專利名稱：半導(dǎo)體集成電路中調(diào)整電路元件值的電路和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及調(diào)整電路元件值例如半導(dǎo)體集成電路中無源元件的電阻值的方法和裝置。更具體而言，本發(fā)明是關(guān)于使用一系列熔絲響應(yīng)一系列輸入信號調(diào)整阻值，使得產(chǎn)生的選出的阻值是永久性的。
經(jīng)常需要將集成電路中的一個或多個內(nèi)部元件，例如一電阻器的值，調(diào)整為由一系列輸入信號表示的選定值。通過使用在下面進(jìn)一步闡述的一系列熔絲可以有效地進(jìn)行這種選擇。


圖1是包括串聯(lián)連接在外部端點X和Y之間的一系列電阻R1至Rn的半導(dǎo)體集成電路部分的示意圖。最初，在端點X和Y之間的總阻值可以表示為∑R1＋R2＋...＋Rn。然而，通過對應(yīng)的開關(guān)或并聯(lián)元件S11，S12，...S1n有選擇地并聯(lián)一個或多個內(nèi)部電阻器而可使阻值降低。每一個并聯(lián)元件是受能選取兩狀態(tài)之一的對應(yīng)的熔斷電路控制的。在第一狀態(tài)下，熔斷電路內(nèi)的熔絲是導(dǎo)通的，熔斷電路設(shè)置相應(yīng)的開關(guān)，例如S11為開路狀態(tài)，使得電阻器R1保留在端點X和Y之間的通路內(nèi)。在第二種狀態(tài)下，熔絲已經(jīng)被熔斷為非導(dǎo)通狀態(tài)，熔斷電路設(shè)置開關(guān)S11為“ON”或?qū)顟B(tài)，使得為對應(yīng)的電阻器R1提供一個并聯(lián)路徑。通過電阻器R1使得在端點X和Y之間的阻值減小。一旦熔絲已經(jīng)被熔斷為非導(dǎo)通狀態(tài)，它不能被恢復(fù)，所以阻值的變化是永久性的。
在圖1中，串聯(lián)電阻R1至Rn和各自的并聯(lián)開關(guān)S11至S1n用虛線框30圍繞。熔斷電路被包含在虛線框20內(nèi)。第一開關(guān)S11是受第一熔斷電路40控制的。熔斷電路進(jìn)一步受到鎖定電路10的控制。在已啟動(assert)外部LOCK信號之后，鎖定電路防止所有的熔斷電路熔斷任何熔絲。如果還未啟動鎖定(LOCK)信號，如以后將進(jìn)一步解釋的那樣，每一個熔斷電路響應(yīng)對應(yīng)的輸入信號(A1...An)和公共的使能信號EN，使得當(dāng)啟動使能邏輯信號和對應(yīng)的輸入信號時熔斷相應(yīng)的熔絲。
圖1的現(xiàn)有技術(shù)電路的限制之一是它不能驗證熔絲是否已經(jīng)響應(yīng)輸入信號成功地被熔斷了。現(xiàn)有技術(shù)電路的另一個限制在于，在輸入信號上的寄生噪音能夠造成非預(yù)期的附加熔絲的熔斷，除非LOCK信號已經(jīng)成功地加上了。然而，LOCK信號必須由外部提供，例如響應(yīng)在外部端X和Y之間電阻值測量的導(dǎo)通。這不僅要求外部的測試設(shè)備，而且進(jìn)一步要求，在集成電路封裝中配置外部引腳X和Y。
依此，本發(fā)明目的之一是提供內(nèi)部檢驗，即，在集成電路內(nèi)部，檢驗響應(yīng)輸入信號，適當(dāng)?shù)娜劢z是否已經(jīng)被成功地熔斷。本發(fā)明的另一個目的是防目熔斷電路的非預(yù)期操作，這是通過在驗證預(yù)期的熔斷步驟成功完成之后禁止熔斷電路實現(xiàn)的。這些步驟的內(nèi)部檢驗排除了外部測量X和Y端之間電阻值的要求。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種禁止熔斷電路熔斷附加熔絲而無需外部提供鎖定信號的內(nèi)部機(jī)構(gòu)。這一特征將簡化對外部測試設(shè)備的要求和減少了IC外殼引腳數(shù)。
