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生成光模塊溫度查找表的方法及裝置的制作方法

文檔序號:7141977閱讀:522來源:國知局
專利名稱:生成光模塊溫度查找表的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光通信技術(shù),尤其涉及一種生成光模塊溫度查找表的方法及裝置。
背景技術(shù)
目前的國內(nèi)市場以及國際市場,高帶寬、高速率和多種業(yè)務(wù)融合的光纖通信方向已經(jīng)開始應(yīng)用;在眾多的解決方案中,光纖到戶(FTTH,F(xiàn)iberTo The Home)的出現(xiàn)被認(rèn)為是寬帶接入的終極解決方案,國內(nèi)市場已經(jīng)大面積應(yīng)用。光模塊作為光纖通信系統(tǒng)中FTTH的核心部件,光模塊整體性能的穩(wěn)定直接與光纖通信系統(tǒng)的性能穩(wěn)定相關(guān),而光模塊發(fā)射端的光口性能,即發(fā)射的光信號質(zhì)量,又是影響光纖通信系統(tǒng)性能穩(wěn)定的重要因素。影響光模塊發(fā)射端的光口發(fā)射的光信號質(zhì)量參數(shù)中,主要考慮的是眼圖質(zhì)量,其中,影響眼圖質(zhì)量的主要因素是平均光功率和消光比,平均光功率和消光比是由光模塊中的激光驅(qū)動芯片提供給激光器的偏置電流和調(diào)制電流大小決定的,偏置電流越大,平均光功率就越大;當(dāng)平均光功率固定時,調(diào)制電流越大,消光比就越大;在此基礎(chǔ)上,由于激光器是具有溫度特性的器件,還需要考慮器件的溫度特性,對于固定的偏置電流和調(diào)制電流來說,當(dāng)溫度降低時,光功率會變大,消光比會降低;當(dāng)溫度升高時,光功率會變小,消光比會升高。光模塊在實際應(yīng)用中,需要保持在工作溫度范圍內(nèi),例如,商業(yè)級應(yīng)用的溫度范圍為(T70°C,工業(yè)級應(yīng)用的溫度范圍為-4(T85°C。如果光模塊發(fā)射端的光口參數(shù)不穩(wěn)定,例如,光眼圖參數(shù)波動較大,都可能導(dǎo)致收端無法識別,進(jìn)而導(dǎo)致通信中斷。實際應(yīng)用中,為了穩(wěn)定光模塊發(fā)射端的光口參數(shù),光模塊發(fā)射端一般米用閉環(huán)控制,通過在光模塊中引入光功率自動功率控制(APC, AutomaticPower Control)環(huán)路,用于調(diào)節(jié)偏置電流控制電路中的激光二極管以及背光二極管,APC環(huán)路為發(fā)射端的偏置電流控制電路引入一個負(fù)反饋量,通過與激光二極管靠近的背光二極管,耦合部分激光二極管所發(fā)出來的光功率,產(chǎn)生反饋的背光電流,從而使得APC環(huán)路根據(jù)該反饋電流與偏置電流,與設(shè)定的參考值相比較后,調(diào)整輸出至發(fā)光二極管的偏置電流,進(jìn)而穩(wěn)定平均光功率。理論上,背光二極管是沒有溫度特性的,即只要激光二極管的發(fā)光恒定,以及,激光二極管與背光二極管的耦合系數(shù)恒定,背光二極管提供給APC環(huán)路的反饋電流(偏置電流)是恒定的,但實際應(yīng)用中,將激光二極管與背光二極管進(jìn)行封裝的發(fā)端光器件,即光發(fā)射次模塊(TOSA, Transmitter Optical Subassembly),受溫度影響,當(dāng)激光二極管發(fā)射恒定光功率,如果溫度變化,背光二極管輸出的偏置電流也會發(fā)生變化,而偏置電流的變化又會影響激光二極管發(fā)射的光功率。這樣,將導(dǎo)致APC環(huán)路在環(huán)境溫度變化時,光模塊發(fā)射的光功率無法穩(wěn)定在設(shè)定值;而如果平均光功率發(fā)生變動,消光比也會隨之發(fā)生變化,同時,溫度的變化,也將影響對電流進(jìn)行調(diào)制的效果。實際應(yīng)用中,在APC環(huán)路中,需要根據(jù)光模塊發(fā)射端的溫度,對輸入激光二極管的調(diào)制電流進(jìn)行控制,以使激光二極管發(fā)射功率恒定的光信號。因而,現(xiàn)有技術(shù)中,在光模塊的軟件中,通過定義一個光模塊溫度查找表,根據(jù)包含溫度傳感器的微控制單元(MCU,Micro Control Unit)的實測溫度來補(bǔ)償光模塊中的偏置電流(APCset)值及調(diào)制電流(MODset)值,即根據(jù)溫度變化調(diào)整APCset、MODset,從而補(bǔ)償光功率及消光比,使得光模塊輸出光信號的光功率及消光比穩(wěn)定。其中,APCset、MODset分別對應(yīng)一個獨(dú)立的光模塊溫度查找表,當(dāng)MCU監(jiān)測到溫度改變時,根據(jù)MCU監(jiān)測到的當(dāng)前溫度,在預(yù)先設(shè)置的光模塊溫度查找表中查找該當(dāng)前溫度點(diǎn)對應(yīng)的APCset、M0Dset值,并將查找到的值分別作為當(dāng)前的APCset、M0Dset設(shè)定值,以控制激光二極管,從而穩(wěn)定光模塊發(fā)端的光信號質(zhì)量?,F(xiàn)有生成光模塊溫度查找表的方法,針對每一光模塊,根據(jù)其工作溫度范圍,選取多個工作溫度點(diǎn),在每一工作溫度點(diǎn),記錄包含溫度傳感器的MCU監(jiān)測得到的溫度,調(diào)節(jié)激光二極管的偏置電流以及調(diào)制電流,以使激光二極管發(fā)射的光信號的光功率及消光比同時滿足預(yù)先設(shè)置的數(shù)值,并將該工作溫度點(diǎn)對應(yīng)的監(jiān)測溫度,以及,該工作溫度點(diǎn)對應(yīng)的偏置電流以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值寫入光模塊溫度查找表,根據(jù)同樣的方式,得到各工作溫度點(diǎn)對應(yīng)的偏置電流以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,并寫入光模塊溫度查找表。