電流差動(dòng)保護(hù)抗ct飽和的方法和系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于電力系統(tǒng)的微機(jī)繼電保護(hù)技術(shù)領(lǐng)域，具體設(shè)及一種電流差動(dòng)保護(hù)抗CT 飽和的方法和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 電力系統(tǒng)發(fā)生短路故障的電流特征是短路電流大，一般為額定電流的20-40倍，非 周期分量大，諧波含量高；由于電流互感器（W下簡(jiǎn)CT)鐵忍磁化特性的非線性和磁滯特性， CT飽和后二次電流波形發(fā)生缺損崎變，當(dāng)電流差動(dòng)保護(hù)兩側(cè)CT飽和程度不一致時(shí)，二次電 流的缺損崎變就會(huì)形成差動(dòng)電流，對(duì)差動(dòng)保護(hù)造成誤動(dòng)的影響，一般的電流差動(dòng)保護(hù)裝置 都采取了抗CT飽和的措施。
[0003] 一般的抗CT飽和的措施有帶比率制動(dòng)的差動(dòng)特性，但是在CT深度飽和時(shí)仍會(huì)出現(xiàn) 誤動(dòng)的情況，另一種是利用CT飽和出現(xiàn)的二次、=次諧波含量超過(guò)一定比例來(lái)閉鎖差動(dòng)保 護(hù)，效果很明顯，但是在區(qū)內(nèi)飽和情況下無(wú)法快速開(kāi)放保護(hù)，延長(zhǎng)保護(hù)動(dòng)作時(shí)間。傳統(tǒng)的基 于故障發(fā)生時(shí)差動(dòng)電流和制動(dòng)電流出現(xiàn)的時(shí)序關(guān)系的方法來(lái)鑒別區(qū)外故障引起的CT飽和， 能在區(qū)外飽和時(shí)投入諧波制動(dòng)的判據(jù)，在區(qū)內(nèi)故障時(shí)開(kāi)放差動(dòng)保護(hù)，但是一般的做法區(qū)外 故障或者負(fù)荷波動(dòng)引起電流突變?cè)黾訒r(shí)都會(huì)閉鎖差動(dòng)保護(hù)3-5S，若此時(shí)發(fā)生區(qū)內(nèi)故障將延 長(zhǎng)保護(hù)動(dòng)作時(shí)間，因此容易引起誤判。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 基于此，有必要針對(duì)降低誤判的電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的方法和系統(tǒng)。
[0005] -種電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的方法，包括：
[0006] 每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間采集被保護(hù)單元M側(cè)的二次電流得到每個(gè)采樣點(diǎn)的電流值，并根 據(jù)所述采樣點(diǎn)的電流值得到采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值；
[0007] 判斷當(dāng)前采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值是否滿足相對(duì)于一周波前的采樣點(diǎn)制動(dòng)電 流半波積分值增加0.2In的第一條件，其中，In為CT二次額定值；W及判斷所述當(dāng)前采樣點(diǎn) 制動(dòng)電流半波積分值是否不滿足帶比率制動(dòng)的差動(dòng)方程的第二條件；
[000引當(dāng)所述第一條件滿足且所述第二條件不滿足時(shí)，則判斷所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì) 數(shù)值是否在第一闊值至第二闊值之間；
[0009] 若在第一闊值至第二闊值之間，則判斷為區(qū)外故障引起的CT飽和，控制綜合諧波 制動(dòng)的抗CT飽和判據(jù)投入運(yùn)行設(shè)定時(shí)間。
[0010] 在其中一種實(shí)施方式中，所述每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間采集被保護(hù)單元M側(cè)的二次電流得 到每個(gè)采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值的步驟包括：
[0011] 每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間采集被保護(hù)單元M側(cè)的二次電流得到每個(gè)采樣點(diǎn)的電流值；
[0012] 根據(jù)所述電流值得到采樣值制動(dòng)電流；
[0013] 對(duì)所述采樣值制動(dòng)電流進(jìn)行差分濾波得到差流瞬時(shí)值，并對(duì)所述差流瞬時(shí)值進(jìn)行 半波積分計(jì)算得到所述采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值。
[0014] 在其中一種實(shí)施方式中，所述判斷所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值是否在第一闊值 至第二闊值之間的步驟之后還包括：
[0015] 若所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值小于所述第一闊值，則判斷為區(qū)內(nèi)故障引起的CT 飽和，控制比率差動(dòng)保護(hù)投入；
[0016] 使所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值歸零。
[0017] 在其中一種實(shí)施方式中，當(dāng)所述第一條件不滿足時(shí)，則判斷所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器 的計(jì)數(shù)值是否大于0;
[0018] 若是，則所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值減1;
[0019] 若否，則使所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值歸零；
[0020] 當(dāng)所述第一條件滿足且所述第二條件滿足時(shí)，所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值加1。
[0021] 在其中一種實(shí)施方式中，所述第一闊值為3,所述第二闊值為24,所述采樣間隔為 0.833msO
[0022] -種電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的系統(tǒng)，包括：
[0023] 采集模塊，用于每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間采集被保護(hù)單元M側(cè)的二次電流得到每個(gè)采樣點(diǎn) 的電流值，并根據(jù)所述采樣點(diǎn)的電流值得到采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值；