本發(fā)明的一個方面是在這樣一種類型的半導(dǎo)體集成電路內(nèi)防止噪音觸發(fā)非預(yù)期熔斷的方法，即該類型的半導(dǎo)體集成電路包括調(diào)整兩結(jié)點X和Y之間阻抗的多個熔絲。該新方法包括提供相應(yīng)熔斷控制電路，以根據(jù)相應(yīng)的控制輸入信號可控制地熔斷選出的熔絲。每一個熔斷控制電路產(chǎn)生指示熔斷是否已經(jīng)被完成的輸出信號。本方法要求監(jiān)視所有的熔斷控制電路輸出信號以確定在所有熔斷控制電路中是否已經(jīng)如輸入信號所要求的那樣完成了熔斷。當(dāng)在所有的熔斷控制電路中已完成所有熔斷時，一監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)被啟動。該MONB信號用來禁止在半導(dǎo)體集成電路中的熔絲的任何進(jìn)一步的熔斷，所以舊的外部LOCK信號不再需要。
本發(fā)明的另一方面包括用于在這樣一種類型半導(dǎo)體集成電路中調(diào)整電路元件值為一特定值的電路，即在該類型半導(dǎo)體集成電路中使用當(dāng)熔斷電流流過時永久性地熔斷的多個熔絲來調(diào)整電路元件的值。該新電路接收對應(yīng)所期望電路元件值的多個輸入信號(An)。提供多個熔斷控制電路，每一個熔斷控制電路包括一熔絲和用于響應(yīng)從相應(yīng)一個輸入信號導(dǎo)出的對應(yīng)熔斷控制輸入信號熔斷該熔絲為非導(dǎo)通狀態(tài)的裝置。每一個熔斷控制電路還提供相應(yīng)的開關(guān)控制信號(B1)和指示相應(yīng)的熔絲是否已熔斷的監(jiān)視器信號(M1)。該電路包括根據(jù)這些開關(guān)控制信號調(diào)整在X和Y端之間電路元件值的裝置；和包括監(jiān)視裝置400，用于監(jiān)視監(jiān)視器信號(Mn)和用來提供指示由輸入信號(An)指示的所有熔絲是否已經(jīng)被熔斷的監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)。
在本優(yōu)選的實施例中，每一個熔斷控制電路包括第一開關(guān)控制邏輯裝置，僅當(dāng)啟動對應(yīng)的輸入信號(An＝0)而不啟動監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)(MONB＝1)時，用于啟動熔斷控制輸入信號以熔斷相應(yīng)的熔絲。進(jìn)而，每一個熔斷電路包括一個耦合到熔絲的輸出裝置以提供指示相應(yīng)的熔絲是否被熔斷(開路)或未被熔斷(導(dǎo)通)的熔斷邏輯信號。
從參照附圖對優(yōu)選實施的詳細(xì)描述，使本發(fā)明的前述和其它的目的，特征和優(yōu)點將變得更為明顯。
圖1示出了用于調(diào)整半導(dǎo)體集成電路中電路元件值的現(xiàn)有技術(shù)的電路。
圖2給出了依照本發(fā)明的在半導(dǎo)體集成電路中調(diào)整電路元件值的改進(jìn)的電路。
圖1示出了在集成電路中調(diào)整電路元件值的現(xiàn)有技術(shù)的電路。在圖1中，多個電阻器R1至Rn串聯(lián)連接在外部端點X和Y之間。每一個電阻器都有一個與它并聯(lián)連接的開關(guān)元件，例如開關(guān)S11與電阻器R1相并聯(lián)。開關(guān)元件含有，例如，傳輸門，使得當(dāng)開關(guān)之一被接通為ON時，相應(yīng)的電阻器被旁路，結(jié)果相應(yīng)電阻器實際具有0阻值。這樣，通過有選擇旁路串聯(lián)電阻器中的一個或者多個，能精確地調(diào)整在X和Y端之間的總阻值。串聯(lián)連接的諸電阻和開關(guān)元件S11至S1n共同地稱之為阻抗調(diào)整電路30。
