專利名稱：模－數(shù)轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及模-數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器，而且尤其涉及這種轉(zhuǎn)換器的后臺(tái)校準(zhǔn)。
背景技術(shù)：
任意A/D轉(zhuǎn)換器的性能要受到與它的各種組成部件有關(guān)的不理想效果的限制。幾個(gè)這種效果的影響能夠通過例如在[1]中所描述的數(shù)字校準(zhǔn)解決，其中使用了一組數(shù)字校準(zhǔn)系數(shù)以校正估算的模擬電路誤差。問題是，當(dāng)電路在與估算這些系數(shù)時(shí)完全相同的條件下操作時(shí)校準(zhǔn)系數(shù)是最精確的。如果例如溫度、電源電壓、或者偏置電流改變了，則可能需要一組新的系數(shù)用于最優(yōu)的誤差校正。
通常，使用一種被稱作后臺(tái)校準(zhǔn)[2]的技術(shù)以在正常操作期間連續(xù)地校準(zhǔn)A/D轉(zhuǎn)換器。然而，后臺(tái)校準(zhǔn)過程干擾經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換器的正常信號(hào)流，因此在輸出中引起誤差。有減少這種誤差大小的技術(shù)，例如，通過如[3]中所述的內(nèi)插法。然而，由A/D轉(zhuǎn)換器的后臺(tái)校準(zhǔn)所引起的信號(hào)中斷在例如數(shù)字通信系統(tǒng)中會(huì)導(dǎo)致增加的誤碼率。從信號(hào)質(zhì)量和功率效率的角度來看，都希望在任何可能的情況下避免A/D轉(zhuǎn)換器的后臺(tái)校準(zhǔn)。
概述本發(fā)明的目的是以比現(xiàn)有技術(shù)低的誤碼率損失提供用于A/D轉(zhuǎn)換器的后臺(tái)校準(zhǔn)技術(shù)。
這個(gè)目的依據(jù)附加的權(quán)利要求得到實(shí)現(xiàn)。
簡(jiǎn)要來說，本發(fā)明基于在操作條件穩(wěn)定的時(shí)間內(nèi)通常不需要后臺(tái)校準(zhǔn)的這一理解。通過使用用于關(guān)鍵性操作參數(shù)、諸如溫度和電源電壓的芯片內(nèi)或者芯片外傳感器，在穩(wěn)定的操作條件下取消不必要的后臺(tái)校準(zhǔn)就變得可能了，因而降低了在穩(wěn)態(tài)下的誤碼率。
附圖簡(jiǎn)要說明通過參考以下結(jié)合附圖給出的說明，本發(fā)明連同它的更多目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)得到更好的理解，其中


圖1是具有內(nèi)插器的一個(gè)傳統(tǒng)的A/D轉(zhuǎn)換器的框圖；圖2是說明了用圖1中的A/D轉(zhuǎn)換器采樣的時(shí)間圖；圖3是一個(gè)典型的數(shù)字無線電系統(tǒng)的簡(jiǎn)化框圖；圖4是說明了隨著時(shí)間的過去可以如何改變操作條件的框圖；圖5是說明了在初始的A/D轉(zhuǎn)換器前臺(tái)校準(zhǔn)之后系統(tǒng)級(jí)誤碼率的工作情況的時(shí)間圖；圖6是說明了當(dāng)使用A/D轉(zhuǎn)換器后臺(tái)校準(zhǔn)時(shí)系統(tǒng)級(jí)誤碼率的工作情況的時(shí)間圖；圖7是說明了一種跟蹤在操作條件中的變化的示范性方法的框圖；圖8是說明了在本發(fā)明的示范性實(shí)施例中系統(tǒng)級(jí)誤碼率的工作情況的時(shí)間圖；圖9是說明了依據(jù)本發(fā)明的A/D轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)方法的一個(gè)示范性實(shí)施例的流程圖；圖10是說明了依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