相關(guān)申請的交叉引用

本申請是于2008年12月4日提交的未決的美國專利申請第12/314115號的部分繼續(xù)申請，其公開內(nèi)容通過引用并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光伏板的生產(chǎn)測試，并且更具體地涉及包括集成電路的光伏板的測試。

相關(guān)技術(shù)的描述

使用閃光測試儀測量傳統(tǒng)的光伏板的電流電壓(IV)特性。閃光測試儀測量光伏板在由閃光燈發(fā)出的通常在1毫秒內(nèi)的單一的閃光持續(xù)時間期間的電流特性。測量過程基于在外部實驗室已單獨校準的基準光伏板的已知特性。外部實驗室使用AM 1.5G頻譜已經(jīng)精確地確定了對應(yīng)于標準測試條件(STC)的短路電流。AM1.5G接近正午在地球表面的海平面晴空時(1000W/m²)的太陽光的標準光譜?！癆M”代表“空氣質(zhì)量”輻射?！癎”代表“全部”，即包括直接輻射和散射輻射。數(shù)字“1.5”表示，通過大氣層的光路徑的長度是當(dāng)太陽在頭頂正上方時的較短路徑的1.5倍。在閃光測試期間，光伏板上方的輻照度的測試均勻性通過閃光燈和光伏板之間的6米長的距離獲得。

現(xiàn)在參考圖2，其示出了傳統(tǒng)的閃光測試系統(tǒng)7。閃光測試系統(tǒng)7包括放置在封閉不透光的內(nèi)側(cè)被涂成黑色的艙19里的光伏板10、閃光測試儀17和閃光燈16。另外，黑窗簾盡量減少從艙的內(nèi)表面朝向光伏板10反射的強度。光伏板10的區(qū)域上方的輻照度的均勻性是通過在測量平面的不同位置放置輻照度傳感器來測量的。在閃光測試過程中，閃光測試儀17被連接到光伏板10的輸出端。測量過程開始于基準光伏板的閃光測試。在對應(yīng)于AM1.5G的輻照度期間測量短路電流。然后基準光伏板被交換用于測試光伏板。在隨后的閃光期間，輻照度傳感器在與基準光伏板的測量期間相同的輻照度觸發(fā)電流-電壓(IV)測量過程。

傳統(tǒng)的光伏板典型地串聯(lián)連接在一起來形成串且串可任意并聯(lián)連接。連接的光伏板的組合輸出通常被輸入到逆變器，其將生成的直流電壓轉(zhuǎn)換成電網(wǎng)的交流電流。最近，光伏板已經(jīng)被設(shè)計或建議具有集成電路。

現(xiàn)在參考圖1，其示意性圖示了電路或電子模塊12與光伏板10集成的光伏系統(tǒng)14。本文所用的術(shù)語“電子模塊”是指集成在光伏板的輸出端的電子電路?！半娮幽K”本身可以是現(xiàn)有技術(shù)或不是現(xiàn)有技術(shù)。代表性參考文獻(Cascade DC-DC Converter Connection of Photovoltaic Modules,G.R.Walker和P.C.Sernia,Power Electronics Specialists Conference,2002.(PESC02),Vol.1IEEE,Cairns,Australia,pp.24-29)建議采用與光伏板集成的DC-DC轉(zhuǎn)換器。與光伏板集成的DC-DC轉(zhuǎn)換器是“電子模塊”的一個例子?！半娮幽K”的其他例子包括，但不限于，DC-AC逆變器及其他功率調(diào)節(jié)電子器件以及感測和監(jiān)測電子器件。

本發(fā)明的另一個參考文獻描述了包括與電子模塊12集成的光伏板10的光伏系統(tǒng)14的一個例子，該參考文獻是題為“Distributed Power Harvesting Systems Using DC Power Sources”的US20080143188。

本文的“電子模塊”可具有電功能，例如，用于提高光伏系統(tǒng)14的電轉(zhuǎn)換效率。另外，本文所用的“電子模塊”可以具有與電氣性能無關(guān)的另一功能。例如在題為“Theft detection and Prevention in a Power Generation System”的共同未決的專利申請中，電子模塊12的功能是保護光伏系統(tǒng)12不被盜竊。

