)用基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電^各對(duì)原4吏驗(yàn)子圖樣進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)， 原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，確定 錯(cuò)誤圖樣。
其中，將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路；所述 反多項(xiàng)式是將所述預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式的系數(shù)逆置得到的；
所述原校驗(yàn)子圖樣在基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)；對(duì)應(yīng)的電 路寄存器中的圖樣是所述原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式 的低次方向循環(huán)移位后得到校驗(yàn)子圖樣；
對(duì)基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中的寄存器圖樣進(jìn)行識(shí)別，從而得到對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣。
其中，所述對(duì)基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中的寄存器圖樣進(jìn)行識(shí)
別，從而得到對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣具體可以是
判斷構(gòu)成所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中的寄存器的數(shù)值之和 是否小于等于所述接收的碼多項(xiàng)式的可糾正錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，如果是，則輸出寄存器 圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣。
其中，所述反多項(xiàng)式是將所述預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式的系數(shù)逆置得到的， 具體可以是
所述生成多項(xiàng)式底數(shù)不變，指數(shù)取反，得到指數(shù)為負(fù)值的生成多項(xiàng)式；
所述生成多項(xiàng)式指數(shù)最高項(xiàng)乘以所述指數(shù)為負(fù)值的生成多項(xiàng)式得到所述 生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式。
其中，所述判斷構(gòu)成所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中的寄存器的 數(shù)值之和是否小于等于所述接收的碼多項(xiàng)式的可糾正錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，如果是，則輸 出寄存器圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣具體可以是
所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的寄存器的數(shù)值隨電路的運(yùn)轉(zhuǎn)發(fā)生 相應(yīng)變化，所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的寄存器的數(shù)值構(gòu)成原校驗(yàn)子 循環(huán)移位后對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)子圖樣；判斷所述寄存器的數(shù)值之和是否小于等于t (t 為該碼多項(xiàng)式可以糾正的錯(cuò)誤的個(gè)數(shù))，如果是，則輸出所述校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng) 的錯(cuò)誤圖樣。
假設(shè)(x)為原校驗(yàn)子圖樣5(x)逆行循環(huán)移位m次后的校驗(yàn)子圖樣，有
<formula>formula see original document page 9</formula>等式兩邊同時(shí)乘以/、得
<formula>formula see original document page 9</formula>其中''〈(x) = L (x-' )*x" 、 /(x) = s(x-，卜x" 、= g(x-')*x"分別是 g(x)的反多項(xiàng)式，n為編碼后碼字長(zhǎng)度，k為編碼前信息比特長(zhǎng)度。所以基于 的反多項(xiàng)式g'(x)的電路的運(yùn)轉(zhuǎn)可以得到相應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向低次方向循環(huán)移位對(duì)應(yīng)的4L瞼子圖樣。
步驟303:將所述接收的碼多項(xiàng)式的倒序和錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。
