專利名稱：用于缺陷管理信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種允許再寫入的光記錄介質(zhì)，尤其涉及一種用于缺陷管理信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
光記錄介質(zhì)通常被分為只讀存儲(chǔ)器(ROM)、數(shù)據(jù)可被寫入一次的一次性寫入多次讀出存儲(chǔ)器(WORM)和數(shù)據(jù)可被寫入幾次的可重寫存儲(chǔ)器?？芍貙懝獯鎯?chǔ)介質(zhì)即光盤包括可重寫致密盤(CD-RW)和可重寫的數(shù)字多媒體盤(DVD-RW，DVD-RAM和DVD+RW)。
在可重寫光盤中寫入和回放數(shù)據(jù)的操作可被反復(fù)進(jìn)行。這種反復(fù)過(guò)程改變用于把數(shù)據(jù)記錄在光盤的存儲(chǔ)層的比率而偏離初始比率。從而光盤失去它的特征并在記錄/回放期間產(chǎn)生錯(cuò)誤。這種惡化在格式化、在光存儲(chǔ)介質(zhì)上寫入和從光存儲(chǔ)介質(zhì)回放時(shí)以缺陷區(qū)表示出來(lái)。而且，可重寫光盤的缺陷區(qū)也可由于其表面上的刮傷、灰塵粒子和制造中的缺陷而引起。因此，為了防止缺陷區(qū)的寫入和讀出，有必要對(duì)這種缺陷區(qū)進(jìn)行管理。
圖1表示光盤的引入?yún)^(qū)和引出區(qū)中的用于管理缺陷區(qū)的缺陷管理區(qū)(DMA)。尤其，數(shù)據(jù)區(qū)被分為用于缺陷管理區(qū)的若干區(qū)段，其中各個(gè)區(qū)段進(jìn)一步被分為用戶區(qū)和備用區(qū)。用戶區(qū)是數(shù)據(jù)實(shí)際寫入的區(qū)并且備用區(qū)在用戶區(qū)出現(xiàn)缺陷的情況下使用。
一個(gè)盤，例如DVD-RAM中有4個(gè)DMA，兩個(gè)在引入?yún)^(qū)，兩個(gè)在引出區(qū)。由于管理缺陷區(qū)是重要的，同一內(nèi)容被重復(fù)地記錄在所有的四個(gè)DMA中以進(jìn)行數(shù)據(jù)保護(hù)。各個(gè)DMA包括兩個(gè)塊共32個(gè)扇區(qū)，每個(gè)塊由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。DMA的第一塊，稱為DDS/PDL塊，包括盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)和主要缺陷列表(PDL)。第二塊稱為SDL塊，包括次要缺陷列表(SDL)。PDL相應(yīng)于主要缺陷數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)，SDL相應(yīng)于次要缺陷數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)。
PDL通常存儲(chǔ)在制造盤期間引起的或格式化盤，即初始化或再初始化盤時(shí)鑒別出的缺陷扇區(qū)的項(xiàng)。各個(gè)項(xiàng)包括相應(yīng)于缺陷扇區(qū)的項(xiàng)類型和扇區(qū)序號(hào)。SDL以塊單元列出缺陷區(qū)，從而存儲(chǔ)格式化后產(chǎn)生的缺陷塊或在格式化期間不能被存儲(chǔ)在PDL的缺陷塊的項(xiàng)。如圖2所示，各個(gè)SDL項(xiàng)具有一個(gè)存儲(chǔ)具有缺陷扇區(qū)的塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)的區(qū)、一個(gè)存儲(chǔ)替代缺陷塊的塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)的區(qū)及保留區(qū)。
而且，各個(gè)SDL項(xiàng)被分配1位的值用于強(qiáng)制再分配標(biāo)記(FRM)。FRM位值0代表分配一個(gè)替代塊并且分配的塊沒有缺陷。FRM位值1代表沒有分配替代塊或分配的替代塊有缺陷。從而，為在列出為SDL項(xiàng)的缺陷塊中記錄數(shù)據(jù)，必須找到新的替代塊來(lái)記錄數(shù)據(jù)。因此，數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的缺陷區(qū)即缺陷扇區(qū)或缺陷塊通過(guò)滑移替代(slippingreplacement)算法和線性替代(linear replacement)算法用正?；驔]有缺陷的扇區(qū)或塊來(lái)替代。
在缺陷區(qū)或扇區(qū)被記錄在PDL時(shí)使用滑移替代。如圖3A所示，如果相應(yīng)于用戶區(qū)中的扇區(qū)的缺陷扇區(qū)m和n被記錄在PDL中，這種缺陷扇區(qū)被跳過(guò)到下一個(gè)可利用的扇區(qū)。通過(guò)用隨后的扇區(qū)來(lái)替代缺陷扇區(qū)，數(shù)據(jù)被寫入正常扇區(qū)。結(jié)果，數(shù)據(jù)被寫入的用戶區(qū)滑移并占據(jù)與跳過(guò)的缺陷扇區(qū)同等數(shù)量的備用區(qū)。
在缺陷塊被記錄在SDL中時(shí)或在回放期間發(fā)現(xiàn)缺陷塊時(shí)使用線性替代。如圖3B所示，如果相應(yīng)于用戶區(qū)或備用區(qū)中的塊的缺陷塊m和n被記錄在SDL上，這種缺陷塊被備用區(qū)中的正常塊來(lái)替代，并且要被記錄在缺陷塊的數(shù)據(jù)被記錄在分配的備用區(qū)。為達(dá)到這種替代，指定給缺陷塊的物理扇區(qū)序號(hào)(PSN)保留下來(lái)，而邏輯扇區(qū)序號(hào)(LSN)與要被記錄的數(shù)據(jù)一起被移動(dòng)到替代塊。線性替代對(duì)數(shù)據(jù)的非實(shí)時(shí)處理是有效的。為了簡(jiǎn)便，不需要實(shí)時(shí)處理的數(shù)據(jù)此后稱為個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)數(shù)據(jù)。
如果發(fā)現(xiàn)列出在SDL中的替代塊是有缺陷的，直接指針方法被應(yīng)用于SDL列表。根據(jù)直接指針方法，有缺陷的替代塊用新的替代塊代替，并且有缺陷的替代塊的SDL項(xiàng)被修改到新的替代塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)。
圖4A表示管理在把數(shù)據(jù)寫入用戶區(qū)或從用戶區(qū)讀出數(shù)據(jù)時(shí)找到的缺陷塊的過(guò)程。圖4B-4D表示根據(jù)線性替代算法產(chǎn)生的SDL項(xiàng)的實(shí)施例。各個(gè)SDL項(xiàng)依次具有FRM、缺陷塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)和替代塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)。