阻抗調(diào)整電路30的諸開關(guān)受到用虛線20一塊加以表示的類似數(shù)目的熔斷控制電路控制。每一個熔斷控制電路受到相應(yīng)的輸入邏輯信號A1至An控制，這將在后面進(jìn)一步描述。鎖定電路10包括鎖定熔絲Z21。響應(yīng)LOCK輸入信號的啟動，鎖定電路10熔斷鎖定熔絲。一旦鎖定熔絲已經(jīng)被熔斷為非導(dǎo)通狀態(tài)，邏輯門12防止輸入信號(這里是A1)在相應(yīng)的熔斷控制電路(40)中觸發(fā)熔斷。鎖定信號14連接到每一個保留輸入信號的相應(yīng)門電路，使得當(dāng)啟動鎖定信號時，沒有一個輸入信號能有效啟動。由于鎖定信號是由鎖定熔絲Z21的狀態(tài)導(dǎo)出的，一旦鎖定熔絲Z21已經(jīng)被熔斷，將永久性地啟動該信號。這樣，一旦啟動外部施加的鎖定信號，所有熔斷控制電路均被禁止熔斷附加的熔絲。如示意圖所示，輸入信號進(jìn)一步受到共同使能信號的限制?，F(xiàn)有技術(shù)的主要缺點是，必須進(jìn)行外部測試以確保選出的熔絲是被正確熔斷。由此，結(jié)點X和Y必須被引出到外部引腳以測量調(diào)整的阻抗。并且，外部信號LOCK必須提供給IC以禁止進(jìn)一步的熔斷。
參照第一熔斷控制電路40以實例描述各個熔斷控制電路的操作。如果相應(yīng)的輸入信號A1是高，鎖定信號14是高，那么“與”門12的輸出是高。該信號用使能信號和“與非”門42選通去控制開關(guān)S1。只要開關(guān)S1是截止，處在導(dǎo)通狀態(tài)的熔絲Z1下拉電阻器R2。當(dāng)輸入低邏輯值到控制輸入的熔斷使能信號EN和信號LOCK而啟動非激勵狀態(tài)時，高或低邏輯值是多個輸入信號A1-An提供表示在X端和Y端之間的期望電阻值的熔斷數(shù)據(jù)。開關(guān)S11-S1n根據(jù)輸入信號確保短路和開路狀態(tài)?？偟淖柚祵⑹菍?yīng)開關(guān)是開路時諸電阻之和。短路或閉合的開關(guān)旁路相應(yīng)電阻器，使他們并不對在X和Y端之間的總阻值做出貢獻(xiàn)。為了執(zhí)行熔斷，高邏輯值被輸入到熔斷使能信號EN和熔斷數(shù)據(jù)被輸入到輸入信號A1-An。例如，受稍后描述的附加控制邏輯支配，當(dāng)輸入信號Ai是低時，相應(yīng)熔絲Zi的熔斷并不執(zhí)行，因為開關(guān)S1i截止，當(dāng)輸入信號Ai是高時，由于開關(guān)S1i導(dǎo)通，則執(zhí)行熔絲Zi的熔斷。為了確定熔斷是否已經(jīng)完成，通過連接到X和Y端的外部電路(未示出)引入測試。
如果外部測試確定，由輸入信號指定的電阻值并沒有呈現(xiàn)在X-Y之間，這意味著至少一個指定的熔絲沒有被熔斷，所以熔斷操作被重復(fù)。當(dāng)熔斷完成和調(diào)整電路元件值的電路呈現(xiàn)期望的阻抗時，高邏輯值施加到LOCK輸入端，和開關(guān)S導(dǎo)通，熔絲Z21的熔斷被執(zhí)行。一旦鎖定熔絲Z21斷開，鎖定信號14變?yōu)榈?，阻止所有熔斷電?0的進(jìn)一步熔斷。這樣現(xiàn)有技術(shù)的配置需要外部測試以確定熔斷是否完成，并必不可少地需要輸入控制信號LOCK，以進(jìn)一步防止在確認(rèn)熔斷完成以后由于噪音而使熔斷電路進(jìn)一步熔斷。
圖2示出了依據(jù)本發(fā)明的用于調(diào)整半導(dǎo)體IC中的電路元件值的電路。該電路包括熔斷使能信號EN；輸入熔斷信號的多個信號輸入端A1-An；多個熔斷電路100，200，300，它們當(dāng)中的每一個依照施加的熔斷信號執(zhí)行熔斷，如以下進(jìn)一步說明的。監(jiān)視電路400提供監(jiān)視輸出信號MONB，該監(jiān)視器輸出信號對諸輸入信號進(jìn)行選通以確保當(dāng)熔斷完成時不再執(zhí)行熔斷并且顯示熔斷是否完成。阻抗調(diào)整電路500包括是無源元件的多個電阻R1-Rn，和每一個均并聯(lián)到相應(yīng)的一個電阻器上，用于響應(yīng)輸入信號Ai有選擇地旁路相應(yīng)的電阻器以形成結(jié)點X和Y之間的所希望的阻抗的多個開關(guān)器件S21-S2n。注意，結(jié)點X和Y不再需要被引出到外部引腳，因必要的測試在內(nèi)部進(jìn)行。熔斷控制電路100，200，300將參照第一電路加以解釋。
