本發(fā)明涉及多芯片、電池保護裝置及電池組。

背景技術：

目前，已知具備進行禁止二次電池的充電或放電的保護動作的保護IC、監(jiān)視所述二次電池的電池狀態(tài)的監(jiān)視IC的保護監(jiān)視電路(例如，參照專利文獻1)。

在一個封裝內(nèi)封裝了保護IC和監(jiān)視IC的多芯片中，需要設置用于連接封裝外部和封裝內(nèi)部的外部連接端子。例如，保護IC經(jīng)由作為外部連接端子而設置的檢測端子，能夠檢測封裝外部的狀態(tài)(例如，二次電池中流動的電流)。另外，通過設置用于連接監(jiān)視IC的內(nèi)部節(jié)點和封裝外部的外部連接端子，能夠為了檢查等從封裝外部訪問該內(nèi)部節(jié)點。

然而，在設置用于從封裝外部訪問監(jiān)視IC的內(nèi)部節(jié)點的專用外部連接端子時，外部連接端子的總數(shù)會增加。

專利文獻1：日本特許2011-172458號公報

技術實現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明的目的在于提供一種即使設置從封裝外部可訪問監(jiān)視IC的內(nèi)部節(jié)點的外部連接端子，也能夠抑制外部連接端子的總數(shù)的多芯片、電池保護裝置以及電池組。

在一個方案中提供了一種多芯片，其在一個封裝內(nèi)具備檢測二次電池的過充電、過放電或過電流并進行保護動作的保護IC、監(jiān)視所述二次電池的電池狀態(tài)的監(jiān)視IC，其中，

在所述多芯片中，在平面視圖中不重疊地配置所述保護IC和所述監(jiān)視IC，

所述封裝具有第一側緣、與所述第一側緣相對的第二側緣，

在所述第一側緣側配置所述監(jiān)視IC用的調(diào)節(jié)器輸出端子、所述保護IC和所述監(jiān)視IC通用的接地端子、所述保護IC和所述監(jiān)視IC通用的電源端子以及所述保護IC用的電流檢測端子作為外部連接端子，

在所述第二側緣側配置所述監(jiān)視IC用的通信端子、所述保護IC用的放電控制端子、所述保護IC用的充電控制端子以及所述保護IC用的過電流檢測端子作為外部連接端子，

所述保護IC具有：

充電控制電路，其基于所述電源端子與所述接地端子之間的電壓、或所述電流檢測端子與所述接地端子之間的電壓，從所述充電控制端子輸出禁止所述二次電池的充電的充電控制信號；

放電控制電路，其基于所述電源端子與所述接地端子之間的電壓、所述電流檢測端子與所述接地端子之間的電壓、或所述過電流檢測端子與所述接地端子之間的電壓，從所述放電控制端子輸出禁止所述二次電池的放電的放電控制信號，

所述監(jiān)視IC具有：

測定電路，其測定所述二次電池的電壓或所述監(jiān)視IC的溫度；

通信電路，其經(jīng)由所述通信端子向外部發(fā)送由所述測定電路測定到的結果；

調(diào)節(jié)器，其向所述調(diào)節(jié)器輸出端子輸出電壓，

所述多芯片具備將所述監(jiān)視IC的內(nèi)部電路的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為所述電流檢測端子的選擇電路。

在另一個方案中提供了一種多芯片，其在一個封裝內(nèi)具備檢測二次電池的過充電、過放電或過電流并進行保護動作的保護IC、監(jiān)視所述二次電池的電池狀態(tài)的監(jiān)視IC，其中，

在所述多芯片中，在平面視圖中不重疊地配置所述保護IC和所述監(jiān)視IC，

所述封裝具有第一側緣、與所述第一側緣相對的第二側緣，

在所述第一側緣側配置所述監(jiān)視IC用的調(diào)節(jié)器輸出端子、所述保護IC和所述監(jiān)視IC通用的接地端子、所述保護IC和所述監(jiān)視IC通用的電源端子和所述保護IC用的電流檢測端子作為外部連接端子，

在所述第二側緣側配置所述監(jiān)視IC用的通信端子、所述保護IC用的放電控制端子、所述保護IC用的充電控制端子和所述保護IC用的過電流檢測端子作為外部連接端子，

所述保護IC具有：

充電控制電路，其基于所述電源端子與所述接地端子之間的電壓、或所述電流檢測端子與所述接地端子之間的電壓，從所述充電控制端子輸出禁止所述二次電池的充電的充電控制信號；以及