例如，如果SDL項(xiàng)是(1，blkA，0)，如圖4B所示，缺陷塊已經(jīng)在再現(xiàn)期間被找到并被列出在SDL中。這個(gè)項(xiàng)代表在塊blkA中出現(xiàn)缺陷，并且沒有替代塊。SDL項(xiàng)被用于防止在下一個(gè)記錄中數(shù)據(jù)被寫入缺陷塊。從而，在下一個(gè)記錄期間，缺陷塊blkA根據(jù)線性替代被分配一個(gè)替代塊。
如圖4C所示的SDL項(xiàng)(0，blkA，blkE)代表分配的替代塊blkE沒有缺陷，并且要被寫入用戶區(qū)中的缺陷塊blkA的數(shù)據(jù)被寫入到備用區(qū)的替代塊blkE。如圖4D所示的SDL項(xiàng)(1，blkA，blkE)代表在替代用戶區(qū)的缺陷塊blkA的備用區(qū)的替代塊blkE中出現(xiàn)缺陷。在這種情況下，根據(jù)直接指針方法分配新的替代塊。
圖5是光盤記錄/回放(R/P)裝置涉及記錄操作的部分視圖。光盤R/P裝置包括把數(shù)據(jù)寫入到光盤并從光盤讀出的光拾取器；控制光拾取器以在光拾取器的物鏡和光盤之間保持一定距離并保持恒定的軌道的伺服單元；處理并把輸入數(shù)據(jù)傳送到光拾取器或者接收并處理經(jīng)光拾取器再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)處理器；從外部主機(jī)接收并向外部主機(jī)傳送數(shù)據(jù)的接口；以及控制各組件的微處理器。光盤R/P裝置的接口與諸如PC機(jī)這樣的主機(jī)耦合，并將各種命令和數(shù)據(jù)在主機(jī)之間傳送。
如果有要被記錄在光盤R/P裝置的數(shù)據(jù)，主機(jī)發(fā)送記錄命令到光盤R/P裝置。記錄命令包括指定記錄位置的邏輯塊地址(LBA)和代表數(shù)據(jù)大小的傳送長(zhǎng)度。隨后主機(jī)把要被記錄的數(shù)據(jù)發(fā)送到光盤R/P裝置。一旦接收到要被寫入光盤上的數(shù)據(jù)，光盤R/P裝置從指定LBA開始寫入數(shù)據(jù)。此時(shí)，光盤R/P裝置參考代表光盤缺陷的PDL和SDL不把數(shù)據(jù)寫入具有缺陷的區(qū)。
再參考圖4A，光盤R/P裝置跳過(guò)PDL上列出的物理扇區(qū)并用在記錄期間備用區(qū)中的分配的替代塊來(lái)代替列在SDL中的區(qū)A和B之間的物理塊。如果在記錄或回放期間發(fā)現(xiàn)沒有列在SDL上的缺陷塊或易于發(fā)生錯(cuò)誤的塊，光盤R/P裝置把這種塊視為缺陷塊。結(jié)果，光盤R/P裝置在備用區(qū)搜索替代塊以再次寫入相應(yīng)于缺陷塊的數(shù)據(jù)，并把缺陷塊的第一扇區(qū)序號(hào)和替代塊的第一扇區(qū)序號(hào)列在SDL項(xiàng)。
為執(zhí)行線性替代，即為在發(fā)現(xiàn)缺陷塊(列在SDL或未列在SDL中的)時(shí)把數(shù)據(jù)寫入備用區(qū)中分配的替代塊，光盤R/P裝置必須把光拾取器從用戶區(qū)移動(dòng)到備用區(qū)并且然后返回到用戶區(qū)。由于移動(dòng)光拾取器需花費(fèi)時(shí)間，線性替代干擾了實(shí)時(shí)記錄。
因此已經(jīng)廣泛討論了用于實(shí)時(shí)記錄如音頻視頻裝置的缺陷區(qū)管理方法。一種方法是利用跳過(guò)算法，其中缺陷塊被跳過(guò)并且數(shù)據(jù)被寫入下一個(gè)正常塊，類似于滑移替代算法。如果使用這種算法，光拾取器不需要在每次發(fā)現(xiàn)缺陷塊時(shí)都移動(dòng)到備用區(qū)，從而移動(dòng)光拾取器所需時(shí)間被減少，排除對(duì)實(shí)時(shí)記錄的干擾。
例如，如果如圖4A所示的不需要實(shí)時(shí)處理的PC數(shù)據(jù)在使用SDL時(shí)被接收到，一發(fā)現(xiàn)缺陷塊blkA和blkB就執(zhí)行線性替代算法。如果接收到的數(shù)據(jù)需要實(shí)時(shí)處理，如圖4A的B和C之間的區(qū)中所示，一發(fā)現(xiàn)缺陷塊blkC，就使用滑移算法。即，不執(zhí)行線性替代。對(duì)于線性替代，缺陷塊的PSN被保持原來(lái)的樣子，并且缺陷塊的LSN被移動(dòng)到替代塊。對(duì)于滑移算法，缺陷塊blkC的LSN和PSN都保持原來(lái)的樣子。
因此，當(dāng)主機(jī)讀出根據(jù)滑移算法記錄的數(shù)據(jù)時(shí)，微處理器經(jīng)接口傳送包括缺陷塊的數(shù)據(jù)的所有數(shù)據(jù)。但是，主機(jī)不能識(shí)別跳過(guò)的缺陷塊的數(shù)據(jù)，因?yàn)樗鼪]有關(guān)于跳過(guò)的缺陷塊的信息，結(jié)果導(dǎo)致不正確地回放數(shù)據(jù)。因此，光盤R/P裝置的微處理器必須指令光拾取器不讀出光盤回放的并被傳送到主機(jī)的數(shù)據(jù)中的缺陷塊的數(shù)據(jù)。這里，關(guān)于缺陷塊的信息，如圖4B-4D所示，保持在SDL中，微處理器可應(yīng)要求把信息傳送到主機(jī)。
SDL是關(guān)于相對(duì)于線性替代算法的缺陷塊的信息。但是，微處理器不能區(qū)分相對(duì)于線性替代記錄的信息和相對(duì)于滑移算法而不執(zhí)行線性替代而記錄的信息。結(jié)果，如果已經(jīng)使用滑移算法，微處理器可能把不正確的信息傳送到主機(jī)。同樣，主機(jī)不能識(shí)別跳過(guò)的缺陷塊的數(shù)據(jù)，結(jié)果導(dǎo)致數(shù)據(jù)不正確地回放。
而且，由于備用區(qū)的大小不足夠大，備用區(qū)在DMA有用于在PDL或SDL項(xiàng)列出缺陷塊的冗余區(qū)時(shí)填充滿。如果備用區(qū)充滿，設(shè)置DMA中的備用充滿標(biāo)記。備用區(qū)可在備用區(qū)的初始分配不足夠時(shí)或在可用的備用區(qū)由于缺陷尤其是在備用區(qū)發(fā)生的突發(fā)缺陷而迅速減少時(shí)早于DMA而填滿。由于需要提高光盤的記錄容量，進(jìn)一步減小備用區(qū)的大小的方法已經(jīng)被考慮。但是，在這種情況下，備用區(qū)在DMA之前被填滿是很可能發(fā)生的。