第一熔斷控制電路100包括具有熔絲130的熔斷電路110。是第一開關(guān)控制器件的第一“與非”門140提供熔斷控制輸入信號到開關(guān)S1。第二“與非”門150；第一“與”門160，該“與”門輸出開關(guān)控制信號B1，以控制阻抗控制電路500的開關(guān)器件S21。第一“異或”門170提供顯示熔斷是否完成的監(jiān)視器信號M1。熔斷電路110包括第一開關(guān)器件S1，該開關(guān)器件依照熔斷控制輸入信號的邏輯值導(dǎo)通或截止。當(dāng)S1導(dǎo)通時，配置的雙極型晶體管Q1提供流過熔絲130的熔斷電流。當(dāng)S1截止時，電阻器R12保持Q1截止。當(dāng)執(zhí)行熔絲的熔斷時上拉電阻器R11上拉供電電壓；和第二反相器120輸出熔斷邏輯信號，該邏輯信號在執(zhí)行熔絲的熔斷時呈現(xiàn)邏輯低值，并在不執(zhí)行熔絲的熔斷時呈現(xiàn)邏輯高值。
在熔斷電路100內(nèi)，第一“與非”門140的第一輸入端連接到熔斷使能輸入信號EN，第二輸入端連接到反相相應(yīng)輸入信號A1的第一反相器180的輸出端，和第三輸入端連接到從輸入信號控制電路400輸出的監(jiān)視器輸出信號MONB。這樣“與非”門140啟動熔斷控制輸入信號，使得僅當(dāng)相應(yīng)輸入信號被啟動(An＝0)和監(jiān)視器輸出信號(MONB)不被啟動(MONB＝1)時，熔斷相應(yīng)的熔絲。
第二“與非”門150的第一輸入端連接到第一反相器180的輸出端和第二輸入端連接到監(jiān)視器輸出信號MONB。第二“與非”門150的輸出端連接到第一“與”門(160)的第一輸入端和第一“異或”門170的第一輸入端。第一“與”門160的另一個輸入端接收從反相器120來的熔斷邏輯信號，這樣“與”門160的輸出提供開關(guān)控制信號B1?！爱惢颉遍T170的第二輸入端也接收來自反相器120的熔斷邏輯信號，這樣門170的輸出提供指示由輸入信號指出的熔斷是否被完成的監(jiān)視器信號M1。
監(jiān)視電路400包括類似于熔斷電路110的結(jié)構(gòu)的熔斷塊410；第三反相器420；監(jiān)視器熔絲430和導(dǎo)通或截止熔斷塊410的第三開關(guān)器件S3的開關(guān)控制器件440。開關(guān)控制器件440具有第三“與非”門441和第一“或非”門442， 第三“與非”門441的一個輸入端與熔斷使能信號EN連接和第三“與非”門441的另一個輸入端連接到第一“或非”門442的輸入端。第一“或非”門442的輸入端與從熔斷電路100，200，300輸出的各監(jiān)視器信號相連接。依據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例具有N單元的輸入信號A1-An，所以N單元的多個熔斷電路也是需要的。
如本發(fā)明優(yōu)選實施例中所定義的，熔斷塊110的第一開關(guān)器件S1和熔斷塊410的第三開關(guān)器件S3可以作為CMOS傳輸門或雙極型晶體管來實現(xiàn)。調(diào)節(jié)電路500可以使用一系列電阻器，如圖所示，或其它無源元件例如電容器以允許選取在X和Y結(jié)點之間的電容值。
多個熔斷電路具有相同的結(jié)構(gòu)，所以僅僅描述第一熔斷電路的操作。為了通過組合在X端和Y端之間形成的無源元件R1-Rn來調(diào)整電路元件值為所期望的值，首先，低邏輯信號被提供作為熔斷使能輸入信號EN。低輸入使得“與非”門140在S1的門處上升為高，使熔斷塊110的第一開關(guān)S1截止。沒有基極電流送到Q1，R12下拉基極端，所Q1也截止。沒有熔斷電流施加到熔斷元件130，所以該熔絲下拉在R11的熔斷結(jié)點，使得反相器120的輸出上升為高--熔斷邏輯信號。該熔斷邏輯信號被輸入到在下面進(jìn)一步解釋的門160。熔斷邏輯信號高表明，熔絲是導(dǎo)通的--，即，它沒有被熔斷。