)裝置的示范性實(shí)施例的框圖；圖11說明了一個(gè)結(jié)溫傳感器的一個(gè)示范性實(shí)施例；圖12說明了一個(gè)結(jié)溫傳感器的另一個(gè)示范性實(shí)施例；圖13說明了一個(gè)偏置電流傳感器的一個(gè)示范性實(shí)施例；圖14說明了一個(gè)電源電壓傳感器的一個(gè)示范性實(shí)施例；圖15是說明了一個(gè)操作條件變化檢測(cè)器的一個(gè)示范性實(shí)施例的框圖；圖16是說明了在本發(fā)明的另一個(gè)示范性實(shí)施例中系統(tǒng)級(jí)誤碼率的工作情況的時(shí)間圖；以及圖17是說明了依據(jù)本發(fā)明的A/D轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)方法的另一個(gè)示范性實(shí)施例的流程圖；詳細(xì)說明更普遍的一種后臺(tái)校準(zhǔn)的方法是使用如圖1和2中所說明的“跳過-填充”方法[3，4]。
圖1是具有內(nèi)插器的一個(gè)傳統(tǒng)的A/D轉(zhuǎn)換器的框圖。把一個(gè)模擬信號(hào)發(fā)送到A/D轉(zhuǎn)換器10。把數(shù)字采樣發(fā)送給一個(gè)內(nèi)插器12和一個(gè)延遲元件14。開關(guān)16通常在指示的較上位置，其中在一個(gè)采樣間隔T處從延遲元件14輸出數(shù)字采樣。每次第k個(gè)采樣時(shí)，使開關(guān)16處于它的較低位置，其中跳過一個(gè)采樣，而是相反從內(nèi)插器12輸出一個(gè)內(nèi)插的數(shù)字采樣。爾后開關(guān)16返回到它的較上位置。在內(nèi)插期間執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換器10的校準(zhǔn)、或者完整校準(zhǔn)的一部分。定期地重復(fù)這個(gè)操作。
圖2是說明了用圖1中的A/D轉(zhuǎn)換器采樣的時(shí)間圖。虛線表示所跳過采樣的實(shí)際值。由于內(nèi)插的有限帶寬，內(nèi)插的值可能不同于這個(gè)實(shí)際值。內(nèi)插的值取決于所說明的、通過包圍采樣形成的內(nèi)插曲線。這些包圍采樣是使用圖1中的延遲元件14的原因(以便能夠內(nèi)插，在所跳過的采樣前后都需要采樣)。
在圖3中顯示了一個(gè)數(shù)字無線電系統(tǒng)例子。接收模擬的射頻(RF)信號(hào)，并且借助于RF前端20將其轉(zhuǎn)換為基帶。然后由A/D轉(zhuǎn)換器22把基帶信號(hào)數(shù)字化，并且由數(shù)字信號(hào)處理(DSP)單元24以數(shù)字形式進(jìn)一步處理。傳輸質(zhì)量能夠依據(jù)數(shù)字輸出信號(hào)dout的誤碼率(BER)進(jìn)行測(cè)定。傳輸質(zhì)量通常要受到RF前端和A/D轉(zhuǎn)換器的性能的限制。
A/D轉(zhuǎn)換器性能受到諸如組件不匹配的靜態(tài)誤差、以及表示它的操作條件的許多參數(shù)的的組合的影響。這種參數(shù)的例子是溫度、電源電壓、和偏置電流。由于通常為每一個(gè)參數(shù)定義了操作范圍，所以形成了一個(gè)一維的或者多維的操作空間。作為一個(gè)例子，在圖4中顯示了用于結(jié)溫Tj和電源電壓Vsup的二維操作空間。用曲線說明了隨著時(shí)間的過去在這兩個(gè)參數(shù)中的同時(shí)變化(時(shí)間從t0增加到t2)。
組件不匹配和操作條件波動(dòng)的影響能夠通過例如數(shù)字校準(zhǔn)減少。問題是A/D轉(zhuǎn)換器的有效數(shù)字校準(zhǔn)要求每當(dāng)操作條件已經(jīng)改變時(shí)校準(zhǔn)將要被更新的系數(shù)。這種重新校準(zhǔn)能夠在前臺(tái)或者后臺(tái)進(jìn)行。