因此，如果光盤R/P裝置發(fā)現(xiàn)沒有列在SDL中的或列在SDL中的但在記錄或回放數(shù)據(jù)時(shí)需要如圖4B-4D所示的新的替代塊的缺陷塊，它檢查DMA的備用充滿標(biāo)記。如果備用充滿標(biāo)記在復(fù)位狀態(tài)，其代表保留有可利用的備用區(qū)，裝置把缺陷塊的數(shù)據(jù)記錄在備用區(qū)中的替代塊中并列出新的SDL項(xiàng)或修改現(xiàn)有的SDL項(xiàng)。另一方面，如果備用充滿標(biāo)記在設(shè)定狀態(tài)，其代表備用區(qū)充滿，線性替代不能執(zhí)行，即使DMA具有冗余區(qū)。如果在必要時(shí)線性替代不能執(zhí)行，缺陷區(qū)的管理不能保持。結(jié)果盤不能使用。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的一個(gè)目的是至少解決相關(guān)技術(shù)中的問題和不足。
本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種光盤和一種根據(jù)是否分配替代塊來(lái)管理光盤缺陷的缺陷管理方法。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種數(shù)據(jù)記錄方法和裝置，其根據(jù)是否已經(jīng)分配替代塊來(lái)區(qū)別地存儲(chǔ)和管理光盤內(nèi)關(guān)于缺陷塊的信息。
本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供一種光盤、一種用于管理這種光盤的缺陷的缺陷管理方法及一種根據(jù)是否執(zhí)行線性替代來(lái)存儲(chǔ)關(guān)于缺陷塊的信息的數(shù)據(jù)記錄方法與裝置。
本發(fā)明的還一個(gè)目的是提供一種光盤、一種用于管理這種光盤的缺陷的缺陷管理方法及一種如果沒有可利用的替代區(qū)就不執(zhí)行線性替代的存儲(chǔ)關(guān)于缺陷塊的信息的數(shù)據(jù)記錄方法與裝置。
本發(fā)明的還一個(gè)目的是提供一種光盤、一種用于管理這種光盤的缺陷的缺陷管理方法及一種區(qū)別地存儲(chǔ)關(guān)于用于實(shí)時(shí)處理被跳過(guò)的或由于填充滿的備用塊而被跳過(guò)的缺陷區(qū)的信息以及關(guān)于與線性替代算法相關(guān)的缺陷塊的信息的數(shù)據(jù)記錄方法與裝置。
本發(fā)明的還一個(gè)目的是提供一種光盤、一種用于管理這種光盤的缺陷的缺陷管理方法及一種通過(guò)根據(jù)是否執(zhí)行線性替代把識(shí)別信息提供給SDL項(xiàng)來(lái)區(qū)別地存儲(chǔ)關(guān)于列在SDL項(xiàng)的缺陷塊的信息的數(shù)據(jù)記錄方法與裝置。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種用于缺陷管理信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，該缺陷管理信息被記錄在光記錄介質(zhì)上或者將由再現(xiàn)或記錄設(shè)備記錄到光記錄介質(zhì)上或從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)，其中，該缺陷管理信息包括第一、第二或第三項(xiàng)目的至少一個(gè)，第一項(xiàng)目表示用備用塊替換缺陷塊且備用塊的位置已指定，第二項(xiàng)目表示不替換缺陷塊且備用塊的位置已指定或保持不變，以及第三項(xiàng)目表示不替換缺陷塊且備用塊的位置未指定。
本發(fā)明的另外的優(yōu)點(diǎn)、目的和特征在下面的描述中部分地提出，并且其對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言在閱讀下面的描述后變得更明顯，這些優(yōu)點(diǎn)、目的和特征可部分地從本發(fā)明的實(shí)踐中領(lǐng)會(huì)。本發(fā)明的目的和優(yōu)點(diǎn)如后附權(quán)利要求所特別指出的那樣來(lái)實(shí)現(xiàn)和達(dá)到。
為達(dá)到上述目的并根據(jù)發(fā)明目的，如這里的普遍描述和體現(xiàn)的一樣，光盤具有管理缺陷的DMA并包括在DMA中記錄識(shí)別信息的區(qū)。識(shí)別信息允許把根據(jù)線性替代算法分配替代塊和不分配替代塊二者之間區(qū)分開來(lái)。記錄識(shí)別信息的區(qū)在DMA中SDL項(xiàng)的保留區(qū)中被分配。識(shí)別信息代表在數(shù)據(jù)根據(jù)滑移算法被記錄時(shí)或在備用區(qū)充滿時(shí)缺陷塊被列在SDL中。
根據(jù)本發(fā)明光盤的缺陷管理方法包括在光盤記錄期間如果發(fā)現(xiàn)缺陷塊就判定是否分配替代塊；基于判定結(jié)果，存儲(chǔ)關(guān)于缺陷塊的信息并存儲(chǔ)識(shí)別信息來(lái)把帶有分配的替代塊的缺陷塊與不帶有分配的替代塊的塊區(qū)分開。
在實(shí)時(shí)記錄期間不存儲(chǔ)關(guān)于替代塊的信息。另外，在沒有可利用的替代區(qū)時(shí)不分配關(guān)于替代塊的信息。識(shí)別信息與缺陷塊信息一起被存儲(chǔ)在缺陷管理區(qū)中的次要缺陷列表中。而且，強(qiáng)制再分配標(biāo)記信息被復(fù)位到0。另外，基于識(shí)別信息區(qū)分的缺陷塊信息被通知給傳送記錄命令的主機(jī)。
在另一實(shí)施例中，根據(jù)本發(fā)明光盤的缺陷管理方法包括在光盤記錄數(shù)據(jù)時(shí)如果發(fā)現(xiàn)缺陷塊就檢測(cè)可利用的替代區(qū)的存在/不存在；存儲(chǔ)關(guān)于缺陷塊的信息和識(shí)別信息，如果可利用的替代區(qū)存在則該識(shí)別信息表示分配替代塊并且如果可利用的替代區(qū)不存在則該識(shí)別信息表示不分配替代塊。如果數(shù)據(jù)是通過(guò)跳過(guò)缺陷塊被記錄的，則確定可利用的替代塊不存在。另外，如果備用區(qū)充滿，可利用的替代塊被確定為不存在。
在又一實(shí)施例中，光盤的數(shù)據(jù)記錄方法包括接收數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)將被寫入光盤中的區(qū)的信息；讀出光盤的缺陷區(qū)信息；檢測(cè)是否缺陷區(qū)信息覆蓋記錄期間發(fā)現(xiàn)的缺陷塊；如果發(fā)現(xiàn)的缺陷塊被缺陷區(qū)信息覆蓋，基于包含在缺陷區(qū)信息中的識(shí)別信息檢測(cè)是否替代塊被分配給缺陷塊，并且如果分配了替代塊，在分配的替代塊中寫入數(shù)據(jù)，否則，找一個(gè)新的可利用的替代塊來(lái)在那里寫入數(shù)據(jù)；如果缺陷塊沒有被缺陷區(qū)信息覆蓋，判定缺陷塊是否用替代塊替代，并且基于判定結(jié)果如果替代塊被分配給盤的缺陷管理區(qū)中的缺陷塊，存儲(chǔ)關(guān)于缺陷塊的信息和識(shí)別信息以進(jìn)行區(qū)分。識(shí)別信息用缺陷管理區(qū)內(nèi)次要缺陷列表處的保留區(qū)的至少1位來(lái)代表。