現(xiàn)在看圖2的監(jiān)視器電路400，具有低邏輯值的熔斷使能信號EN被輸入至“與非”門441，使它的輸出上升為高。開關(guān)控制電路440由此具有施加到S3門上的邏輯高輸出信號。依此，S3截止，并因上述理由Q1截止。熔絲430維持導(dǎo)通，再次下拉在R11的熔斷結(jié)點并造成反相器420的輸出上升為高--監(jiān)視器輸出信號MONB。該邏輯信號MONB被輸入到所有的熔斷電路，例如110，200，其中如前所述限制相應(yīng)的選擇輸入信號A1，A2等等。由于MONB是高，熔斷將被允許。
分別控制開關(guān)S21-S2n的開關(guān)控制信號B1-Bn在阻抗調(diào)節(jié)電路500中一般跟蹤施加至A1-An的相應(yīng)的輸入數(shù)據(jù)。例如，當(dāng)輸入信號A1為高，它使得第一開關(guān)控制信號B1上升為高，阻抗調(diào)節(jié)電路500的相應(yīng)開關(guān)器件S21截止，所以第一阻抗電路510的阻抗值將成為R1。相反，當(dāng)?shù)瓦壿嬛递斎虢o輸入信號A1，它使得開關(guān)器件S21導(dǎo)通，第一阻抗電路510的阻抗值變?yōu)榱?，這是由于R1被S21旁路。在上述方法中通過使輸入信號A2-An的輸入數(shù)據(jù)不同，實現(xiàn)了X端和Y端之間的所期望阻抗值。
為了構(gòu)成該部分，邏輯高值輸入到熔斷使能信號EN和選取的輸入數(shù)據(jù)被施加到輸入信號A1-An。如果第一熔斷電路100的輸入信號A1具有高邏輯值，熔絲130的熔斷并不執(zhí)行，因為第一“與非”門140的輸出變?yōu)楦吆腿蹟鄩K110的第一開關(guān)器件截件。由于/A1是低的，門150為高。依此，為第二開關(guān)控制器件的“與”門160的輸出變?yōu)楦吆驮谧杩箍刂齐娐?10中的第一阻抗電路510的開關(guān)器件S21截止，第一阻抗電路510的阻抗值成為R1。由于150是高和120是高，則M1低--監(jiān)視器信號。這表明熔斷完成了、或未被激勵，或不需要。
另一方面，如果A1是低邏輯值，第一開關(guān)器件S1導(dǎo)通，因為第一開關(guān)控制器件140的輸出變?yōu)榈?。如果假定流過電阻器R12的電流是I，當(dāng)假設(shè)雙極型晶體管Q1的β因子是β時，從電源電壓Vdd傳輸?shù)诫p極型晶體管Q1的電流是放大的電流βI。因此熔絲130的熔斷被執(zhí)行，這是因為大電流I＋βI流過熔絲130，熔斷塊110的上拉電阻R11使得第一反相器120的輸出變?yōu)榈?，并且是作為第二開關(guān)控制器件的第一“與”門160的輸出的第一控制信號B1變低。因為在阻抗調(diào)節(jié)電路500中的第一阻抗電路510的開關(guān)器件S21導(dǎo)通，第一阻抗電路510的阻抗值變?yōu)?。第一熔斷電路100的熔斷信號M1輸出低邏輯值，這里表明熔斷已成功地完成了。如提示的，同樣的操作應(yīng)用于對應(yīng)輸入信號A2-An的每一個其它熔斷電路200-300。這樣在結(jié)點X和Y之間的總電阻在i＝1到n上為∑(Ai*Ri)，其中A是0或是1。
監(jiān)視器輸出信號MONB也提供表明依照輸入信號成功地構(gòu)成該部分的輸出信號。換言之，它確認(rèn)，所有的熔斷已經(jīng)完成，并禁止任何進(jìn)一步的熔斷以避免由于噪音而造成的非預(yù)期熔斷。所有單獨的監(jiān)視器信號M1-Mn均輸入到公共“或非”門442，使得當(dāng)所有的M信號為低時--必要時表明熔斷完成--門442變?yōu)楦摺Ｈ绻鸈N為高，門441變?yōu)榈秃腿蹟鄩K410的第三開關(guān)器件S3導(dǎo)通，熔絲430的熔斷被執(zhí)行。熔絲430結(jié)點變?yōu)楦吆蚆ONB變?yōu)榈?。監(jiān)視器輸出信號MONB在每一個和所有其它熔斷電路中被輸入到“與非”門140，使得所有門140被迫為高。這就保持所有的熔斷開關(guān)S1-Sn截止以防止進(jìn)一步的熔斷。
