專利名稱：：內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置的制作方法內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置發(fā)明領(lǐng)域本發(fā)明涉及一具有內(nèi)建自我測試的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，特別是涉及一種利用電容測電容來觀察是否達(dá)到最高分辨率要求，再利用電容測電阻觀察電阻是否達(dá)到另一分辨率要求的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。
背景技術(shù)：
：現(xiàn)有的N4立的連續(xù)漸進(jìn)(Successive-ApproximationRegister,SAR)才莫擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(AnalogtoDigitalConverter,ADC)常利用電阻網(wǎng)絡(luò)(resistorstring)來進(jìn)行最高有效位(mostsignificantbit,MSB)的譯碼，而利用電容網(wǎng)絡(luò)(capacitorarray)來進(jìn)4亍最低有效位(leastsignificantbit,LSB)的譯碼，其中電阻網(wǎng)絡(luò)的每一電阻的誤差必須達(dá)到(N+1)位，電容網(wǎng)絡(luò)的對等電容的誤差必須達(dá)(N/2+l)位，并且譯碼操作可分為一取樣周期(samplingphase)與一位循環(huán)周期(bit-cyclingphase)兩個階段。然而，電阻網(wǎng)絡(luò)在模擬轉(zhuǎn)數(shù)字器會有低成品率的情形，并且電容網(wǎng)絡(luò)在電阻網(wǎng)絡(luò)出現(xiàn)低成品率的情形時仍維持高度匹配。此外，若利用一內(nèi)建自我測試(Built-inSelfTest,BIST)電路測試模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的累積非線性誤差，該電路包含的斜波產(chǎn)生器會使得芯片面積大增；若使用模擬測試機(jī)臺測試，則其成本昂貴且耗時。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種利用電容測電容觀察是否達(dá)到最高分辨率要求，再利用電容測電阻觀察電阻是否達(dá)到另一分辨率要求的訊號轉(zhuǎn)換裝置，以解決上述的問題。本發(fā)明的內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置，包含有一第一訊號轉(zhuǎn)換電路、一第二訊號轉(zhuǎn)換電路、一比較裝置、一控制邏輯裝置以及分壓裝置。該比較裝置用來比較其一第一輸入端和一第二輸入端的訊號以產(chǎn)生一比較結(jié)果。該第一訊號轉(zhuǎn)換電路耦接于該比較裝置的該第一輸入端，用來于一自我測試模式下接收一第一參考電壓以及一第二參考電壓，并依據(jù)一第一組數(shù)字訊號來產(chǎn)生一第一比較訊號于該比較裝置的該第一輸入端。該第二訊號轉(zhuǎn)換電路耦接于該比較裝置的該第二輸入端，用來于該自我測試模式下接收該第一參考電壓以及該第二參考電壓，以依據(jù)該第一組控制訊號來產(chǎn)生一第二比較訊號于該比較裝置的該第二輸入端。該分壓裝置耦接于該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路，用來于該自我測試模式下依據(jù)一第二組控制訊號來產(chǎn)生至少一模擬訊號于該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路。該控制邏輯裝置耦接于該比較裝置、該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路以及該分壓裝置，用來產(chǎn)生該第一、第二組控制訊號。圖1所示是本發(fā)明內(nèi)建自我測試之訊號轉(zhuǎn)換裝置的一實(shí)施例的簡化圖。圖2所示是依據(jù)本發(fā)明內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置的一實(shí)施例的示意圖。圖3所示為本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于自我測試模式的取樣周期的示意圖。圖4所示為本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于自我測試模式的位循環(huán)周期的示意圖。