專利名稱：一種非接觸式供電設(shè)備和一種非接觸式供電方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電磁感應(yīng)式非接觸供電技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種非接觸式供電設(shè)備和 一種非接觸式供電方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)如今采用電磁感應(yīng)式非接觸供電的電子設(shè)備越來越普及，供電設(shè)備中的初級線 圈與受電設(shè)備中的次級線圈通過電磁耦合進(jìn)行電力傳輸，初級線圈與次級線圈需要對齊以 達(dá)到最佳電力傳輸效率。
早期對齊線圈的方式有圖標(biāo)引導(dǎo)手動對齊，磁鐵吸合方式，隨著技術(shù)的發(fā)展出現(xiàn) 了次級線圈自動檢測定位技術(shù)，并通過傳動機(jī)構(gòu)將初級線圈送到次級線圈的坐標(biāo)位置來對 齊線圈。目前，常見的次級線圈自動檢測定位的方法有兩種，一種方法是通過移動初級線 圈，檢測由次級線圈引起的初級線圈電壓或電流的變化來進(jìn)行線圈定位，此方法技術(shù)復(fù)雜， 需要不斷驅(qū)動傳動機(jī)構(gòu)來定位次級線圈，功耗大，并且由傳動機(jī)構(gòu)產(chǎn)生的噪音也不可忽視。發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題，提出了本發(fā)明以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上 述問題的一種非接觸式供電設(shè)備和一種非接觸式供電方法。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的
本發(fā)明公開了一種非接觸式供電設(shè)備，該非接觸式供電設(shè)備包括存儲器、主控制 器、檢測線圈陣列和初級線圈陣列；存儲器與主控制器相連；主控制器與檢測線圈陣列相 連，并且主控制器通過電子開關(guān)控制初級線圈陣列中的一個或多個初級線圈的選通；檢測 線圈陣列中的每個線圈用于接收主控制器的激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的 能量；存儲器，用于存儲初級線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣列中的各線圈 的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系；主控制器，用于向檢測線圈陣列中每一個線圈施加激勵信號， 并檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置，受電 設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)；所述主控制 器從存儲器中讀取與所述一個或多個線圈的位置坐標(biāo)所對應(yīng)的初級線圈陣列中的一個或 多個線圈的位置坐標(biāo)，并選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈；初級線圈陣列中的一個或多個 初級線圈在被選通后向受電設(shè)備供電。
該非接觸式供電設(shè)備包括上殼，檢測線圈陣列緊靠非接觸式供電設(shè)備的上殼，初 級線圈陣列位于檢測線圈陣列的下方。
該非接觸式供電設(shè)備還包括屏蔽材料，該屏蔽材料位于所述初級線圈陣列的下方。
該非接觸式供電設(shè)備還包括檢波電路；該檢波電路連接于檢測線圈陣列于主控制 器之間；檢波電路用于放大檢測線圈陣列中每個線圈所感應(yīng)的反饋能量；主控制器對檢波 電路放大的能量進(jìn)行采樣比較，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置。
在本發(fā)明提供的非接觸式供電設(shè)備中，檢測線圈陣列由軟式印刷電路板實(shí)現(xiàn)或由 硬式印刷電路板實(shí)現(xiàn)；初級線圈陣列由軟式印刷電路板、硬式印刷電路板或繞線線圈組實(shí) 現(xiàn)。
本發(fā)明還公開了一種非接觸式供電方法，該非接觸式供電方法包括
向檢測線圈陣列中每一個線圈施加激勵信號；其中，檢測線圈陣列中的每個線圈 接收激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的能量。
檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線圈的位 置；其中，受電設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐 標(biāo)。
根據(jù)預(yù)先保存的初級線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣列中的各線 圈的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系，確定與所述檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo) 對應(yīng)的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)。
根據(jù)所確定的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，選通相應(yīng)的一個或 多個初級線圈為受電設(shè)備供電。
該非接觸式供電方法還包括將檢測線圈陣列設(shè)置在緊靠非接觸式供電設(shè)備的上 殼的位置，將初級線圈陣列設(shè)置在檢測線圈陣列的下方位置。
該非接觸式供電方法還包括在非接觸式供電設(shè)備的所述初級線圈陣列的下方設(shè) 置屏蔽材料。