然而，如果執(zhí)行熔斷塊的熔絲的熔斷的企圖被實施但是熔斷并沒有執(zhí)行，可以說，如果由于輸入信號中的噪音或熔斷時間不足夠長非正常的熔斷被執(zhí)行，例如，如果低邏輯值被輸入到輸入信號A1以執(zhí)行第一熔斷電路100的熔絲130的熔斷但是熔斷并沒有完成，是“異或”門170的輸出的第一熔斷信號M1輸出的是高邏輯值，因為第一反相器120的輸出是高邏輯值。并且在熔斷塊410內(nèi)的熔絲430的熔斷并不執(zhí)行，監(jiān)視器輸出信號MONB輸出如同以前狀態(tài)的高邏輯值，這是因為控制輸入信號的電路內(nèi)的第三開關(guān)控制器件的輸出具有高邏輯值。因此，用戶可以知道熔斷是由具有高邏輯值的監(jiān)視器輸出信號MONB完成的，它們再次執(zhí)行熔斷以完成該熔斷。如上所述，因為本發(fā)明的調(diào)整半導(dǎo)體IC電路元件值的電路內(nèi)部地識別熔斷是否正常地執(zhí)行并限制輸入信號，以便當(dāng)熔斷已經(jīng)完成時使進(jìn)一步的熔斷不再執(zhí)行，其它的輸入控制信號(LOCK)不再需要，也不需要現(xiàn)有技術(shù)的外部測試來確定熔斷是否已經(jīng)完成了。
在優(yōu)選實施例中已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的基本原理，該領(lǐng)域的技術(shù)人員很容易理解，本發(fā)明在不脫離該原理的基礎(chǔ)上可以在組態(tài)和細(xì)節(jié)上加以修改。所有修改均在所附權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.在半導(dǎo)體集成電路中調(diào)整電路元件值為在該類型電路的X和Y端之間所確定的特定值的電路，其中，使用當(dāng)熔斷電流通過它們時永久性地熔斷的多個熔絲來調(diào)整電路元件值，該電路包括輸入裝置，用于接收表明所期望電路元件值的多個輸入信號(An)；多個熔斷控制電路(100)，每一個熔斷控制電路包括熔絲(130)，和響應(yīng)從相應(yīng)的一個輸入信號導(dǎo)出的熔斷控制輸入信號(140)而熔斷熔斷裝置(110)為非導(dǎo)通狀態(tài)的裝置；和每一個熔斷每控制電路(100)提供相應(yīng)的開關(guān)控制信號(B1)和表明相應(yīng)的熔絲是否已經(jīng)被熔斷的監(jiān)視器信號(M1)；響應(yīng)開關(guān)控制信號調(diào)整在X和Y端之間的電路元件值的裝置(500)和監(jiān)視裝置，用于監(jiān)視監(jiān)視器信號(Mn)和提供表明由輸入信號(An)表示的所有熔絲是否已經(jīng)被熔斷的監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)。
2.如權(quán)利要求1所述的電路，其中，每一個熔斷控制電路(100)包括啟動熔斷控制輸入信號的第一開關(guān)控制邏輯裝置(140)，使得僅當(dāng)對應(yīng)的輸入信號被啟動(An＝0)和監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)沒被啟動(MONB＝1)時熔斷相應(yīng)的熔絲；和每一個熔斷裝置(110)包括連接到熔絲的輸出裝置，用于提供對應(yīng)于相應(yīng)熔絲被熔斷或沒被熔斷的狀態(tài)的熔斷邏輯信號(120)。
3.如權(quán)利要求2所述的電路，其中，第一開關(guān)控制邏輯器件包括第一“與非”門(140)和所說電路進(jìn)一步包括使能輸入裝置，用于接收連接到所有熔斷控制電路以使能所說熔絲的所選取熔斷的使能輸入邏輯信號(EN)；其中在每一個熔斷控制電路的第一“與非”門在其第一輸入端接收使能輸入邏輯信號，在第二輸入端接收輸入信號(An)，和在第三輸入端接收監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)以此在第一“與非”門的輸出端形成熔斷控制輸入信號。
4.如權(quán)利要求2所述的電路，其中，每一個熔絲最初是導(dǎo)通的，當(dāng)至少一個預(yù)定的熔斷電流通過該熔絲時被熔斷為開路。