另外，根據(jù)本發(fā)明的光盤的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)記錄方法包括接收數(shù)據(jù)和關(guān)于數(shù)據(jù)將被寫入在光盤中的區(qū)的信息；并且如果在實(shí)時(shí)記錄期間找到缺陷塊就跳過(guò)缺陷塊并把數(shù)據(jù)寫入下面的正常塊；與關(guān)于用替代塊替代的缺陷塊的信息相區(qū)分地來(lái)存儲(chǔ)關(guān)于跳過(guò)的缺陷塊的信息。
識(shí)別信息被設(shè)置來(lái)表示缺陷塊不被替代塊來(lái)替代。如果通過(guò)跳過(guò)缺陷塊記錄數(shù)據(jù)時(shí)發(fā)現(xiàn)缺陷塊并且如果關(guān)于用于缺陷塊的替代塊的信息被列出在次要缺陷列表項(xiàng)，在缺陷塊信息被存儲(chǔ)時(shí)替代塊信息被保持原來(lái)的樣子。
另外，光盤記錄裝置包括檢測(cè)缺陷塊并判定在記錄數(shù)據(jù)時(shí)替代塊是否被分配給缺陷塊的控制器；根據(jù)控制器的控制向光盤記錄數(shù)據(jù)和從光盤回放數(shù)據(jù)的光拾取器；存儲(chǔ)關(guān)于缺陷塊的信息和區(qū)分是否替代塊被分配給缺陷塊的識(shí)別信息的存儲(chǔ)單元。
存儲(chǔ)單元在實(shí)時(shí)記錄期間不存儲(chǔ)替代塊并用識(shí)別信息來(lái)代表這一事實(shí)。如果沒有可利用的替代區(qū)，存儲(chǔ)單元也不存儲(chǔ)替代塊并用識(shí)別信息代表這一事實(shí)。


本發(fā)明將參考下面的附圖來(lái)具體描述，其中相同的序號(hào)表示相同的部件，這里圖1是傳統(tǒng)光盤的數(shù)據(jù)區(qū)；圖2是傳統(tǒng)SDL項(xiàng)的結(jié)構(gòu)；圖3A是傳統(tǒng)滑移替代算法；圖3B是傳統(tǒng)線性替代算法；圖4A是在傳統(tǒng)光盤中使用SDL時(shí)根據(jù)線性替代算法或滑移算法來(lái)記錄數(shù)據(jù)的狀態(tài)；圖4B到4D表示列出關(guān)于根據(jù)線性替代算法在記錄或回放數(shù)據(jù)時(shí)產(chǎn)生的缺陷塊的信息的SDL項(xiàng)的實(shí)施例；圖5是傳統(tǒng)光盤記錄/回放裝置的框圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明的光盤記錄/回放裝置的框圖；
圖7A是根據(jù)本發(fā)明的光盤缺陷管理方法把識(shí)別信息分配給SDL項(xiàng)的圖示；圖7B-7D是說(shuō)明在使用識(shí)別信息根據(jù)跳過(guò)算法和線性替代算法記錄或回放數(shù)據(jù)時(shí)可區(qū)分地列出的SDL項(xiàng)；圖8A和8B是表示根據(jù)本發(fā)明的如何使用圖7中的識(shí)別信息來(lái)管理缺陷區(qū)的流程圖；圖9是在改變根據(jù)本發(fā)明的光盤缺陷管理方法中的FRM定義后在根據(jù)跳過(guò)算法記錄或回放數(shù)據(jù)時(shí)列出的SDL項(xiàng)。
具體實(shí)施例方式
下面將具體參考本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，其中一些實(shí)施例在附圖中表示出來(lái)。本發(fā)明根據(jù)在向光盤記錄或從光盤回放數(shù)據(jù)同時(shí)找到缺陷塊時(shí)是否執(zhí)行線性替代來(lái)可區(qū)別地列出關(guān)于SDL中缺陷塊的信息。在一個(gè)實(shí)施例中，本發(fā)明通過(guò)分配識(shí)別信息可區(qū)別地列出這種信息。在另一實(shí)施例中，這種信息通過(guò)改變FRM定義的一部分來(lái)被可區(qū)別地列出。
在本發(fā)明的第一實(shí)施例中，代表在數(shù)據(jù)根據(jù)線性替代算法被記錄時(shí)相應(yīng)的缺陷塊是否被列出的信息被寫入SDL項(xiàng)中的保留區(qū)。
圖6表示根據(jù)本發(fā)明的光盤記錄/回放裝置，包括向光盤601記錄并從光盤601回放數(shù)據(jù)的光拾取器602；控制光拾取器602以在光拾取器602的物鏡和光盤601之間保持一定距離并保持特定軌道的伺服單元603；處理輸入數(shù)據(jù)并把處理后的輸入數(shù)據(jù)傳送到光拾取器602的數(shù)據(jù)處理器604；讀出和存儲(chǔ)經(jīng)數(shù)據(jù)處理器604寫在光盤的DMA區(qū)中的DMA信息的DMA信息存儲(chǔ)單元606；從外部主機(jī)608接收并向外部主機(jī)608傳送數(shù)據(jù)的接口605；以及檢測(cè)在數(shù)據(jù)記錄/回放期間缺陷塊是否存在并判定線性替代是否已經(jīng)對(duì)缺陷塊執(zhí)行的控制器607。光盤R/P裝置的接口605耦合于主機(jī)608，如PC，并與主機(jī)608進(jìn)行命令和數(shù)據(jù)的通信。
當(dāng)可重寫光盤例如DVD-RAM被插入本發(fā)明的裝置時(shí)，列在光盤601的DMA區(qū)中的SDL和PDL項(xiàng)在控制器607的控制下經(jīng)數(shù)據(jù)處理器604被存儲(chǔ)在DMA信息存儲(chǔ)單元606。此時(shí)，代表相對(duì)于缺陷塊是否已經(jīng)執(zhí)行線性替代的識(shí)別信息被增加到DMA信息存儲(chǔ)單元606中存儲(chǔ)的DMA信息中。
例如，現(xiàn)有SDL項(xiàng)中至少1位的保留區(qū)被分配作為識(shí)別信息(IDInfo)位。ID Info位被設(shè)置為值1或0以區(qū)分對(duì)列出在SDL中的信息是否已執(zhí)行線性替代。即，線性替代算法在跳過(guò)算法執(zhí)行時(shí)或在備用區(qū)填充滿時(shí)不執(zhí)行。在本發(fā)明中，ID Info位被稱為線性替代控制(LRC)位，并且如圖7A所示。
參考圖7A，各個(gè)SDL項(xiàng)包括LRC區(qū)、用于存儲(chǔ)具有缺陷扇區(qū)的塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)的區(qū)和用于存儲(chǔ)代替缺陷塊的替代塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)的區(qū)。由于LRC位具有與FRM位不同的含義，因此FRM也可被包括在SDL中。但是，在本發(fā)明的這一實(shí)施例中，不使用FRM位。