該非接觸式供電方法還包括對檢測線圈陣列中的每個線圈所感應(yīng)的反饋能量進(jìn) 行放大，對放大的能量進(jìn)行采樣比較，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置。
在本發(fā)明提供的非接觸式供電方法中，檢測線圈陣列由軟式印刷電路板實(shí)現(xiàn)或由 硬式印刷電路板等實(shí)現(xiàn)；初級線圈陣列由軟式印刷電路板、硬式印刷電路板或繞線線圈組 等實(shí)現(xiàn)。
本發(fā)明的這種技術(shù)方案具有自動定位受電設(shè)備的功能，使得用戶放置受電設(shè)備的 自由度更高，使用更加便利。受電設(shè)備的次級線圈的定位功能由檢測線圈陣列和主控制器 配合工作完成，比現(xiàn)有定位技術(shù)更簡便，同時根據(jù)檢測線圈陣列和主控制器配合工作后的 定位結(jié)果選通相應(yīng)的初級線圈，實(shí)現(xiàn)了供電的初級線圈與次級線圈的對齊，且無傳動機(jī)構(gòu) 帶來的噪音，可大大降低供電設(shè)備的產(chǎn)品厚度尺寸。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備為受電設(shè)備供電的場景示意圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的主控制器102施加的激勵信號 201的脈沖波形圖3為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的初級線圈陣列104中的線圈的 等效諧振電路的電路圖4為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的檢測線圈陣列103的結(jié)構(gòu)示意 圖5為本發(fā)明的一個實(shí)施例中本發(fā)明中的非接觸式供電設(shè)備為受電設(shè)備供電的 示意圖6為本發(fā)明實(shí)施例中的一種非接觸式供電方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明的核心思想是提供一種非接觸式供電設(shè)備，這種非接觸式供電設(shè)備包括 存儲器、主控制器、檢測線圈陣列和初級線圈陣列；存儲器與主控制器相連；主控制器與檢 測線圈陣列相連，并且主控制器通過電子開關(guān)控制初級線圈陣列中的一個或多個初級線圈 的選通；檢測線圈陣列中的每個線圈用于接收主控制器的激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次 級線圈反饋的能量；存儲器，用于存儲初級線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣 列中的各線圈的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系；主控制器，用于向檢測線圈陣列中每一個線圈 施加激勵信號，并檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線 圈的位置，受電設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐 標(biāo)；所述主控制器從存儲器中讀取與所述一個或多個線圈的位置坐標(biāo)所對應(yīng)的初級線圈陣 列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，并選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈；初級線圈陣列中 的一個或多個初級線圈在被選通后向受電設(shè)備供電。
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施方 式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備為受電設(shè)備供電的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的主控制器102施加的激勵信號 201的脈沖波形圖。
參見圖1和圖2，本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備包括存儲器101、主控 制器102、檢測線圈陣列103和初級線圈陣列104 ;存儲器101與主控制器102相連。主控 制器102與檢測線圈陣列103相連，并且主控制器102通過電子開關(guān)控制初級線圈陣列104 中的一個或多個初級線圈的選通。
檢測線圈陣列103中的每個線圈用于接收主控制器104的激勵信號201，并在有受 電設(shè)備靠近時感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈105反饋的能量。
存儲器101，用于存儲初級線圈陣列104中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣列 103中的各線圈的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系。
主控制器102，用于向檢測線圈陣列103中每一個線圈施加如圖2所示的激勵信號 201，并檢測檢測線圈陣列103中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線圈105 的位置，受電設(shè)備的次級線圈105的位置表示為檢測線圈陣列103中的一個或多個線圈的 位置坐標(biāo)。主控制器102從存儲器101中讀取與所述一個或多個線圈的位置坐標(biāo)所對應(yīng)的 初級線圈陣列104中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，并選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈。 具體來說，在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，主控制器通過電子開關(guān)控制一個或多個初級線圈的 選通。初級線圈陣列中的一個或多個初級線圈在被選通后作為工作線圈向受電設(shè)備供電。 當(dāng)完成受電設(shè)備的次級線圈的定位工作后，主控制器102就停止向檢測線圈陣列103中的 每一個線圈施加激勵信號201，以避免對供電過程產(chǎn)生影響。