其中，所述錯(cuò)誤圖樣與接收的碼多項(xiàng)式的低次位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì) 應(yīng)，當(dāng)且僅當(dāng)所述錯(cuò)誤圖樣與接收的碼多項(xiàng)式的低次位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì) 應(yīng)時(shí)，所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的寄存器的數(shù)值之和小于等于t (t 為該碼多項(xiàng)式可以糾正的錯(cuò)誤的個(gè)數(shù))，電路輸出所述寄存器的數(shù)值，所述緩 存器中接收到的碼序列的倒序和寄存器的數(shù)值進(jìn)行模二加，即可對(duì)相應(yīng)位置上 的錯(cuò)誤進(jìn)行糾正。
步驟304:如果在譯碼過(guò)程中沒(méi)有出現(xiàn)可識(shí)別的錯(cuò)誤圖樣，則輸出不可糾 指示。
本發(fā)明實(shí)施例提供的譯碼方法基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的應(yīng)用，將 與所述接收的碼多項(xiàng)式的低次位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣作為識(shí) 別電路的圖樣，使原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方 向循環(huán)移位，乂人而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變換，并易于并行計(jì)算。
實(shí)施例一
本實(shí)施例以CRC-CCITT碼作糾檢錯(cuò)應(yīng)用、并行計(jì)算16位、且輸入包的比 特?cái)?shù)N能被16整除為例，介紹本發(fā)明實(shí)施例提供的糾檢錯(cuò)方法。請(qǐng)參閱圖4， 圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供一種譯碼方法的實(shí)現(xiàn)示意圖。如圖4所示，校驗(yàn)子生成 電路中CRC-CCITT碼的生成多項(xiàng)式為g("二x"+x'2+x5+];反生成多項(xiàng)式 電路中的反生成多項(xiàng)式為二 g(x-"xx16 二 x'6 + x11 + x4 +1 。
如圖4所示，開(kāi)始工作時(shí)，校驗(yàn)子生成電路中的寄存器清空為O，門(mén)1打開(kāi)， 開(kāi)關(guān)K斷開(kāi)。當(dāng)一個(gè)包輸入完畢時(shí)，計(jì)算得到校驗(yàn)子圖樣4:c)，門(mén)1閉合，且使 緩沖器停止移動(dòng)；開(kāi)關(guān)K打開(kāi)，校驗(yàn)子生成電路的原校驗(yàn)子圖樣s(x)送到下面 的反生成多項(xiàng)式電路中，隨即開(kāi)關(guān)K關(guān)閉，且校驗(yàn)子生成電路中的寄存器清空 為0。這時(shí)，門(mén)l再次打開(kāi)，緩存器一邊送出當(dāng)前包的數(shù)據(jù)， 一邊接收下一包的 數(shù)據(jù)。與此同時(shí)，校驗(yàn)子生成電路計(jì)算下一包接收數(shù)據(jù)的校驗(yàn)子，而下面的基 于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路則開(kāi)始運(yùn)轉(zhuǎn)，數(shù)門(mén)同時(shí)輸出，當(dāng)基于生成多項(xiàng)式 的反多項(xiàng)式電路中的寄存器的數(shù)值之和等于1時(shí)(1為CRC-CCITT碼的可糾正 的錯(cuò)誤個(gè)數(shù))，數(shù)門(mén)輸出電路寄存器的值；反之，數(shù)門(mén)輸出序列為全零。緩存器中的接收碼序列的倒序和數(shù)門(mén)輸出電路寄存器的值進(jìn)行模二加, 假設(shè)校驗(yàn)子生成電路在第w拍譯碼時(shí)刻的并行計(jì)算等式為
<formula>formula see original document page 11</formula>其中，拍數(shù)"=0, 1,…，N/16-l (N為輸入包的比特?cái)?shù))，每一拍的處理 等效于圖4所示的才吏驗(yàn)子生成電3各運(yùn)轉(zhuǎn)16次；ZT-'[(]表示上一拍(即第"-l拍) 譯碼時(shí)刻的校正子生成電路中寄存器里的值，即有= (,' = 0,1,…，15)。 似[/](/ = 0，1,...，15)是并行計(jì)算的中間處理結(jié)果；則在第"拍譯碼時(shí)刻，計(jì)算 所得的校驗(yàn)子生成電路中的寄存器里的新值為/)"[/]=《"*16 + (15-/')]@〃[/]， (/ = 0，1，...,15)，其中，"[/]() = 0，1,...#-1)是接收到的碼字序列的值。
需要說(shuō)明的是，上述校驗(yàn)子生成電路并行計(jì)算獲取原校驗(yàn)子圖樣是現(xiàn)有技 術(shù)，是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所熟悉的，本發(fā)明實(shí)施例在此不做進(jìn)一步推導(dǎo)。
當(dāng)校驗(yàn)子生成電路轉(zhuǎn)了 N/16拍后，所生成的校驗(yàn)子圖樣將輸入到基于生成 多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路中，等式為<formula>formula see original document page 12</formula> (6)
假設(shè)
<formula>formula see original document page 12</formula>(7)
是基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路運(yùn)轉(zhuǎn)完第附拍時(shí)，其寄存；