放電控制電路，其基于所述電源端子與所述接地端子之間的電壓、所述電流檢測端子與所述接地端子之間的電壓、或所述過電流檢測端子與所述接地端子之間的電壓，從所述放電控制端子輸出禁止所述二次電池的放電的放電控制信號，

所述監(jiān)視IC具有：

測定電路，其測定所述二次電池的電壓或所述監(jiān)視IC的溫度；

通信電路，其經(jīng)由所述通信端子向外部發(fā)送由所述測定電路測定到的結果；以及

調(diào)節(jié)器，其向所述調(diào)節(jié)器輸出端子輸出電壓，

所述多芯片具備將所述監(jiān)視IC的內(nèi)部電路的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為所述過電流檢測端子的選擇電路。

在另一方案中提供了一種電池保護裝置，其具備所述多芯片和開關電路，

所述開關電路具有：

充電控制晶體管，其根據(jù)所述充電控制信號禁止所述二次電池的充電；

放電控制晶體管，其根據(jù)所述放電控制信號禁止所述二次電池的放電。

在另一方案中提供了一種電池組，其具備所述電池保護裝置和所述二次電池。

根據(jù)以上方式，即使設置可從封裝外部訪問監(jiān)視IC的內(nèi)部節(jié)點的外部連接端子，也能夠抑制外部連接端子的總數(shù)。

附圖說明

圖1表示具備多芯片的電池組的結構的一個例子。

圖2表示多芯片的結構的一個例子。

圖3表示定序器的動作的一個例子的流程圖。

圖4在平面視圖中表示多芯片的端子配置的一個例子。

圖5表示多芯片的結構的一個例子。

圖6是用于說明監(jiān)視IC內(nèi)的模擬電路的微調(diào)動作的一個例子。

圖7表示多芯片的引線鍵合結構的一個例子。

圖8表示多芯片的結構的一個例子。

圖9表示多芯片的引線鍵合結構的一個例子。

圖10表示多芯片的結構的一個例子。

圖11表示多芯片的引線鍵合結構的一個例子。

符號說明15：通信端子；91：調(diào)節(jié)器輸出端子；98：通信端子；100：電池組；110：電池保護裝置；130：電子設備；140：多芯片；145：封裝；167：測定電路180：充電器；200：二次電池。

具體實施方式

以下，根據(jù)附圖說明本發(fā)明的實施方式。

圖1是表示具備多芯片140的電池組100的結構的一個例子。電池組100內(nèi)置具備能夠向與正極端子5與負極端子6連接的電子設備130供給電力的二次電池200、保護二次電池200的電池保護裝置110。電池組100可以內(nèi)置在電子設備130中，也可以外接。

電子設備130是將電池組100的二次電池200作為電源的負載的一個例子。作為電子設備130的具體例子，列舉了可移動的便攜終端裝置等。作為便攜終端裝置的具體例子，列舉了便攜電話、智能手機、平板型計算機、游戲機、電視機、音樂或視頻的播放器、照相機等電子設備。

作為二次電池200的具體例子，列舉了鋰離子電池或鋰聚合物電池等。

電池保護裝置110是將二次電池200作為電源而工作，并通過控制二次電池200的充放電來保護二次電池200免于過電流等的電池用裝置的一個例子。電池保護裝置110具備正極連接端子3、負極連接端子4、正極端子5、負極端子6、通信端子15、電阻1、電容器2、電容器14、電阻9、感應電阻10、開關電路13和多芯片140。

正極連接端子3是與二次電池200的正極201相連接的端子，負極連接端子4是與二次電池200的負極202相連接的端子。正極端子5是與電子設備130的設備正極端子131相連接的端子的一個例子，經(jīng)由設備正極端子131與電子設備130的設備電源路徑137相連接。負極端子6是與電子設備130的設備負極端子133相連接的端子的一個例子，經(jīng)由設備負極端子133與電子設備130的設備接地138相連接。通信端子15是與電子設備130的設備通信端子132相連接的端子的一個例子，經(jīng)由設備通信端子132與電子設備130的控制部134相連接。

電子設備130具有與設備電源路徑137相連接的充電正極端子135、與設備接地138相連接的充電負極端子136?？蓪Χ坞姵?00進行充電的充電器180與充電正極端子135和充電負極端子136相連接。