圖5所示為本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于位循環(huán)周期中第二位循環(huán)的示意圖。附圖符號說明<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>x具體實(shí)施方式請參考圖1,圖1所示是本發(fā)明內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置100的一實(shí)施例的簡化圖。訊號轉(zhuǎn)換裝置100包含有一第一訊號轉(zhuǎn)換電路101、一第二訊號轉(zhuǎn)換電路102、一比較裝置103、一控制邏輯裝置104、一分壓裝置105以及一第五組開關(guān)裝置106。本實(shí)施例訊號轉(zhuǎn)換裝置100是以一12位的模擬轉(zhuǎn)數(shù)字器作為說明，然而本發(fā)明并不限定于12位，其亦可以是任一位的模擬轉(zhuǎn)數(shù)字器；第一訊號轉(zhuǎn)換電路101及第二訊號轉(zhuǎn)換電路102均是一6位的數(shù)字轉(zhuǎn)模擬器，以及分壓裝置105亦具有6位的64組分壓，然而其并不限定于6位，其亦可以是任何可以組成12位的組合，例如第一訊號轉(zhuǎn)換電路101及第二訊號轉(zhuǎn)換電路102是一4位的數(shù)字轉(zhuǎn)模擬器及分壓裝置105是具有8位的256組分壓電阻。請參考圖2，圖2所示是圖1所示內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置100的實(shí)施例的示意圖。第一訊號轉(zhuǎn)換電路101包含有一組開關(guān)裝置1011,其的一第一端N,于一自我測試模式下耦接于一第一參考電壓VRT，以及其一第二端N2于該自我測試模式下耦接于一第二參考電壓Vrb，此外，該組開關(guān)裝置1011包含有多個第一開關(guān)組件S6~S11、SB6~SB11、SH、SHB;以及第一訊號轉(zhuǎn)換電路101還具有一第一組電容裝置1012，其一第一端N3耦接于第一組開關(guān)裝置1011,且其一第二端N4選擇性地耦接于一第三參考電壓AGND1，其中第一組電容裝置1012包含有多個第一電容組件Cl~C6與一第一末端電容組件CT,且多個第一電容組件Cl~C6分別耦接于多個第一開關(guān)組件S6S11、SB6SB11。每一第一開關(guān)組件S6~Sll、SB6-SB11用來控制一相對應(yīng)的第一電容組件Cl~C6耦接于第一參考電壓VRT或第二參考電壓Vrb,以及第一末端電容組件CT耦接于第一開關(guān)組件SH、SHB。第二訊號轉(zhuǎn)換電路102包含有一第二組開關(guān)裝置1021,其一第一端N5于該自我測試模式下耦接于第一參考電壓VRT，及其一第二端N6于該自我測試模式下耦接于該第二參考電壓VRB,此外，第二組開關(guān)裝置1021包含有多個第二開關(guān)組件S6，SH'、SB6，SB11'、SH，、SHB，;第二訊號轉(zhuǎn)換電路102還具有一組電容裝置1022,其一第一端N7耦接于第二組開關(guān)裝置1021,且其一第二端N8選擇性地耦接于第三參考電壓AGND1,此外，第二組電容裝置1022包含有多個第二電容組件C1，C6，與一第二末端電容組件CT，，其中多個第二電容組件C1，C6，分別耦接于多個第二開關(guān)組件S6，-Sll'、SB6，-SBir。每一第二開關(guān)組件S6，S11，、SB6，~SBir用來控制一相對應(yīng)的第二電容組件耦接于第一參考電壓Vrt或第二參考電壓VRB，而第一末端電容組件CT，耦接于第一開關(guān)組件SH，、SHB，。比較裝置103的一正(+)與一負(fù)(-)輸入端分別耦接于第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路101、102，用來比較第一組電容裝置1012的第二端N4的輸出與第二組電容裝置1022的第二端N8的輸出以產(chǎn)生一比較結(jié)果D。ut?？刂七壿嬔b置104耦接于比較裝置103，用來產(chǎn)生一組開關(guān)控制訊號C[5:0]、CT[5:0]、C[ll:6]。在此說明，開關(guān)控制訊號C[11:6]、C[5:0]、CT[5:0]框內(nèi)的數(shù)字代表有效位，例如C[ll:6]表示12位中的第11位至第6位的最高有效位，而C[5:0]表示12位中的第5位至第O位的最低有效位，框框內(nèi)的位數(shù)會隨著第一訊號轉(zhuǎn)換電路101及第二訊號轉(zhuǎn)換電路102的位數(shù)作相對應(yīng)調(diào)整。