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靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號:11836607閱讀:251來源:國知局
靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及一種靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu),尤其涉及一種柵極耦合式(gate-coupled)晶體管的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)。



背景技術(shù):

為了保護(hù)集成電路免于受到靜電放電現(xiàn)象的破壞,建構(gòu)于芯片上的靜電放電防護(hù)電路成為芯片中必要的元件。在現(xiàn)有的技術(shù)領(lǐng)域中,多指狀(multi-finger)結(jié)構(gòu)晶體管常用在靜電放電防護(hù)電路中。在靜電放電防護(hù)的過程中,多指狀結(jié)構(gòu)晶體管常因為導(dǎo)通不均勻的狀態(tài)而降低了其靜電放電的防護(hù)能力。而所謂的柵極耦合式晶體管常被應(yīng)用以防止上述的導(dǎo)通不均勻的狀態(tài),并增加靜電放電防護(hù)電路的強(qiáng)韌度。

然而,在未能有效控制多指狀結(jié)構(gòu)晶體管的柵極電壓的情況下,現(xiàn)有的柵極耦合式晶體管的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)仍無法有效克服在靜電放電過程所產(chǎn)生的柵極過驅(qū)動現(xiàn)象,而造成經(jīng)常性的防護(hù)失效的問題。在深次微米制程以后的芯片中,由于采用更薄的柵極氧化層(gate oxide)以及更淺的接面(junction)深度,上述的靜電放電防護(hù)失效的問題更為嚴(yán)重。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明提供多種靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu),通過內(nèi)部整合的曾納二極管來克服因柵極過驅(qū)動(over-gate-driven)現(xiàn)象所造成的靜電放電能力降低的問題。

本發(fā)明的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)包括主動區(qū)、多個柵極結(jié)構(gòu)、第一、二、三防護(hù)環(huán)以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。柵極結(jié)構(gòu)覆蓋在主動區(qū)上,第一防護(hù)環(huán)環(huán)繞柵極結(jié)構(gòu)以及主動區(qū)。半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)具有相對應(yīng)的第一端及第二端,半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的第一端通過第一連接導(dǎo)線耦接?xùn)艠O結(jié)構(gòu),半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的第二端通過第二連接導(dǎo)線耦接第一防護(hù)環(huán)。第二防護(hù)環(huán)環(huán)繞半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)并電性連接第一連接導(dǎo)線。第三防護(hù)環(huán)環(huán)繞第二防護(hù)環(huán),且電性連接第二連接導(dǎo)線。其中,第二防護(hù)環(huán) 與第三防護(hù)環(huán)的型態(tài)互補(bǔ)。

本發(fā)明的另一種靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)包括主動區(qū)、多個第一柵極結(jié)構(gòu)、至少一第二柵極結(jié)構(gòu)、第一、二防護(hù)環(huán)以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。第一柵極結(jié)構(gòu)覆蓋在主動區(qū)上。第二柵極結(jié)構(gòu)連接第一柵極結(jié)構(gòu),且第二柵極結(jié)構(gòu)的型態(tài)與第一柵極結(jié)構(gòu)的型態(tài)互補(bǔ)。第一防護(hù)環(huán)環(huán)繞上述的柵極結(jié)構(gòu)以及主動區(qū),并耦接第二柵極結(jié)構(gòu)。半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)具有相對應(yīng)的第一端及第二端,半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的第一端通過第一連接導(dǎo)線耦接第一柵極結(jié)構(gòu),半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的第二端通過第二連接導(dǎo)線耦接第一防護(hù)環(huán)。第二防護(hù)環(huán)環(huán)繞半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)并電性連接第二連接導(dǎo)線。

基于上述,本發(fā)明通過在靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)中,通過內(nèi)部整合的方式,來建構(gòu)曾納二極管。通過所建構(gòu)的曾納二極管,可以有效的控制靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)中晶體管的柵極電壓,在不需要增加靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的布局面積的條件下,克服因柵極過驅(qū)動現(xiàn)象所造成的晶體管導(dǎo)通不均勻的問題。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂,下文特舉實施例,并配合附圖作詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖;

圖2為本發(fā)明圖1所示實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100的等效電路200的示意圖;

圖3為本發(fā)明圖1所示實施例的線段A-A’的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

圖4為本發(fā)明另一實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖;

