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單晶制絨片架壓條裝置的制作方法

文檔序號(hào):6980577閱讀:230來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):?jiǎn)尉е平q片架壓條裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及單晶硅太陽(yáng)能電池制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種單晶制絨片架壓 條裝置。
技術(shù)背景單晶硅太陽(yáng)能電池制造工藝流程第一道工序通常為單晶硅表面織構(gòu)化,為了得到 良好的“金字塔”狀的絨面陷光結(jié)構(gòu),現(xiàn)有已經(jīng)成熟的方法是利用低濃度的氫氧化鈉(氫氧 化鉀)、IPA(異丙醇)、硅酸鈉(硅酸鉀)按一定比例形成制絨液,將硅片放入該制絨液中 腐蝕以達(dá)到制絨的目的。通過(guò)硅片制絨,可以有效地增強(qiáng)硅片對(duì)入射太陽(yáng)光的吸收,從而提 高光生電流密度。常規(guī)的硅片制絨工藝實(shí)施過(guò)程中,需要將硅片放置于專(zhuān)用的制絨片架中,為防止 硅片在制絨液中浮起,需要使用壓條裝置將硅片固定在片架中,這樣勢(shì)必影響壓條處制絨 液的流動(dòng),使壓條處硅片的腐蝕速率與周邊大不相同,導(dǎo)致硅片制絨后壓條處存在明顯壓 條印,進(jìn)而對(duì)后續(xù)的PECVD(等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣象淀積)工序造成影響,使硅片對(duì)應(yīng)的壓 條處形成明顯的色斑。為此,現(xiàn)有技術(shù)中的常用解決方案為增加IPA使用量,借助IPA的高 揮發(fā)性增加溶液的流動(dòng)性,或者為設(shè)備增加鼓泡系統(tǒng)和循環(huán)系統(tǒng)來(lái)增加制絨液的流動(dòng)性, 以減弱壓條印。然而,現(xiàn)有技術(shù)的解決方案中,并沒(méi)有從根本上解決制絨腐蝕中出現(xiàn)的壓條印問(wèn) 題,同時(shí)無(wú)論是增加IPA用量還是增加鼓泡和循環(huán)系統(tǒng),都增加了單晶硅太陽(yáng)能電池的成 本,不利于大規(guī)模的推廣和應(yīng)用。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型申請(qǐng)的目的在于提供單晶制絨片架壓條裝置, 以解決硅片在制絨腐蝕中出現(xiàn)的壓條印問(wèn)題,并無(wú)需增加IPA用量或增加鼓泡和循環(huán)系 統(tǒng),以降低單晶硅太陽(yáng)能電池的成本。為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案—種單晶制絨片架壓條裝置,包括第一壓條;第二壓條,與第一壓條相互平行;第三壓條,一端連接在第一壓條的中點(diǎn)區(qū)域,另一端連接在第二壓條的中點(diǎn)區(qū) 域;所述第三壓條中設(shè)置有通孔。優(yōu)選的,第三壓條中的通孔設(shè)置在第三壓條與硅片接觸位置相對(duì)應(yīng)的位置。優(yōu)選的,所述第三壓條垂直與第一壓條和第二壓條。[0016]優(yōu)選的,所述通孔為圓形,其直徑為1毫米至2毫米。優(yōu)選的,所述通孔為正方形,其邊長(zhǎng)為1毫米至2毫米。優(yōu)選的,所述通孔為橢圓形、正多邊形或不規(guī)則多邊形。優(yōu)選的,所述第三壓條中設(shè)置有多個(gè)不同形狀的通孔;所述通孔為圓形、橢圓形、正多邊形或不規(guī)則多邊形。優(yōu)選的,所述第三壓條中設(shè)置有多個(gè)通孔;相鄰的兩個(gè)通孔之間的距離相同或不同。優(yōu)選的,所述通孔之間的間距,與硅片接觸第三壓條的各個(gè)位置之間的間距相匹配。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的單晶制絨片架壓條裝置中,在壓條中設(shè)置了通孔,通孔 能夠疏導(dǎo)壓條處制絨液的流動(dòng),使壓條處制絨液的流動(dòng)與周邊區(qū)域相同,進(jìn)而使硅片壓條 處的腐蝕速率與其它區(qū)域相同,避免了硅片上壓條印的形成,進(jìn)而解決了硅片在PECVD制 程中產(chǎn)生色斑的缺陷。

為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例 或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅 是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提 下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的單晶制絨片架壓條裝置結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例一提供的單晶制絨片架壓條裝置結(jié)構(gòu)示意圖;圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例二提供的單晶制絨片架壓條裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