正極連接端子3和正極端子5通過正極側電源路徑8相連接，負極連接端子4和負極端子6通過負極側電源路徑7相連接。正極側電源路徑8是正極連接端子3與正極端子5之間的充放電路徑的一個例子，負極側電源路徑7是負極連接端子4與負極端子6之間的充放電路徑的一個例子。

開關電路13串聯(lián)插入到第一負極側連接點7a與第二負極側連接點7b之間的負極側電源路徑7中。開關電路13例如是串聯(lián)連接充電控制晶體管11和放電控制晶體管12而得的串聯(lián)電路。通過充電控制晶體管11的斷開，切斷二次電池200的充電電流流過的負極側電源路徑7，禁止二次電池200的充電電流的流動。通過放電控制晶體管12的斷開，切斷二次電池200的放電電流流過的負極側電源路徑7，禁止二次電池200的放電電流的流動。

充電控制晶體管11和放電控制晶體管12分別例如是MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor金屬氧化物半導體場效應晶體管)。使充電控制晶體管11的寄生二極管11a的正方向與二次電池200的放電方向相一致地，將充電控制晶體管11插入到負極側電源路徑7中。使放電控制晶體管12的寄生二極管12a的正方向與二次電池200的充電方向相一致地，將放電控制晶體管12插入到負極側電源路徑7中。

與開關電路13串聯(lián)插入到正極側電源路徑8中的方式相比，通過將開關電路13串聯(lián)插入到負極側電源路徑7中，能夠將開關電路13的放電控制晶體管12以及充電控制晶體管11小型化。

多芯片140是通過控制二次電池200的充放電來保護二次電池200免于過電流等的電池用電路的一個例子。多芯片140具備電源端子93、接地端子92、調(diào)節(jié)器輸出端子91、電流檢測端子94、放電控制輸出端子97、充電控制輸出端子96、過電流檢測端子95和通信端子98。

電源端子93是保護IC120和監(jiān)視IC150通用的電源端子的一個例子，是保護IC120和監(jiān)視IC150通用的電源電位部。電源端子93是經(jīng)由正極側連接點8a以及正極連接端子3與二次電池200的正極201相連接的正極側電源端子，有時被稱為VDD端子。電源端子93例如連接到將一端連接到正極側電源路徑8的電阻1的另一端與將一端連接到負極側電源路徑7的電容器2的另一端之間的連接點上。電容器2的一端通過第一負極側連接點7a連接到負極連接端子4和感應電阻10之間的負極側電源路徑7。

接地端子92是保護IC120和監(jiān)視IC150通用的接地端子的一個例子，是保護IC120和監(jiān)視IC150通用的接地電位部。接地端子92是經(jīng)由第一負極側連接點7a以及負極連接端子4與二次電池200的負極202相連接的負極側電源端子，有時被稱為VSS端子。接地端子92通過第一負極側連接點7a連接到負極側電源路徑7，并經(jīng)由感應電阻10與放電控制晶體管12的源極相連接。

調(diào)節(jié)器輸出端子91是監(jiān)視IC150使用的調(diào)節(jié)器輸出端子的一個例子。調(diào)節(jié)器輸出端子91是搭載在監(jiān)視IC150上的調(diào)節(jié)器158(參照圖2)的輸出電壓被輸出的端子，有時被稱為VREG端子。調(diào)節(jié)器輸出端子91連接電容器14的一端，電容器14的另一端與接地端子92相連接。電容器14是用于穩(wěn)定調(diào)節(jié)器158的輸出電壓的元件。

放電控制輸出端子97是保護IC120使用的放電控制輸出端子的一個例子。放電控制輸出端子97是輸出控制是否允許二次電池200的放電的放電控制信號的端子，有時被稱為DOUT端子。放電控制輸出端子97與放電控制晶體管12的控制電極(例如在MOSFET時為柵極)相連接。

充電控制輸出端子96是保護IC120使用的充電控制輸出端子的一個例子。充電控制輸出端子96是輸出控制是否允許二次電池200的充電的充電控制信號的端子，有時被稱為COUT端子。充電控制輸出端子96與充電控制晶體管11的控制電極(例如在MOSFET時為柵極)相連接。