圖5為本發(fā)明圖4所示實施例的線段B-B’的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

圖6為本發(fā)明再一實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖;

圖7為本發(fā)明圖6所示實施例的線段C-C’的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)600的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

圖8為本發(fā)明其他實施例的靜電放電結(jié)構(gòu)的等效電路圖。

附圖標(biāo)記說明:

100、400、600:靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu);

110、410、610:主動區(qū);

G1~G4、G21、G22、G11~G14:柵極結(jié)構(gòu);

GR1~GR3、GRG:防護(hù)環(huán);

120、420、620:半導(dǎo)體結(jié)構(gòu);

D1~D5:參雜區(qū);

CT11~CT51、CT1~CT6:連接結(jié)構(gòu);

WIR1、WIR2:連接導(dǎo)線;

200、800:等效電路;

GND:參考接地電壓;

T1:晶體管;

ZD1:曾納二極管;

A-A’、B-B’、C-C’:線段;

VDD:操作電壓;

ESDI:靜電放電防護(hù)植入環(huán)。

具體實施方式

請參照圖1,靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100包括主動區(qū)110、柵極結(jié)構(gòu)G1~G4、防護(hù)環(huán)GR1~GR3及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120。柵極結(jié)構(gòu)G1~G4覆蓋在主動區(qū)110上,防護(hù)環(huán)GR1環(huán)繞柵極結(jié)構(gòu)G1~G4以及主動區(qū)110。主動區(qū)110內(nèi),包括多個分別與柵極結(jié)構(gòu)G1~G4交錯排列的參雜區(qū)D1~D5。參雜區(qū)D1~D5上分別可具有多個連接結(jié)構(gòu)CT11~CT41。

另外,防護(hù)環(huán)GR1通過連接結(jié)構(gòu)CT1與連接導(dǎo)線WIR2連接。柵極結(jié)構(gòu)G1~G4分別通過多個連接結(jié)構(gòu)CT2與連接導(dǎo)線WIR1連接。連接導(dǎo)線WIR1及WIR2分別通過連接結(jié)構(gòu)CT3及CT4耦接至半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120的兩個相對的端點上。并且,連接導(dǎo)線WIR1還通過連接結(jié)構(gòu)CT5耦接至防護(hù)環(huán)GR2,連接導(dǎo)線WIR2還通過連接結(jié)構(gòu)CT6耦接至防護(hù)環(huán)GR3。防護(hù)環(huán)GR1可以為P型防護(hù)環(huán),并可以連接至參考接地電壓。

值得一提的是,防護(hù)環(huán)GR2環(huán)繞半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120,防護(hù)環(huán)GR3環(huán)繞防護(hù)環(huán)GR2,且防護(hù)環(huán)GR3通過其內(nèi)側(cè)與防護(hù)環(huán)GR2的外側(cè)相接觸。防護(hù)環(huán)GR2 及防護(hù)環(huán)GR3的型態(tài)是互補(bǔ)的,因此,防護(hù)環(huán)GR2與防護(hù)環(huán)GR3的接觸面,可以產(chǎn)生P-N接面。本實施例的防護(hù)環(huán)GR2是N型防護(hù)環(huán),防護(hù)環(huán)GR3是P型防護(hù)環(huán)。

通過主動區(qū)110、參雜區(qū)D1~D5及柵極結(jié)構(gòu)G1~G4可以形成多個晶體管。將連接結(jié)構(gòu)CT11、CT31及CT51相互連接可以使參雜區(qū)D1、D3及D5連接在一起并形成晶體管的共同的源極(或漏極)。將連接結(jié)構(gòu)CT21及CT41相互連接可以使參雜區(qū)D2及D4連接在一起并形成晶體管的共同的漏極(或源極)。

此外,靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100還包括防護(hù)環(huán)GRG。防護(hù)環(huán)GRG環(huán)繞在靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100的最外圈,并區(qū)分出兩個布局區(qū)域,其中之一的布局區(qū)域用來布局主動區(qū)110、參雜區(qū)D1~D5以及柵極結(jié)構(gòu)G1~G4所形成的晶體管及防護(hù)環(huán)GR1,另一布局區(qū)域用來布局半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120及防護(hù)環(huán)GR2、GR3。防護(hù)環(huán)GRG除可隔絕晶體管與半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120間的干擾外,還可使靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100與外部電路有效的產(chǎn)生隔絕。