這樣,在該光模塊的后續(xù)工作中,根據(jù)MCU監(jiān)測得到的溫度,查找光模塊溫度查找表,獲取相應(yīng)的偏置電流以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,作為激光二極管的控制參數(shù),從而使激光二極管輸出的光功率及消光比恒定,提升光纖通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性。由上述可見,現(xiàn)有生成光模塊溫度查找表的方法,需要對每一光模塊進(jìn)行工作溫度范圍內(nèi)的測試,以用來確定后續(xù)工作中對應(yīng)校正點(diǎn)的調(diào)制電流以及偏置電流設(shè)定值,通常采用高低溫箱或風(fēng)槍來將光模塊的溫度調(diào)節(jié)至各工作溫度點(diǎn),而在從升/降溫到光模塊溫度穩(wěn)定,都是需要時間的,因而,這種常規(guī)生成光模塊溫度查找表的方法,需要針對每一光模塊,所需時間長、生成光模塊溫度查找表的效率低,占用的生產(chǎn)資源多,不利于生產(chǎn)線生廣效率的提聞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施例提供了一種生成光模塊溫度查找表的方法,提高生成光模塊溫度查找表的效率。本發(fā)明的實施例還提供了 一種生成光模塊溫度查找表的裝置,提高生成光模塊溫度查找表的效率。根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供了一種生成光模塊溫度查找表的方法,包括:預(yù)先劃分環(huán)境溫度為多個溫度點(diǎn),在每一溫度點(diǎn),調(diào)整測試光模塊輸出的光功率至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)光功率,獲取測試光模塊在溫度點(diǎn)的測試溫度值以及測試偏置電流設(shè)定寄存器值;調(diào)整測試光模塊輸出的消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)消光比,獲取測試光模塊在各溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值;對獲取的測試偏置電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù);對獲取的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù);調(diào)整待應(yīng)用光模塊輸出的光功率至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)光功率,以及,輸出的消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)消光比,分別獲取該待應(yīng)用光模塊在常溫環(huán)境下的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值;根據(jù)獲取的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的偏置電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的偏置電流溫度查找表;根據(jù)獲取的工作溫度值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的調(diào)制電流溫度查找表,并將生成的偏置電流溫度查找表及調(diào)制電流溫度查找表寫入該待應(yīng)用光模塊。其中,所述對獲取的測試偏置電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù)包括:根據(jù)劃分的各溫度點(diǎn),形成相應(yīng)的溫度區(qū)間;獲取預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值;獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試溫度值的差值;獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的差值;針對每一溫度點(diǎn)區(qū)間,將該溫度點(diǎn)區(qū)間的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值,再與預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的倒數(shù)相乘,得到該溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù)。其中,獲取所述偏置電流歸一化斜率參數(shù)的公式為:
權(quán)利要求
1.一種生成光模塊溫度查找表的方法,該方法包括: 預(yù)先劃分環(huán)境溫度為多個溫度點(diǎn),在每一溫度點(diǎn),調(diào)整測試光模塊輸出的光功率至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)光功率,獲取測試光模塊在溫度點(diǎn)的測試溫度值以及測試偏置電流設(shè)定寄存器值; 調(diào)整測試光模塊輸出的消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)消光比,獲取測試光模塊在各溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值; 對獲取的測試偏置電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù);對獲取的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù); 調(diào)整待應(yīng)用光模塊輸出的光功率至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)光功率,以及,輸出的消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)消光比,分別獲取該待應(yīng)用光模塊在常溫環(huán)境下的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值; 根據(jù)獲取的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的偏置電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的偏置電流溫度查找表;根據(jù)獲取的工作溫度值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的調(diào)制電流溫度查找表,并將生成的偏置電流溫度查找表及調(diào)制電流溫度查找表寫入該待應(yīng)用光模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述對獲取的測試偏置電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù)包括: 根據(jù)劃分的各溫度點(diǎn),形成相應(yīng)的溫度區(qū)間; 獲取預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值; 獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試溫度值的差值; 獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的差值; 針對每一溫度點(diǎn)區(qū)間,將該溫度點(diǎn)區(qū)間的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值,再與預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的倒數(shù)相乘,得到該溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,獲取所述偏置電流歸一化斜率參數(shù)的公式為:1-L ih,
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述對獲取的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù)包括: 根據(jù)劃分的各溫度點(diǎn),形成相應(yīng)的溫度區(qū)間;獲取預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值; 獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試溫度值的差值; 獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值的差值; 針對每一溫度點(diǎn)區(qū)間,將該溫度點(diǎn)區(qū)間的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值,再與預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值的倒數(shù)相乘,得到該溫度區(qū)間調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,獲取所述調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù)的公式為:
6.如權(quán)利要求1至5任一項所述的方法,其中,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù)以及調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù)后,所述方法進(jìn)一步包括: 構(gòu)建溫度點(diǎn)與偏置電流歸一化斜率參數(shù)的映射關(guān)系,以及,構(gòu)建溫度點(diǎn)與調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù)的映射關(guān)系。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其中,所述根據(jù)獲取的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的偏置電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的偏置電流溫度查找表包括: 查詢預(yù)先獲取的各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù),獲取該工作溫度值對應(yīng)的偏置電流歸一化斜率值; 根據(jù)該斜率值以及偏置電流設(shè)定寄存器值,計算該溫度點(diǎn)區(qū)間內(nèi)其它溫度點(diǎn)的偏置電流設(shè)定寄存器值; 根據(jù)該溫度點(diǎn)區(qū)間上下限溫度點(diǎn)對應(yīng)的偏置電流設(shè)定寄存器值以及預(yù)先獲取的相鄰溫度點(diǎn)區(qū)間的偏置電流歸一化斜率參數(shù),計算相鄰溫度點(diǎn)區(qū)間內(nèi)各溫度點(diǎn)的偏置電流設(shè)定寄存器值,直至計算得到該待應(yīng)用光模塊的各溫度區(qū)間的偏置電流設(shè)定寄存器值,生成偏置電流溫度查找表。
8.—種生成光模塊溫度查找表的裝置,其特征在于,該裝置包括:測試偏置電流獲取模塊、測試調(diào)制電流獲取模塊、歸一化處理模塊、應(yīng)用光模塊電流獲取模塊以及溫度查找表生成模塊,其中, 測試偏置電流獲取模塊,用于預(yù)先劃分環(huán)境溫度為多個溫度點(diǎn),在每一溫度點(diǎn),調(diào)整測試光模塊輸出的光功率至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)光功率,獲取測試光模塊在溫度點(diǎn)的測試溫度值以及測試偏置電流設(shè)定寄存器值; 測試調(diào)制電流獲取模塊,用于調(diào)整測試光模塊輸出的消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)消光t匕,獲取測試光模塊在各溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值;歸一化處理模塊,用于對獲取的測試偏置電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù);對獲取的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù); 應(yīng)用光模塊電流獲取模塊,用于調(diào)整待應(yīng)用光模塊輸出的光功率至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)光功率,以及,輸出的消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)消光比,分別獲取該待應(yīng)用光模塊在常溫環(huán)境下的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值; 溫度查找表生成模塊,用于根據(jù)獲取的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的偏置電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的偏置電流溫度查找表;根據(jù)獲取的工作溫度值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,結(jié)合預(yù)先獲取的調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的調(diào)制電流溫度查找表,并將生成的偏置電流溫度查找表及調(diào)制電流溫度查找表寫入該待應(yīng)用光模塊。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置,其特征在于,所述測試偏置電流獲取模塊包括:溫度區(qū)間劃分單元、測試溫度差值計算單元、測試偏置電流差值計算單元、偏置電流歸一化斜率計算單元、測試調(diào)制電流差值計算單元以及調(diào)制電流歸一化斜率計算單元,其中, 溫度區(qū)間劃分單元,用于根據(jù)劃分的各溫度點(diǎn),形成相應(yīng)的溫度區(qū)間; 測試溫度差值計算單元,用于獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試溫度值的差值; 測試偏置電流差值計算單元,用于根據(jù)獲取的設(shè)置溫度點(diǎn)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值,獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的差值; 