本申請(qǐng)涉及電源電池技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電池保護(hù)電路及鋰電池。
背景技術(shù):
圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)中鋰電池的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖所示,鋰電池通常由電芯和電池保護(hù)電路組成,電池保護(hù)電路包括電池保護(hù)芯片(ic)和兩個(gè)功率mos器件(md和mc)。每個(gè)電池保護(hù)芯片包含過(guò)充電電壓檢測(cè)電路、過(guò)放電電壓檢測(cè)電路、過(guò)充電電流檢測(cè)電路、過(guò)放電電流檢測(cè)電路、過(guò)流恢復(fù)電路和控制電路,鋰電池連接負(fù)載或充電器后未出現(xiàn)異常狀態(tài)時(shí),兩個(gè)功率mos管導(dǎo)通、鋰電池正常進(jìn)行充放電,功率mos導(dǎo)通存在導(dǎo)通電阻,所以當(dāng)bp+和bp-之間存在負(fù)載時(shí)放電電流會(huì)在mos管上形成壓降,放電電流越大,mos管上的電壓降越大,即節(jié)點(diǎn)vm相對(duì)于節(jié)點(diǎn)vss的電壓差越大。過(guò)放電電流檢測(cè)電路通過(guò)檢測(cè)vm高于vss的電壓來(lái)檢測(cè)是否出現(xiàn)放電過(guò)流情況,當(dāng)檢測(cè)到放電電流過(guò)大時(shí),芯片會(huì)進(jìn)入放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)(edi),控制電路關(guān)閉功率管md來(lái)禁止放電。
在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)下,為了使電池在負(fù)載變輕時(shí)能夠恢復(fù)到正常放電狀態(tài),在保護(hù)電路中還有一個(gè)過(guò)流恢復(fù)電路。因?yàn)楫?dāng)處于放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)時(shí),功率管md被關(guān)斷,bp-節(jié)點(diǎn)的電壓會(huì)被負(fù)載拉高到接近bp+的電壓,相應(yīng)的保護(hù)芯片vm節(jié)點(diǎn)的電壓也同樣會(huì)很高。如果沒(méi)有過(guò)流恢復(fù)電路,即使負(fù)載變輕,vm節(jié)點(diǎn)仍然處在很高的電壓,過(guò)放電電流檢測(cè)電路依然會(huì)判斷當(dāng)前處于放電過(guò)流狀態(tài),使整個(gè)系統(tǒng)死鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài),無(wú)法恢復(fù)。所以需要引入過(guò)流恢復(fù)電路,其工作原理為:在進(jìn)入放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)后,其會(huì)開啟在vm到vss之間的下拉通路,試圖拉低vm,如果此時(shí)負(fù)載依然較大,則vm電壓仍然會(huì)大于放電過(guò)流保護(hù)閾值,一旦負(fù)載變輕,vm會(huì)被拉低到小于放電過(guò)流保護(hù)閾值,這樣系統(tǒng)就可以重新進(jìn)入正常放電狀態(tài)。
有些特定系統(tǒng)應(yīng)用中,電池保護(hù)芯片和功率mos管不是放在電芯里,而是放在系統(tǒng)應(yīng)用電路板上,這樣安裝電芯時(shí),系統(tǒng)電路板上電,電池保護(hù)芯片相當(dāng)于在有負(fù)載的情況下上電,有可能出現(xiàn)上電就進(jìn)入放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài),而由于有負(fù)載一直連接,電池保護(hù)芯片中過(guò)流恢復(fù)電路的下拉能力較弱,即使負(fù)載不是很大,也不能把vm節(jié)點(diǎn)下拉到放電過(guò)流保護(hù)閾值以下,從而芯片鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài),不能正常放電,只能通過(guò)加充電器激活系統(tǒng)。
現(xiàn)有技術(shù)不足在于:
電池保護(hù)芯片和功率mos管被置于系統(tǒng)應(yīng)用電路板上時(shí),電池保護(hù)芯片帶負(fù)載上電死鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本申請(qǐng)實(shí)施例提出了一種電池保護(hù)電路及鋰電池,以解決現(xiàn)有技術(shù)中電池保護(hù)芯片帶負(fù)載上電死鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)的技術(shù)問(wèn)題。
第一個(gè)方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電池保護(hù)電路,包括:過(guò)放電電壓檢測(cè)電路、過(guò)放電電流檢測(cè)電路、控制電路、過(guò)流恢復(fù)電路和上電復(fù)位電路,其中,所述過(guò)放電電壓檢測(cè)電路、過(guò)放電電流檢測(cè)電路均與所述控制電路相連,所述過(guò)放電電壓檢測(cè)電路和所述上電復(fù)位電路相連并連接至第一供電端vcc,所述過(guò)放電電流檢測(cè)電路和所述過(guò)流恢復(fù)電路相連并連接至電壓檢測(cè)端vm,
檢測(cè)到上電復(fù)位時(shí),所述上電復(fù)位電路輸出有效信號(hào),所述有效信號(hào)用于強(qiáng)制所述電池保護(hù)電路處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài);
檢測(cè)到第一供電端vcc的電壓達(dá)到預(yù)設(shè)第一電壓值時(shí),所述上電復(fù)位電路輸出無(wú)效信號(hào)。