過電流檢測端子95是保護IC120使用的過電流檢測端子的一個例子。過電流檢測端子95是與連接到電子設備130的設備接地138的負極端子6相連接的端子，有時被稱為V-端子。過電流檢測端子95經(jīng)由電阻9在第二負極側連接點7b連接到負極端子6與充電控制晶體管11之間的負極側電源路徑7。過電流檢測端子95經(jīng)由電阻9與充電控制晶體管11的源極相連接。

電流檢測端子94是保護IC120使用的電流檢測端子的一個例子。電流檢測端子94是相對于感應電阻10通過第一負極側連接點7a相反側的第三負極側連接點7c與負極側電源路徑7相連接的端子，有時被稱為CS端子。感應電阻10是串聯(lián)插入到負極側電源路徑7中的電流檢測電阻。感應電阻10的一端經(jīng)由第一負極側連接點7a與二次電池200的負極202以及接地端子92相連接，感應電阻10的另一端經(jīng)由第三負極側連接點7c與晶體管12的源極以及電流檢測端子94相連接。

通信端子98是監(jiān)視IC150使用的通信端子的一個例子。通信端子98是與搭載在監(jiān)視IC150上的通信電路162(參照圖2)相連接的端子，有時被稱為IF端子。通信端子98與通信端子15相連接。

多芯片140具備保護IC120、監(jiān)視IC150和存儲器IC170。

保護IC120是將二次電池200作為電源來工作，并通過斷開串聯(lián)插入到與二次電池200的負極202相連接的負極側電源路徑7中的開關電路13來保護二次電池200免于過電流等的保護IC的一個例子。保護IC120是通過開關電路13控制二次電池200的充放電，由此保護二次電池200免于過電流等的IC芯片。保護IC120從二次電池200進行供電來保護二次電池200。保護IC120通過斷開開關電路13來進行禁止二次電池200的充電或放電的保護動作。

圖2表示多芯片140的結構的一個例子。保護IC120具備異常檢測電路21和保護控制電路22。異常檢測電路21是檢測二次電池200的電流或電壓的異常的單元的一個例子。保護控制電路22基于異常檢測電路21的異常檢測結果，輸出控制開關電路13的開關動作的控制信號，由此控制晶體管11、12的接通以及斷開。

保護控制電路22例如具有通過控制晶體管11來進行保護二次電池200免于過充電的動作(過充電保護動作)的充電控制電路23。例如，異常檢測電路21通過檢測電源端子93與接地端子92之間的電壓來監(jiān)視二次電池200的電池電壓(單元(Cell)電壓)。異常檢測電路21通過檢測到預定的過充電檢測電壓Vdet1以上的單元電壓，輸出表示檢測出二次電池200過充電的過充電檢測信號。

檢測到過充電檢測信號的保護控制電路22的充電控制電路23等待預定的過充電檢測延遲時間tVdet1的經(jīng)過，然后執(zhí)行從充電控制輸出端子96輸出斷開晶體管11的低電平的充電控制信號COUT的過充電保護動作。通過斷開晶體管11，無論在晶體管12的接通狀態(tài)以及斷開狀態(tài)，都禁止二次電池200的充電，能夠防止二次電池200被過充電。

保護控制電路22例如具有通過控制晶體管12來進行保護二次電池200免于過放電的動作(過放電保護動作)的放電控制電路24。例如，異常檢測電路21通過檢測電源端子93與接地端子92之間的電壓來監(jiān)視二次電池200的電池電壓(單元電壓)。異常檢測電路21通過檢測到預定的過放電檢測電壓Vdet2以上的單元電壓，輸出表示檢測出二次電池200過放電的過放電檢測信號。

檢測到過放電檢測信號的保護控制電路22的放電控制電路24等待預定的過放電檢測延遲時間tVdet2的經(jīng)過，然后執(zhí)行從放電控制輸出端子97輸出斷開晶體管12的低電平的放電控制信號DOUT的過放電保護動作。通過斷開晶體管12，無論在晶體管11的接通狀態(tài)以及斷開狀態(tài)，都禁止二次電池200的放電，能夠防止二次電池200被過放電。

保護控制電路22例如具有通過控制晶體管12來進行保護二次電池200免于放電過電流的動作(放電過電流保護動作)的放電控制電路24。例如，異常檢測電路21根據(jù)在感應電阻10中流動的電流來檢測電流檢測端子96與接地端子92之間產(chǎn)生的感應電壓。異常檢測電路21通過檢測到預定的放電過電流檢測電壓Vdet3以上的感應電壓，輸出表示檢測出在負極側電源路徑7中在二次電池200的放電方向上流動的異常電流即放電過電流的放電過電流檢測信號。