現(xiàn)有技術(shù)中的單晶硅太陽(yáng)能電池生產(chǎn)過(guò)程中,在制絨步驟中容易出現(xiàn)硅片壓條處 存在明顯壓條印,使后續(xù)制程中硅片的壓條處形成明顯的色斑。其一種解決方法是增加IPA 用量或增加鼓泡和循環(huán)系統(tǒng),但這種方案會(huì)增加單晶硅太陽(yáng)能電池的成本,不利于大規(guī)模 的推廣和應(yīng)用。為此,本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種單晶制絨片架壓條裝置,包括第一壓條;第 二壓條,與第一壓條相互平行;第三壓條,一端連接在第一壓條的中點(diǎn)區(qū)域,另一端連接在 第二壓條的中點(diǎn)區(qū)域;所述第三壓條中設(shè)置有通孔。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的單晶制絨片架壓條裝置中,在壓條中設(shè)置了通孔,通孔 能夠疏導(dǎo)壓條處制絨液的流動(dòng),使壓條處制絨液的流動(dòng)與周邊區(qū)域相同,進(jìn)而使硅片壓條 處的腐蝕速率與其它區(qū)域相同,避免了硅片上壓條印的形成,進(jìn)而解決了硅片在PECVD制程中產(chǎn)生色斑的缺陷。以上是本實(shí)用新型的核心思想,下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí) 用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新 型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員 在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。實(shí)施例一參見(jiàn)圖1所示,為現(xiàn)有技術(shù)中的一種單晶制絨片架壓條裝置示意圖,101為第一壓 條,102為第二壓條,103為第三壓條。其中,第三壓條103為與硅片相接觸的壓條,在硅片 制絨步驟中,存在硅片與第三壓條103相接觸的區(qū)域形成壓條印的缺陷。為此,本實(shí)施例提供了一種單晶制絨片架壓條裝置,參見(jiàn)圖2所示,為該裝置的一 種結(jié)構(gòu)示意圖,該裝置具體包括第一壓條201;第二壓條202,與第一壓條201相互平行;第三壓條203,一端連接在第一壓條201的中點(diǎn)區(qū)域,另一端連接在第二壓條202 的中點(diǎn)區(qū)域;所述第三壓條203中設(shè)置有通孔2031。其中,因壓條裝置需要將硅片固定在制絨片架中,為了進(jìn)一步的提高第三壓條203 與硅片接觸處的制絨液的流動(dòng)速率,本實(shí)施例中,所述通孔2031可以設(shè)置在第三壓條203 與硅片接觸位置相對(duì)應(yīng)的位置。所述各個(gè)通孔之間的間距,與硅片接觸壓條的各個(gè)位置之 間的間距相匹配。具體的,如圖2所示,所述第三壓條203還可以垂直于第一壓條201和第二壓條 202。此外,所述通孔可以為圓形,其直徑為1毫米至2毫米。所述通孔還可以為邊長(zhǎng)為 1毫米至2毫米的正方形。所述通孔還可以為橢圓形、正多邊形或不規(guī)則多邊形。本實(shí)施例 中,所述通孔的大小可以根據(jù)所述第三壓條的寬度做相應(yīng)的調(diào)整,并不局限于一個(gè)特定的 范圍之內(nèi)。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的單晶制絨片架壓條裝置中,在壓條中設(shè)置了通孔,通孔 能夠疏導(dǎo)壓條處制絨液的流動(dòng),使壓條處制絨液的流動(dòng)與周邊區(qū)域相同,進(jìn)而使硅片壓條 處的腐蝕速率與其它區(qū)域相同,避免了硅片上壓條印的形成,進(jìn)而解決了硅片在PECVD制 程中產(chǎn)生色斑的缺陷。實(shí)施例二 參見(jiàn)圖3所示,為本實(shí)施例提供的單晶制絨片架壓條裝置示意圖一種結(jié)構(gòu)示意 圖,該裝置具體包括第一壓條301 ;第二壓條302,與第一壓條301相互平行;第三壓條303,一端連接在第一壓條301的中點(diǎn)區(qū)域,另一端連接在第二壓條302 的中點(diǎn)區(qū)域;所述第三壓條303中設(shè)置有通孔3031。其中,第三壓條303垂直于第一壓條301和第二壓條302。如圖3所示,本實(shí)施例中,所述第三壓條303中可以設(shè)置有多個(gè)不同形狀的通孔 3031,具體包括橢圓形的通孔和矩形通孔。