第二個(gè)方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種鋰電池,包括上述電池保護(hù)電路以及電芯,所述電芯的第一端與所述電池保護(hù)電路的第一供電端vcc相連、第二端與所述電池保護(hù)電路的第二供電端vss相連,與所述控制電路的第一輸出端相連的第一功率mos管md、與所述控制電路的第二輸出端相連的第二功率mos管mc串聯(lián)并連接至所述電芯的第二端。
有益效果如下:
本申請(qǐng)實(shí)施例所提供的電池保護(hù)電路以及鋰電池,通過(guò)增加上電復(fù)位電路,當(dāng)電池保護(hù)芯片上電時(shí),強(qiáng)制芯片從過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)恢復(fù)到正常放電狀態(tài),防止帶負(fù)載上電死鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)的問(wèn)題。
附圖說(shuō)明
下面將參照附圖描述本申請(qǐng)的具體實(shí)施例,其中:
圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)中鋰電池的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2示出了本申請(qǐng)實(shí)施例中電池保護(hù)電路的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3示出了本申請(qǐng)實(shí)施例中鋰電池的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本申請(qǐng)的技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖對(duì)本申請(qǐng)的示例性實(shí)施例進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明,顯然,所描述的實(shí)施例僅是本申請(qǐng)的一部分實(shí)施例,而不是所有實(shí)施例的窮舉。并且在不沖突的情況下,本說(shuō)明中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以互相結(jié)合。
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本申請(qǐng)實(shí)施例提出了一種電池保護(hù)電路及鋰電池,下面進(jìn)行說(shuō)明。
圖2示出了本申請(qǐng)實(shí)施例中電池保護(hù)電路的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖所示,所述電池保護(hù)電路,其特征在于,包括:過(guò)放電電壓檢測(cè)電路、過(guò)放電電流檢測(cè)電路、控制電路、過(guò)流恢復(fù)電路和上電復(fù)位電路,其中,所述過(guò)放電電壓檢測(cè)電路、過(guò)放電電流檢測(cè)電路均與所述控制電路相連,所述過(guò)放電電壓檢測(cè)電路和所述上電復(fù)位電路相連并連接至第一供電端vcc,所述過(guò)放電電流檢測(cè)電路和所述過(guò)流恢復(fù)電路相連并連接至電壓檢測(cè)端vm,其中,
檢測(cè)到上電復(fù)位時(shí),所述上電復(fù)位電路輸出有效信號(hào),所述有效信號(hào)用于強(qiáng)制所述電池保護(hù)電路處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài);
檢測(cè)到第一供電端vcc的電壓達(dá)到預(yù)設(shè)第一電壓值時(shí),所述上電復(fù)位電路輸出無(wú)效信號(hào)。
具體實(shí)施時(shí),所述有效信號(hào)可以為高電平、所述無(wú)效信號(hào)可以為低電平;或者,所述有效信號(hào)可以為低電平、所述無(wú)效信號(hào)可以為高電平。
在所述上電復(fù)位電路輸出無(wú)效信號(hào)時(shí),所述上電復(fù)位電路不再?gòu)?qiáng)制所述電池保護(hù)電路處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)。
在具體實(shí)施時(shí),通常情況下,雖然此時(shí)上電復(fù)位電路不再?gòu)?qiáng)制所述電池保護(hù)電路處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài),但此時(shí)由于vcc的電壓還沒(méi)有達(dá)到過(guò)放電恢復(fù)電壓值,上電復(fù)位電路可能依然會(huì)處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)。
實(shí)施中,當(dāng)?shù)谝还╇姸藇cc的電壓高于預(yù)設(shè)的過(guò)放電恢復(fù)電壓vodr且持續(xù)時(shí)間超過(guò)預(yù)設(shè)的過(guò)放電恢復(fù)延遲時(shí)間todr時(shí),所述電池保護(hù)電路恢復(fù)正常工作狀態(tài);其中,所述預(yù)設(shè)的過(guò)放電恢復(fù)電壓vodr高于所述預(yù)設(shè)第一電壓值。
實(shí)施中,所述電池保護(hù)電路可以進(jìn)一步包括:過(guò)充電電壓檢測(cè)電路和過(guò)充電電流檢測(cè)電路,其中,所述過(guò)充電電壓檢測(cè)電路一端與上電復(fù)位電路相連并連接至第一供電端vcc、另一端與所述控制電路相連;所述過(guò)充電電流檢測(cè)電路一端與所述過(guò)流恢復(fù)電路相連并連接至電壓檢測(cè)端vm、另一端與所述控制電路相連。
實(shí)施中,所述電池保護(hù)電路強(qiáng)制為過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)時(shí),所述控制電路輸出控制信號(hào)控制第一功率mos管md斷開;所述電池保護(hù)電路恢復(fù)正常工作狀態(tài)時(shí),所述控制電路輸出控制信號(hào)控制第一功率mos管md導(dǎo)通。