檢測到放電過電流檢測信號的保護控制電路22的放電控制電路24等待預定的放電過電流檢測延遲時間tVdet3的經(jīng)過，然后執(zhí)行從放電控制輸出端子97輸出斷開晶體管12的低電平的放電控制信號DOUT的放電過電流保護動作。通過斷開晶體管12，無論在晶體管11的接通狀態(tài)以及斷開狀態(tài)，都禁止二次電池200的放電，能夠防止在對二次電池200進行放電的方向上流過過電流。

保護控制電路22例如具有通過控制晶體管11來進行保護二次電池200免于充電過電流的動作(充電過電流保護動作)的充電控制電路23。例如，異常檢測電路21根據(jù)在感應電阻10中流動的電流來檢測電流檢測端子96與接地端子92之間產(chǎn)生的感應電壓。異常檢測電路21通過檢測到預定的充電過電流檢測電壓Vdet4以上的感應電壓，輸出表示檢測出在負極側電源路徑7中在二次電池200的充電方向上流動的異常電流即充電過電流的充電過電流檢測信號。

檢測到充電過電流檢測信號的保護控制電路22的充電控制電路23等待預定的充電過電流檢測延遲時間tVdet4的經(jīng)過，然后執(zhí)行從充電控制輸出端子96輸出斷開晶體管11的低電平的充電控制信號COUT的充電過電流保護動作。通過斷開晶體管11，無論在晶體管12的接通狀態(tài)以及斷開狀態(tài)，都禁止二次電池200的充電，能夠防止在對二次電池200進行充電的方向上流過過電流。

保護控制電路22例如具有通過控制晶體管12來進行保護二次電池200免于短路電流的動作(短路保護動作)的放電控制電路24。例如，異常檢測電路21通過檢測過電流檢測端子95與接地端子92之間的電壓，監(jiān)視負極端子6和負極連接端子4之間的電壓P-。異常檢測電路21通過檢測到預定的短路檢測電壓Vshort以上的電壓P-，輸出表示檢測出正極端子5與負極端子6之間的短路異常(短路過電流)的短路檢測信號。

檢測到短路檢測信號的保護控制電路22的放電控制電路24執(zhí)行從放電控制輸出端子97輸出斷開晶體管12的低電平的充電控制信號DOUT的短路保護動作。通過斷開晶體管12，無論在晶體管11的接通狀態(tài)以及斷開狀態(tài)，都禁止二次電池200的放電，能夠防止在對二次電池200進行放電的方向上流過短路電流。

監(jiān)視IC150是將二次電池200作為電源而工作，監(jiān)視二次電池200的電池狀態(tài)的監(jiān)視IC的一個例子。監(jiān)視IC150例如是檢測二次電池200的電壓、電流、溫度、殘余容量中的至少一個電池狀態(tài)的IC芯片。

監(jiān)視IC150具有測定電路167、通信電路162。測定電路167具有多路復用器152、AD轉換器(ADC：Analog to Digital Converter模數(shù)轉換器)153、數(shù)字濾波器154。測定電路167也可以具有溫度傳感器151。溫度傳感器151測定監(jiān)視IC150的內(nèi)部溫度。

測定電路167是測定二次電池200的電池電壓(單元電壓)的電路的一個例子。測定電路167例如通過檢測電源端子93與接地端子92之間的電源電壓來測定二次電池200的電池電壓。將接地端子92在負極202和開關電路13之間與負極側電源路徑7相連接，由此能夠在測定電路167測定的電池電壓中不包含開關電路13的寄生電阻值引起的電壓下降量。特別是通過將接地端子92在負極202和感應電阻10之間與負極側電源路徑7相連接，還能夠在測定電路167測定的電池電壓中不包含感應電阻10的電阻值引起的電壓下降量。

通信電路162是經(jīng)由通信端子98向多芯片140的外部發(fā)送測定電路167測定的結果的通信電路的一個例子。通信端子98與外部通信端子15相連接，外部通信端子15與電子設備130相連接。因此，通信電路162能夠向電子設備130發(fā)送測定電路167測定的結果。通信電路162也可以經(jīng)由保護IC120發(fā)送到電子設備130。

