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FinFET及其形成方法與流程

文檔序號:12865062閱讀:來源:國知局

技術(shù)特征:

技術(shù)總結(jié)
實(shí)施例是一種結(jié)構(gòu),其包括位于襯底上方的第一鰭;位于襯底上方的第二鰭,第二鰭相鄰于第一鰭;環(huán)繞第一鰭和第二鰭的隔離區(qū),隔離區(qū)的第一部分位于第一鰭和第二鰭之間;沿著第一鰭和第二鰭的側(cè)壁并且位于其上表面的上方的柵極結(jié)構(gòu),柵極結(jié)構(gòu)界定了第一鰭和第二鰭中的溝道區(qū);位于柵極結(jié)構(gòu)側(cè)壁上的柵極密封間隔件,柵極密封間隔件的第一部分位于在第一鰭和第二鰭之間的隔離區(qū)的第一部分上;以及鄰近柵極結(jié)構(gòu)的第一鰭和第二鰭上的源極/漏極區(qū)。本發(fā)明實(shí)施例涉及FinFET及其形成方法。

技術(shù)研發(fā)人員:程潼文;羅威揚(yáng);陳志山
受保護(hù)的技術(shù)使用者:臺灣積體電路制造股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:2017.04.24
技術(shù)公布日:2017.11.03
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