實(shí)施中,所述電池保護(hù)電路處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)時(shí),所述電壓檢測(cè)端vm的電壓接近于電池正極電壓,所述電池保護(hù)電路處于低功耗模式。
實(shí)施中,所述電池保護(hù)電路處于低功耗模式時(shí),所述上電復(fù)位電路實(shí)時(shí)檢測(cè)所述第一供電端vcc的電壓。
實(shí)施中,所述電池保護(hù)電路位于系統(tǒng)應(yīng)用電路板上。
由于電池保護(hù)芯片和功率mos管如果是放在系統(tǒng)應(yīng)用電路板上的,系統(tǒng)電路板上電,電池保護(hù)芯片相當(dāng)于在有負(fù)載的情況下上電,采用現(xiàn)有技術(shù)的話所述電池保護(hù)芯片有可能出現(xiàn)上電就進(jìn)入放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài),而由于有負(fù)載一直連接,電池保護(hù)芯片中過(guò)流恢復(fù)電路的下拉能力較弱,芯片鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài),不能正常放電;而采用本申請(qǐng)所提供的方案,由于增加了上電復(fù)位電路,在檢測(cè)到上電復(fù)位時(shí)上電復(fù)位電路輸出有效信號(hào)用于強(qiáng)制所述電池保護(hù)電路處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài),從而避免芯片鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)。
圖3示出了本申請(qǐng)實(shí)施例中鋰電池的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖所示,所述鋰電池包括上述電池保護(hù)電路以及電芯,所述電芯的第一端與所述電池保護(hù)電路的第一供電端vcc相連、第二端與所述電池保護(hù)電路的第二供電端vss相連,與所述控制電路的第一輸出端相連的第一功率mos管md、與所述控制電路的第二輸出端相連的第二功率mos管mc串聯(lián)并連接至所述電芯的第二端。
實(shí)施中,所述第一功率mos管md的柵極與所述控制電路相連、源極與所述電芯的第二端相連、漏極與所述第二功率mos管mc的漏極相連,所述第二功率mos管mc的柵極與所述控制電路相連、源極與所述電壓檢測(cè)端vm相連。
實(shí)施中,所述電芯的第一端以及所述所述第二功率mos管mc的源極分別連接負(fù)載。
本申請(qǐng)實(shí)施例在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上增加了上電復(fù)位電路,從檢測(cè)到上電復(fù)位開始、到電池保護(hù)芯片(電池保護(hù)ic)的電源上升到預(yù)設(shè)電壓的過(guò)程中,上電復(fù)位電路輸出信號(hào)從有效變?yōu)闊o(wú)效。
當(dāng)上電復(fù)位信號(hào)有效時(shí),將電池保護(hù)芯片強(qiáng)制在過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài),芯片禁止放電,vm會(huì)被拉高到接近于bp+電壓,此時(shí),芯片會(huì)處于低功耗模式。同時(shí),本申請(qǐng)實(shí)施例將電池保護(hù)芯片設(shè)置為低功耗模式下可自恢復(fù)(即,芯片在低功耗模式下,仍然檢測(cè)電芯電壓),隨著電池保護(hù)芯片的電源電壓上升,上電復(fù)位信號(hào)會(huì)變?yōu)闊o(wú)效,不再?gòu)?qiáng)制芯片處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài),一旦保護(hù)芯片電源電壓高于過(guò)放電恢復(fù)電壓(vodr),并且持續(xù)時(shí)間大于過(guò)放電恢復(fù)延遲時(shí)間(todr),則從低功耗狀態(tài)恢復(fù)到正常狀態(tài),將功率mos管md打開,這樣,vm會(huì)被功率mos管迅速拉低,而此時(shí)電池保護(hù)芯片的電源也處于正常工作電壓狀態(tài),從而可以正常驅(qū)動(dòng)負(fù)載,避免了系統(tǒng)死鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)的問(wèn)題。
其中,本申請(qǐng)實(shí)施例所述的上電復(fù)位電路可以有多種實(shí)現(xiàn)方式,只要能夠保證電源電壓在低和高時(shí)輸出兩種狀態(tài)、同時(shí)使電池保護(hù)芯片初始上電時(shí)處于過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)即可,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)實(shí)際需要自行設(shè)計(jì),本申請(qǐng)對(duì)上電復(fù)位電路的具體結(jié)構(gòu)不做限制。
本申請(qǐng)實(shí)施例所提供的電池保護(hù)電路,通過(guò)增加上電復(fù)位電路,當(dāng)電池保護(hù)芯片上電時(shí),強(qiáng)制芯片從過(guò)放電電壓保護(hù)狀態(tài)恢復(fù)到正常放電狀態(tài),防止帶負(fù)載上電死鎖在放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)的問(wèn)題。
盡管已描述了本申請(qǐng)的優(yōu)選實(shí)施例,但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念,則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以,所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本申請(qǐng)范圍的所有變更和修改。