監(jiān)視IC150具有溫度傳感器151、多路復用器152、AD轉換器(ADC：Analog to Digital Converter模數(shù)轉換器)153、數(shù)字濾波器154、定序器155、通電復位電路156、振蕩器157、調(diào)節(jié)器158、OTP(One Time Programmable一次可編程存儲器)159、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory電可擦可編程只讀存儲器)160、寄存器161、通信電路162。

多路復用器152是通過定序器155選擇性的切換來自溫度傳感器151的傳感器電壓和來自電源端子93的電源電壓并輸出到AD轉換器153的選擇電路。溫度傳感器151測定監(jiān)視IC150的內(nèi)部溫度，并輸出與內(nèi)部溫度的測定值相對應的傳感器電壓。定序器155不需要外部設備的指示，通過AD轉換器153定期的重復執(zhí)行來自電源端子93的電源電壓的AD轉換和來自溫度傳感器151的傳感器電壓的AD轉換。通過AD轉換器153測定的電源電壓以及傳感器電壓，被實施數(shù)字濾波器154的濾波處理，然后輸入到定序器155。

定序器155根據(jù)AD轉換器153測定的電源電壓(數(shù)字濾波器154的濾波處理后的電源電壓)運算二次電池200的電池電壓，并將該電池電壓的運算值存儲在寄存器161中。另外，定序器155根據(jù)AD轉換器153測定的傳感器電壓(數(shù)字濾波器154的濾波處理后的傳感器電壓)運算監(jiān)視IC150的內(nèi)部溫度，并將該內(nèi)部溫度的運算值存儲在寄存器161中。

定序器155也可以根據(jù)監(jiān)視IC150的內(nèi)部溫度的運算值來修正二次電池200的電池電壓的運算值，并將該修正后的電池電壓的運算值存儲在寄存器161中。通信電路162是在該修正后的電池電壓的運算值表示了預定的異常值時，經(jīng)由通信端子98向作為主機設備的電子設備130的控制部134通知異常的接口。

圖3是表示定序器155的動作的一個例子的流程圖。定序器155通過通電復位電路156的復位解除來開始動作。定序器155將AD轉換器153的輸入從電壓輸入切換為溫度輸入(步驟S10)。AD轉換器153測定與監(jiān)視IC150的溫度值對應的傳感器電壓(步驟S20)，定序器155根據(jù)傳感器電壓的測定值運算監(jiān)視IC150的溫度值(步驟S30)。然后，定序器155將AD轉換器153的輸入從溫度輸入切換為電壓輸入(步驟S40)。AD轉換器153測定電源電壓(步驟S50)，定序器155根據(jù)電源電壓的測定值運算二次電池200的電池電壓(單元電壓)(步驟S60)。

圖4在平面視圖中示出多芯片140的端子配置的一個例子。多芯片140具備在平面視圖中為矩形的封裝145、多個外部連接端子91～98。封裝145是覆蓋保護IC120、監(jiān)視IC150以及存儲器IC170的覆蓋部件的一個例子。多個外部連接端子91～98露出端子配置面146而進行配置。

端子配置面146面向安裝多芯片140的配線基板的安裝面。另外，封裝145具有第一側緣141、與第一側緣141相對的第二側緣142、第三側緣143、與第三側緣143相對的第四側緣144。

多芯片140具有在端子配置面146的第一側緣141側按照端子91～94的順序對其排列來進行配置，在端子配置面146的第二側緣142側按照端子95～98的順序對其排列來進行配置的結構。

端子91～94可以是從封裝145的第一側緣141側的側面或底面延伸出的引線，端子95～98可以是從封裝145的第二側緣142側的側面或底面延伸出的引線。

圖5表示多芯片140A的結構的一個例子。多芯片140A是上述多芯片140的一個例子。監(jiān)視IC150具有多個模擬電路1～n、選擇電路163。作為模擬電路1～n的具體例子，列舉了振蕩器157、溫度傳感器151、AD轉換器153等。

選擇電路163是按照定序器155的指令將模擬電路1～n的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為電流檢測端子94的選擇電路的一個例子。模擬電路1～n是監(jiān)視IC150的內(nèi)部電路的例子。作為各模擬電路1～n的節(jié)點的具體例子，列舉了輸出振蕩器157的振蕩信號的振蕩輸出節(jié)點、輸出溫度傳感器151的傳感器電壓信號的傳感器輸出節(jié)點、輸出AD轉換器153的數(shù)字輸出信號的輸出節(jié)點等。