前臺(tái)校準(zhǔn)完全堵塞經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)流直到完成校準(zhǔn)序列為止。在數(shù)字無線電系統(tǒng)中，這將停止在整個(gè)校準(zhǔn)序列期間的所有通信量。在任何正常運(yùn)行方式中這種中斷都是不可接受的，因而在啟動(dòng)時(shí)或者當(dāng)A/D轉(zhuǎn)換器離線時(shí)只能使用前臺(tái)校準(zhǔn)。因此在現(xiàn)有技術(shù)中使用了后臺(tái)校準(zhǔn)以解決這個(gè)問題。
盡管沒有如前臺(tái)校準(zhǔn)那樣，但是后臺(tái)校準(zhǔn)也干擾在A/D轉(zhuǎn)換器中的信號(hào)流。在信號(hào)質(zhì)量中的損失是填充采樣的準(zhǔn)確性、和在它們之間的間距的函數(shù)。一個(gè)較大的填充采樣間距導(dǎo)致在某一長(zhǎng)度的采樣序列中較少的誤差能量。然而，如果填充采樣間距太大，則后臺(tái)校準(zhǔn)將不會(huì)有效地跟蹤在操作條件中的急劇變化。
在圖5和6中說明了從系統(tǒng)級(jí)的角度來看在前臺(tái)和后臺(tái)校準(zhǔn)之間的差別。
前臺(tái)校準(zhǔn)方法能夠在啟動(dòng)(t＝0)時(shí)發(fā)現(xiàn)最佳的一組校準(zhǔn)系數(shù)。這在系統(tǒng)級(jí)由低的誤碼率BER0表示。由于操作條件隨著時(shí)間的過去而改變，所以誤碼率也是如此，而且這個(gè)不受控制的變化能夠是如圖5所示相當(dāng)大的。
后臺(tái)校準(zhǔn)涉及連續(xù)地重復(fù)一個(gè)校準(zhǔn)序列，其中A/D轉(zhuǎn)換被中斷持續(xù)預(yù)定數(shù)目的采樣位置，而且所跳過的采樣用填充采樣代替，其中該填充采樣通常是通過內(nèi)插獲得的。使用相對(duì)密集的后臺(tái)校準(zhǔn)序列能夠使誤碼率穩(wěn)定，甚至在操作條件急劇變化的情況下。這在圖6中進(jìn)行了說明，其中誤碼率實(shí)質(zhì)上是恒定的。然而，由于在后臺(tái)校準(zhǔn)中的“跳過-填充”操作，所以增加了最低的可得到的誤碼率--從最優(yōu)的BER0到BER1--由后臺(tái)校準(zhǔn)序列的密度和填充采樣的準(zhǔn)確性確定。
在現(xiàn)有技術(shù)中，無論是否需要，后臺(tái)校準(zhǔn)序列都被連續(xù)地重復(fù)。然而，在穩(wěn)定的操作條件下，實(shí)際上不需要連續(xù)地重新校準(zhǔn)A/D轉(zhuǎn)換器。盡管能夠使填充采樣誤差變小，但是它仍然表示一個(gè)不必要的A/D轉(zhuǎn)換誤差。因此，當(dāng)操作條件穩(wěn)定時(shí)應(yīng)當(dāng)盡可能地取消后臺(tái)校準(zhǔn)。
本發(fā)明通過跟蹤在操作條件中的變化、和實(shí)質(zhì)上只有當(dāng)條件已經(jīng)改變到足以激發(fā)一個(gè)重新校準(zhǔn)時(shí)才開始后臺(tái)校準(zhǔn)序列，用連續(xù)的后臺(tái)校準(zhǔn)解決了該問題。圖7是對(duì)應(yīng)于圖4、并且說明了一種跟蹤在操作條件中的變化的示范性方法的框圖。每個(gè)操作條件參數(shù)被認(rèn)為是一個(gè)矢量分量，而且每當(dāng)連續(xù)測(cè)定的差別向量超過一個(gè)預(yù)定閾值大小時(shí)開始一個(gè)校準(zhǔn)序列，其中該差別向量表示自上次校準(zhǔn)開始以來在操作條件中的變化。在圖7中這已經(jīng)由連接重新校準(zhǔn)瞬間t0-t6的等量差別向量指示了。
有幾種可能的方式來定義這樣一種差別向量的大小。一種可能性是Δx=∑i=lNci(Δxi)2]]>