由于標準的閃光測試通常不能在與電子模塊12集成后在板10上執(zhí)行，例如因為模塊12的存在影響標準試驗的結(jié)果，因此將有利的是，具有用于光伏系統(tǒng)的閃光測試的系統(tǒng)和方法。

本文所用的術(shù)語“光伏板”包括以下項目中的任何一個：薄膜和/或體材料和/或不同材料的一個或多個太陽能電池、多個半導(dǎo)體結(jié)的電池，以不同方式連接的太陽能電池(例如，串聯(lián)、并聯(lián)、串聯(lián)/并聯(lián))。

發(fā)明概述

根據(jù)本發(fā)明的方面，提供了一種用于測試連接到電子模塊的光伏板的方法。電子模塊包括附接到光伏板的輸入端和電力輸出端。該方法激活電子模塊的旁路。該旁路提供在電子模塊的輸入端和輸出端之間的低阻抗路徑。電流被注入到電子模塊，由此可以補償在測試過程中電子模塊的存在。所述電流可以通過測量電子模塊的電路參數(shù)被預(yù)先確定。該電路參數(shù)可以是阻抗、電感、電阻或電容。電子模塊優(yōu)選被永久性附接到光伏板。旁路的激活可通過在外部施加電磁場或磁場來實現(xiàn)。電子模塊可以是DC到DC轉(zhuǎn)換器、DC到AC轉(zhuǎn)換器或最大功率點跟蹤轉(zhuǎn)換器。電子模塊執(zhí)行最大功率點跟蹤，以最大化在電子模塊的輸入端或輸出端的功率。旁路可包括簧片開關(guān)、簧片繼電器開關(guān)、固態(tài)開關(guān)或熔斷器。旁路可包括熔斷器，其具有直接跨接熔斷器的電源，其中電流從電源流過，通過燒斷熔斷器來去激活旁路。旁路通?？砂ü虘B(tài)開關(guān)。該旁路可以還包括熔斷器和并聯(lián)連接的被布置在光伏板和電子模塊之間并與光伏板和電子模塊并聯(lián)連接的開關(guān)。電源單元通?？缃釉陔娮幽K的輸出端，且關(guān)閉開關(guān)提供了通過熔斷器的低阻抗路徑，從而燒斷熔斷器。并聯(lián)連接的開關(guān)可以是硅控整流器、簧片開關(guān)、固態(tài)開關(guān)、或簧片繼電器。燒斷熔斷器通常去激活電子模塊的旁路。去激活旁路優(yōu)選通過與電子模塊進行通信來執(zhí)行。

在一種實施方案中，所述電子模塊選擇性地執(zhí)行下列之一：DC到DC轉(zhuǎn)換、DC到AC轉(zhuǎn)換或最大功率點跟蹤。

在一種實施方案中，所述旁路包括熔斷器，所述方法還包括以下步驟：將電源直接跨接在所述熔斷器兩端，其中，從所述電源流過的電流通過燒斷所述熔斷器來去激活所述旁路。

在一種實施方案中，所述旁路包括固態(tài)開關(guān)。

在一種實施方案中，所述的方法還包括以下步驟：去激活所述電子模塊的所述旁路。

根據(jù)本發(fā)明的方面，提供了一種用于測試光伏板系統(tǒng)的裝置，光伏板系統(tǒng)包括連接到電子模塊的光伏板。電子模塊包括附接到光伏板的至少一個輸入端和至少一個電力輸出端。該裝置包括可操作地附接到電子模塊的旁路。旁路提供在電子模塊的至少一個電力輸出端和至少一個輸入端之間的低阻抗路徑。電流注入器可以可操作地附接到電子模塊。電路參數(shù)分析儀可操作地附接到電子模塊。電路參數(shù)分析儀適于測量電子模塊的電路參數(shù)。處理器可以可操作地附接到電路參數(shù)分析儀。該處理器優(yōu)選被配置為基于電路參數(shù)對可編程電流注入器進行編程。通過測量電子模塊的電路參數(shù)可以確定該電流。該電路參數(shù)可以是阻抗、電感、電阻或電容。

該旁路可以還包括旁路部件，它具有至少一個開關(guān)和至少一個熔斷器。旁路部件通常連接電子模塊的至少一個電力輸出端和至少一個輸入端。至少一個開關(guān)可以是磁激活的簧片開關(guān)，電磁激活的簧片繼電器開關(guān)或固態(tài)開關(guān)。電子模塊通常執(zhí)行最大功率點跟蹤。電子模塊可以執(zhí)行：DC到DC轉(zhuǎn)換或DC到AC逆變。