D, (/' = 0， 1,...， 15)的值，初始值為c-1 [z] (/二 0， 1，…,15)。則數(shù)門(mén)輸出的對(duì)錯(cuò)誤
圖樣的估計(jì)等式為
<formula>formula see original document page 12</formula>(8)
數(shù)門(mén)判斷第附-l拍時(shí)刻所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的寄存器內(nèi) 的數(shù)值之和是否等于l，如果是，則輸出與寄存器內(nèi)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤 圖樣；如果否，則輸出全零序列。所述緩存器中的接收碼序列的倒序和所述錯(cuò) 誤圖樣進(jìn)行模二加的得到糾錯(cuò)后碼序列的等式為
<formula>formula see original document page 12</formula>(9)
其中= 0，1"..^-1)是接收到的碼字序列的值，/[y'](7' = 0,l，...W-l)是 進(jìn)行糾錯(cuò)后的碼字序列的值。假i!A^U6， /取0時(shí)，等式(9)為
<formula>formula see original document page 12</formula> ( 10)
即是實(shí)現(xiàn)了緩存器中的接收碼序列的倒序與錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加得到糾錯(cuò)后 碼序列。其中，所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路循環(huán)運(yùn)轉(zhuǎn)完第柳拍時(shí)，得 到其寄存器D,. (/ = 0,1,...,15)的值^"[/]的并行計(jì)算等式為<formula>formula see original document page 13</formula>
需要說(shuō)明的是，電路先進(jìn)行數(shù)門(mén)判決，得到數(shù)門(mén)輸出圖樣。接收的碼序列 的倒序和數(shù)門(mén)輸出圖樣進(jìn)行模二加，完成當(dāng)前拍的糾錯(cuò)。同時(shí)，基于生成多項(xiàng) 式的反多項(xiàng)式電路將并行計(jì)算一拍，得到校驗(yàn)子圖樣，為下一拍的糾錯(cuò)作準(zhǔn)備。 直到整個(gè)包的序列譯碼完畢后，沒(méi)有出現(xiàn)可識(shí)別的4告誤圖樣，則輸出不可糾指 示。當(dāng)前包譯碼完畢后，所述寄存器重新接收校驗(yàn)子生成電路輸入的下一個(gè)包 的原校驗(yàn)子圖樣。
本發(fā)明實(shí)施例基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的應(yīng)用，等效于原校驗(yàn)子圖 樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，且將與所述接收 的碼多項(xiàng)式的低位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣作為識(shí)別電路的圖樣， 從而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變換，并易于并行計(jì)算。
實(shí)施例二
本實(shí)施例還是以CRC-CCITT碼作糾檢錯(cuò)應(yīng)用、并行計(jì)算16位、且輸入包 的比特?cái)?shù)N能被16整除為例，介紹本發(fā)明實(shí)施例提供的糾檢錯(cuò)方法。請(qǐng)參閱圖 5，圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供又一種譯碼方法的實(shí)現(xiàn)示意圖。圖5所示的本發(fā)明 實(shí)施例二提供的譯碼方法的實(shí)現(xiàn)示意圖與圖4所示的本發(fā)明實(shí)施例一提供的譯 碼方法的實(shí)現(xiàn)示意圖的不同之處在于圖4將接收到的碼多項(xiàng)式從校驗(yàn)子生成 電路的低位輸入；圖5將接收到的碼多項(xiàng)式從校驗(yàn)子生成電路的高位輸入。如圖5所示，校驗(yàn)子生成電路中CRC-CCITT碼的生成多項(xiàng)式為 g(:c)=,+x12+x5+l ;反生成多項(xiàng)式電路中的反生成多項(xiàng)式為<formula>formula see original document page 14</formula>首先，布1設(shè)似[,']={"*16 + (15-/)] /)"-'[/] (/ = 0，1,...,15) (l]) 其中，拍數(shù)"=0， 1, N/16-1 (N為輸入包的比特?cái)?shù))，每一拍的處理等效 于圖5所示的校驗(yàn)子生成電路循環(huán)運(yùn)轉(zhuǎn)16次。ZT"'[,']表示上一拍(第"-l拍)譯 碼時(shí)刻的校驗(yàn)子生成電路中寄存器里的值，即有D"-'[(^D, (,' = 0,1,...,15);而 M[d(^0,l,…，15)是并行計(jì)算的中間處理結(jié)果，r[./](./ = 0,l，...W-l)是接收到的碼 字序列的值。
則在第w拍譯碼時(shí)刻，計(jì)算所得的校驗(yàn)子生成電路中寄存器里的新的值
為
<formula>formula see original document page 14</formula>需要說(shuō)明的是，上述校驗(yàn)子生成電路并行計(jì)算獲取原校驗(yàn)子圖樣是現(xiàn)有技 術(shù)，是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所熟悉的，本發(fā)明實(shí)施例在此不做進(jìn)一步推導(dǎo)。