通過設置選擇電路163，在測試模式時，能夠從電流檢測端子94輸出來自任意模擬電路的信號。另一方面，在通常模式時，保護IC120能夠經(jīng)由電流檢測端子94檢測過電流。因此，即使設置可從封裝外部訪問監(jiān)視IC150的內(nèi)部節(jié)點的外部連接端子(此時為電流檢測端子94)，也能夠抑制外部連接端子的總數(shù)。

監(jiān)視IC150具有經(jīng)由第一焊線404連接到電流檢測端子94的第一焊盤304，保護IC120具有經(jīng)由第二焊線405連接到電流檢測端子94的第二焊盤124，選擇電路163將模擬電路1～n的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為第一焊盤304。

監(jiān)視IC150具有將從保護IC120輸入到監(jiān)視IC150的放電控制信號DOUT無效化的屏蔽電路164。保護IC120有可能在測試模式時誤檢測從監(jiān)視IC150的模擬電路輸出到電流檢測端子94的信號，并輸出低電平的放電控制信號DOUT。屏蔽電路164防止監(jiān)視IC150的定序器155根據(jù)從保護IC120輸入到監(jiān)視IC150的低電平的放電控制信號DOUT而產(chǎn)生誤動作。

圖6是用于說明監(jiān)視IC150內(nèi)的模擬電路的微調(diào)動作的一個例子的圖。

(1)外部檢查裝置190從命令端子191發(fā)送命令，設定寄存器161，以便從電流檢測端子94輸出修正對象模擬電路的輸出信號。定序器155根據(jù)寄存器161的設定值來控制選擇電路163的選擇動作，并從電流檢測端子94輸出修正對象模擬電路的輸出信號。

(2)外部檢查裝置190從監(jiān)視器端子192取得從電流檢測端子94輸出的修正對象模擬電路的輸出信號，并計算用于實施修正對象模擬電路的輸出信號的調(diào)整的修正值。

(3)外部檢查裝置190在用于調(diào)節(jié)修正對象模擬電路的輸出信號的寄存器161內(nèi)的存儲元件中寫入通過(2)計算出的修正值，并實施修正對象模擬電路的輸出信號的調(diào)整。

(4)外部檢查裝置190從監(jiān)視器端子192取得從電流檢測端子94輸出的修正對象模擬電路的輸出信號，并確認修正對象模擬電路的輸出信號的調(diào)整結果。

圖7在去除封裝145的狀態(tài)下在平面視圖中示出多芯片140A的引線鍵合結構的一個例子。在多芯片140A的平面視圖中不重疊地配置保護IC120和監(jiān)視IC150。多芯片140A也可以在監(jiān)視IC150的上方具備存儲器IC170。

保護IC120具有六個焊盤122～127，監(jiān)視IC150具有十二個焊盤301～312，存儲器IC170具有五個焊盤171～175。各焊盤如圖所示，通過焊線401～415進行連接。

存儲器IC170的焊盤173和監(jiān)視IC150的焊盤307用串行時鐘SCL通過的焊線409進行連接，存儲器IC170的焊盤175和監(jiān)視IC150的焊盤310用串行數(shù)據(jù)SDA通過的焊線410進行連接。存儲器IC170具有寫保護(WP)用的焊盤172、電源VCC用的焊盤171、接地VSS用的焊盤174。

監(jiān)視IC150具有經(jīng)由焊線404連接到電流檢測端子94的焊盤304，焊盤304是用于外部檢查裝置190經(jīng)由電流檢測端子94對監(jiān)視IC150的內(nèi)部電路進行監(jiān)視的監(jiān)視焊盤MON。監(jiān)視IC150也可以具有用于設定監(jiān)視IC150的動作模式的模式設定焊盤MODE1、MODE2。

圖8表示多芯片140B的結構的一個例子。多芯片140B是上述的多芯片140的一個例子。對于在多芯片140B的結構內(nèi)與多芯片140A相同的結構，引用針對多芯片140A的上述說明。

通過設置選擇電路163，在測試模式時，能夠從電流檢測端子94輸出來自任意模擬電路的信號。另一方面，在通常模式時，保護IC120基于經(jīng)由電流檢測端子94以及屏蔽電路165輸入的感應電壓，能夠檢測過電流。因此，即使設置可從封裝外部訪問監(jiān)視IC150的內(nèi)部節(jié)點的外部連接端子(此時為電流檢測端子94)，也能夠抑制外部連接端子的總數(shù)。