如圖7B所示，SDL項(xiàng)中LRC位值0意味著在根據(jù)線性替代算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)得到SDL項(xiàng)。如圖7C或7D所示，SDL項(xiàng)中LRC位值1意味著在根據(jù)跳過(guò)算法而不是線性替代記錄數(shù)據(jù)時(shí)或備用區(qū)充滿時(shí)得到SDL項(xiàng)。當(dāng)在根據(jù)線性替代算法記錄數(shù)據(jù)期間發(fā)現(xiàn)缺陷塊時(shí)，假設(shè)備用區(qū)未充滿，相應(yīng)于缺陷塊的數(shù)據(jù)被記錄在替代塊中并且LRC位復(fù)位到0。否則，如果備用區(qū)充滿，線性替代不執(zhí)行，并且LRC位被設(shè)置為1。另外，當(dāng)在根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)期間發(fā)現(xiàn)缺陷塊時(shí)，缺陷塊被跳過(guò)，并且相應(yīng)于缺陷塊的SDL項(xiàng)的LRC位被設(shè)置為1。
一旦經(jīng)過(guò)了預(yù)定時(shí)間，例如在記錄數(shù)據(jù)期間或在完成記錄后，控制器607把關(guān)于缺陷塊的信息傳送到主機(jī)。此時(shí)，控制器607可基于LRC位檢測(cè)在根據(jù)線性替代算法記錄數(shù)據(jù)期間是否得到相應(yīng)的SDL項(xiàng)，從而能夠傳送正確的信息到主機(jī)。因此，主機(jī)可適當(dāng)?shù)孛畈粡牧性赟DL中的缺陷塊回放數(shù)據(jù)或向列在SDL中的缺陷塊記錄數(shù)據(jù)。
主機(jī)可考慮列在SDL中的缺陷塊發(fā)出寫入/讀出命令。即，主機(jī)將命令不從列在SDL中的缺陷塊回放數(shù)據(jù)或向列在SDL中的缺陷塊記錄數(shù)據(jù)。光盤R/P裝置接收數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)要被寫入光盤中的區(qū)的信息，并讀出關(guān)于光盤的缺陷區(qū)的信息。光盤R/P裝置檢測(cè)缺陷區(qū)信息是否覆蓋了在記錄期間找到的缺陷塊；并且如果找到的缺陷塊被缺陷區(qū)信息所覆蓋，基于包含在缺陷區(qū)信息中的識(shí)別信息來(lái)檢測(cè)替代塊是否被分配給缺陷塊。如果分配了替代塊，在分配的替代塊中寫入數(shù)據(jù)，否則，找到一個(gè)新的可利用的替代塊來(lái)在那里寫入數(shù)據(jù)。如果缺陷塊沒有被缺陷區(qū)信息所覆蓋，光盤R/P裝置還判定缺陷塊是否將用替代塊替代，并且基于判定結(jié)果，如果替代塊被分配給盤的缺陷管理區(qū)中的缺陷塊，把關(guān)于缺陷塊的信息和識(shí)別信息存儲(chǔ)下來(lái)以進(jìn)行區(qū)分。識(shí)別信息用缺陷管理區(qū)內(nèi)的次要缺陷列表處的保留區(qū)的至少1位來(lái)表示。
從而，在寫入/讀出數(shù)據(jù)時(shí)，光盤R/P裝置繞過(guò)列在SDL中的缺陷塊。在這種情況下，一遇到新的缺陷塊SDL項(xiàng)的LRC位被設(shè)置為1，并且缺陷塊的位置信息被引入。由于關(guān)于替代塊的信息是不必要的，現(xiàn)有的值被保持原來(lái)的樣子或引入值0。
另一種情況是，如果主機(jī)不考慮SDL中的缺陷塊信息發(fā)出寫入/讀出命令，光盤R/P裝置的控制器607基于存儲(chǔ)在DMA信息存儲(chǔ)單元606中的DMA信息在數(shù)據(jù)記錄/回放期間識(shí)別在SDL中列出的缺陷塊。如果發(fā)出讀出命令，是否能找到缺陷塊可基于缺陷塊被列出的SDL項(xiàng)的LRC位來(lái)確定。如果發(fā)出寫入命令，現(xiàn)有項(xiàng)的LRC位可依據(jù)是否是線性替代算法來(lái)改變。這里新找到的缺陷塊以與上述相同的方式被處理。例如，如果在根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)找到列在SDL中的缺陷塊，缺陷塊被跳過(guò)并且相應(yīng)于缺陷塊的SDL項(xiàng)的LRC位被設(shè)置為1。
此時(shí)，如果關(guān)于替代塊的信息被寫入在用于存儲(chǔ)SDL項(xiàng)中的替代塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)序號(hào)的區(qū)中，信息被保持原來(lái)的樣子。例如，如圖7B所示的SDL項(xiàng)(0，blkC，blkG)意味著數(shù)據(jù)根據(jù)線性替代算法來(lái)記錄并且替代塊已被分配。如果這種SDL項(xiàng)在根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)被碰到，缺陷塊blkC被跳過(guò)并且SDL項(xiàng)被修改為如圖7C所示的(1，blkC，blkG)。
從而，如圖7C所示的SDL項(xiàng)(1，blkC，blkG)意味著數(shù)據(jù)根據(jù)跳過(guò)算法被記錄，缺陷發(fā)生在塊blkC中，關(guān)于替代塊blkG的信息被保留但在記錄/回放期間不被使用。如圖7D所示的SDL項(xiàng)(1，blkC，0)意味著數(shù)據(jù)根據(jù)跳過(guò)算法被記錄，新的缺陷塊blkC被發(fā)現(xiàn)和引入。如果這種SDL項(xiàng)在根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)期間被發(fā)現(xiàn)，缺陷塊blkC被跳過(guò)并且SDL項(xiàng)被保持原來(lái)的樣子。
如果根據(jù)線性替代算法原來(lái)列在SDL項(xiàng)中的關(guān)于備用區(qū)的替代塊的信息在根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)在SDL項(xiàng)中被保持為原來(lái)的樣子，替代塊信息可在隨后的記錄中使用。換言之，當(dāng)根據(jù)線性替代算法向列在SDL中的這種缺陷塊寫入數(shù)據(jù)時(shí)，如果不存在替代塊信息，用于缺陷塊的替代塊必須被最新分配給備用區(qū)。但是，如果關(guān)于替代塊的信息被保持，先前分配的替代塊的位置可被用作新分配的替代塊。
例如，替代塊blkH后面的塊，如圖4A所示，被分配為新的替代塊。由于先前分配的替代塊不能被再使用，光盤的可利用容量被降低，從而降低光盤的效率。因此，如果替代塊信息甚至在根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)也被保持，如上所述，在根據(jù)線性算法在隨后的記錄中寫入數(shù)據(jù)時(shí)，先前分配的替代塊可和原來(lái)一樣被再利用，從而提高光盤的效率。