當(dāng)校驗(yàn)子生成電路轉(zhuǎn)了 iV/16拍后，所生成的原校驗(yàn)子圖樣將輸入到基于 生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路中，等式為<formula>formula see original document page 15</formula>
(12)
假設(shè)
<formula>formula see original document page 15</formula>
(13)
是基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路運(yùn)轉(zhuǎn)完第w拍時(shí)，其寄存器 0,(/ = 0,1,...,15)的值。初始值為c-'[,]G二0,1，…，15)。
其中，所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路運(yùn)轉(zhuǎn)完第附拍時(shí)，并行計(jì)算其
寄存器A
c
c' c'
c' r c'"
=0,1,...，15)的值的等式為
:C"'
'[12] Cm '[13] Cm '[14]④C"
'[10] C"; '[11]十C"'
'[13]④C"
1 [12] C" 1 [13] C"
1 [5] C"
8] C" C" '[5]十C" [6] C"
0] Cm-'[2] '[4]④f [3] —1 [5]④C'"'[爭(zhēng)C"
10] Cm_'[8] C' [5]④f [4〗 C -1
6]十C"'-' [5] C'"-1 [1]
7][6] C"'-1 [2] Cm-' [1] 8] Cm-' [7] C -1 [3]十C"'-' [2]十C -' 9]十C'" [8]十C -1 j4] C -1 [3]十Cm-1 10] C"'-1 [9] C"'-' [5] C"'-' [4] Cm-11] Cm-1 [10] @ Cm-1 [6] Cffl-1 [5] Cw 7]④C"'-1 [2] @ C"'-1
8]十C"-'[3]十C"-1 [1] 9] C'"-' [4] C"'-1 [2] 10] C'"-1 [5] Cm-' [3] C"'-1
則數(shù)門(mén)輸出的對(duì)錯(cuò)誤圖樣的估計(jì)等式為
<formula>formula see original document page 15</formula>
(14)
<formula>formula see original document page 15</formula> 數(shù)門(mén)判斷第m拍時(shí)刻所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的寄存器的數(shù)值之和是否等于l,如果是，則輸出與寄存器內(nèi)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣； 如果否，則輸出全零序列。所述緩存器中的接收碼多項(xiàng)式的倒序與錯(cuò)誤圖樣進(jìn)
行模二加的得到糾錯(cuò)后碼序列的等式為
卩 W) (15)
L 16 J
其中4/](/ = 0，1，...^-l)是接收到的碼字序列的值，/[7'](./ = 0,1,...#-1)是進(jìn) 行糾錯(cuò)后的碼字序列的值。假i5JV^16, /取0時(shí)，等式(14)為
/[15] = 415]@e'
(16) 即是實(shí)現(xiàn)了緩存器中的接收碼多項(xiàng)式的倒序與錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加得到糾錯(cuò) 后碼序列。
需要說(shuō)明的是，每一拍的運(yùn)轉(zhuǎn)先是基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路將并行 計(jì)算一拍，得到原校驗(yàn)子循環(huán)移位后對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)子圖樣；然后電路再進(jìn)行數(shù)門(mén) 判決，得到數(shù)門(mén)輸出圖樣。接收的碼序列的倒序與數(shù)門(mén)輸出圖樣進(jìn)行才莫二加， 完成當(dāng)前拍的糾錯(cuò)。直到整個(gè)包的序列譯碼完畢后，沒(méi)有出現(xiàn)可識(shí)別的錯(cuò)誤圖 樣，則輸出不可糾指示。當(dāng)前包譯碼完畢后，所述寄存器重新接收校驗(yàn)子生成 電路輸入的下一個(gè)包的原校驗(yàn)子圖樣。
本發(fā)明實(shí)施例基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路的應(yīng)用，將所述接收的碼多 項(xiàng)式的低次位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣作為識(shí)別電路的圖樣，使原 校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，從而可 以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變換，并易于并行計(jì)算。
