專利名稱：直列式二極管晶粒測分設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種直列式二極管晶粒測分設(shè)備。
背景技術(shù)：
二極管整流產(chǎn)品根據(jù)二極管晶粒單向?qū)щ姷奶攸c，正向?qū)?、反向截止；用來達(dá)到 整流的目的，二極管晶粒是二極管的核心器件，晶粒封裝后形成二極管產(chǎn)品。二極管晶粒測 分是指對二極管晶粒進(jìn)行電性測試篩選，將晶粒按電性要求分成不同的等級，用相對應(yīng)等 級的晶粒投產(chǎn)對應(yīng)產(chǎn)品，可得到較高的封裝成品率。晶粒測分可降低封裝成本，提升產(chǎn)品的 競爭力?，F(xiàn)有晶粒測分設(shè)備見圖1，一般晶粒從漏斗1倒入圓震盤2內(nèi)，晶粒通過圓震 盤2震動后移動至直震盤3的位置，由直震盤3將晶粒移動至晶粒測試位置4，通過測試電 腦5進(jìn)行晶粒測分，測分完晶粒按照測試分類結(jié)果排入晶粒分級盒6內(nèi)，整個過程由機(jī)臺控 制盒7進(jìn)行控制。此種晶粒測分方式，因為晶粒須通過圓震盤2和直震盤3的軌道，晶粒測 試前的移動時間較長，生產(chǎn)效率較低；另外晶粒與圓震盤2和直震盤3的軌道金屬層摩擦， 易損傷晶粒外觀，進(jìn)而影響二極管晶粒品質(zhì)。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種能提升生產(chǎn)效率和提升晶粒測分品 質(zhì)的二極管晶粒測分設(shè)備。本實用新型采用如下技術(shù)方案一種直列式二極管晶粒測分設(shè)備，包括機(jī)身、測試電腦，機(jī)身上設(shè)置有工作臺面， 工作臺面上設(shè)置有列式晶粒吸盤，工作臺面上列式晶粒吸盤的后側(cè)設(shè)置有晶粒頂針，工作 臺面上晶粒頂針的后側(cè)設(shè)置有晶粒分級盒的落料槽，晶粒分級盒設(shè)置在工作臺面的下方， 機(jī)身上工作臺面的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動導(dǎo)軌，滑動導(dǎo)軌上設(shè)置有可與其相對滑動的移動單 元，所述移動單元的下端面上設(shè)置有晶粒吸嘴，移動單元的上方為機(jī)臺控制盒，機(jī)臺控制盒 通過連線與移動單元連接。所述機(jī)臺控制盒通過連線與移動單元下端面的晶粒吸嘴連接。所述測試電腦設(shè)置在工作臺面的下方、晶粒分級盒的前端。所述工作臺面上晶粒頂針的后側(cè)晶粒分級盒的落料槽至少設(shè)置兩列。有益效果本實用新型直列式二極管晶粒測分設(shè)備，采用晶粒吸嘴從直列式晶 粒吸盤吸取晶粒，移動至晶粒頂針處通過測試電腦進(jìn)行測試，測試后晶粒按等級排入相關(guān) 晶粒分級盒；減少了晶粒的運(yùn)動時間，節(jié)省了晶粒的測試時間，晶粒測分效率大幅提升，可 以從4000顆/小時提升至7500顆/小時；另外晶粒測分過程中，晶粒通過真空吸取，未與 震動軌道的金屬層摩擦，減少了晶粒外觀損傷，提升了晶粒品質(zhì)。該設(shè)備結(jié)構(gòu)上與圓盤形測 分設(shè)備比較，設(shè)計上采用導(dǎo)軌加直列式吸嘴，設(shè)計合理緊湊，并采用點對點測試晶粒，測試 準(zhǔn)確性高，整機(jī)運(yùn)行順暢，生產(chǎn)效率大幅度提升，是二極管晶粒測試的新一代設(shè)備。[0011]
圖1是原有圓盤形測分設(shè)備示意圖；圖2是本實用新型設(shè)備示意圖。
具體實施方式
下面參照附圖，對本實用新型的具體實施方式
加以詳細(xì)描述。一種直列式二極管晶粒測分設(shè)備，包括機(jī)身18、測試電腦15，機(jī)身18上設(shè)置有工 作臺面17，工作臺面17上設(shè)置有列式晶粒吸盤8，工作臺面17上列式晶粒吸盤8的后側(cè) 設(shè)置有晶粒頂針13，工作臺面17上晶粒頂針13的后側(cè)設(shè)置有晶粒分級盒14的落料槽19， 晶粒分級盒14設(shè)置在工作臺面17的下方，機(jī)身18上工作臺面17的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動 導(dǎo)軌10，滑動導(dǎo)軌10上設(shè)置有可與其相對滑動的移動單元11，所述移動單元11的下端面 上設(shè)置有晶粒吸嘴9，移動單元11的上方為機(jī)臺控制盒12，機(jī)臺控制盒12通過連線16與 移動單元11連接。所述機(jī)臺控制盒12通過連線16與移動單元11下端面的晶粒吸嘴9連接。