[0024] 第一判斷模塊，用于判斷當(dāng)前采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值是否滿足相對(duì)于一周波 前的采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值增加0.2In的第一條件，其中，In為CT二次額定值；
[0025] 第二判斷模塊，用于判斷所述當(dāng)前采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值是否不滿足帶比率 制動(dòng)的差動(dòng)方程的第二條件；
[0026] 第=判斷模塊，用于在所述第一判斷模塊的判斷結(jié)果為滿足且所述第二判斷模塊 的判斷結(jié)果為不滿足時(shí)，判斷所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值是否在第一闊值至第二闊值之 間；
[0027] 控制模塊，用于在所述第=判斷模塊的判斷結(jié)果為在第一闊值至第二闊值之間 時(shí)，判斷為區(qū)外故障引起的CT飽和，控制綜合諧波制動(dòng)的抗CT飽和判據(jù)投入運(yùn)行設(shè)定時(shí)間。
[0028] 在其中一種實(shí)施方式中，所述采集模塊包括：
[0029] 采集單元，用于每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間采集被保護(hù)單元M側(cè)的二次電流得到每個(gè)采樣點(diǎn) 的電流值；
[0030] 計(jì)算單元，用于根據(jù)所述電流值得到采樣值制動(dòng)電流；
[0031] 半波積分計(jì)算單元，用于對(duì)所述采樣值制動(dòng)電流進(jìn)行差分濾波得到差流瞬時(shí)值， 并對(duì)所述差流瞬時(shí)值進(jìn)行半波積分計(jì)算得到采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值。
[0032] 在其中一種實(shí)施方式中，所述控制模塊，還用于在所述第=判斷模塊的判斷模塊 的判斷結(jié)果為所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值小于所述第一闊值時(shí)，判斷為區(qū)內(nèi)故障引起的 CT飽和，控制比率差動(dòng)保護(hù)投入；
[0033] 所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器，用于在控制模塊控制比率差動(dòng)保護(hù)投入后，計(jì)數(shù)值歸零。
[0034] 在其中一種實(shí)施方式中，還包括第四判斷模塊，用于在所述第一判斷模塊的判斷 結(jié)果不滿足時(shí)，判斷所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器的所述計(jì)數(shù)值是否大于0;
[0035] 所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器，還用于在所述第四判斷模塊的判斷結(jié)果為是時(shí)，計(jì)數(shù)值減 1;
[0036] 所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器，還用于在所述第四判斷模塊的判斷結(jié)果為否時(shí)，計(jì)數(shù)值歸 零；
[0037] 所述區(qū)外飽和計(jì)數(shù)器，還用于在所述第一判斷模塊的判斷結(jié)果為滿足且所述第二 判斷模塊的判斷結(jié)果為滿足時(shí)，計(jì)數(shù)值加1。
[0038] 在其中一種實(shí)施方式中，所述第一闊值為3,所述第二闊值為24,所述采樣間隔為 0.833msO
[0039] 該電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的方法，通過(guò)多次判斷，只有當(dāng)比較判斷電流增加和差 動(dòng)方程滿足時(shí)序性且只有在出現(xiàn)差流時(shí)才判斷為區(qū)外故障CT飽和，從而能夠避免其它情況 引起的制動(dòng)電流的變化被誤判斷為區(qū)外故障CT飽和，在故障消失時(shí)能快速返回，因此能更 加準(zhǔn)確的判斷CT飽和閉鎖差動(dòng)，減小誤判的幾率。
【附圖說(shuō)明】
[0040] 圖1為一種實(shí)施方式的電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的方法的流程圖；
[0041] 圖2為一種實(shí)施方式的采集二次電流得到采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值的方法的流 程圖；
[0042] 圖3為與圖1對(duì)應(yīng)的電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的方法的簡(jiǎn)易流程圖。
[0043] 圖4為一種實(shí)施方式的電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的系統(tǒng)的功能模塊示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0044] 如圖1所示，一種電流差動(dòng)保護(hù)抗CT飽和的方法，包括W下步驟：
[0045] S10:每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間采集被保護(hù)單元M側(cè)的二次電流得到每個(gè)采樣點(diǎn)的電流值， 并根據(jù)采樣點(diǎn)的電流值得到采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值。
[0046] 具體的，采集被保護(hù)單元最多M側(cè)的二次電流，經(jīng)采樣回路得到離散化后的電流數(shù) 據(jù)量i，并根據(jù)每個(gè)采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)量得到該采樣點(diǎn)制動(dòng)半波積分值。
[0047] S30:判斷當(dāng)前采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值是否滿足相對(duì)于一周波前的采樣點(diǎn)制 動(dòng)電流半波積分值增加0.2 In的第一條件。其中，In為CT二次額定值。
[0048] 該判斷用于判斷當(dāng)前采樣點(diǎn)的制動(dòng)電流相對(duì)于一周波前的采樣點(diǎn)的制動(dòng)電流是 否增加。具體的，當(dāng)前采樣點(diǎn)k的制動(dòng)電流半波積分為RKk),判斷當(dāng)前采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波 積分值相對(duì)于一周波W前的采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值是否增加〇.2In，即Ri化)〉(Ri化-2T)+0.2In)，其中，k指第k個(gè)采樣點(diǎn)，T為采樣周期。
[0049] 步驟S50:判斷當(dāng)前采樣點(diǎn)制動(dòng)電流半波積分值是否不滿足帶比率制動(dòng)的差動(dòng)方 程的第二條件，即01化)<(化化)郵+136*)，其中，01化)為采樣點(diǎn)4的采樣值差動(dòng)電流，1?1化