以上結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的譯碼方法進(jìn)行了詳細(xì)的介 紹。上述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路還適用于循環(huán)碼與縮短循環(huán)碼的梅吉 特譯碼、捕錯(cuò)譯碼及其修正算法中。而且，應(yīng)用了基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式 電路以及捕錯(cuò)譯碼，還可易于實(shí)現(xiàn)電路的并行計(jì)算。如當(dāng)循環(huán)碼(n, k)的糾 錯(cuò)能力，l時(shí)，把4射吳圖樣識(shí)別電路的判據(jù)設(shè)為校驗(yàn)子圖樣重量是否等于1,所 述校驗(yàn)子圖樣重量為電路中寄存器的數(shù)值之和；即可支持小于等于n-k位的并 行計(jì)算，從而也解決了現(xiàn)有梅吉特譯碼器難以實(shí)現(xiàn)并行計(jì)算的問(wèn)題。
實(shí)施例三請(qǐng)參閱圖6，圖6為本發(fā)明實(shí)施例4是供的一種i奪碼器的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖6 所示的譯碼器具體可以包括
原校驗(yàn)子生成單元601,用于接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定 的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣。
基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元602,用于接收所述原校驗(yàn)子圖樣 并運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循 環(huán)移位；確定4普誤圖樣并輸出。
緩存器603,用于接收碼多項(xiàng)式，并輸出。
糾錯(cuò)單元604，用于將緩存器輸出的碼多項(xiàng)式的倒序和基于生成多項(xiàng)式的 反多項(xiàng)式的電路單元602輸出的錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。
其中，所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元602可以包括
反多項(xiàng)式單元605,用于接收原校驗(yàn)子生成單元輸入的原校驗(yàn)子圖樣并運(yùn) 轉(zhuǎn)；原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移 位，得到循環(huán)移位后的校驗(yàn)子圖樣。
數(shù)門(mén)判決單元606,用于判斷所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中的 寄存器的數(shù)值之和是否小于等于所述接收的碼多項(xiàng)式的可糾正錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，如果 是，則輸出循環(huán)移位后的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣。
所述糾錯(cuò)單元604還用于根據(jù)基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路的寄存器 的圖樣確定錯(cuò)誤圖樣，判斷是否出現(xiàn)可識(shí)別的4普誤圖樣，如果否，則輸出不可 糾指示。
短循環(huán)碼的梅吉特譯碼、捕錯(cuò)譯碼及其修正算法中，易于實(shí)現(xiàn)并行計(jì)算。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例提供的譯碼方法可知，開(kāi)始時(shí)原校驗(yàn)子生成單元6(M和 緩存器603同時(shí)接收到碼多項(xiàng)式/"(x)，原才交驗(yàn)子生成單元601才艮據(jù)所述的生成多
項(xiàng)式g(x)和碼多項(xiàng)式r(x)計(jì)算原校驗(yàn)子圖樣^(x)并代入基于生成多項(xiàng)式的反
多項(xiàng)式的電路單元602;所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元602的反多 項(xiàng)式單元605進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)，等效于所述原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向低次方 向循環(huán)移位；得到循環(huán)移位后的錯(cuò)誤圖樣對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)子圖樣；數(shù)門(mén)判決單元606 判斷基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元602的寄存器內(nèi)的數(shù)值之和是否等于l,如果是，則輸出與寄存器內(nèi)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣；如果否則輸 出全零序列；糾錯(cuò)單元604將緩存器603輸出的碼多項(xiàng)式的倒序和數(shù)門(mén)判決單元 606輸出的錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加，糾正錯(cuò)誤。
需要說(shuō)明的是，本發(fā)明實(shí)施例以數(shù)門(mén)判決的方法進(jìn)行錯(cuò)誤圖樣的識(shí)別，該
法易于并行計(jì)算，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員也可以用其他方法代替，本發(fā)明實(shí)施例 在此不作限定。