5[0056]所述通孔3031可以為圓形、橢圓形、正多邊形或不規(guī)則多邊形。本實(shí)施例中,所述通孔可以均勻的設(shè)置于第三壓條上,即相鄰的兩個(gè)通孔之間的 距離相同;還可以根據(jù)第三壓條與硅片的接觸位置,設(shè)置通孔的分布,即相鄰的兩個(gè)通孔之 間的距離可以不相同。本實(shí)施例中,所述各個(gè)通孔之間的間距,與硅片接觸壓條的各個(gè)位置 之間的間距相匹配。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的單晶制絨片架壓條裝置中,在壓條中設(shè)置了通孔,通孔 能夠疏導(dǎo)壓條處制絨液的流動(dòng),使壓條處制絨液的流動(dòng)與周邊區(qū)域相同,進(jìn)而使硅片壓條 處的腐蝕速率與其它區(qū)域相同,避免了硅片上壓條印的形成,進(jìn)而解決了硅片在PECVD制 程中產(chǎn)生色斑的缺陷。本實(shí)用新型說(shuō)明書(shū)中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述,每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都 是與其他實(shí)施例的不同之處,各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)所公開(kāi)的實(shí) 施例的上述說(shuō)明,使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對(duì)這些實(shí)施例的多 種修改對(duì)本領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的,本文中所定義的一般原理可以在不 脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下,在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此,本實(shí)用新型將不會(huì)被 限制于本文所示的這些實(shí)施例,而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬 的范圍。
權(quán)利要求1.一種單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于,包括第一壓條;第二壓條,與第一壓條相互平行;第三壓條,一端連接在第一壓條的中點(diǎn)區(qū)域,另一端連接在第二壓條的中點(diǎn)區(qū)域; 所述第三壓條中設(shè)置有通孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 第三壓條中的通孔設(shè)置在第三壓條與硅片接觸位置相對(duì)應(yīng)的位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 所述第三壓條垂直與第一壓條和第二壓條。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 所述通孔為圓形,其直徑為1毫米至2毫米。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 所述通孔為正方形,其邊長(zhǎng)為1毫米至2毫米。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 所述通孔為橢圓形、正多邊形或不規(guī)則多邊形。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 所述第三壓條中設(shè)置有多個(gè)不同形狀的通孔;所述通孔為圓形、橢圓形、正多邊形或不規(guī)則多邊形。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于 所述第三壓條中設(shè)置有多個(gè)通孔;相鄰的兩個(gè)通孔之間的距離相同或不同。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單晶制絨片架壓條裝置,其特征在于所述通孔之間的間距, 與硅片接觸第三壓條的各個(gè)位置之間的間距相匹配。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型提供了一種單晶制絨片架壓條裝置,包括第一壓條;第二壓條,與第一壓條相互平行;第三壓條,一端連接在第一壓條的中點(diǎn)區(qū)域,另一端連接在第二壓條的中點(diǎn)區(qū)域;所述第三壓條中設(shè)置有通孔。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的單晶制絨片架壓條裝置中,在壓條中設(shè)置了通孔,通孔能夠疏導(dǎo)壓條處制絨液的流動(dòng),使壓條處制絨液的流動(dòng)與周邊區(qū)域相同,進(jìn)而使硅片壓條處的腐蝕速率與其它區(qū)域相同,避免了硅片上壓條印的形成,進(jìn)而解決了硅片在PECVD制程中產(chǎn)生色斑的缺陷。
文檔編號(hào)H01L31/18GK201887061SQ20102060317
公開(kāi)日2011年6月29日 申請(qǐng)日期2010年11月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月11日
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