偏置電流歸一化斜率計算單元,用于針對每一溫度點(diǎn)區(qū)間,將該溫度點(diǎn)區(qū)間的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值,再與預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試偏置電流設(shè)定寄存器值的倒數(shù)相乘,得到該溫度區(qū)間偏置電流歸一化斜率參數(shù); 測試調(diào)制電流差值計算單 元,用于根據(jù)獲取的預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,獲取每一溫度點(diǎn)區(qū)間對應(yīng)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值的差值; 調(diào)制電流歸一化斜率計算單元,用于針對每一溫度點(diǎn)區(qū)間,將該溫度點(diǎn)區(qū)間的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值的差值除以測試溫度值的差值,再與預(yù)先設(shè)置溫度點(diǎn)的測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值的倒數(shù)相乘,得到該溫度區(qū)間調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù)。
10.如權(quán)利要求8或9所述的裝置,其特征在于,所述溫度查找表生成模塊包括:偏置電流歸一化斜率獲取單元、偏置電流設(shè)定寄存器值獲取單元、偏置電流溫度查找表生成單元、調(diào)制電流歸一化斜率獲取單元、調(diào)制電流設(shè)定寄存器值獲取單元以及調(diào)制電流溫度查找表生成單元,其中, 偏置電流歸一化斜率獲取單元,用于查詢偏置電流歸一化斜率計算單元,獲取工作溫度值對應(yīng)的偏置電流歸一化斜率值; 偏置電流設(shè)定寄存器值獲取單元,用于根據(jù)獲取的該斜率值以及該工作溫度對應(yīng)的偏置電流設(shè)定寄存器值,計算該溫度點(diǎn)區(qū)間內(nèi)其它溫度點(diǎn)的偏置電流設(shè)定寄存器值; 偏置電流溫度查找表生成單元,用于根據(jù)該溫度點(diǎn)區(qū)間上下限溫度點(diǎn)對應(yīng)的偏置電流設(shè)定寄存器值以及預(yù)先獲取的相鄰溫度點(diǎn)區(qū)間的偏置電流歸一化斜率參數(shù),計算相鄰溫度點(diǎn)區(qū)間內(nèi)各溫度點(diǎn)的偏置電流設(shè)定寄存器值,直至計算得到該待應(yīng)用光模塊的各溫度區(qū)間的偏置電流設(shè)定寄存器值,生成偏置電流溫度查找表; 調(diào)制電流歸一化斜率獲取單元,用于查詢調(diào)制電流歸一化斜率計算單元,獲取該工作溫度值對應(yīng)的調(diào)制電流歸一化斜率值; 調(diào)制電流設(shè)定寄存器值獲取單元,用于根據(jù)獲取的該斜率值以及該工作溫度對應(yīng)的調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,計算該溫度點(diǎn)區(qū)間內(nèi)其它溫度點(diǎn)的調(diào)制電流設(shè)定寄存器值; 調(diào)制電流溫度查找表生成單元,用于根據(jù)該溫度點(diǎn)區(qū)間上下限溫度點(diǎn)對應(yīng)的調(diào)制電流設(shè)定寄存器值以及預(yù)先獲取的相鄰溫度點(diǎn)區(qū)間的調(diào)制電流歸一化斜率參數(shù),計算相鄰溫度點(diǎn)區(qū)間內(nèi)各溫度點(diǎn)的調(diào)制電流設(shè)定寄存器值,直至計算得到該待應(yīng)用光模塊的各溫度區(qū)間的調(diào)制電流設(shè)定寄存 器值,生成調(diào)制電流溫度查找表。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種生成光模塊溫度查找表的方法及裝置。該方法包括調(diào)整測試光模塊輸出的光功率及消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)值,獲取測試光模塊在溫度點(diǎn)的測試溫度值、測試偏置電流設(shè)定寄存器值以及測試調(diào)制電流設(shè)定寄存器值;對獲取的電流值進(jìn)行歸一化處理,獲取各溫度點(diǎn)形成的溫度區(qū)間電流歸一化斜率參數(shù);調(diào)整待應(yīng)用光模塊輸出的光功率及消光比至預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)值,獲取該待應(yīng)用光模塊在常溫環(huán)境下的工作溫度值、偏置電流設(shè)定寄存器值以及調(diào)制電流設(shè)定寄存器值;結(jié)合預(yù)先獲取的電流歸一化斜率參數(shù),生成該待應(yīng)用光模塊的電流溫度查找表,并將生成的電流溫度查找表寫入該待應(yīng)用光模塊。應(yīng)用本發(fā)明,可以提高生成光模塊溫度查找表的效率。
文檔編號H01S5/0683GK103078249SQ20131000386
公開日2013年5月1日 申請日期2013年1月6日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月6日
發(fā)明者陳彪 申請人:青島海信寬帶多媒體技術(shù)有限公司
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