以下請參照圖1以及圖2,其中,圖2為本發(fā)明圖1所示實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100的等效電路200的示意圖。通過將參雜區(qū)D1、D3及D5耦接至參考接地電壓GND,并通過將參雜區(qū)D2及D4耦接至焊墊PAD,在圖1中由主動區(qū)110、參雜區(qū)D1~D5以及柵極結(jié)構(gòu)G1~G4所形成多個晶體管可等效于圖2中晶體管T1。圖1中的防護(hù)環(huán)GR2與防護(hù)環(huán)GR3的接觸面所形成的P-N接面,可等效于圖2中的曾納二極管ZD1。半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120則可以是串接在晶體管T1的柵極以及參考接地電壓GND間的電阻。

依據(jù)圖2示出的等效電路200,曾納二極管ZD1可配合半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120(電阻)來有效控制晶體管T1的柵極上的電壓值大小,并在靜電放電現(xiàn)象發(fā)生時,有效抑止柵極過驅(qū)動現(xiàn)象發(fā)生的可能性,提升在靜電放電防護(hù)的效能。

另外,曾納二極管ZD1是通過防護(hù)環(huán)GR2、GR3來產(chǎn)生的,也就是說,在不需要增加多余的半導(dǎo)體元件的前提下,本實施例有效的在晶體管T1的柵極與參考接地電壓GND間形成曾納二極管ZD1,并不會造成生產(chǎn)成本的增加。

請參照圖3,圖3為本發(fā)明圖1所示實施例的線段A-A’的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。圖3中,兩組防護(hù)環(huán)GR2與GR3相互接觸配 置,并分別配置在半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120的兩側(cè)。防護(hù)環(huán)GR2與GR3分別為N+及P+的防護(hù)環(huán),因此,防護(hù)環(huán)GR2與GR3的接觸面間可產(chǎn)生P-N接面,并形成曾納二極管。

N+形態(tài)的防護(hù)環(huán)GRG還配置在兩組防護(hù)環(huán)GR2與GR3的外側(cè),其中,防護(hù)環(huán)GRG耦接至操作電壓VDD。連接導(dǎo)線WIR2連接防護(hù)環(huán)GR3、防護(hù)環(huán)GR1以及參考接地電壓GND,并使曾納二極管的陽極端耦接至參考接地電壓GND。其中,防護(hù)環(huán)GR1配置在兩個防護(hù)環(huán)GRG間的外側(cè)。另外,連接導(dǎo)線WIR1連接至兩個防護(hù)環(huán)GR2、柵極結(jié)構(gòu)G4以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120,并藉此將曾納二極管的陰極以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)120耦接至晶體管的柵極端。

接著,請參照圖4,圖4為本發(fā)明另一實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400包括主動區(qū)410、柵極結(jié)構(gòu)G11~G14以及G21、G22、防護(hù)環(huán)GR1、GR2以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)420。柵極結(jié)構(gòu)G11~G14覆蓋在主動區(qū)410上,并且,柵極結(jié)構(gòu)G11~G14與柵極結(jié)構(gòu)G21、G22相接觸。其中,柵極結(jié)構(gòu)G11~G14的型態(tài)與柵極結(jié)構(gòu)G21、G22的型態(tài)互補(bǔ)。具體來說明,柵極結(jié)構(gòu)G11~G14可以是N+柵極結(jié)構(gòu),柵極結(jié)構(gòu)G21、G22可以是P+柵極結(jié)構(gòu)。也就是說,通過N+柵極結(jié)構(gòu)G11~G14與P+柵極結(jié)構(gòu)G21、G22相接觸,可以等效產(chǎn)生曾納二極管。

防護(hù)環(huán)GR1環(huán)繞柵極結(jié)構(gòu)G11~G14、G21、G22以及主動區(qū)410。主動區(qū)410內(nèi)包括多個分別與柵極結(jié)構(gòu)G11~G14交錯排列的參雜區(qū)。

柵極結(jié)構(gòu)G11~G14通過連接導(dǎo)線WIR1相互耦接,并耦接至半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)420的一端。防護(hù)環(huán)GR1可通過多個連接導(dǎo)線WIR21以及連接導(dǎo)線WIR2分別耦接至柵極結(jié)構(gòu)G21及G22,并且,連接導(dǎo)線WIR2還耦接至半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)420的另一端。此外,連接導(dǎo)線WIR2另耦接至防護(hù)環(huán)GR2。

