本發(fā)明是中國發(fā)明專利申請(申請?zhí)枺?01310029639.8,申請日:2013年1月25日,發(fā)明名稱:發(fā)光裝置的制造方法)的分案申請。
本發(fā)明涉及一種發(fā)光裝置及其制造方法。
背景技術(shù):
發(fā)光二極管(led)的發(fā)光原理是因電子移動于n型半導(dǎo)體與p型半導(dǎo)體間釋放出能量。由于發(fā)光二極管的發(fā)光原理不同于加熱燈絲的白熾燈,所以發(fā)光二極管又稱作冷光源。再者,發(fā)光二極管較佳的環(huán)境耐受度、更長的使用壽命、更輕及便攜性、以及較低的耗能讓它被視為照明市場中光源的另一選擇。發(fā)光二極管被應(yīng)用于如交通號志、背光模塊、街燈、以及醫(yī)療設(shè)備等不同領(lǐng)域,且已逐漸地取代傳統(tǒng)的光源。
圖1是說明一現(xiàn)有的發(fā)光元件100,其包含一透明基板10,一半導(dǎo)體疊層12形成于透明基板10之上,以及一電極14形成于半導(dǎo)體疊層12之上,其中半導(dǎo)體疊層12包含一第一導(dǎo)電性半導(dǎo)體層120、一主動層122以及一第二導(dǎo)電性半導(dǎo)體層124。
發(fā)光元件100可更進(jìn)一步的連接于其他元件以形成一發(fā)光裝置。發(fā)光元件100可通過具有基板10的那一側(cè)連接于一次載體上,或以焊料或膠材形成于次載體與發(fā)光元件100間,以形成一發(fā)光裝置。此外,次載體可還包含一電路其通過例如為一金屬線的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接于發(fā)光元件100的電極14。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
為解決上述問題,本發(fā)明公開一種發(fā)光裝置,包含:一基板,具有一第一上表面以及多個側(cè)表面;以及一半導(dǎo)體疊層,位于第一上表面上;其中半導(dǎo)疊層具有一第二上表面相對于第一上表面;其中,基板包含多個切割圖案,該些切割圖案延伸分布于該些側(cè)表面其中的一個側(cè)表面上,并占據(jù)該側(cè)表面的部分面積,且第二上表面至切割圖案的深度介于5μm到50μm間。
一種發(fā)光裝置,包含:一基板,具有一第一上表面以及多個側(cè)表面;以及一半導(dǎo)體疊層,位于第一上表面上;其中半導(dǎo)體疊層具有一第二上表面相對于第一上表面;其中,基板包含多個切割圖案,該些切割圖案延伸分布于該些側(cè)表面其中的一個側(cè)表面上,并占據(jù)該側(cè)表面的部分面積,且相鄰的任兩個切割圖案間的距離介于5μm至100μm。
附圖說明
圖1為一現(xiàn)有的發(fā)光裝置的示意圖;
圖2a至圖2d為本發(fā)明發(fā)光裝置的制造方法的一第一實施例的示意圖;
圖3a至圖3b為本發(fā)明發(fā)光裝置的制造方法的一第二實施例的示意圖;
圖4a至圖4c為本發(fā)明發(fā)光裝置的制造方法的一第三實施例的示意圖。
主要元件符號說明
200、300、400發(fā)光晶片
200a上表面
200b下表面
204、304、404蝕刻平臺
206、306、406切割區(qū)域
206a尖銳末端
207、307激光副產(chǎn)物
208切割區(qū)域的上部分
308連續(xù)的切割區(qū)域
212、312基板
214、314第一半導(dǎo)體層
216、316主動層
218、318第二半導(dǎo)體層
d1、距離
d2深度
f分離力
w2、t2距離
w1寬度
t1厚度
具體實施方式
圖2a至圖2d顯示本發(fā)明發(fā)光裝置的制造方法的一第一實施例。如圖2a至圖2c所示,本發(fā)明的第一實施例提供一發(fā)光晶片200,其具有一上表面200a及一相對上表面200a的下表面200b,并包含基板212及一發(fā)光疊層201形成于基板212上。發(fā)光疊層201包含形成于基板212上的一第一半導(dǎo)體層214、一主動層216及一第二半導(dǎo)體層218。多個蝕刻平臺204可通過移除部分區(qū)域的第二半導(dǎo)體層218及主動層216,并暴露出第一半導(dǎo)體層214形成。參閱圖2b,一切割道202的形成可依多個蝕刻平臺204而決定,包含多個平行于一第一方向l1的第一切割線202a以及多個平行于一第二方向l2的第二切割線202b,且通過多個蝕刻平臺204的排列,第一方向l1可大致上垂直于第二方向l2。發(fā)光晶片200可被固定于一可移動的支撐件(圖未示)上以接收一激光裝置發(fā)射出的激光光束。當(dāng)發(fā)光晶片200被固定于可移動的支撐件上后,激光裝置可被啟動且支撐件沿著切割道202橫向移動以接收激光光束。