分壓裝置105包含有一分壓網(wǎng)絡(luò)1'051耦接于第一、第二參考電壓V盯、VRB之間，用來提供多種電壓電平Vr^V64(分壓網(wǎng)絡(luò)1051即為64顆串接的電阻R1R64);—第三組開關(guān)裝置1052耦接于分壓網(wǎng)絡(luò)1051與第一末端電容組件CT之間，用來于該自我測試模式下自多種電壓電平V廣V64擇一輸出至第一末端電容組件CT,其中第三組開關(guān)裝置1052包含有多個第三開關(guān)組件SR1SR64;以及一第四組開關(guān)裝置1053,耦接于分壓網(wǎng)絡(luò)1051與第二末端電容組件CT，之間，用來于該自我測試模式下自多種電壓電平V,V64擇一輸出至第二末端電容組件CT',其中第四組開關(guān)裝置1053包含有多個第四開關(guān)組件SR1，SR64，；以及一第五組開關(guān)裝置106耦接于第三參考電壓AGND,、第一組電容裝置1012的第二端N4與第二組電容裝置1022的第二端Ns，其中第五組開關(guān)裝置106包含有多個第五開關(guān)組件SG,、SG2分別用來控制第一組電容裝置1012的第二端N4與第二組電容裝置1022的第二端Ns是否耦接于第三參考電壓AGND!。本實(shí)施例的控制邏輯裝置104輸出該組開關(guān)控制訊號C[11:6]、C[5:0]、CT[5:0]來分別控制(其中C[5:0]及CT[5:0]會分別經(jīng)過兩個6至64譯碼器125a、125b來選擇導(dǎo)通一開關(guān)組件)第一、第二、第三、第四組開關(guān)裝置1011、1021、1052、1053中開關(guān)組件的開啟/關(guān)閉，以經(jīng)由多個比較結(jié)果來判斷第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022之間的誤差是否符合要求。另一方面，控制邏輯裝置104亦控制第五開關(guān)組件106的開關(guān)。此外，本發(fā)明內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置100的第二電容組件C1，C6，以對稱于第一電容組件C1C6的虛設(shè)(dummy)電容的方式來加以實(shí)現(xiàn)；并且訊號轉(zhuǎn)換裝置100還設(shè)置有多個開關(guān)組件107~109，其連接方式如圖1、圖2所示。本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100于自我測試模式下包含有一取樣周期(samplingphase)與一位循環(huán)周期(bit-cyclingphase)的操作。請參考圖3,其是本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100搮作于自我測試模式的取樣周期的示意圖。當(dāng)訊號轉(zhuǎn)換裝置100操作于該自我測試模式中一取樣周期時，控制邏輯裝置104輸出一組開關(guān)控制訊號SG,與SG2以控制第五開關(guān)組件106將第一組電容裝置1012的第二端N4與第二組電容裝置1022的第二端Ns耦接至第三參考電壓AGND1。因此，在該自我測試模式下，控制邏輯裝置104會依序輸出該組開關(guān)控制訊號從C[ll:6]-000001至(2[11:6]=111111以對12位中的第11位至第6位的所有可能組合進(jìn)行自我測試，其中，該組開關(guān)控制訊號C[ll:6]控制其相對應(yīng)的第一開關(guān)組件S6S11、SB6SB11與相對應(yīng)的第二開關(guān)組件S6，Sir、SB6，SBll，的開關(guān)來將第一電容組件ClC6與對應(yīng)第一電容組件C1C6的第二電容組件C1，C6，耦接于第一參考電壓VRT。另外，在每一次的取樣周期中，控制邏輯裝置104會控制第一開關(guān)組件SH、SHB以使得第一末端電容組件CT耦接至第三組開關(guān)裝置1052的第二參考電壓Vrb;同樣地，控制邏輯裝置104亦會同時控制第二開關(guān)組件SH，、SHB，以使得第二末端電容組件CT，耦接至第四組開關(guān)裝置1053的第二參考電壓Vrb。因此，當(dāng)進(jìn)行每一次的取樣周期時，控制邏輯裝置104會控制開關(guān)控制訊號C[5:0]與CT[5:0]以4吏得第三組開關(guān)裝置1052和第四組開關(guān)裝置1053均耦接至第二參考電壓VRfi。當(dāng)完成一6位的最高有效位的自我測試模式的取樣周期后，本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置IOO便進(jìn)入位循環(huán)周期。請參考圖4，其是本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100操作于自我測試模式的位循環(huán)周期的示意圖。