圖3為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的初級線圈陣列104中的線圈的 等效諧振電路的電路圖。
在本發(fā)明實(shí)施一例提供的非接觸式供電設(shè)備中，初級線圈陣列104中的每個線圈都構(gòu)成諧振電路，可以等效為如圖3所示的等效諧振電路。與其匹配的供電設(shè)備的次級線 圈105的電路也為諧振電路，也可以等效為如圖3所不的等效線圈諧振電路。初級線圈陣 列104中的每個線圈的等效諧振電路和次級線圈105的等效諧振電路的諧振頻率相同。本 發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的電力傳輸?shù)碾姶艌鲱l率工作在圖3中線圈Lr和 電容Cr形成的諧振電路的諧振頻率附近，線圈Lr、電容Cr和電容Cd形成的諧振電路的諧 振頻率為檢測頻率。在本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備中，為了使得初級線圈陣 列104感應(yīng)到的反饋能量最大，方便檢測，主控制器102施加在檢測線圈陣列103中各個線 圈上的激勵信號201的高電平寬度值由檢測頻率確定。
圖4為本發(fā)明實(shí)施例一提供的非接觸式供電設(shè)備的檢測線圈陣列103的結(jié)構(gòu)示意 圖。
參見圖4，圖4中的每個標(biāo)號401表示檢測線圈陣列103中的一個線圈。在圖4 中，檢測線圈陣列103的X坐標(biāo)軸方向上疊加了三層線圈，每一層有4個線圈，檢測線圈陣 列103在X坐標(biāo)軸方向上共有12個線圈，檢測線圈陣列103的y坐標(biāo)軸方向上疊加了三層 線圈，每一層有4個線圈，檢測線圈陣列103在y坐標(biāo)軸方向共有12個線圈。供電設(shè)備的 次級線圈的位置可以表示為檢測線圈陣列103的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)(x，y)。當(dāng)次 級線圈的個數(shù)為一個時，次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列103中的一個線圈的位置坐 標(biāo)，當(dāng)次級線圈的個數(shù)為多個時，每個次級線圈的位置均可以由檢測線圈陣列103中一個 線圈的位置坐標(biāo)來表示，這樣多個次級線圈的位置就表示為檢測線圈陣列103中多個線圈 的位置坐標(biāo)。在本發(fā)明的其它實(shí)施例中，檢測線圈陣列103的結(jié)構(gòu)可以有多種形式，不只局 限于圖4所示的結(jié)構(gòu)?？筛鶕?jù)實(shí)際需要來設(shè)定檢測線圈陣列103和初級線圈陣列104的結(jié) 構(gòu)。
圖5為本發(fā)明的一個實(shí)施例中本發(fā)明中的非接觸式供電設(shè)備為受電設(shè)備供電的 示意圖。
參見圖5，在本實(shí)施例的非接觸式供電設(shè)備中，該非接觸式供電設(shè)備包括上殼 501，檢測線圈陣列503緊靠非接觸式供電設(shè)備的上殼501，初級線圈陣列504位于檢測線 圈陣列503的下方。當(dāng)該非接觸式供電設(shè)備為受電設(shè)備供電時，受電設(shè)備的次級線圈505 緊靠受電設(shè)備的下殼502，為了減小由非接觸式供電設(shè)備和受電設(shè)備構(gòu)成的供電系統(tǒng)產(chǎn)生 的電磁場對外界的干擾，在本發(fā)明提供的非接觸式供電設(shè)備的其它實(shí)施例中還包括屏蔽材 料，該屏蔽材料位于初級線圈陣列504的下方，受電設(shè)備的次級線圈505上方也放置有該屏 蔽材料。在本發(fā)明的其它實(shí)施例中，初級線圈陣列504、檢測線圈陣列503和次級線圈505 的位置可以根據(jù)實(shí)際情況來安排，初級線圈陣列504與次級線圈505之間可以間隔一定的 距離。
在本發(fā)明的一個實(shí)施例的非接觸式供電設(shè)備中，非接觸式供電設(shè)備除了包括存儲 器、主控制器、檢測線圈陣列和初級線圈陣列，還包括檢波電路；該檢波電路連接于檢測線 圈陣列于主控制器之間；檢波電路用于放大檢測線圈陣列中每個線圈所感應(yīng)的反饋能量； 主控制器對檢波電路放大的能量進(jìn)行采樣比較，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置。
在本發(fā)明提供的非接觸式供電設(shè)備的其它實(shí)施例中，檢測線圈陣列可以由軟式印 刷電路板實(shí)現(xiàn)或由硬式印刷電路板等實(shí)現(xiàn)；初級線圈陣列可以由軟式印刷電路板、硬式印 刷電路板或繞線線圈組等實(shí)現(xiàn)。在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，檢測線圈陣列由軟式印刷電路板實(shí)現(xiàn)，初級線圈陣列由繞線線圈組實(shí)現(xiàn)。
本發(fā)明實(shí)施例提供的非接觸式供電設(shè)備向受電設(shè)備供電的原理如下。