其中Δx是差別向量的大??；Δxi是在操作條件參數(shù)中的變化；N是操作條件參數(shù)的數(shù)目；以及Ci是說明了不同參數(shù)的相對(duì)重要性的加權(quán)系數(shù)。
另一種可能性是Δx=Σi=1Nci|Δxi|]]>還有另一種可能性是Δx=maxi(ci|Δxi|)]]>在最后提及的例子中，如果在這些參數(shù)中至少一個(gè)的(加權(quán))大小已經(jīng)超過了閾值，則開始一個(gè)校準(zhǔn)序列。
圖8是說明了在本發(fā)明的一個(gè)示范性實(shí)施例中系統(tǒng)級(jí)誤碼率的工作情況的時(shí)間圖。注意到，在校準(zhǔn)序列期間誤碼率與圖6中的、即BER1相同。然而，在每個(gè)校準(zhǔn)序列之后，誤碼率被降低到最優(yōu)比率BER0。由于僅僅在自上次重新校準(zhǔn)以來當(dāng)操作條件已經(jīng)充分改變時(shí)才執(zhí)行重新校準(zhǔn)，所以應(yīng)當(dāng)理解平均誤碼率BER2將介于BER0和BER1之間。
圖9是說明了本發(fā)明中方法的一個(gè)示范性實(shí)施例的流程圖。步驟S1例如依據(jù)上述等式中的一個(gè)，通過確定和組合操作參數(shù)變化來確定在操作條件中的變化。步驟S2確定該變化是否超過一個(gè)預(yù)定閾值。如果不是，則過程返回到步驟S1。否則，步驟S3開始一個(gè)后臺(tái)校準(zhǔn)序列，并且更新校準(zhǔn)系數(shù)。爾后過程返回到步驟S1。典型地，每隔至少具有校準(zhǔn)序列的長(zhǎng)度的一定間隔，重復(fù)步驟S1。
圖10是說明了依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)裝置的示范性實(shí)施例的框圖。一組操作條件參數(shù)傳感器100檢測(cè)當(dāng)前操作條件，它們由參數(shù)x1、……、xN表示。在這個(gè)實(shí)施例中，假定傳感器100被集成在與A/D轉(zhuǎn)換器本身相同的芯片上。然而，其中與芯片分開地提供某些或者全部傳感器的實(shí)施例也是可行的。以模擬或者數(shù)字的形式把所測(cè)定的參數(shù)發(fā)送給一個(gè)操作條件變化檢測(cè)器102，由它例如依據(jù)上述等式中的一個(gè)確定變化量度，并且確定這個(gè)量度是否超過一個(gè)預(yù)定的變化閾值。當(dāng)已經(jīng)檢測(cè)到了一個(gè)超過閾值的變化時(shí)，把校準(zhǔn)觸發(fā)信號(hào)CAL_TRIG傳遞給一個(gè)校準(zhǔn)控制單元104，由它開始一個(gè)后臺(tái)校準(zhǔn)序列。在圖10的實(shí)施例中，變化檢測(cè)器102和控制單元104被顯示為在A/D轉(zhuǎn)換器芯片的外面。然而，其中一個(gè)或者這兩個(gè)元件和A/D轉(zhuǎn)換器本身集成在一起的實(shí)施例同樣是可行的。當(dāng)被放置在A/D轉(zhuǎn)換器芯片之外時(shí)，可以使用微處理器、信號(hào)處理器或者現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)來實(shí)現(xiàn)變化檢測(cè)器102。當(dāng)被放置在芯片上時(shí)，它可以被實(shí)現(xiàn)為一個(gè)特定應(yīng)用的數(shù)字電路。
由于實(shí)際上不需要精確地檢測(cè)絕對(duì)參數(shù)值，所以能夠用具有低功耗的簡(jiǎn)單的芯片內(nèi)或者芯片外設(shè)備檢測(cè)操作條件。唯一的要求是能夠用足夠的分辯率和速度檢測(cè)相對(duì)的變化。作為一個(gè)例子，假定在0-90℃的溫度范圍內(nèi)檢測(cè)到0.1℃或者更少的溫度變化。然后使用一個(gè)10位的A/D轉(zhuǎn)換器用于-5到+95℃的標(biāo)稱量化范圍是可能的。這相當(dāng)于0.1℃的溫度分辨率。由于例如在傳感器輸出中的變化，所以很少℃溫標(biāo)的可能位移通常是可接受的。