根據(jù)本發(fā)明的又一個方面，提供了一種用于測試光伏板系統(tǒng)時使用的裝置的方法。光伏板系統(tǒng)包括連接到電子模塊的光伏板。電子模塊包括附接到光伏板的至少一個輸入端和至少一個電力輸出端。裝置通常包括可操作地附接到至少一個電力輸出端和測試模塊的電流注入器，可操作地附接到電子模塊的電路參數(shù)分析儀以及可操作地附接到電路參數(shù)分析儀的處理器。該方法通常將旁路附接到電子模塊。旁路優(yōu)選提供在電子模塊的至少一個電力輸出端和至少一個輸入端之間的低阻抗路徑。在測試該板之前，至少一個電力輸出端的電路參數(shù)被測量，然后使用基于測量的參數(shù)對電流注入器編程。注入電流與觸發(fā)測試模塊通常同時進行，由此可以補償在觸發(fā)過程中電子模塊的存在。

上述和/或其它方面從以下的詳細描述并結(jié)合附圖進行考慮時，將變得明顯。

附圖的簡要描述

本文僅通過示例的方式參照附圖描述了本發(fā)明，其中：

圖1示出包括光伏板和電子模塊的發(fā)電系統(tǒng)。

圖2示出了現(xiàn)有技術(shù)的閃光測試模塊。

圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的特征的應(yīng)用旁路的圖1和2中所示的電子模塊的一般等效電路。

圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的光伏板的閃光測試方法的流程圖。

圖5是根據(jù)本發(fā)明的實施例的連接到光伏板和測試模塊的電子模塊的激活的旁路電路。

圖6是根據(jù)本發(fā)明的實施例的連接到光伏板的電子模塊的去激活的旁路電路。

圖7是根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的連接到光伏板和測試模塊的電子模塊的激活的旁路電路。

圖8是根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的連接到光伏板的電子模塊的去激活的旁路電路。

圖8a是根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的連接到光伏板的電子模塊的使用熔斷器和電源的去激活的旁路電路。

