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一種逆阻型氮化鎵高電子遷移率晶體管的制作方法

文檔序號(hào):12275118閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體功率器件制備技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種逆阻型氮化鎵高電子遷移率晶體管。本發(fā)明主要是針對(duì)高效功率開(kāi)關(guān)器件的主要性能指標(biāo)(導(dǎo)通電阻、漏極開(kāi)啟電壓、反向耐壓、功耗),提出了具有混合漏極的氮化鎵新器件結(jié)構(gòu)。本發(fā)明所提出的增強(qiáng)型AlGaN/GaN?HEMT器件具有高反向阻斷能力、低漏極開(kāi)啟電壓、低導(dǎo)通電阻和低功耗等優(yōu)點(diǎn),尤其適用于雙向開(kāi)關(guān)中。

技術(shù)研發(fā)人員:陳萬(wàn)軍;施宜軍;崔興濤;劉超;劉杰;胡官昊;周琦;張波
受保護(hù)的技術(shù)使用者:電子科技大學(xué)
文檔號(hào)碼:201611065159
技術(shù)研發(fā)日:2016.11.28
技術(shù)公布日:2017.02.22

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