圖11說明了結(jié)溫傳感器的一個(gè)示范性實(shí)施例。在這個(gè)實(shí)施例中，由“與絕對(duì)溫度成比例(Proportional To Absolute Temperature，PTAT)”的參考電壓VPTTAT和與溫度、也可能與電源電壓無關(guān)的參考電壓VFIX檢測(cè)溫度。
圖12說明了結(jié)溫傳感器的另一個(gè)示范性實(shí)施例。在這個(gè)實(shí)施例中，在圖11中的參考電壓已經(jīng)被相應(yīng)的當(dāng)前參考值代替了。
圖13說明了一個(gè)偏置電流傳感器的一個(gè)示范性實(shí)施例。在這個(gè)實(shí)施例中，可以通過比較所監(jiān)控的偏置電流與恒定的參考電流來檢測(cè)偏置電流變化。
圖14說明了一個(gè)電源電壓傳感器的一個(gè)示范性實(shí)施例。在這個(gè)實(shí)施例中，通過把電源電壓在兩個(gè)電阻上分壓、和把所產(chǎn)生的分壓與恒定的參考電壓、例如1.25V的帶隙參考電壓進(jìn)行比較，檢測(cè)電壓變化。
有關(guān)結(jié)合圖11-14描述的傳感器實(shí)施例的實(shí)現(xiàn)的更多細(xì)節(jié)可以在[5]中找到，其詳細(xì)地描述了PTAT和恒定的電壓和電流。
圖15是說明了一個(gè)操作條件變化檢測(cè)器的一個(gè)示范性實(shí)施例的框圖。把所測(cè)定的參數(shù)值從傳感器100發(fā)送給一組A/D轉(zhuǎn)換器200。把數(shù)字化的值發(fā)送到RAM單元202和加法器204。加法器204形成在所測(cè)定的參數(shù)值和在前一校準(zhǔn)開始時(shí)保存在RAM單元202中的值之間的差別。單元206例如依據(jù)上述等式中的一個(gè)確定變化度量。把這個(gè)變化度量發(fā)送給一閾值單元208。如果變化度量超過了閾值，則生成一個(gè)CALIB_TRIG信號(hào)。這個(gè)信號(hào)開始另一個(gè)校準(zhǔn)序列，并且還允許把電流傳感器值寫入到RAM單元202中。
圖16是說明了在本發(fā)明的另一個(gè)示范性實(shí)施例中系統(tǒng)級(jí)誤碼率的工作情況的時(shí)間圖。這個(gè)實(shí)施例基于與圖7中實(shí)施例相同的原理，即只有當(dāng)操作條件已經(jīng)充分地變化了時(shí)才開始后臺(tái)校準(zhǔn)。然而，在圖16的實(shí)施例中，如果操作條件僅僅如在t3和t4處指示的那樣緩慢地變化，則沿時(shí)間拉伸校準(zhǔn)序列(在填充采樣之間較大的間距)。這在這些校準(zhǔn)期間將降低誤碼率，由此進(jìn)一步把平均誤碼率降低為BER3。類似地，沿時(shí)間壓縮校準(zhǔn)序列以便以稍微較高的誤碼率為代價(jià)、通過更頻繁的重新校準(zhǔn)阻礙在操作條件中的更急劇變化，也是可能的。
在以上的描述中，已經(jīng)假定只有在操作條件中的足夠變化才能夠開始一個(gè)重新校準(zhǔn)。然而，在某些情況下，可能希望如果所測(cè)定的操作條件參數(shù)已經(jīng)相當(dāng)恒定持續(xù)一段(很長(zhǎng))預(yù)定時(shí)間則開始一個(gè)重新校準(zhǔn)。這種重新校準(zhǔn)的一個(gè)原因是影響A/D轉(zhuǎn)換器性能但是難以測(cè)定的其它參數(shù)可能已經(jīng)改變了。所提及的時(shí)間段通常比一個(gè)校準(zhǔn)序列要長(zhǎng)得多。圖17是說明了依據(jù)本發(fā)明實(shí)現(xiàn)這個(gè)特征的A/D轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)方法的一個(gè)示范性實(shí)施例的流程圖。圖17類似于圖9，但是具有增加的步驟S4，其檢測(cè)自上次校準(zhǔn)以來已經(jīng)過去的時(shí)間是否太大。如果是這種情況，則在步驟S3中開始重新校準(zhǔn)。否則，過程返回到步驟S1。所經(jīng)過時(shí)間的測(cè)定可以，例如，通過統(tǒng)計(jì)自上次校準(zhǔn)以來已經(jīng)執(zhí)行的步驟S1的次數(shù)來獲得。然后如果這個(gè)值超過了一個(gè)取決于應(yīng)用的預(yù)定整數(shù)值，例如5000-20000測(cè)量周期，則可以開始后臺(tái)校準(zhǔn)。
