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一種基于MOS管控制的過零通斷電路的制作方法

文檔序號:40469264發(fā)布日期:2024-12-27 09:35閱讀:10來源:國知局
一種基于MOS管控制的過零通斷電路的制作方法

本技術(shù)涉及過零通斷電路,具體涉及一種基于mos管控制的過零通斷電路。


背景技術(shù):

1、目前交流配電系統(tǒng)中大多使用接觸器或斷路器控制輸出的接通或關(guān)斷,因為這種方式具有的優(yōu)勢是:接觸器能夠通過弱電信號控制強電的通斷,適用于需要頻繁操作的場合;斷路器具有自動斷路功能,可以提供過載、短路和欠壓保護;維護簡便且成本相對較低。然而,該方式仍存在以下缺陷:

2、1、無法避免電弧產(chǎn)生:在帶載通斷時容易產(chǎn)生電弧,可能導致觸點燒蝕甚至熔合,影響設備的壽命和可靠性。

3、2、對電網(wǎng)和負載的沖擊:傳統(tǒng)的接觸器和斷路器在分斷電路時可能引起電流突變,從而對電網(wǎng)和負載造成沖擊。

4、3、無法實現(xiàn)精確的過零點控制:由于接觸器和斷路器通常不具備檢測和控制電路在電壓過零點進行通斷的能力,因此無法保證在最理想的時間點操作,這可能會增加設備的磨損并降低系統(tǒng)的整體效率。

5、由此可見,如何實現(xiàn)一種交流配電系統(tǒng)中輸出的過零通斷電路至關(guān)重要。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為了解決上述技術(shù)問題,本實用新型提供了一種基于mos管控制的過零通斷電路,包括:

2、過零檢測電路,用于檢測追蹤交流電的正半波和負半波交變過零點的位置和時刻,包括光耦e1,所述光耦e1的輸入端連接有整流濾波模塊,所述光耦e1的輸出端連接有輸出濾波模塊;

3、驅(qū)動輸出電路,用于所述過零檢測電路檢測到零點時驅(qū)動所述驅(qū)動輸出電路中的mos開關(guān)及時響應,所述過零檢測電路與所述驅(qū)動輸出電路連接,所述mos開關(guān)包括mos管q1和mos管q2,且所述mos管q1的源極與所述mos管q2的源極并聯(lián)連接,用于正、負半周導通。

4、進一步的,所述整流濾波模塊包括電容c9、電阻r15以及電阻r16;所述光耦e1的輸入端正極連接有所述電容c9、電阻r15;所述光耦e1的輸入端負極連接有所述電阻r16。

5、進一步的,所述輸出濾波模塊包括電容c10、電容c11以及電阻r14;所述光耦e1的輸出端正極與負極之間并聯(lián)有所述電容c10和電容c11,所述電阻r14一端連接3.3v電源、另一端與所述光耦e1的輸出端正極連接。

6、進一步的,所述驅(qū)動輸出電路還包括mos管驅(qū)動芯片n1與mos管驅(qū)動芯片n2,所述mos管驅(qū)動芯片n1的out引腳與所述mos管q1的柵極連接;所述mos管驅(qū)動芯片n2的out引腳與所述mos管q2的柵極連接。

7、進一步的,所述mos管驅(qū)動芯片n1與mos管驅(qū)動芯片n2的型號均為hsa6880。

8、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型具有如下有益效果:

9、與傳統(tǒng)使用接觸器或斷路器控制輸出的接通或關(guān)斷相比較,本實用新型的輸出通斷均在過零點進行,對負載和電網(wǎng)沖擊?。煌ㄟ^更換合適的mos管,可適用于用于不同功率負載;同時無機械觸點,使用壽命長,可靠性高。



技術(shù)特征:

1.一種基于mos管控制的過零通斷電路,其特征在于,包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于mos管控制的過零通斷電路,其特征在于,所述整流濾波模塊包括電容c9、電阻r15以及電阻r16;所述光耦e1的輸入端正極連接有所述電容c9、電阻r15;所述光耦e1的輸入端負極連接有所述電阻r16。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于mos管控制的過零通斷電路,其特征在于,所述輸出濾波模塊包括電容c10、電容c11以及電阻r14;所述光耦e1的輸出端正極與負極之間并聯(lián)有所述電容c10和電容c11,所述電阻r14一端連接3.3v電源、另一端與所述光耦e1的輸出端正極連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于mos管控制的過零通斷電路,其特征在于,所述驅(qū)動輸出電路還包括mos管驅(qū)動芯片n1與mos管驅(qū)動芯片n2,所述mos管驅(qū)動芯片n1的out引腳與所述mos管q1的柵極連接;所述mos管驅(qū)動芯片n2的out引腳與所述mos管q2的柵極連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于mos管控制的過零通斷電路,其特征在于,所述mos管驅(qū)動芯片n1與mos管驅(qū)動芯片n2的型號均為hsa6880。


技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開一種基于MOS管控制的過零通斷電路,包括過零檢測電路,用于檢測追蹤交流電的正半波和負半波交變過零點的位置和時刻,包括光耦E1,所述光耦E1的輸入端連接有整流濾波模塊,所述光耦E1的輸出端連接有輸出濾波模塊;驅(qū)動輸出電路,用于所述過零檢測電路檢測到零點時驅(qū)動所述驅(qū)動輸出電路中的MOS開關(guān)及時響應,所述過零檢測電路與所述驅(qū)動輸出電路連接,所述MOS開關(guān)包括MOS管Q1和MOS管Q2,且所述MOS管Q1的源極與所述MOS管Q2的源極并聯(lián)連接,用于正、負半周導通。本技術(shù)的輸出通斷均在過零點進行,對負載和電網(wǎng)沖擊?。煌ㄟ^更換合適的MOS管,可適用于用于不同功率負載;同時無機械觸點,使用壽命長,可靠性高。

技術(shù)研發(fā)人員:盧文茹,侯效東,錢強,劉東,張紅
受保護的技術(shù)使用者:合肥同智機電控制技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日:20240329
技術(shù)公布日:2024/12/26
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