此時，控制邏輯裝置104是輸出該組開關(guān)控制訊號SG,與SG2而控制第五開關(guān)組件106不將第一組電容裝置1012的第二端N4與第二組電容裝置1022的第二端Ns耦接至第三參考電壓AGND!?？刂七壿嬔b置104是于位循環(huán)周期中一第一位循環(huán)時輸出該組開關(guān)控制訊號C[5:0]與CT[5:0]來控制第三開關(guān)組件SR1SR64與一第四開關(guān)組件SR1'SR64'來分別將一第一電壓電平Va與一第二電壓電平Vb輸出至第一末端電容組件CT與第二末端電容組件CT，，以及于位循環(huán)周期中一第二位循環(huán)時輸出該組開關(guān)控制訊號C[5:0]與CT[5:0]控制第三開關(guān)組件SR1-SR64與另一第四開關(guān)組件SR1，SR64，來分別將第一電壓電平Va與一第三電壓電平Vc輸出至第一末端電容組件CT與第二末端電容組件CT，。接著，若比較裝置103于該第一位循環(huán)中所產(chǎn)生的比較結(jié)果相同于該第二位循環(huán)中所產(chǎn)生的比較結(jié)果，則該控制邏輯裝置便判斷第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022之間的誤差不符合要求。在此一提，第一電壓電平Va與第二電壓電平Vb以及第一電壓電平Va與第三電壓電平Vc均為分壓網(wǎng)絡(luò)1051所提供的兩相鄰電壓電平，并且第二電壓電平Vb異于第三電壓電平Vc。為了更清楚描述本發(fā)明的精神所在，以下是以測試最高有效位000001為例作為范例說明。從以上所披露的操作過程可以得知，在訊號轉(zhuǎn)換裝置100的自我測試模式的取樣周期時，控制邏輯裝置104會輸出該組開關(guān)控制訊號C[ll:6]=000001,此時第一電容組件C1及第二電容組件C1，均會耦接至第一參考電壓VRT,而其它的第一電容組件C2C6及第二電容組件C2，C6，均會耦接至第二參考電壓Vrb,其它開關(guān)的連接如圖3所示。此時，可以得出第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022分別的電荷量Qp與Qn如下Qp=(Vp-VRB)*(32C+16C+8C+4C+2C+C)+(Vp-VRT)*CQn=(Vn-VRB)*e2C+16C+8C+4C+2C+G)+(Vn-VRT)*C其中Vp與Vn分別為輸入比較裝置103的正(+)輸入端與負(fù)(-)輸入端的電壓，且從圖4可以得知，此時Vp=Vn=AGNDl。接著，本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置IOO便進(jìn)行該位循環(huán)周期的操作。在該第一位循環(huán)時，控制邏輯裝置104控制該組開關(guān)控制訊號C[ll:6]與CT[5:0]保持不變，而該組開關(guān)控制訊號C[5:O]則由000000切換至000001。第一末端電容組件CT會經(jīng)由第三開關(guān)組件SR2而耦接至第一電壓電平Va，此時第一電壓電平Va的大小為(VRj-VRB)/64,而由于該組開關(guān)控制訊號CT[5:O]不變，因此第二末端電容組件CT'的第二電壓電平Vb仍為Vrb，其連接方式如圖4所示。因此，可以得出第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022分別的電荷量Qp，與Qn，下Qp，=(Vp，-VRB)*(32C+16C+8C+4C+2C+C)+(Vp，-VRT)*C+(Vp，-(VRB+(VRT-Vrb)/64》*CQn，=(Vn，-VRB)*(32C+16C+8C+4C+2C+C)+(Vn，-VRT)*C其中Vp，與Vn，分別為在該第一位循環(huán)時，輸入比較裝置103的正(+)輸入端與負(fù)(-)輸入端的電壓，且在電荷守恒定理下，Qp-Qp，以及Qn-Qn，，亦即(Vp陽Vrb)*C=(Vp，-Vrb+(Vrt-Vrb)/64)*C,因此，Vp，=Vp+(VRT-VRB)/64以及Vp，=AGND1+(Vrt-Vrb)/64)。由于在該第一位循環(huán)時，Vn，=Vn=AGND1若Vp、Vn，時，則比較裝置103的比較結(jié)果D她為1。接著，本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100進(jìn)行該第二位循環(huán)，此時控制邏輯裝置104控制該組開關(guān)控制訊號C[ll:6]與C[5:O]保持不變，而該組開關(guān)控制訊號CT[5:O]則由000000切換至000010。