后臺(tái)校準(zhǔn)的激活還可以基于一個(gè)系統(tǒng)級(jí)可檢測(cè)的性能參數(shù)、諸如誤碼率或者傳輸誤碼率的感測(cè)。這些參數(shù)還可以被解釋為能夠用于確定何時(shí)應(yīng)當(dāng)開始重新校準(zhǔn)的操作條件。此外，還可以使用描述了A/D轉(zhuǎn)換器的外部環(huán)境的其它參數(shù)、諸如周圍溫度、輻射級(jí)、濕度等，以啟動(dòng)重新校準(zhǔn)。
如果一個(gè)或者幾個(gè)操作條件參數(shù)接近于它們的相應(yīng)指定操作范圍的界限(接近于在圖7中的一條或幾條虛線)，則允許連續(xù)的后臺(tái)校準(zhǔn)可能是有利的。
為了減少噪音和假信號(hào)的影響，以及廣泛地改善估算的校準(zhǔn)系數(shù)的準(zhǔn)確性，可以使用來自多個(gè)校準(zhǔn)序列的平均系數(shù)以統(tǒng)計(jì)地改進(jìn)校準(zhǔn)。
本發(fā)明相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它使得不必要的后臺(tái)校準(zhǔn)被取消了。通過當(dāng)操作條件穩(wěn)定時(shí)取消后臺(tái)校準(zhǔn)，通過A/D轉(zhuǎn)換器的信號(hào)流沒有被中斷，因此改善了誤碼率。
另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是取消不必要的后臺(tái)校準(zhǔn)節(jié)省了能源。這個(gè)特征在電池供電的設(shè)備、諸如移動(dòng)終端中尤其是有吸引力的。
本發(fā)明提出了一種適用于最公知的A/D轉(zhuǎn)換器體系結(jié)構(gòu)的后臺(tái)校準(zhǔn)的一般方法，因此涵蓋了大量應(yīng)用，而不僅僅與數(shù)字無線電系統(tǒng)有關(guān)。
本發(fā)明不局限于特定的校準(zhǔn)方案。相反，在使用各種各樣的新穎和現(xiàn)有的后臺(tái)校準(zhǔn)方案的其中一種時(shí)，通過使用本發(fā)明，改善總體系統(tǒng)性能就變得可能了。
此外，本發(fā)明不局限于用于說明的內(nèi)插類型的跳過-填充后臺(tái)校準(zhǔn)。它同樣可適用于偶爾干擾經(jīng)過主要轉(zhuǎn)換路徑的數(shù)據(jù)流的任何后臺(tái)校準(zhǔn)。作為一個(gè)例子，使用一個(gè)較低性能的輔助A/D轉(zhuǎn)換器用于采樣由主A/D轉(zhuǎn)換器跳過的采樣，是可能的。
應(yīng)當(dāng)明白，對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，可以在沒有背離本發(fā)明范圍的情況下對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種修改和變化，其中本發(fā)明的范圍由附加的權(quán)利要求來定義。
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32，No.12，Dec.1997，IEEE.[5] B.Razavi，“Design of Analog CMOS Integrated Circuits”，McGraw-Hill，pp.361-388.