尤其，如果其中在線性替代記錄期間缺陷塊blkC的數(shù)據(jù)被寫入的關(guān)于替代塊blkG的信息在實(shí)時(shí)記錄期間被保持在SDL項(xiàng)中，缺陷塊blkC的數(shù)據(jù)在下一個(gè)線性替代記錄期間不被寫入備用區(qū)的新的替代塊而是寫入已經(jīng)被分配的替代塊blkG。
同時(shí)，如果在使用線性替代來(lái)記錄/回放數(shù)據(jù)期間發(fā)現(xiàn)要求新的替代塊的缺陷塊，但沒有用于缺陷塊的替代塊，即備用區(qū)是充滿的(假設(shè)DMA有冗余)，SDL項(xiàng)的LRC位值被設(shè)置為1。此時(shí)，替代塊不存在。結(jié)果，替代塊信息不被列出并且缺陷塊的位置信息如圖7D所示來(lái)列出。如果在回放或記錄期間備用充滿標(biāo)記和LRC位被設(shè)置為1，缺陷塊的數(shù)據(jù)不能被讀出并且數(shù)據(jù)不能被寫入缺陷塊中，因?yàn)槿毕輭K的替代塊不存在而且不能執(zhí)行線性替代。
圖8A和8B是表示根據(jù)本發(fā)明的光盤R/P裝置的上述操作的流程圖。如果有要被記錄的數(shù)據(jù)，主機(jī)經(jīng)光盤R/P裝置的接口輸入寫入命令并且如果有數(shù)據(jù)回放，主機(jī)輸入讀出命令(800)。一旦從主機(jī)接收到寫入或讀出命令，光盤R/P裝置的控制器607確定是否輸入數(shù)據(jù)需要實(shí)時(shí)記錄/回放(802)。
當(dāng)數(shù)據(jù)確定為需要實(shí)時(shí)記錄時(shí)，裝置開始在主機(jī)指定的LBA的位置上寫入數(shù)據(jù)(804)。作出是否寫入數(shù)據(jù)完成了的判定(806)。如果在寫入數(shù)據(jù)未完成時(shí)發(fā)現(xiàn)缺陷塊(808)，缺陷塊被跳過(guò)，并且數(shù)據(jù)被寫入下一個(gè)正常塊(810)。關(guān)于跳過(guò)的缺陷塊的信息被引入SDL中(812)并被發(fā)送給主機(jī)(814)。這個(gè)信息以不同于在執(zhí)行線性替代算法時(shí)發(fā)現(xiàn)的缺陷塊信息的方式被引入。從而控制器607可區(qū)分開根據(jù)跳過(guò)算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)得到的SDL項(xiàng)與根據(jù)線性替代算法記錄數(shù)據(jù)時(shí)得到的SDL項(xiàng)。為了這一目的，SDL的LRC位被設(shè)置為1并且缺陷塊的位置信息被引入SDL項(xiàng)。
在步驟808發(fā)現(xiàn)的缺陷塊可以是新遇到的缺陷塊或已經(jīng)列在SDL中的塊。如果缺陷塊沒有列在SDL中，該缺陷塊是新的并且關(guān)于缺陷塊的位置信息通過(guò)把LRC位設(shè)置為1被列在SDL項(xiàng)中，如圖7D所示的(1，blkC，0)。如果缺陷塊列在SDL中，通過(guò)把LRC位設(shè)置為1并保持關(guān)于替代塊的信息來(lái)糾正SDL，如圖7C所示的(1，blkC，blkG)。這種過(guò)程被執(zhí)行直到完成主機(jī)寫入命令的數(shù)據(jù)記錄。如果完成了寫入(806)，控制器607把命令執(zhí)行報(bào)告?zhèn)魉偷街鳈C(jī)(816)。
當(dāng)數(shù)據(jù)被確定為需要實(shí)時(shí)回放時(shí)，裝置開始在主機(jī)指定的LBA的位置上讀出數(shù)據(jù)(804)。和記錄中一樣，作出是否讀出數(shù)據(jù)完成了的判定(806)。但是，如果在讀出數(shù)據(jù)未完成時(shí)發(fā)現(xiàn)缺陷塊(808)，缺陷塊被跳過(guò)，部分糾正的數(shù)據(jù)可從缺陷塊被讀出或者零填充數(shù)據(jù)被返回(圖8A中未示出)。關(guān)于跳過(guò)的缺陷塊的信息被引入SDL中(812)并被發(fā)送給主機(jī)(814)。這種過(guò)程被執(zhí)行直到完成主機(jī)讀出命令的數(shù)據(jù)回放。如果完成了讀出806)，控制器607把命令執(zhí)行報(bào)告?zhèn)魉偷街鳈C(jī)(816)。
在記錄/回放期間，控制器607可以各種方式發(fā)送關(guān)于缺陷塊的信息到主機(jī)。例如，缺陷塊信息可被嵌入在標(biāo)題中傳送給主機(jī)，或者新的允許識(shí)別跳過(guò)的塊的命令被產(chǎn)生并被傳送給主機(jī)，或者缺陷塊信息可與命令執(zhí)行報(bào)告一起在完成實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的記錄/回放后被傳送給主機(jī)。
如果在步驟802確定要被記錄的數(shù)據(jù)不需要實(shí)時(shí)記錄，即數(shù)據(jù)是PC數(shù)據(jù)，控制器607從/向主機(jī)指定的LBA開始寫入/讀出數(shù)據(jù)(820)。如果接收到讀出命令，從主機(jī)指定的LBA開始執(zhí)行回放，并且如果接收到寫入命令，從主機(jī)指定的LBA開始執(zhí)行記錄。當(dāng)沒有完成數(shù)據(jù)的寫入/讀出(822)時(shí)，并且如果發(fā)現(xiàn)缺陷塊(824)，作出是否缺陷塊被列在SDL中的判定(826)。
如果缺陷塊沒有列在SDL中，來(lái)自備用區(qū)的替代塊被分配。從而，檢查備用充滿標(biāo)記來(lái)確定是否有一些可利用的替代塊，即是否備用區(qū)是充滿的(828)。備用充滿標(biāo)記1表示沒有可利用的替代塊。如果沒有可利用的替代塊，SDL中的LRC信息被設(shè)置為1，缺陷塊的位置信息被列出，并且替代塊的位置信息被設(shè)置為0，如圖7D所示的(1，blkC，0)。關(guān)于缺陷塊的信息被傳送給主機(jī)(832)，記錄/回放過(guò)程中的錯(cuò)誤報(bào)告被發(fā)送給主機(jī)(834)。
如果備用區(qū)在數(shù)據(jù)寫入期間未充滿，替代塊被分配并且要被寫入在缺陷塊中的數(shù)據(jù)被寫入替代塊(836)。另外，缺陷塊和替代塊的位置信息被列在SDL中，SDL中的LRC信息被設(shè)置為0，如7B所示的(1，blkC，blkG)(836)。關(guān)于缺陷塊的信息被傳送給主機(jī)(838)，處理返回步驟820以記錄更多的數(shù)據(jù)(840)。