圖8b是根據(jù)本發(fā)明的又一實施例的連接到光伏板的電子模塊的使用熔斷器、電源和硅控整流器(SCR)的去激活的旁路電路。

圖9是根據(jù)本發(fā)明的又一實施例的連接到光伏板和測試模塊的電子模塊的激活的旁路電路。

圖10是根據(jù)本發(fā)明的又一實施例的連接到光伏板的電子模塊的去激活的旁路電路。

圖11示出根據(jù)本發(fā)明的特征的一旦閃光測試已被執(zhí)行后去激活旁路的另一種方式。

圖12a示出了根據(jù)本發(fā)明的特征的連接到補償單元的模塊。

圖12b示出了根據(jù)本發(fā)明的特征的圖12a所示的補償單元的進一步的細節(jié)。

圖12c示出了根據(jù)本發(fā)明的特征的模擬電路。

圖12d示出根據(jù)本發(fā)明的特征的示于圖12c中的測試電路的模擬結(jié)果。

圖12e示出根據(jù)本發(fā)明的特征的另一模擬電路。

圖12f示出根據(jù)本發(fā)明的特征的示于圖12e的測試電路的模擬結(jié)果。

圖12g示出根據(jù)本發(fā)明的特征的模擬電路。

圖12h示出根據(jù)本發(fā)明的特征的測試電路的補償?shù)哪M結(jié)果。

圖12i示出根據(jù)本發(fā)明的特征的方法。

圖12j示出根據(jù)本發(fā)明的特征的方法。

上述和/或其它方面從以下的詳細描述并結(jié)合附圖進行考慮時，將變得明顯。

詳細描述

現(xiàn)在將參照詳細說明本發(fā)明的實施例，其示例在附圖中示出，其中相似的標號指相似的元件。通過參照附圖，在下面對實施例進行描述以解釋本發(fā)明。

現(xiàn)在參考圖1，其示出包括連接到電子模塊12的光伏板10的發(fā)電系統(tǒng)14。在本發(fā)明的一些實施例中，電子模塊12被“永久性附接”到光伏板10。在本發(fā)明的其它實施例中，電子模塊與光伏板10集成，但并不“永久性附接”到光伏板10。本文中使用的術(shù)語“永久性附接”是指用于附接的方法或裝置，使得電子模塊12從光伏板10的物理去除或其嘗試會造成例如電子模塊12和/或板10損壞。現(xiàn)有技術(shù)中的用于“永久性附接”的任何機構(gòu)可應(yīng)用于本發(fā)明的不同實施例。當(dāng)電子模塊12被永久性附接到光伏板10時，在試圖從光伏板10移除電子模塊12時，光伏板10的操作停止或它們的連接斷開。用于永久性附接的一種這樣的機構(gòu)使用熱固性粘合劑，如環(huán)氧基樹脂和固化劑。

參照圖3，其更詳細地示出電子模塊12的一個例子。電子模塊12連接光伏板10和測試模塊20。阻抗Z1是電子模塊12的串聯(lián)等效阻抗。阻抗Z2是電子模塊12的等效輸入阻抗。阻抗Z3是電子模塊12的等效輸出阻抗。在光伏板10的輸出端和測試模塊20的輸入端之間應(yīng)用旁路鏈路40時，消除了在閃光測試期間串聯(lián)等效阻抗Z1的影響。在應(yīng)用旁路鏈路40后，阻抗Z2和Z3并聯(lián)，產(chǎn)生了并聯(lián)阻抗Z_T，如式1給出的。

阻抗Z2和Z3的值較高，Z_T將對光伏板10的閃光測試的影響不大。

參考圖4、圖5和圖6，其示出本發(fā)明的實施例。圖4示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的用于通過旁路電子模塊12來閃光測試光伏板10的方法的流程圖。圖5和圖6是根據(jù)本發(fā)明的實施例的發(fā)電系統(tǒng)14的對應(yīng)的系統(tǒng)圖。圖5示出在旁路40被激活時的旁路40。參照圖5，通過磁體52的磁場激活的單刀單擲(SPST)開關(guān)50在光伏板10的閃光測試期間連接光伏板10的輸出端和測試模塊20的輸入端以繞過電子模塊12。在本發(fā)明的一個實施例中，SPST開關(guān)50是簧片開關(guān)(例如，零件號：HYR 203 1-1，美國NV的Aleph美國公司)或簧片繼電器或固態(tài)開關(guān)。通過施加磁場52到SPST開關(guān)50使SPST開關(guān)50關(guān)閉，如圖5所示，電子模塊12的旁路40被激活(步驟201)。使用閃光測試模塊20進行閃光測試(步驟203)。在光伏板10的閃光測試后，通過去除SPST開關(guān)50的磁場52，電子模塊12的旁路40被去激活(步驟205)。圖6示出光伏板10連接到電子模塊12的輸入端，SPST開關(guān)50旁路被去激活(步驟205)。

參考圖7和圖8，其示出本發(fā)明的另一實施例。圖7示出旁路40。參照圖7，熔斷器50a在光伏板10的閃光測試期間連接光伏板10的輸出端和測試模塊20的輸入端以繞過電子模塊12。再次參照圖4，通過熔斷器50a在未燒斷狀態(tài)(如圖7所示)和SPST開關(guān)5b開路，電子模塊12的旁路40被激活(步驟201)。在本發(fā)明的一個實施例中，SPST開關(guān)5b是簧片開關(guān)(例如，零件號：HYR 203 1-1，美國NV的Aleph美國公司)或簧片繼電器或固態(tài)開關(guān)。使用閃光測試模塊20進行閃光測試(步驟203)。在光伏板10的閃爍測試后，電子模塊12的旁路40被去激活(步驟205)。圖8示出了旁路40被去激活(步驟205)。圖8示出了連接到電子模塊12的輸入端的光伏板10和跨接在電子模塊12的輸出端的電源單元(PSU)13。由于磁場52的應(yīng)用，SPST開關(guān)5b處于閉合位置。