非接觸式供電設(shè)備的主控制器向檢測線圈陣列中的每一個線圈施加激勵信號，檢 測線圈陣列中的每個線圈接收主控制器的激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的能 量；檢波電路將檢測線圈陣列感應(yīng)的反饋能量放大，主控制器通過采樣比較，確定受電設(shè)備 的次級線圈的位置，受電設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈 的位置坐標(biāo)，主控制器從存儲器中讀取與上述一個或多個線圈的位置坐標(biāo)所對應(yīng)的初級線 圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，并選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈，初級線圈陣 列中的一個或多個初級線圈在被選通后發(fā)射特定頻率的電磁場能量，受電設(shè)備的次級線圈 通過電磁感應(yīng)方式獲取能量，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了非接觸式供電設(shè)備向受電設(shè)備的供電。
根據(jù)上述原理可以看出，本發(fā)明實(shí)施例提供的非接觸式供電設(shè)備具有自動定位受 電設(shè)備的功能，進(jìn)而使得用戶放置受電設(shè)備的自由度更高，使用更加便利。次級線圈定位功 能由檢測線圈陣列和主控制器配合工作實(shí)現(xiàn)，比現(xiàn)有定位技術(shù)更簡便。初級線圈陣列根據(jù) 檢測線圈陣列和主控制器配合工作后的定位結(jié)果選通相應(yīng)的初級線圈，間接實(shí)現(xiàn)了與次級 線圈的對齊，避免了傳動機(jī)構(gòu)帶來的噪音，大大降低了供電設(shè)備的厚度尺寸。
圖6為本發(fā)明實(shí)施例中的一種非接觸式供電方法的流程圖。
參見圖6，該非接觸式供電方法包括
步驟601，向檢測線圈陣列中每一個線圈施加激勵信號；其中，檢測線圈陣列中的 每個線圈接收激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的能量。
步驟602，檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線 圈的位置；其中，受電設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的 位置坐標(biāo)。
步驟603，根據(jù)預(yù)先保存的初級線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣列 中的各線圈的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系，確定與所述檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的 位置坐標(biāo)對應(yīng)的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)。
步驟604，根據(jù)所確定的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，選通相應(yīng) 的一個或多個初級線圈為受電設(shè)備供電。
在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，該非接觸式供電方法還包括將檢測線圈陣列設(shè)置在 緊靠非接觸式供電設(shè)備的上殼的位置，將初級線圈陣列設(shè)置在檢測線圈陣列的下方位置。
在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，該非接觸式供電方法還包括在非接觸式供電設(shè)備的 所述初級線圈陣列的下方設(shè)置屏蔽材料。
該非接觸式供電方法還包括對檢測線圈陣列中的每個線圈所感應(yīng)的反饋能量進(jìn) 行放大，對放大的能量進(jìn)行采樣比較，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置。
在本發(fā)明提供的非接觸式供電方法的其它實(shí)施例中，檢測線圈陣列由軟式印刷電 路板實(shí)現(xiàn)或由硬式印刷電路板等實(shí)現(xiàn)；初級線圈陣列由軟式印刷電路板、硬式印刷電路板 或繞線線圈組等實(shí)現(xiàn)。在本發(fā)明實(shí)一個施例提供的一種非接觸式供電方法中，檢測線圈陣 列由軟式印刷電路板實(shí)現(xiàn)，初級線圈陣列由繞線線圈組實(shí)現(xiàn)。
綜上所述，本發(fā)明的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn)
1、由于檢測線圈陣列可以感應(yīng)次級線圈反饋的能量，主控制器可通過反饋的能量確定受電設(shè)備的位置，使得本發(fā)明的技術(shù)方案具有自動定位受電設(shè)備的功能，使得用戶放 置受電設(shè)備的自由度更高，使用更加便利，且實(shí)現(xiàn)方案比現(xiàn)有技術(shù)更簡便。
2、由于初級線圈陣列根據(jù)檢測線圈陣列和主控制器配合工作后的定位結(jié)果選通 相應(yīng)的初級線圈，間接實(shí)現(xiàn)了與次級線圈的對齊，避免了傳動機(jī)構(gòu)帶來的噪音，大大降低了 供電設(shè)備的厚度尺寸。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在 本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍 內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種非接觸式供電設(shè)備，其特征在于，所述非接觸式供電設(shè)備包括存儲器、主控制器、檢測線圈陣列和初級線圈陣列；存儲器與主控制器相連；主控制器與檢測線圈陣列相連，并且主控制器通過電子開關(guān)控制初級線圈陣列中的一個或多個初級線圈的選通；檢測線圈陣列中的每個線圈用于接收主控制器的激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的能量；存儲器，用于存儲初級線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系；主控制器，用于向檢測線圈陣列中每一個線圈施加激勵信號，并檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置，受電設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)；所述主控制器從存儲器中讀取與所述一個或多個線圈的位置坐標(biāo)所對應(yīng)的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，并選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈；初級線圈陣列中的一個或多個初級線圈在被選通后向受電設(shè)備供電。