所述測試電腦15設(shè)置在工作臺面17的下方、晶粒分級盒14的前端。所述工作臺面17上晶粒頂針13的后側(cè)晶粒分級盒14的落料槽19至少設(shè)置兩列。直列式二極管晶粒測分設(shè)備作業(yè)時，將裝有晶粒的列式晶粒吸盤8放入設(shè)備相應(yīng) 位置，開啟作業(yè)開關(guān)，機(jī)臺控制盒12通過連線16控制移動單元11在滑動導(dǎo)軌10上移動 至列式晶粒吸盤8位置，移動單元11下端面上的晶粒吸嘴9通過抽真空吸取一列晶粒(一 般50顆)，然后移動單元11沿導(dǎo)軌10水平向后移動到晶粒頂針13處，晶粒吸嘴9、晶粒、 晶粒頂針13呈上中下垂直位置接觸好后，測試電腦15開始進(jìn)行測試，測試完成后移動單 元11再沿導(dǎo)軌10向后水平移動到晶粒分級盒14的落料槽19處，依次關(guān)閉真空將晶粒放 入落料槽19處，晶粒從落料槽19掉入晶粒分級盒14中，完成一列晶粒的測分作業(yè)。然后 移動單元11沿導(dǎo)軌10向前水平移動到列式晶粒吸盤8的下一列晶粒位置，抽真空吸取下 一列晶粒，再繼續(xù)上面之動作，如此往復(fù)，直到列式晶粒吸盤8上的晶粒全部測分完成，再 換一塊列式晶粒吸盤作業(yè)。
權(quán)利要求1.一種直列式二極管晶粒測分設(shè)備，包括機(jī)身(18)、測試電腦(15)，機(jī)身(18)上設(shè)置 有工作臺面(17)，其特征在于所述工作臺面(17)上設(shè)置有列式晶粒吸盤(8)，工作臺面 (17)上列式晶粒吸盤(8)的后側(cè)設(shè)置有晶粒頂針(13)，工作臺面(17)上晶粒頂針(13)的后 側(cè)設(shè)置有晶粒分級盒(14)的落料槽(19)，晶粒分級盒(14)設(shè)置在工作臺面(17)的下方，機(jī) 身(18)上工作臺面(17)的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動導(dǎo)軌(10)，所述滑動導(dǎo)軌(10)上設(shè)置有可 與其相對滑動的移動單元(11)，所述移動單元(11)的下端面上設(shè)置有晶粒吸嘴(9)，所述 移動單元(11)的上方為機(jī)臺控制盒(12)，機(jī)臺控制盒(12)通過連線(16)與移動單元(11) 連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直列式二極管晶粒測分設(shè)備，其特征在于所述機(jī)臺控制盒 (12)通過連線(16)與移動單元(11)下端面的晶粒吸嘴(9)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直列式二極管晶粒測分設(shè)備，其特征在于所述測試電腦 (15)設(shè)置在工作臺面(17)的下方、晶粒分級盒(14)的前端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直列式二極管晶粒測分設(shè)備，其特征在于所述工作臺面 (17)上晶粒頂針(13)的后側(cè)晶粒分級盒(14)的落料槽(19)至少設(shè)置兩列。
專利摘要本實用新型公開了一種直列式二極管晶粒測分設(shè)備，包括機(jī)身、測試電腦，機(jī)身上設(shè)置有工作臺面，工作臺面上設(shè)置有列式晶粒吸盤,工作臺面上列式晶粒吸盤的后側(cè)設(shè)置有晶粒頂針，工作臺面上晶粒頂針的后側(cè)設(shè)置有晶粒分級盒的落料槽，晶粒分級盒設(shè)置在工作臺面的下方，機(jī)身上工作臺面的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動導(dǎo)軌，滑動導(dǎo)軌上設(shè)置有可與其相對滑動的移動單元，所述移動單元的下端面上設(shè)置有晶粒吸嘴，移動單元的上方為機(jī)臺控制盒，機(jī)臺控制盒通過連線與移動單元連接。采用晶粒吸嘴從直列式晶粒吸盤吸取晶粒，移動至晶粒頂針處通過測試電腦進(jìn)行測試，測試后晶粒按等級排入相關(guān)晶粒分級盒；減少了晶粒的運(yùn)動時間，節(jié)省了晶粒的測試時間，晶粒測分效率大幅提升，晶粒通過真空吸取，未與震動軌道的金屬層摩擦，減少了晶粒外觀損傷，提升了晶粒品質(zhì)。
文檔編號H01L21/66GK201853683SQ201020551318
公開日2011年6月1日 申請日期2010年10月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月5日
發(fā)明者林加斌, 許資彬 申請人:強(qiáng)茂電子(無錫)有限公司