Led晶粒的抽測方法和系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種LED晶粒的抽測方法和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]由于當前的LED (Light-Emitting D1de，發(fā)光二極管)芯片還很難滿足光電特性一致性的要求，因此，在LED晶粒進行封裝之前，必須對其進行嚴格的分選和測試。其中，在對LED晶粒進行分類挑選之后，還需采用點測設備對LED晶粒進行抽測，以確保各晶粒的電性和光學特性與分類挑選的要求一致，同時保證LED產(chǎn)品出貨的品質(zhì)。
[0003]現(xiàn)有的一種抽測檢驗方法是:對所有LED晶粒進行坐標全掃描，再進行矩陣抽測，例如，7x7抽測(25顆抽I顆)或10x10抽測(100顆抽I顆)。圖1為待抽測的LED晶粒的排列示意圖，如圖1所示，這些LED晶粒分別來自晶圓I?晶圓10。在進行7x7矩陣抽測時，必須對所有晶粒進行全掃描，然后再從25顆晶粒中抽出I顆晶粒(圖1中加大加粗的數(shù)字代表抽出的I顆晶粒)進行電學和光學性能的測試。
[0004]但是，這種矩陣抽測的方式中，全掃描的時間遠遠大于真正測試的時間，從而使得抽測的效率較低。另外，根據(jù)LED晶粒分類挑揀的排列方法，如圖1所示，進行7x7矩陣抽測時來自晶圓3、7、10的晶粒并未被抽測到，也就是說，矩陣抽測漏檢的幾率很大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明提供了一種LED晶粒的抽測方法和系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有的矩陣抽測方式中抽測效率較低以及漏檢幾率較大的問題。
[0006]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
[0007]一種LED晶粒的抽測方法，包括:
[0008]從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中抽選出初始晶粒，所述待測試LED晶粒來自至少一個晶圓；
[0009]對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描，所述掃描的LED晶粒包括來自任一所述晶圓的至少一個LED晶粒；
[0010]對所述掃描的LED晶粒進行測試，以判斷所述LED晶粒是否滿足標準。
[0011]優(yōu)選的，所述已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒是指:
[0012]所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣，其中，M和N為正整數(shù)，且來自同一晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列，來自不同晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列。
[0013]優(yōu)選的，所述與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒包括與所述初始晶粒同一列的LED晶粒。
[0014]優(yōu)選的，所述已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒是指:
[0015]所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣，其中，M和N為正整數(shù)，且來自同一晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列，來自不同晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列。
[0016]優(yōu)選的，所述與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒包括與所述初始晶粒同一行的LED晶粒。
[0017]優(yōu)選的，所述初始晶粒為所述M行N列矩陣中心區(qū)域的LED晶粒。
[0018]一種LED晶粒的抽測系統(tǒng)，包括:
[0019]抽選模塊，用于從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中選出初始晶粒，所述待測試LED晶粒來自至少一個晶圓；
[0020]掃描模塊，用于對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描，所述掃描的LED晶粒包括來自任一所述晶圓的至少一個LED晶粒；
[0021]測試模塊，用于對所述掃描的LED晶粒進行測試，以判斷所述LED晶粒是否滿足標準。
[0022]優(yōu)選的，當所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣，且來自不同晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列時，所述掃描模塊對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一列的LED晶粒進彳丁掃描。
[0023]優(yōu)選的，當所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣，且來自不同晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列時，所述掃描模塊對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一行的LED晶粒進彳丁掃描。
[0024]優(yōu)選的，所述抽選模塊從所述M行N列矩陣的中心區(qū)域抽選出所述初始晶粒。
[0025]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明所提供的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點:
[0026]本發(fā)明所提供的LED晶粒的抽測方法和系統(tǒng)，從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中抽選出初始晶粒，再對初始晶粒以及與初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描，所述掃描的LED晶粒包括來自任一晶圓的至少一個LED晶粒，然后對掃描的LED晶粒進行測試，以判斷LED晶粒是否滿足標準。本發(fā)明提供的抽測方法和系統(tǒng)，只需對初始晶粒以及與初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描，從而大大縮短了掃描時間，提高了抽測效率，并且減少了制造成本和人力成本；此外，由于掃描的LED晶粒包括來自任一晶圓的至少一個LED晶粒，因此，大大降低了漏檢的幾率，提高了抽測的準確率。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1為現(xiàn)有的一種LED晶粒抽測原理圖；
[0029]圖2為本發(fā)明的一個實施例提供的一種LED晶粒的抽測方法流程圖；
[0030]圖3為本發(fā)明的一個實施例提供的一種LED晶粒的抽測原理圖；
[0031]圖4為本發(fā)明的一個實施例提供的另一種LED晶粒的抽測原理圖；
[0032]圖5為本發(fā)明的另一個實施例提供的一種LED晶粒的抽測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0033]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0034]本發(fā)明提供了一種LED晶粒的抽測方法，該方法的流程圖如圖2所示，包括:
[0035]S201:從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中抽選出初始晶粒，所述待測試LED晶粒來自至少一個晶圓；
[0036]在對LED晶粒進行分類挑選之后，分選設備會按照設定的方式對LED晶粒進行排序。本實施例提供的已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒如圖3所示，這些待測試LED晶粒來自至少一個晶圓，本實施例中仍以待測試LED晶粒來自晶圓I?晶圓10進行說明，但是本發(fā)明并不僅限于此。
[0037]如圖3所示，待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣，M和N為正整數(shù)，且M和N的具體數(shù)值由待測試LED晶粒的實際數(shù)量決定，其中，來自同一晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列，來自不同晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列。
[0038]具體地，在對待測試的LED晶粒進行排列時，會先將來自晶圓I的LED晶粒從左往右排滿第一行，然后從右往左排滿第二行，以此類推，奇數(shù)行按照從左往右的方式依次排列，偶數(shù)行按照從右往左的方式依次排列，當來自晶圓I的LED晶粒排列完成后，按照該次序依次排列來自晶圓2的LED晶粒，以此類推，直到將來自10個晶圓的LED晶粒全部排布完成。當然，在其他實施例中，還可以按照奇數(shù)行從右往左，偶數(shù)行從左往右的方式進行排列，本發(fā)明并不僅限于此。
[0039]或者，在其他實施例中，來自同一晶圓的LED晶粒沿列的方向排列，來自不同晶圓的LED晶粒沿行的方向排列。如圖4所示，來自晶圓I的LED晶粒從上往下排滿第一列，然后從下往上排滿第二列，即奇數(shù)列按照從上往下的方式依次排列，偶數(shù)列按照從下往上的方式依次排列，直到來自10個晶圓的LED晶粒全部排布完成。當然，在其他實施例中，還可以按照奇數(shù)列從下往上，偶數(shù)列從上往下的方式進行排列，本發(fā)明并不僅限于此。
[0040]從已按照上述預設方式進行排列的LED晶粒抽選