現(xiàn)在參照圖11，其示出根據(jù)本發(fā)明的特征的在一旦執(zhí)行閃光測試(步驟203)后去激活旁路40(步驟205)的又一方式。光伏板10被連接到降壓升壓轉(zhuǎn)換器12a的輸入端。降壓升壓轉(zhuǎn)換器12a的輸出端被連接至PSU 13。在旁路40的去激活(步驟205)期間，經(jīng)由PSU 13疊加在降壓升壓轉(zhuǎn)換器12a的輸出端的電力線通信，施加到降壓升壓轉(zhuǎn)換器12a附近的無線信號，或基于一些邏輯電路—即由PSU 13所施加的特定的電壓，會導(dǎo)致MOSFET的G_C和G_A導(dǎo)通。MOSFET的G_C和G_A導(dǎo)通會導(dǎo)致短路電流Isc從PSU 13流動，并通過熔斷器50a。短路電流Isc燒斷熔斷器50a，使熔斷器50a開路且旁路40被去激活(步驟205)。

SPST開關(guān)5b的關(guān)閉和PSU13被跨接施加在電子模塊12的輸出端，會導(dǎo)致短路電流Isc從PSU13流動并通過熔斷器50a和SPST開關(guān)5b。短路電流Isc燒斷熔斷器50a使熔斷器50a開路且磁場52的去除去激活旁路40(步驟205)。

去激活旁路40(步驟205)的另一種方法示于圖8a中。圖8a示出連接到電子模塊12的輸入端的光伏板10和跨接在熔斷器50a的兩端被施加的電源單元(PSU)13。PSU 13橫跨熔斷器50a被施加，導(dǎo)致短路電流Isc從PSU 13流過，并通過熔斷器50a。短路電流Isc燒斷熔斷器50a使熔斷器50a開路且旁路40被去激活(步驟205)。

去激活旁路40(步驟205)的另一種方法示于圖8b中。圖8b示出連接到電子模塊12的輸入端的光伏板10和跨接在電子模塊12的兩端被施加的電源單元(PSU)13。硅控整流器(SCR)15的陽極和陰極并聯(lián)連接在光伏板10的輸出端和電子模塊12的輸入端。SCR 15的柵極以這樣一種方式連接在電子模塊12內(nèi)，使得跨接電子模塊12的輸出端施加PSU13導(dǎo)致柵極信號被施加到SCR的柵極。施加到SCR 15的柵極脈沖將SCR15切換到導(dǎo)通。獲得到SCR15的柵極的脈沖的可供選擇的方法包括，通過PSU13疊加到電子模塊12的輸出端的電力線通信，施加到電子模塊12附近的無線信號，或基于一些邏輯電路—即通過PSU13施加的特定的電源電壓導(dǎo)致柵極信號被施加到SCR15。施加到SCR15的柵極信號和跨接電子模塊12的輸出端施加PSU 13，會導(dǎo)致短路電流Isc從PSU 13流過熔斷器50a和SCR 15。短路電流Isc燒斷熔斷器50a使熔斷器50a開路且旁路40被去激活(步驟205)。

現(xiàn)在參考圖4、圖9和圖10，其示出本發(fā)明的發(fā)電系統(tǒng)14的另一個實施例，特別適用于所產(chǎn)生的并聯(lián)阻抗Z_T小到足以破壞閃光測試的結(jié)果的情況，如小于電子模塊12中的1兆歐姆。再次參照圖4，圖4示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的用于通過旁路電子模塊12來閃光測試光伏板10的方法的流程圖。圖4包括激活旁路的步驟201，步驟203執(zhí)行閃光，及步驟205去激活旁路。

圖9示出旁路40被激活時的旁路40。參照圖9，由磁體52的磁場激活的單刀雙擲(SPDT)開關(guān)70、SPST開關(guān)72和SPDT開關(guān)74連接光伏板10的輸出端和測試模塊20的輸入端來在光伏板10的閃光測試過程中執(zhí)行繞過電子模塊12的功能。在本發(fā)明的一個實施例中，SPDT開關(guān)70和74是簧片開關(guān)(例如，零件號：HYR-1555-C型，美國NV的Aleph美國公司Reno)或簧片繼電器或固態(tài)開關(guān)。在由磁場52激活時，SPDT開關(guān)70和74提供開路阻抗來取代在光伏板10的閃光測試過程中電子模塊12被繞過時的并聯(lián)阻抗Z_T。通過施加磁場52到SPST開關(guān)72和SPDT開關(guān)70和74，導(dǎo)致圖9所示的開關(guān)位置，電子模塊12的旁路40被激活(步驟201)。接下來，使用閃光測試模塊20進行閃光測試(步驟203)。在光伏板10的閃光測試后，電子模塊12的旁路通過去除對SPST開關(guān)72和SPDT開關(guān)70和74的磁場52被去激活(步驟205)。圖10示出SPST開關(guān)72和SPDT開關(guān)70和74被去激活，光伏板10連接到電子模塊12(步驟205)。