在讀出數(shù)據(jù)期間，即使有可利用的替代塊，數(shù)據(jù)不能從缺陷塊讀出。因此，回放中的錯(cuò)誤報(bào)告被發(fā)送給主機(jī)(840)。但是，關(guān)于缺陷塊的信息可被傳送給主機(jī)以進(jìn)一步使用(838)，替代塊甚至可被分配來(lái)在下一次記錄中使用(未示出)。如果替代塊被分配，缺陷塊和替代塊的位置信息被列出在SDL中，在步驟836，SDL中的LRC信息被設(shè)置為0。
如果缺陷塊被列在SDL中，作出是否替代塊被分配的進(jìn)一步確定(842)。即，如果LRC位為0，SDL項(xiàng)在先前根據(jù)線性替代算法記錄/回放數(shù)據(jù)時(shí)得到。從而，記錄/回放根據(jù)線性替代算法繼續(xù)進(jìn)行(844)，并且處理返回步驟820以更多地記錄/回放數(shù)據(jù)。換言之，如果替代塊被分配給SDL項(xiàng)，光拾取器被移動(dòng)到替代塊并且數(shù)據(jù)從/向替代塊被寫入/讀出。如果SDL項(xiàng)的LRC位為1，并且替代塊被列出，如圖7C所示的(1，blkC，blkG)，列出的替代塊被用來(lái)執(zhí)行線性替代，LRC位被糾正為0，使SDL項(xiàng)成為如圖7B所示的(0，blkC，blkG)。
如果分配的替代塊是有缺陷的，新的替代塊可根據(jù)直接指針方法被分配，數(shù)據(jù)然后從/向分配的替代塊被寫入/讀出。但是如果備用區(qū)在DMA之前變?yōu)槌錆M的，并且沒有替代塊可被分配，SDL項(xiàng)的缺陷塊的位置信息被保持，LRC位被改變?yōu)?，如圖7D所示的(1，blkC，0)，表示沒有執(zhí)行線性替代。
如果在SDL項(xiàng)中未分配替代塊，檢查備用充滿標(biāo)記來(lái)確定是否有一些可利用的替代塊(846)。即如果SDL項(xiàng)的LRC位被設(shè)置為1，在數(shù)據(jù)根據(jù)跳過(guò)算法被寫入/讀出時(shí)或在備用區(qū)充滿時(shí)可能已得到SDL項(xiàng)。因此，如果沒有可利用的替代塊，即備用區(qū)是充滿的，記錄/回放過(guò)程中的寫入/讀出錯(cuò)誤報(bào)告被發(fā)送給主機(jī)(834)。但是，當(dāng)格式化備用區(qū)充滿的光盤時(shí)，SDL可依據(jù)格式化方式被移動(dòng)到PDL，從而備用區(qū)不再是充滿的。在任何情況下，如果備用區(qū)是未充滿的，其處理與備用區(qū)對(duì)于未列在SDL中的缺陷塊為未充滿時(shí)一樣(836-840)。
對(duì)于非實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)執(zhí)行上述過(guò)程直到主機(jī)的寫入/讀出命令的記錄/回放數(shù)據(jù)完成。如果完成了寫入/讀出，控制器607發(fā)送命令執(zhí)行報(bào)告給主機(jī)(848)。這里控制器607以如上參考圖8A在步驟816所述的各種方法發(fā)送關(guān)于跳過(guò)的缺陷塊的信息給主機(jī)。
在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，改變FRM的定義來(lái)區(qū)分線性替代與跳過(guò)替代。如果在根據(jù)跳過(guò)算法實(shí)時(shí)記錄數(shù)據(jù)時(shí)發(fā)現(xiàn)缺陷塊blkC，SDL項(xiàng)被列出為(0，blkC，0)，如圖9所示。此時(shí)，不需要替代塊，從而不改變關(guān)于備用區(qū)中替代塊的信息，或被列出為0。僅FRM的定義改變。
例如，如果FRM和替代塊均為0，其被修改以被識(shí)別為代表在執(zhí)行跳過(guò)算法時(shí)發(fā)現(xiàn)的缺陷塊或識(shí)別為代表分配的替代塊而不是執(zhí)行線性替代的缺陷情況。這是因?yàn)?，即使是在?shí)時(shí)記錄期間發(fā)現(xiàn)的缺陷塊也被跳過(guò)，并且在備用區(qū)不存在用于缺陷塊的替代塊。另外，這旨在把根據(jù)跳過(guò)算法列出的SDL項(xiàng)與根據(jù)線性替代算法列出的SDL項(xiàng)區(qū)分開。甚至在圖4A的B和C區(qū)之間的區(qū)根據(jù)線性替代算法被列出并且缺陷塊信息如(0，blkC，blkG)被保持為SDL項(xiàng)的情況下，如果使用該區(qū)來(lái)根據(jù)跳過(guò)算法進(jìn)行再寫入，SDL項(xiàng)被修改為(0，blkC，0)。
總之，本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn)。首先，由于控制器可基于分配給各個(gè)SDL項(xiàng)的LRC位來(lái)檢測(cè)線性替代的存在/不存在，光盤R/P裝置(即，驅(qū)動(dòng)器)可把正確的信息傳送到主機(jī)。因此，即使跳過(guò)的塊的不正確的數(shù)據(jù)即寫入跳過(guò)的塊中的原來(lái)的數(shù)據(jù)被光盤R/P裝置再現(xiàn)并在再現(xiàn)數(shù)據(jù)期間被傳送到主機(jī)，主機(jī)會(huì)基于從控制器接收到的缺陷塊信息放棄跳過(guò)的塊的數(shù)據(jù)并僅讀出正常的塊的數(shù)據(jù)。換言之，本發(fā)明可防止在主機(jī)不知道關(guān)于跳過(guò)的塊的信息時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤。
另外，即使在執(zhí)行來(lái)自主機(jī)的回放命令時(shí)發(fā)現(xiàn)列在SDL中的缺陷塊，控制器可清楚地判定是否要找到替代塊或放棄缺陷塊并僅返回錯(cuò)誤信息到主機(jī)。最后，當(dāng)要求新的替代塊的缺陷塊在備用區(qū)充滿時(shí)記錄或回放數(shù)據(jù)時(shí)被發(fā)現(xiàn)，不執(zhí)行線性替代，LRC位與缺陷塊的位置信息一起被設(shè)置在SDL項(xiàng)中以表示在備用區(qū)充滿時(shí)得到相應(yīng)的SDL項(xiàng)，從而數(shù)據(jù)不被寫入缺陷塊，或者缺陷塊的數(shù)據(jù)在以后再次寫入或再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)不被讀出。因此，本發(fā)明允許對(duì)盤片有效的管理并提高盤片的耐久性。