參閱圖2c,通過控制發(fā)光晶片200的移動速度、激光光束的發(fā)射頻率、發(fā)射焦距、發(fā)射強(qiáng)度可形成穿透第一半導(dǎo)體層214并延伸到基板212中的多個切割區(qū)域206。每一切割區(qū)域206具有一朝向底面200b的尖銳末端206a。每一相鄰切割區(qū)域206的尖銳末端206a的距離d1是介于1μm至10μm。每一切割區(qū)域206的深度d2是介于10μm至30μm之間。激光光束可周期性的發(fā)射至發(fā)光晶片200上,而發(fā)光晶片200可以一固定的速度移動,使每一距離d1可大致相同。多個切割區(qū)域206的上部分208可彼此連通。在一剖視圖中,多個切割區(qū)域206形成一波浪狀圖案。在切割區(qū)域206形成之后,一激光副產(chǎn)物207形成于切割區(qū)域206上,此時可進(jìn)行一移除激光副產(chǎn)物207的程序。當(dāng)基板212是藍(lán)寶石,且第一半導(dǎo)體層214、主動層216及第二半導(dǎo)體層218是氮化物半導(dǎo)體時,激光副產(chǎn)物217因藍(lán)寶石與激光光束的反應(yīng)生成,可通過一加熱的硫酸溶液加以移除。而在移除激光副產(chǎn)物207后,可自下表面200b提供一分離力f,以使尖銳末端206a延伸至發(fā)光晶片200的下表面200b?,F(xiàn)有技術(shù)中,用于分離發(fā)光晶片的激光切割法必須將焦距聚焦于發(fā)光晶片的深處(大約自發(fā)光晶片上表面往下70~100μm),因此增加了切割面積,而所增加的切割面積會遮蔽自發(fā)光晶片切割出的發(fā)光裝置側(cè)壁所射出的光。依據(jù)本發(fā)明,自下表面200b形成的裂痕可輕易地自尖銳末端206a引導(dǎo),且切割區(qū)域206通過激光光束的發(fā)射焦距所決定的深度d2可小于現(xiàn)有的激光切割法,是以切割區(qū)域206所造成的遮光面積可大幅減少。
如圖2d所示,多個發(fā)光裝置210已彼此分離,而每一發(fā)光裝置210的光取出率相較于利用現(xiàn)有激光切割法的發(fā)光裝置光取出率提升了至少2%。
如圖3a及圖3b,揭示本發(fā)明發(fā)光裝置的制造方法的一第二實施例。本實施例除了切割區(qū)域之外與第一實施例相似。有關(guān)提供發(fā)光晶片300及形成蝕刻平臺304的步驟與第一實施例相同。多個切割區(qū)域306可由一激光光束沿著切割道(圖未示)而形成,而每一切割區(qū)域306的寬度w1可介于5μm至100μm、厚度t1可介于5μm至50μm,且相鄰的切割區(qū)域306a間的距離w2可介于5μm至100μm。多個的切割區(qū)域306在剖視圖中形成一類似城堡城墻的圖形。一連續(xù)的切割區(qū)域308可選擇性地形成于多個切割區(qū)域306上方。連續(xù)的切割區(qū)域308與多個切割區(qū)域306可通過調(diào)整激光光束的強(qiáng)度同時形成。當(dāng)多個切割區(qū)域306形成且清除激光副產(chǎn)物307后,一分離力f可提供至發(fā)光晶片300的下表面302b,是以切割區(qū)域306可被延伸到發(fā)光晶片300的下表面302b。相較于現(xiàn)有的激光切割法會在已分離的發(fā)光裝置上造成較大的遮光面積,多個切割區(qū)域306所形成的圖形占據(jù)分離后的發(fā)光裝置側(cè)壁較少的面積。
如圖3b所示,多個發(fā)光裝置310已彼此分離。每一發(fā)光裝置310包含一基板312、一第一半導(dǎo)體層314、一主動層316及一第二半導(dǎo)體層318。
如圖4a至圖4c所示,揭示本發(fā)明一種發(fā)光裝置的制造方法的一第三實施例。本實施例除了切割區(qū)域以外與前述實施例相似。有關(guān)提供發(fā)光晶片400及形成蝕刻平臺404的步驟與前述實施例相同。一切割結(jié)構(gòu)406其于剖面視圖中具有至少一階梯狀圖形,通過沿著一預(yù)定切割道(圖未示)發(fā)射一激光光束及調(diào)整激光光束的強(qiáng)度(圖未示)所形成。
圖4a至圖4c顯示切割結(jié)構(gòu)406不同程度的階梯狀圖案。階梯狀圖案的厚度t1可介于15μm至25μm,發(fā)光晶片400的上表面至階梯狀圖案最高點的距離t2可小于5μm。
前述實施例的每一第一半導(dǎo)體層、主動層以及第二半導(dǎo)體層可形成于一有機(jī)金屬氣相氧化形成腔(mocvdchamber)中,可例如由磷化鋁鎵銦(algainp)系列、氮化鋁鎵銦(algainn)系列及/或氧化鋅(zno)的材料所組成。主動層的形式可為一單異質(zhì)結(jié)構(gòu)(sh)、一雙異質(zhì)結(jié)構(gòu)(dh)、一雙側(cè)雙異質(zhì)結(jié)構(gòu)(ddh)、或一多重量子阱(mqw)結(jié)構(gòu)。
前述發(fā)光晶片的基板可包含藍(lán)寶石(sapphire)、碳化硅(sic)、硅(si)、砷化鎵(gaas)或其他可通過mocvd形成發(fā)光疊層的材料,或者一鍵合結(jié)構(gòu)可形成于基板與發(fā)光疊層間,且基板可為例如是藍(lán)寶石(sapphire)、碳化硅(sic)、硅(si)或砷化鎵(gaas)的透明材料,或一例如為金屬或陶瓷的高導(dǎo)熱材料。
雖然本發(fā)明已公開如上,然而其并非用以限制本發(fā)明的范圍、實施順序、或使用的材料與制程方法。對于本發(fā)明所作的各種修飾與變更,都不脫本發(fā)明的精神與范圍。