在發(fā)電系統(tǒng)14的操作過程中，直流電力由光伏板10產(chǎn)生，并轉(zhuǎn)移到電子模塊12的輸入端。電子模塊12通常是執(zhí)行DC-DC轉(zhuǎn)換的降壓-升壓轉(zhuǎn)換器電路或?qū)C轉(zhuǎn)換成AC的逆變器或執(zhí)行最大功率點跟蹤(MPPT)的電路。

現(xiàn)在參考圖12a，其示出了根據(jù)本發(fā)明的特征的模塊12a連接到補償單元17a。光伏板10連接到降壓升壓轉(zhuǎn)換器12a的輸入端。降壓升壓轉(zhuǎn)換器12a的輸出端在端子A連接到補償單元17a，單元17a的另一端子B連接到常規(guī)的閃光測試儀17。熔斷器50a提供板10和常規(guī)的閃光測試儀17/補償單元17a之間的低阻抗串行路徑。應(yīng)用旁路鏈路50a(即熔斷鏈路50a未被燒斷)，連接到常規(guī)的閃光測試儀17/補償單元17a的電路12a的并聯(lián)阻抗(Z_T)來自電容器C1和C2，現(xiàn)在通過鏈路50a并聯(lián)連接電路12a。如果總的電容值(C1+C2)較大(通常約為50微法)，低的并聯(lián)阻抗Ζ_T可以對由測試儀17在板10上執(zhí)行的閃光測試的結(jié)果具有顯著的影響。

現(xiàn)在參考圖12b，其示出根據(jù)本發(fā)明的特征的補償單元17a的進一步的細節(jié)。補償單元17a具有可編程的電流注入器130、電路分析儀128和處理器126?？删幊痰碾娏髯⑷肫?30具有可使用端子A連接到電子模塊12/12a的電壓源E₁。電壓源E₁的第一正極端子和電壓源E₁的第一負極端子提供端子A。電壓源E₁的第一正極端子連接到結(jié)點P。電壓源E₁的第二正極端子和第二負極端子在節(jié)點M和地之間跨接在串聯(lián)連接的電容器Cp和電阻R兩端。電容器Cp的一端連接到節(jié)點M及電容器Cp的另一端在節(jié)點N連接到電阻器Rp。電阻Rp的另一端連接到地。電流源G₂的第一正極端子連接到節(jié)點P及電流源G₂的第一負極端子連接到地。從連接到節(jié)點P和地提供端子B。電流源G₂的第二正極端子連接到節(jié)點N及電流源G₂的第二負極端子連接到地。

電路分析儀128的輸入端來自節(jié)點P。電路分析儀128的輸出端通向處理器126的輸入端。處理器126具有兩個輸出端(用虛線表示)，其編程/控制電流源G₂和電壓源E₁。電路分析儀128測量電子模塊12/12a的電路參數(shù)。由電路分析儀128所測量的電路參數(shù)優(yōu)選為電子模塊12/12a的并聯(lián)阻抗。處理器126優(yōu)選被配置成使用由電路分析儀128測得的電路參數(shù)編程/控制電流注入器130。

現(xiàn)在參考根據(jù)本發(fā)明的特征的圖12c和圖12d。圖12c示出了模擬電路121a，它具有脈沖發(fā)生器120，輸出電壓和電流124連接到測試電路122a。模擬電路121a是閃光測試系統(tǒng)的等效電路表示。脈沖發(fā)生器120是用于照射光伏板10的閃光燈16的等效電路表示及測試電路122a是光伏板10的等效電路表示。脈沖發(fā)生器120具有電壓V₁，這是通常為33伏峰值、上升和下降時間為0.01毫秒、脈沖持續(xù)時間為0.54毫秒的脈沖。來自電壓V₁的脈沖通過電阻器Rg被施加到測試電路122a，電阻器Rg串聯(lián)連接電壓V₁和測試電路122a。測試電路122a具有電阻Rpm，其串聯(lián)連接在脈沖發(fā)生器120的輸出端和地之間。圖12d示出測試電路122a的模擬結(jié)果，輸出電壓和電流124，作為脈沖V₁被施加到測試電路122a結(jié)果。輸出電壓和電流124具有同相的27V的峰值電壓和5.4A的峰值電流。