上述介紹了本發(fā)明實(shí)施例提供的一種譯碼器，基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式 電路的應(yīng)用，使原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方向 循環(huán)移位，將所述接收的碼多項(xiàng)式的低位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣 作為識(shí)別電路的圖樣，從而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變換，并易于
并行計(jì)算。 實(shí)施例四
上述分別介紹了本發(fā)明實(shí)施例提供的譯碼方法和譯碼器，下面介紹本發(fā)明 實(shí)施例^是供的一種編譯碼系統(tǒng)。所述系統(tǒng)可以包括譯碼器，與編碼器以可通信 方式連接，
所述譯碼器，所述譯碼器，用于接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè) 定的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；
將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)，原校 驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位；由電 路的寄存器圖樣確定錯(cuò)誤圖樣，并輸出；
將所述接收到的碼多項(xiàng)式的倒序和所述輸出的錯(cuò)誤圖樣和進(jìn)行模二加。
其中，根據(jù)所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路的寄存器的圖樣無(wú)法識(shí) 別錯(cuò)誤圖樣，則輸出不可糾指示。
其中，所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式電路還可以應(yīng)用于循環(huán)碼與縮短循 環(huán)碼的梅吉特譯碼、捕錯(cuò)譯碼及其修正算法中，易于實(shí)現(xiàn)并行計(jì)算。
本發(fā)明實(shí)施例提供的編譯碼系統(tǒng)是基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的應(yīng)用，將 所述接收的碼多項(xiàng)式的低位出錯(cuò)時(shí)的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣作為識(shí)別電 路的圖樣，使原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移 位，從而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變換，并易于并行計(jì)算。以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介
述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明實(shí)施例的方法及其核心思想； 同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的思想，在具體實(shí)施方 式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說(shuō)明書(shū)內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā) 明實(shí)施例的限制。
權(quán)利要求
1、一種譯碼方法，其特征在于，包括接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，確定錯(cuò)誤圖樣；將所述接收的碼多項(xiàng)式的倒序和錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述將碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定 的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣包括將所述接收的碼多項(xiàng)式除以所述預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式并取余式，得到原 校驗(yàn)子圖樣；所述接收的碼多項(xiàng)式由編碼端發(fā)送的碼多項(xiàng)式和傳輸過(guò)程中產(chǎn)生的錯(cuò)誤 多項(xiàng)式模二加而成。
3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述將原校驗(yàn)子圖樣代入基 于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述 接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，確定錯(cuò)誤圖樣包括將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路；所述反多項(xiàng) 式是將所述預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式的系數(shù)逆置得到的；原校驗(yàn)子圖樣在基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)；電路的寄存器 圖樣是原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移 位后得到的校驗(yàn)子圖樣；對(duì)基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路的寄存器圖樣進(jìn)行識(shí)別，從而得到對(duì) 