通過將不同極性的柵極結(jié)構(gòu)G21及G22與柵極結(jié)構(gòu)G11~G14相接觸,在柵極結(jié)構(gòu)G21及G22與柵極結(jié)構(gòu)G11~G14的接觸面上,將可形成P-N接面,并藉以產(chǎn)生曾納二極管。在防護(hù)環(huán)GR1另耦接至參考接地電壓的條件下,主動區(qū)410中形成的晶體管的柵極可耦接至曾納二極管的N極,而曾納二極管的P極則耦接至參考接地電壓。

防護(hù)環(huán)GRG環(huán)繞在靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400的最外圈,并區(qū)分出兩個布局區(qū)域,其中之一的布局區(qū)域用來布局主動區(qū)410、柵極結(jié)構(gòu)G11~G14、G21、 G22以及柵極結(jié)構(gòu)G11~G14所分隔出的參雜區(qū)所形成的晶體管及防護(hù)環(huán)GR1,另一布局區(qū)域用來布局半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)420以及防護(hù)環(huán)GR2。

依上述說明,圖4所示實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400可以形成與圖2相同的等效電路200,因此圖4所示的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400可具有與圖1所示的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)100相類似的效果。

為更清楚說明圖4所示的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400,請參照圖5,圖5為本發(fā)明圖4所示實施例的線段B-B’的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)400的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。其中,N+形態(tài)的柵極結(jié)構(gòu)G11的兩個側(cè)邊分別接觸P+形態(tài)柵極結(jié)構(gòu)G21及G22,并藉此形成P-N接面。柵極結(jié)構(gòu)G21及G22分別通過連接導(dǎo)線WIR21以及WIR2耦接至防護(hù)環(huán)GR1,防護(hù)環(huán)GRG配置在線段B-B’上的剖面結(jié)構(gòu)的兩側(cè)以環(huán)繞防護(hù)環(huán)GR1。防護(hù)環(huán)GR1為P+形態(tài)并耦接至參考接地電壓GND,而防護(hù)環(huán)GRG則為N+形態(tài)并耦接至操作電壓VDD。

請參照圖6,圖6為本發(fā)明再一實施例的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)600包括主動區(qū)610、柵極結(jié)構(gòu)G1~G4、防護(hù)環(huán)GR1~GR3及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)620。與圖1實施例不相同的,本實施例防護(hù)環(huán)GR2、GR3間還具有靜電放電防護(hù)植入環(huán)ESDI。其中,靜電放電防護(hù)植入環(huán)ESDI的外環(huán)與防護(hù)環(huán)GR3相接觸,靜電放電防護(hù)植入環(huán)ESDI的內(nèi)環(huán)與防護(hù)環(huán)GR2相接觸。

請參照圖7,圖7為本發(fā)明圖6所示實施例的線段C-C’的靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)600的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。在圖7中,靜電放電防護(hù)植入環(huán)ESDI配置在防護(hù)環(huán)GR2及GR3間,并部分的包覆防護(hù)環(huán)GR2。靜電放電防護(hù)植入環(huán)ESDI用以增強(qiáng)靜電放電防護(hù)結(jié)構(gòu)600的靜電放電防護(hù)能力。

請參照圖8,圖8為本發(fā)明其他實施例的靜電放電結(jié)構(gòu)的等效電路圖。等效電路800中,除了在靜電放電結(jié)構(gòu)中內(nèi)嵌曾納二極管ZD1外,還可以通過串接多個二極管D1、D2在曾納二極管ZD1的陽極端以及參考接地電壓GND間,二極管D1、D2依序依順向偏壓的方式耦接在晶體管T1的柵極及參考接地電壓GND間。二極管D1、D2可用來調(diào)整曾納二極管ZD1的崩潰電壓。

綜上所述,本發(fā)明通過在靜電放電結(jié)構(gòu)中內(nèi)嵌曾納二極管,并通過曾納二極管的崩潰現(xiàn)象來控制靜電放電結(jié)構(gòu)中的晶體管的柵極上的電壓,并藉此 防止柵極過驅(qū)動現(xiàn)象,提升靜電放電防護(hù)的能力。

最后應(yīng)說明的是:以上各實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案,而非對其限制;盡管參照前述各實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改,或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改或者替換,并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的范圍。

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