現(xiàn)在參考根據(jù)本發(fā)明的特征的圖12e和圖12f。圖12e示出了模擬電路121b，它具有脈沖發(fā)生器120，輸出電壓和電流124連接到測試電路122b。模擬電路121b具有與圖12b示出的相同的元件，但在測試電路122b中增加了與電阻器R_pm并聯(lián)連接的電容器C_m。測試電路122b中的電容C_m代表例如連接到板10的模塊12a的總并聯(lián)電容。圖12f中示出測試電路122a的模擬結(jié)果，測試電路122b的輸出電壓和電流124，作為脈沖V₁(33伏的峰值，上升和下降時間為0.01毫秒，及脈沖持續(xù)時間為0.54毫秒)被施加到測試電路122b的結(jié)果。輸出電壓和電流124現(xiàn)在不同相，電壓(27V)滯后，電流峰值達到40A。

現(xiàn)在參照根據(jù)本發(fā)明的特征的圖12g、圖12h和圖12i。圖12g示出模擬電路121c，它具有脈沖發(fā)生器120，輸出電壓和電流124連接到測試電路122b。模擬電路121c具有與圖12e示出的相同的元件，但增加了與測試電路122b的電容C_m并聯(lián)連接的補償單元17a。電容C_m代表例如連接到板10的模塊12a的總并聯(lián)電容，旁路50a作為未燒斷的熔斷器鏈路被激活(步驟1201)。在補償單元17a中，電路分析儀128測量測試模塊122b的電路參數(shù)。由電路分析儀128所測量的電路參數(shù)優(yōu)選為測試模塊122b的并聯(lián)阻抗或測試模塊122b的并聯(lián)電容。處理器126優(yōu)選被配置為使用由電路分析儀128測得的電路參數(shù)來編程/控制電流注入器130。在進行閃光測試時，補償單元17a可以注入電流到測試模塊122b中，以補償測試模塊122b的并聯(lián)電容(步驟1203)。圖12h示出測試電路122b的經(jīng)補償?shù)妮敵鲭妷汉碗娏?24，作為脈沖V₁(33伏的峰值，上升和下降時間為0.01毫秒，及脈沖持續(xù)時間為0.54毫秒)被施加到測試電路122b的結(jié)果。輸出電壓和電流124現(xiàn)在同相，及輸出電壓和電流124表示測試電路122b的電阻Rpm的電流/電壓特性。

現(xiàn)在再次參照圖12a、12b和圖12j，它示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的方法1220。鏈路50a作為未燒斷的熔斷器鏈路被激活(步驟1201)，低阻抗路徑存在于模塊12a的輸入端和輸出端之間。在使用測試儀17進行對板10的閃光測試之前，位于補償單元17a中的電路分析儀128測量(步驟1223)電子模塊12a的輸出端的電路參數(shù)，模塊12a的輸入端連接到板10。在熔斷器50a根據(jù)步驟1221連接時，由電路分析儀128測量的電路參數(shù)可能是閃光測試儀17斷開時，與板10并聯(lián)的電容器C₁和C₂的阻抗。另外，在附接到板10之前，可測量模塊12a的并聯(lián)阻抗的值(以提供標注值)。處理器126優(yōu)選被配置為使用由電路分析儀128測量的電路參數(shù)或從標注值來編程和/或控制電流注入器130(步驟1225)。(1227)閃光測試儀17可操作地附接到補償單元17a、模塊12a和板10，在由補償單元17a注入的電流同時觸發(fā)板的閃光測試時，使用測試儀17進行閃光測試。

本文所使用的定冠詞“一(a)”、“一(an)”，如“一個轉(zhuǎn)換器”、“一個開關(guān)”，具有“一個或多個”的含義，即“一個或多個轉(zhuǎn)換器”或“一個或多個開關(guān)”。

雖然已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的選擇的實施例，但是應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不限于所描述的實施例。相反，應(yīng)該理解的是，在不脫離本發(fā)明的原則和精神的情況下，可對這些實施例進行改變，本發(fā)明的范圍由權(quán)利要求書及其等價物限定。