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式供電設(shè)備，其特征在于，所述非接觸式供電設(shè)備包括上殼，所述檢測線圈陣列緊靠所述非接觸式供電設(shè)備的上殼，初級線圈陣列位于檢測線圈陣列的下方。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式供電設(shè)備，其特征在于，所述非接觸式供電設(shè)備還包括屏蔽材料，該屏蔽材料位于所述初級線圈陣列的下方。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式供電設(shè)備，其特征在于，所述非接觸式供電設(shè)備還包括檢波電路；該檢波電路連接于檢測線圈陣列于主控制器之間；檢波電路用于放大檢測線圈陣列中每個線圈所感應(yīng)的反饋能量；主控制器對檢波電路放大的能量進(jìn)行采樣比較，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式供電設(shè)備，其特征在于，所述檢測線圈陣列由軟式印刷電路板實(shí)現(xiàn)或由硬式印刷電路板實(shí)現(xiàn)；所述初級線圈陣列由軟式印刷電路板、硬式印刷電路板或繞線線圈組實(shí)現(xiàn)。
6.一種非接觸式供電方法，其特征在于，該非接觸式供電方法包括向檢測線圈陣列中每一個線圈施加激勵信號；其中，檢測線圈陣列中的每個線圈接收激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的能量；檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置；其中，受電設(shè)備的次級線圈的位置表示為檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)； 根據(jù)預(yù)先保存的初級線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)與檢測線圈陣列中的各線圈的位置坐標(biāo)之間的對應(yīng)關(guān)系，確定與所述檢測線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)對應(yīng)的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)；根據(jù)所確定的初級線圈陣列中的一個或多個線圈的位置坐標(biāo)，選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈為受電設(shè)備供電。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非接觸式供電方法，其特征在于，該方法還包括將檢測線圈陣列設(shè)置在緊靠非接觸式供電設(shè)備的上殼的位置，將初級線圈陣列設(shè)置在檢測線圈陣列的下方位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非接觸式供電方法，其特征在于，該方法還包括在非接觸式供電設(shè)備的所述初級線圈陣列的下方設(shè)置屏蔽材料。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非接觸式供電方法，其特征在于，該方法還包括對檢測線圈陣列中的每個線圈所感應(yīng)的反饋能量進(jìn)行放大，對放大的能量進(jìn)行采樣比較，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非接觸式供電方法，其特征在于，所述檢測線圈陣列由軟式印刷電路板實(shí)現(xiàn)或由硬式印刷電路板實(shí)現(xiàn)；所述初級線圈陣列由軟式印刷電路板、硬式印刷電路板或繞線線圈組實(shí)現(xiàn)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種非接觸式供電設(shè)備和一種非接觸式供電方法，非接觸式供電設(shè)備包括存儲器、主控制器、檢測線圈陣列和初級線圈陣列。檢測線圈陣列中的每個線圈接收主控制器的激勵信號，并感應(yīng)受電設(shè)備的次級線圈反饋的能量；主控制器向檢測線圈陣列中每一個線圈施加激勵信號，并檢測檢測線圈陣列中的每一個線圈感應(yīng)的能量，確定受電設(shè)備的次級線圈的位置，并選通相應(yīng)的一個或多個初級線圈；初級線圈陣列中的一個或多個初級線圈在被選通后向受電設(shè)備供電。本發(fā)明的這種技術(shù)方案具有自動定位受電設(shè)備的功能，使得用戶放置受電設(shè)備的自由度更高，使用更加便利，且技術(shù)方案比現(xiàn)有技術(shù)更加簡便，無傳動機(jī)構(gòu)帶來的噪音，大大降低供電設(shè)備的厚度尺寸。
文檔編號H02J17/00GK103001335SQ201210553348
公開日2013年3月27日 申請日期2012年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月19日
發(fā)明者石靈吉, 鄭勇, 夏春水, 周亞楠 申請人:青島歌爾聲學(xué)科技有限公司