權(quán)利要求
1.一種A/D轉(zhuǎn)換器后臺(tái)校準(zhǔn)方法，包含步驟當(dāng)自上次后臺(tái)校準(zhǔn)以來操作條件已經(jīng)改變時(shí)，執(zhí)行一個(gè)新的后臺(tái)校準(zhǔn)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，包含步驟重復(fù)地確定一個(gè)表示自上次后臺(tái)校準(zhǔn)以來至少一個(gè)操作條件參數(shù)變化的量度；以及如果所述的量度超過一個(gè)預(yù)定的變化值，則執(zhí)行一個(gè)新的后臺(tái)校準(zhǔn)。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，包含步驟如果自上次后臺(tái)校準(zhǔn)以來經(jīng)過的時(shí)間超過了一個(gè)預(yù)定時(shí)間值，則執(zhí)行一個(gè)新的后臺(tái)校準(zhǔn)。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，包含步驟如果至少一個(gè)操作條件參數(shù)接近于它的指定操作范圍的界限，則執(zhí)行連續(xù)的后臺(tái)校準(zhǔn)。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，包含步驟如果所述的量度很少超過所述的預(yù)定變化值，則沿時(shí)間拉伸后臺(tái)校準(zhǔn)序列。
6.如權(quán)利要求2所述的方法，包含步驟如果所述的量度經(jīng)常超過所述的預(yù)定變化值，則沿時(shí)間壓縮后臺(tái)校準(zhǔn)序列。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于一個(gè)操作條件參數(shù)包含半導(dǎo)體結(jié)溫度。
8.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于一個(gè)操作條件參數(shù)包含電源電壓。
9.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于一個(gè)操作條件參數(shù)包含偏置電流。
10.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于至少一個(gè)操作條件參數(shù)描述了A/D轉(zhuǎn)換器的外部環(huán)境。
11.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于一個(gè)操作條件參數(shù)包含一個(gè)系統(tǒng)級(jí)可檢測(cè)的性能參數(shù)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于所述系統(tǒng)級(jí)可檢測(cè)的性能參數(shù)是誤碼率。
13.一種A/D轉(zhuǎn)換器后臺(tái)校準(zhǔn)裝置，包含用于當(dāng)自上次后臺(tái)校準(zhǔn)以來操作條件已經(jīng)改變時(shí)執(zhí)行一個(gè)新的后臺(tái)校準(zhǔn)的裝置。
14.如權(quán)利要求13所述的裝置，包含用于重復(fù)地確定一個(gè)表示自上次后臺(tái)校準(zhǔn)以來至少一個(gè)操作條件參數(shù)變化的量度的裝置；以及用于如果所述量度超過一個(gè)預(yù)定變化值則執(zhí)行一個(gè)新的后臺(tái)校準(zhǔn)的裝置。
15.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于如果自上次后臺(tái)校準(zhǔn)以來經(jīng)過的時(shí)間超過了一個(gè)預(yù)定時(shí)間值則執(zhí)行一個(gè)新的后臺(tái)校準(zhǔn)的裝置。
16.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于如果至少一個(gè)操作條件參數(shù)接近于它的指定操作范圍的界限，則執(zhí)行連續(xù)的后臺(tái)校準(zhǔn)的裝置。
17.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于如果所述量度很少超過所述的預(yù)定變化值，則沿時(shí)間拉伸后臺(tái)校準(zhǔn)序列的裝置。
18.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于如果所述量度經(jīng)常超過所述的預(yù)定變化值，則沿時(shí)間壓縮后臺(tái)校準(zhǔn)序列的裝置。
19.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于測(cè)定半導(dǎo)體結(jié)溫度的裝置。
20.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于測(cè)定電源電壓的裝置。
21.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于測(cè)定偏置電流的裝置。
22.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于測(cè)定至少一個(gè)描述了A/D轉(zhuǎn)換器的外部環(huán)境的操作條件參數(shù)的裝置。
23.如權(quán)利要求14所述的裝置，包含用于測(cè)定一個(gè)系統(tǒng)級(jí)可檢測(cè)的性能參數(shù)的裝置。
24.如權(quán)利要求23所述的裝置，包含用于測(cè)定誤碼率的裝置。
全文摘要
一個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器校準(zhǔn)裝置，包含一組操作條件參數(shù)傳感器(100)，用于檢測(cè)由參數(shù)x
文檔編號(hào)H03M1/10GK1449598SQ01814868
公開日2003年10月15日 申請(qǐng)日期2001年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2000年8月29日
發(fā)明者B·E·榮松 申請(qǐng)人:艾利森電話股份有限公司