監(jiān)視IC150具有經(jīng)由第一焊線404連接到電流檢測端子94的第一焊盤304、經(jīng)由第二焊線417連接到電流檢測端子94的第二焊盤313、經(jīng)由預定的電路連接到第二焊盤313的第三焊盤314。在圖8的情況下，預定的電路是屏蔽電路165。保護IC120具有經(jīng)由第三焊線418連接到第三焊盤314的第四焊盤124。選擇電路163將模擬電路1～n的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為第一焊盤304。

監(jiān)視IC150具有將從電流檢測端子94輸入到保護IC120中的信號無效化的屏蔽電路165。保護IC120有可能在測試模式時誤檢測從監(jiān)視IC150的模擬電路輸出到電流檢測端子94的信號，并輸出低電平的放電控制信號DOUT。屏蔽電路165通過將從電流檢測端子94輸入到保護IC120的信號無效化，防止監(jiān)視IC150的定序器155根據(jù)從保護IC120輸入到監(jiān)視IC150的低電平的放電控制信號DOUT而誤動作。

這樣一來，屏蔽電路165在測試模式時能夠防止保護IC120將從監(jiān)視IC150的模擬電路輸出到電流檢測端子94的信號錯誤地檢測為感應電壓。另一方面，在通常模式時，保護IC120能夠基于輸入到電流檢測端子94的感應電壓來檢測過電流。

圖9在平面視圖中在去除封裝145的狀態(tài)下示出多芯片140B的引線鍵合結構的一個例子。保護IC120具有六個焊盤122～127，監(jiān)視IC150具有十三個焊盤301～313，存儲器IC170具有五個焊盤171～175。各焊盤如圖所示，通過焊線401～418進行連接。

監(jiān)視IC150的測試監(jiān)視焊盤304和電流檢測焊盤313與電流檢測端子94相連接。另外，監(jiān)視IC150的焊盤314和保護IC120的焊盤124相連接。焊盤314是對保護IC120的電流檢測焊盤124輸出從電流檢測端子94輸入到電流檢測焊盤313的信號的焊盤CS_OUT。

圖10表示多芯片140C的結構的一個例子。多芯片140C是上述的多芯片140的一個例子。對于在多芯片140C的結構內(nèi)與多芯片140A、140B相同的結構，引用針對多芯片140A、140B的上述說明。

監(jiān)視IC150具有經(jīng)由第一焊線404連接到電流檢測端子94的第一焊盤304。選擇電路163是按照定序器155的指令將模擬電路1～n的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為選擇電路166的第一切換部的一個例子。選擇電路166是按照定序器155的指令將選擇電路163的連接目的地和保護IC120的焊盤124的連接目的地選擇性地切換為第一焊盤304的第二切換部的一個例子。

通過設置選擇電路163、166，在測試模式時，能夠從電流檢測端子94輸出來自任意模擬電路的信號。另一方面，在通常模式時，保護IC120基于經(jīng)由電流檢測端子94以及選擇電路166輸入的感應電壓，能夠檢測過電流。因此，即使設置可從封裝外部訪問監(jiān)視IC150的內(nèi)部節(jié)點的外部連接端子(此時為電流檢測端子94)，也能夠抑制外部連接端子的總數(shù)。

圖11在平面視圖中在去除封裝145的狀態(tài)下示出多芯片140C的引線鍵合結構的一個例子。保護IC120具有六個焊盤122～127，監(jiān)視IC150具有十二個焊盤301～312，存儲器IC170具有五個焊盤171～175。各焊盤如圖所示，通過焊線401～418進行連接。

電流檢測端子94與監(jiān)視IC150的測試監(jiān)視焊盤304相連接。監(jiān)視輸出焊盤314與保護IC120的電流檢測焊盤124相連接。

以上，通過實施方式說明了多芯片、電池保護裝置以及電池組，但是本發(fā)明并不限定于上述的實施方式。在本發(fā)明的范圍內(nèi)能夠與其他實施方式的一部分或全部進行組合或置換等的各種變形以及改良。

例如，可從封裝外部訪問監(jiān)視IC150的內(nèi)部節(jié)點的外部連接端子并不像上述實施方式那樣限定于電流檢測端子94，也可以是過電流檢測端子95。例如在圖5中，選擇電路163也可以按照定序器155的指令將模擬電路1～n的多個節(jié)點的連接目的地選擇性地切換為過電流檢測端子95。