因此，第二末端電容組件CT，會經(jīng)由第四開關(guān)組件SR3'而耦接至第二電壓電平Vb，此時第二電壓電平Vb的大小為Vrb+(2*(Vrt-Vrb)/64)，而由于該組開關(guān)控制訊號C[5:O]不變，因此第一末端電容組件CT的第一電壓電平Va仍為(VRT-VRB)/64,其連接方式如圖5所示，圖5所示為本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100操作于位循環(huán)周期的第二位循環(huán)的示意圖。因此，可以得出第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022分別的電荷量Qp"與Qn"如下Qp，，=(Vp，，-VRB)*(32C+16C+8C+4C+2C+C)+(Vp"-VRT)*C+(Vp"-(Vrb+(Vrt-Vrb)/M))*GQn，，=(Vn"-VRB)*(32C+16C+8C+4C+2C+C)+(Vn，，-VRT)*C+(Vn，，-(Vrb+21Vrt-Vrb)/M)"G而在電荷守恒定理下，Qp,^Qp，以及Qn"=Qn，，所以(Vn，-Vrb)*C=(Vn"-VRB+2*(VRT-VRB)/64)*C，因此，Vn"=Vn'+(Vrt-Vrb)/64以及Vn"=AGNDl+2*(VRT-VRB)/64)。由于在該第二位循環(huán)時，Vp"=Vp，=AGND1+(Vrt-Vrb/64),若Vn"〉Vp，，時，則比較裝置103的比較結(jié)果D。ut為0。當(dāng)本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100完成該第二位循環(huán)后，若比較結(jié)果D。ut為10,則代表第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022的互測是可被接受的。同樣地，以上述所4皮露的方法對該組開關(guān)控制訊號從C[ll:6]=000010至C[ll:6]二llllll(亦即剩下的所有最高有效位000010111111)來進(jìn)行第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022的互測。因此，若每一該組開關(guān)控制訊號從C[ll:6]-000010至C[ll:6]=llllll的比較結(jié)果D叫t為10的話，則本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置IOO的第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022的誤差可達(dá)最少有效位1位的準(zhǔn)度，而訊號轉(zhuǎn)換裝置100所譯碼出的一數(shù)字訊號D[ll:O]的分辨率亦可達(dá)到12位的要求。在進(jìn)行完第一組電容裝置1012與第二組電容裝置1022的互測之后，本發(fā)明訊號轉(zhuǎn)換裝置100會再采用一可補(bǔ)償偏移誤差的測試方法來進(jìn)行第一組電容裝置1012與分壓網(wǎng)絡(luò)1051的最低有效位000010111111的互測以預(yù)測訊號轉(zhuǎn)換裝置IOO的累積非線性誤差。該可補(bǔ)償偏移誤差的測試方法包含有一取樣周期以及一位循環(huán)周期，該測試方法藉由調(diào)整在取樣周期以及位循環(huán)周期時比較裝置103的第二端Ns的輸入電位，以達(dá)到補(bǔ)償偏移誤差。為了更清楚描述本發(fā)明的該可補(bǔ)償偏移誤差的測試方法，請參考圖1，其是本發(fā)明一簡化的訊號轉(zhuǎn)換裝置100的示意圖。在該簡化的訊號轉(zhuǎn)換裝置100進(jìn)行取樣周期的操作時，比較裝置103的正輸入端N4的電壓Vp接到接地電壓AGND，且亦接到第一組電容裝置1012的一端，第一組電容裝置1012的另一端N2的電壓VRP接到4莫擬輸入訊號Vin以對第一組電容裝置1012到接地電壓AGND充電，比較裝置103的負(fù)輸入端Ns的電壓Vn接到接地電壓AGND，如圖1所示。然而在位循環(huán)周期時，比較裝置的負(fù)輸入端Ng電位切到電位AGND-AVc,N4和接地電壓AGND之間開路，N2切換到分壓網(wǎng)絡(luò)1051(可視為一DAC)的輸出端電壓VDA,所以此時比較裝置103的參考電位為AGND-AVc。因此，可以得知，在取樣周期結(jié)束時第一組電容裝置1012兩端的電壓差為Vin-AGND,而在位循環(huán)周期結(jié)束時第一組電容裝置1012兩端的電壓差為VDA-(AGND-AVc+AV)。由電荷守恒定理可以得^口:VDA-(AGND-AVc+AV)=Vin-AGND，若AV—0，貝'jVDA=Vin-AVc;在位循環(huán)周期的過程中會使得AV最接近0,而使得VDA最接近Vin-AVc,此時分壓網(wǎng)絡(luò)1051(即該DAC)的該組開關(guān)控制訊號C[5:O]即為Vjn-AVc相對的數(shù)字碼，并由控制邏輯裝置輸出。