5.如權(quán)利要求2所述的電路，其中，每一個熔斷控制電路進(jìn)一步包括邏輯裝置(150)，用于組合相應(yīng)的輸入信號(An)和監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)；和第二開關(guān)控制邏輯裝置(160)，用于將所說邏輯裝置(150)的輸出和熔斷邏輯信號(120)組合在一塊，使得僅當(dāng)邏輯輸出信號與相應(yīng)的輸入信號(An)一致時啟動開關(guān)控制信號(Bn)和監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)并不被啟動。
6.如權(quán)利要求5所述的電路，其中，每個熔斷控制電路進(jìn)而包括“異或”邏輯裝置(170)，用于把熔斷邏輯信號(120)和所說邏輯裝置(150)的所說輸出組合在一塊，使得當(dāng)對應(yīng)的熔絲被相應(yīng)輸入信號(An)所選取和被熔斷時啟動監(jiān)視器輸出邏輯信號(Mn)。
7.如權(quán)利要求5所述的電路，其中，第二開關(guān)控制邏輯裝置包括第一“與”門(160)，該“與”門具有接收輸出邏輯信號的第一輸入端和接收所說邏輯裝置(150)的輸出的第二輸入端。
8.如權(quán)利要求2所述的電路，其中，每一個熔絲連接在各自的熔絲結(jié)點和地之間，且每一個熔斷裝置包括一開關(guān)(S1)，用于接收相應(yīng)的開關(guān)控制輸入信號；串聯(lián)連接在電源和熔絲結(jié)點之間的電流放大器(Q1)，其控制端(基極)連接到開關(guān)以響應(yīng)該開關(guān)的接通提供足以熔斷熔絲為非導(dǎo)通狀態(tài)的流經(jīng)熔絲的電流；連接到熔絲結(jié)點的上拉器件(R11)，用以上拉熔絲結(jié)點電壓，以當(dāng)熔絲在非導(dǎo)通狀態(tài)時提供邏輯高信號；和連接到熔絲結(jié)點的反相器(120)，用于在熔絲處于非導(dǎo)通狀態(tài)時將邏輯高信號反相以提供邏輯低信號作為熔斷邏輯信號。
9.如權(quán)利要求8所述的電路，其中，開關(guān)包括電壓控制電流源和電流放大器包括雙極型晶體管；電流源被連接到雙極型晶體管的基極。
10.在半導(dǎo)體集成電路中調(diào)整無源元件值的電路包括設(shè)置在集成電路內(nèi)的串聯(lián)連接的多個無源電路元件(R1-Rn)，使得無源元件的總值等于未被旁路的各個無源電路元件的總和；與每個無源電路元件相并聯(lián)配置的開關(guān)裝置(S21-S2n)，用以根據(jù)開關(guān)裝置的狀態(tài)可控制地旁路相應(yīng)無源電路元件，使得被旁路的無源電路元件對整個無源元件的總值不做出貢獻(xiàn)；連接到每一個開關(guān)裝置以控制相應(yīng)開關(guān)裝置的狀態(tài)和以此有選擇地旁路或不旁路相應(yīng)無源電路元件的熔斷控制電路(100)，每一個熔斷控制電路包括熔絲(130)和用于熔斷熔絲的裝置，并以此將熔絲的狀態(tài)從導(dǎo)通狀態(tài)改變?yōu)榉菍?dǎo)通狀態(tài)；每一個熔斷控制電路(100)進(jìn)一步包括開關(guān)輸出信號(B1-Bn)，用于根據(jù)熔絲的狀態(tài)來控制相應(yīng)的開關(guān)裝置(S21-S2n)，和監(jiān)視器輸出信號(M1-Mn)；連接到所有熔斷控制電路的公共使能信號(EN)輸入端；和用于接收至少一個輸入信號(A1-An)，以便指明每個熔絲的所希望的狀態(tài)的輸入裝置；和監(jiān)視器裝置(400)，用于監(jiān)視監(jiān)視器輸出信號和用于判定每一個熔斷控制電路的狀態(tài)是否與輸入信號相一致，以禁止熔斷控制電路。
11.如權(quán)利要求1的電路，其中無源電路元件包括電阻器。