應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述對(duì)基于生成多項(xiàng)式的反 多項(xiàng)式的電路的寄存器圖樣進(jìn)行識(shí)別，從而得到對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣包括判斷構(gòu)成所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路的寄存器的數(shù)值之和是 否小于等于所述接收的碼多項(xiàng)式的可糾正錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，如果是，則輸出循環(huán)移位 后的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括所述生成多項(xiàng)式底數(shù)不變，指數(shù)取反，得到指數(shù)為負(fù)值的生成多項(xiàng)式；所述生成多項(xiàng)式指數(shù)最高項(xiàng)乘以所述指數(shù)為負(fù)值的生成多項(xiàng)式得到所述 生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述方法還包括 判斷在譯碼過(guò)程中是否出現(xiàn)可識(shí)別的錯(cuò)誤圖像，如果是，則將所述接收的碼多項(xiàng)式的倒序和錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。
7、 一種譯碼器，其特征在于，包括原校驗(yàn)子生成單元，用于接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生 成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元，用于接收所述原校驗(yàn)子圖樣并運(yùn) 轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移 位；確定4普誤圖樣并輸出；緩存器，用于接收碼多項(xiàng)式，并輸出；糾錯(cuò)單元，用于將緩存器輸出的碼多項(xiàng)式的倒序和基于生成多項(xiàng)式的反多 項(xiàng)式的電路單元輸出的錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的譯碼器，其特征在于，所述糾錯(cuò)單元還用于根據(jù) 基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路的寄存器的圖樣判斷是否出現(xiàn)可識(shí)別的錯(cuò) 誤圖樣，如果否，則輸出不可糾指示。
9、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的譯碼器，其特征在于，所述基于生成多項(xiàng)式的反 多項(xiàng)式的電路單元包括反多項(xiàng)式單元，用于接收原校驗(yàn)子生成單元輸入的原校驗(yàn)子圖樣并運(yùn)轉(zhuǎn)； 原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位， 得到循環(huán)移位后的校驗(yàn)子圖樣；數(shù)門(mén)判決單元，用于判斷所述基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中的寄存 器的數(shù)值之和是否小于等于所述接收的碼多項(xiàng)式的可糾正錯(cuò)誤個(gè)數(shù)，如果是， 則輸出循環(huán)移位后的校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤圖樣。
10、 一種編譯碼系統(tǒng)，包括譯碼器，與編碼器以可通信方式連接，其特征在于，所述譯碼器，用于接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位；由電 路的寄存器圖樣確定錯(cuò)誤圖樣，并輸出；將所述接收到的碼多項(xiàng)式的倒序和所述輸出的錯(cuò)誤圖樣和進(jìn)行模二加。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)。該方法包括接收碼多項(xiàng)式，將所述碼多項(xiàng)式對(duì)預(yù)先設(shè)定的生成多項(xiàng)式進(jìn)行求模，獲取原校驗(yàn)子圖樣；將所述原校驗(yàn)子圖樣代入基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗(yàn)子圖樣對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤多項(xiàng)式向所述接收的碼多項(xiàng)式的低次方向循環(huán)移位，確定錯(cuò)誤圖樣；將所述接收的碼多項(xiàng)式的倒序和錯(cuò)誤圖樣進(jìn)行模二加。該裝置包括原校驗(yàn)子生成單元、基于生成多項(xiàng)式的反多項(xiàng)式的電路單元、緩存器和糾錯(cuò)單元。本發(fā)明實(shí)施例提供的方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)可靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長(zhǎng)度的變化，并易于實(shí)現(xiàn)并行計(jì)算。
文檔編號(hào)H03M13/00GK101409565SQ20081004261
公開(kāi)日2009年4月15日 申請(qǐng)日期2008年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月4日
發(fā)明者方冬梅 申請(qǐng)人:上海華為技術(shù)有限公司