由此可知取樣周期及位循環(huán)周期比較裝置103的參考輸入電位的調(diào)整，等效于對輸入電位Vin的調(diào)整，并轉(zhuǎn)換出其相對數(shù)字碼。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明的權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。權(quán)利要求1.一種內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置，包含有一比較裝置，用來比較其一第一輸入端和一第二輸入端的訊號以產(chǎn)生一比較結(jié)果；一第一訊號轉(zhuǎn)換電路，耦接于該比較裝置的該第一輸入端，用來于一自我測試模式下接收一第一參考電壓以及一第二參考電壓，并依據(jù)一第一組數(shù)字訊號來產(chǎn)生一第一比較訊號于該比較裝置的該第一輸入端；一第二訊號轉(zhuǎn)換電路，耦接于該比較裝置的該第二輸入端，用來于該自我測試模式下接收該第一參考電壓以及該第二參考電壓，以依據(jù)該第一組控制訊號來產(chǎn)生一第二比較訊號于該比較裝置的該第二輸入端；一分壓裝置，耦接于該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路，用來于該自我測試模式下依據(jù)一第二組控制訊號來產(chǎn)生至少一模擬訊號于該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路；以及一控制邏輯裝置，耦接于該比較裝置、該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路以及該分壓裝置，用來產(chǎn)生該第一、第二組控制訊號。2.如權(quán)利要求1所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中該第一訊號轉(zhuǎn)換電路包含有一第一組開關(guān)裝置，其的一第一端于該自我測試模式下耦接于該第一參考電壓，以及其一第二端于該自我測試模式下耦接于該第二參考電壓，該第一組開關(guān)裝置包含有多個第一開關(guān)組件耦接于該第一組控制訊號；以及一第一組電容裝置，其一第一端耦接于該第一組開關(guān)裝置，且其一第二端選擇性地耦接于一第三參考電壓，該第一組電容裝置包含有多個第一電容組件與一第一末端電容組件，該多個第一電容組件分別耦接于該多個第一開關(guān)組件，每一第一開關(guān)組件用來控制一相對應(yīng)的第一電容組件耦接于該第一參考電壓或該第二參考電壓。3.如權(quán)利要求2所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中該第二訊號轉(zhuǎn)換電路包含有一第二組開關(guān)裝置，其一第一端于該自我測試模式下耦接于該第一參考電壓，及其一第二端于該自我測試模式下耦接于該第二參考電壓，該第二組開關(guān)裝置包含有多個第二開關(guān)組件耦接于該第二組控制訊號；以及一第二組電容裝置，其一第一端耦接于該第二組開關(guān)裝置，且其一第二端選擇性地耦接于該第三參考電壓，該第二組電容裝置包含有多個第二電容組件與一第二末端電容組件，該多個第二電容組件分別耦接于該多個第二開關(guān)組件，每一第二開關(guān)組件用來控制一相對應(yīng)的第二電容組件耦接于該第一參考電壓或該第二參考電壓。4.如權(quán)利要求3所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中該分壓裝置包含有一分壓網(wǎng)絡(luò)，耦接于該第一、第二參考電壓之間，用來提供多種電壓電平；一第三組開關(guān)裝置，耦接于該分壓網(wǎng)絡(luò)與該第一末端電容組件之間，用來于該自我測試模式下自該多種電壓電平中依據(jù)該第二組控制訊號中的一組特定控制訊號選擇一輸出電平至該第一末端電容組件，該第三組開關(guān)裝置包含有多個第三開關(guān)組件耦接于該第二組控制訊號；以及一第四組開關(guān)裝置，耦接于該分壓網(wǎng)絡(luò)與該第二末端電容組件之間，用來于該自我測試模式下自該多種電壓電平中依據(jù)該第二組控制訊號中的另一組特定控制訊號擇一輸出電平至該第二末端電容組件，該第四組開關(guān)裝置包含有多個第四開關(guān)組件耦接于該第二組控制訊號。5.