前述的實(shí)施例僅是示例并不構(gòu)成對(duì)發(fā)明的限制。本發(fā)明的教導(dǎo)可容易地被應(yīng)用于其它類型的裝置。本發(fā)明的描述意在圖示發(fā)明，而不限制權(quán)利要求的范圍。對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言顯然可進(jìn)行許多替代、修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種用于缺陷管理信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，該缺陷管理信息被記錄在光記錄介質(zhì)上或者將由再現(xiàn)或記錄設(shè)備記錄到光記錄介質(zhì)上或從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)，其中，該缺陷管理信息包括第一、第二或第三項(xiàng)目的至少一個(gè)，第一項(xiàng)目表示用備用塊替換缺陷塊且備用塊的位置已指定，第二項(xiàng)目表示不替換缺陷塊且備用塊的位置已指定或保持不變，以及第三項(xiàng)目表示不替換缺陷塊且備用塊的位置未指定。
2.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，第一、第二或第三項(xiàng)目由表示是否用備用塊替換缺陷塊的指示信息和表示備用塊在備用區(qū)內(nèi)的位置的位置信息來(lái)表示。
3.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，在記錄或再現(xiàn)非實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)和/或備用區(qū)未充滿時(shí)，針對(duì)該缺陷塊生成第一項(xiàng)目。
4.如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，如果在先前的記錄或再現(xiàn)期間已生成并記錄了第一項(xiàng)目，則在當(dāng)前記錄或再現(xiàn)的是實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊把第一項(xiàng)目改為第二項(xiàng)目，其中，備用塊的位置保持不變。
5.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，當(dāng)在先前的非實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)已被記錄在其上面的光記錄介質(zhì)的一區(qū)域上記錄當(dāng)前實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊生成第二項(xiàng)目。
6.如權(quán)利要求4所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，在記錄或再現(xiàn)當(dāng)前實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)不是被記錄在缺陷塊上或從缺陷塊再現(xiàn)，而是被記錄在下一可用的塊上或從下一可用的塊再現(xiàn)。
7.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，在記錄或再現(xiàn)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊生成第三項(xiàng)目。
8.如權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，在記錄或再現(xiàn)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，數(shù)據(jù)不是被記錄在缺陷塊上或從缺陷塊再現(xiàn)，而是被記錄在下一可用的塊上或從下一可用的塊再現(xiàn)。
9.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，當(dāng)備用區(qū)已充滿時(shí)，針對(duì)該缺陷塊生成第三項(xiàng)目。
10.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，當(dāng)備用區(qū)已充滿并且記錄或再現(xiàn)非實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊生成第三項(xiàng)目。
11.如權(quán)利要求10所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，如果在先前的記錄或再現(xiàn)期間已生成并記錄了第三項(xiàng)目，則在當(dāng)前記錄或再現(xiàn)的是非實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)且已分配備用區(qū)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊把第三項(xiàng)目改為第一項(xiàng)目。
12.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，第一至第三項(xiàng)目進(jìn)一步表示缺陷塊的位置。
13.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，如果在先前的記錄或再現(xiàn)期間已生成并記錄了第一項(xiàng)目，則在當(dāng)前記錄或再現(xiàn)的是實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊把第一項(xiàng)目更新為第二項(xiàng)目，其中，備用塊的位置保持不變。
14.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，其中，如果在先前的記錄或再現(xiàn)期間已生成并記錄了第三項(xiàng)目，則在當(dāng)前記錄或再現(xiàn)的是非實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)且已分配備用區(qū)時(shí)，針對(duì)該缺陷塊把第三項(xiàng)目更新為第一項(xiàng)目。
全文摘要
一種用于缺陷管理信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，該缺陷管理信息被記錄在光記錄介質(zhì)上或者將由再現(xiàn)或記錄設(shè)備記錄到光記錄介質(zhì)上或從光記錄介質(zhì)再現(xiàn)，其中，該缺陷管理信息包括第一、第二或第三項(xiàng)目的至少一個(gè)，第一項(xiàng)目表示用備用塊替換缺陷塊且備用塊的位置已指定，第二項(xiàng)目表示不替換缺陷塊且備用塊的位置已指定或保持不變，以及第三項(xiàng)目表示不替換缺陷塊且備用塊的位置未指定。
文檔編號(hào)H02H3/05GK1547203SQ20041004721
公開日2004年11月17日 申請(qǐng)日期1999年7月15日 優(yōu)先權(quán)日1998年7月28日
發(fā)明者李明九, 樸容澈, 鄭圭和, 申種仁 申請(qǐng)人:Lg電子株式會(huì)社