12.如權(quán)利要求1的電路，其中監(jiān)視裝置包括監(jiān)視器熔絲(430)，和當(dāng)所有的監(jiān)視器控制信號(Mn)被啟動時把監(jiān)視器熔斷裝置(410)熔斷為非導(dǎo)通狀態(tài)的裝置，以此永久性地鎖存所有其它熔絲的熔斷依照輸入信號已經(jīng)完成的指示。
13.如權(quán)利要求12的電路，其中，熔斷監(jiān)視器熔絲的裝置包括接收所有監(jiān)視器控制信號(Mn)以檢測什么時候所有監(jiān)視器控制信號(Mn)被啟動的邏輯門(442)。
14.如權(quán)利要求12的電路，其中，調(diào)整在半導(dǎo)體集成電路內(nèi)的電路元件值為在X和Y端之間確定的特定值的電路包括輸入裝置，用于接收使能邏輯信號以進(jìn)行選擇性熔斷所述熔絲，以及熔斷監(jiān)視器熔絲的裝置進(jìn)一步包括當(dāng)所說使能邏輯信號沒有啟動時響應(yīng)使能邏輯信號防止熔斷監(jiān)視器熔絲的裝置。
15.如權(quán)利要求14的電路，其中，使能邏輯信號為有效高，和監(jiān)視器控制信號為有效低，以及當(dāng)所說使能邏輯信號不啟動時響應(yīng)防止監(jiān)視器熔絲的所說熔斷的使能邏輯信號的裝置包括其第一輸入端接收使能邏輯信號和在其第二輸入端接收所說邏輯門輸出的邏輯“與非”門。
16.如權(quán)利要求14的電路，其中，熔斷裝置包括連接到熔絲的雙極型晶體管和連接用來接收熔斷控制輸入信號的開關(guān)裝置；開關(guān)裝置包括連接到雙極型晶體管基極的MOS晶體管。
17.一種防止噪音觸發(fā)在該類型的半導(dǎo)體集成電路中非預(yù)期熔斷的方法，該類型半導(dǎo)體集成電路含有用來調(diào)整在兩結(jié)點X和Y之間的阻抗多個熔絲，該方法包括如下步驟提供各自的熔斷控制電路，用以響應(yīng)對應(yīng)的控制輸入信號可控制地熔斷選出的熔絲；在每一個熔斷控制電路中，產(chǎn)生指示熔斷是否已經(jīng)完成的輸出信號；監(jiān)視所有的熔斷控制電路輸出信號以確定是否在所有的熔斷控制電路中熔斷已經(jīng)完成；當(dāng)在所有的熔斷控制電路中所有熔斷已經(jīng)完成時，啟動監(jiān)視器輸出邏輯信號(MONB)；和響應(yīng)監(jiān)視器輸出邏輯信號，禁止在半導(dǎo)體集成電路中進(jìn)一步熔斷熔絲。
18.如權(quán)利要求17的方法，其中，進(jìn)一步包括提供監(jiān)視器輸出邏輯信號到集成電路的外部端，以在測試和構(gòu)成集成電路中使用。
19.如權(quán)利要求17的方法，其中，進(jìn)一步包括步驟在半導(dǎo)體集成電路中提供監(jiān)視器熔絲和當(dāng)熔斷已經(jīng)在所有熔斷控制電路內(nèi)完成時熔斷監(jiān)視器熔絲；以及根據(jù)監(jiān)視器熔絲狀態(tài)啟動監(jiān)視器輸出邏輯信號，使得當(dāng)它一旦被啟動就不能改變監(jiān)視器輸出邏輯信號的狀態(tài)。
20.如權(quán)利要求17的方法，其中，進(jìn)一步包括步驟僅當(dāng)輸入信號指示所說的調(diào)整和監(jiān)視器輸出邏輯信號沒有被啟動時才調(diào)整所說結(jié)點之間的阻抗。
全文摘要
在半導(dǎo)體集成電路中，內(nèi)部無源電路元件值，例如電阻值，通過響應(yīng)相應(yīng)的輸入信號而選擇性地熔斷一個或者多個熔絲而永久性地構(gòu)造成為所期望的值。內(nèi)部監(jiān)視電路確定是否所有需要的熔斷操作已經(jīng)成功地被完成了。如果如此，將永久性地禁止任何進(jìn)一步的熔斷操作。該電路具有排除調(diào)整電路元件的外部測量的優(yōu)點并進(jìn)一步地排除施加鎖定輸入信號以禁止進(jìn)一步熔斷操作的必要。因此，測試被簡化和外部引腳數(shù)被減少了。
文檔編號H01L27/08GK1147696SQ9611102
公開日1997年4月16日 申請日期1996年6月26日 優(yōu)先權(quán)日1995年6月26日
發(fā)明者李廷仁, 金亮均 申請人:三星電子株式會社