如權(quán)利要求4所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其還包含有一第五組開關(guān)裝置，耦接于該第三參考電壓、該第一組電容裝置的該第二端與該第二組電容裝置的該第二端，該第五組開關(guān)裝置包含有多個第五開關(guān)組件，用來控制該第一組電容裝置的該第二端與該第二組電容裝置的該第二端是否耦接于該第三參考電壓；其中該控制邏輯裝置所輸出的該第一、第二組控制訊號控制該多個第一、第二、第三、第四、第五開關(guān)組件的開啟/關(guān)閉以經(jīng)由多個比較結(jié)果來判斷該第一組電容裝置與該第二組電容裝置之間的誤差是否符合要求。6.如權(quán)利要求5所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中當(dāng)該訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于該自我測試模式中一取樣周期，該控制邏輯裝置輸出該第一、第二組控制訊號而控制該多個第五開關(guān)組件將該第一組電容裝置的該第二端與該第二組電容裝置的該第二端耦接至該第三參考電壓；以及當(dāng)該訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于該自我測試模式中一位循環(huán)周期，該控制邏輯裝置輸出該第一、第二組控制訊號而控制該多個第五開關(guān)組件不將該第一組電容裝置的該第二端與該第二組電容裝置的該第二端耦接至該第三參考電壓。7.如權(quán)利要求6所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中當(dāng)該訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于該取樣周期或該位循環(huán)周期，該控制邏輯裝置輸出該第一、第二組控制訊號控制至少一第一開關(guān)組件與一第二開關(guān)組件來將一第一電容組件與對應(yīng)該第一電容組件的一第二電容組件耦接于該第一參考電壓。8.如權(quán)利要求7所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中當(dāng)該訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于該取樣周期，該控制邏輯裝置輸出該第一、第二組控制訊號控制一第三開關(guān)組件與一第四開關(guān)組件來將該第二參考電壓輸出至該第一末端電容組件與該第二末端電容組件。9.如權(quán)利要求7所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中當(dāng)該訊號轉(zhuǎn)換裝置操作于該位循環(huán)周期，該控制邏輯裝置于一第一位循環(huán)時輸出該第一、第二組控制訊號控制一第三開關(guān)組件與一第四開關(guān)組件來分別將一第一電壓電平與一第二電壓電平輸出至該第一末端電容組件與該第二末端電容組件，以及于一第二位循環(huán)時輸出該第一、第二組控制訊號控制該第三開關(guān)組件與另一第四開關(guān)組件來分別將該第一電壓電平與一第三電壓電平輸出至該第一末端電容組件與該第二末端電容組件。10.如權(quán)利要求9所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中若該比較裝置于該第一位循環(huán)中所產(chǎn)生的該比較結(jié)果相同于該第二位循環(huán)中所產(chǎn)生的該比較結(jié)果，則該控制邏輯裝置便判斷該第一組電容裝置與該第二組電容裝置之間的誤差不符合要求。11.如權(quán)利要求9所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中該第一電壓電平與該第二電壓電平為該分壓網(wǎng)絡(luò)所提供的兩相鄰電壓電平，該第一電壓電平與該第三電壓電平亦為該分壓網(wǎng)絡(luò)所提供的兩相鄰電壓電平，以及該第二電壓電平異于該第三電壓電平。12.如權(quán)利要求3所述的訊號轉(zhuǎn)換裝置，其中該第一組電容裝置是以對稱于該第二組電容裝置的虛設(shè)電容的方式來加以實(shí)施。全文摘要本發(fā)明披露一種內(nèi)建自我測試的訊號轉(zhuǎn)換裝置，包含一第一訊號轉(zhuǎn)換電路、一第二訊號轉(zhuǎn)換電路、一比較裝置、一控制邏輯裝置以及分壓裝置。其中，該第一、第二訊號轉(zhuǎn)換電路用來于一自我測試模式下接收一第一參考電壓與一第二參考電壓與接受該控制邏輯裝置產(chǎn)生的第一與第二組控制訊號的控制，以供該比較裝置產(chǎn)生一比較結(jié)果。文檔編號H03M1/10GK101222229SQ200710002170公開日2008年7月16日申請日期2007年1月12日優(yōu)先權(quán)日2007年1月12日發(fā)明者楊昭锜,樊曜仁申請人:義隆電子股份有限公司