專(zhuān)利名稱(chēng)：樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷的檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種由薄膜和通過(guò)在其上涂敷樹(shù)脂溶液而成的涂膜構(gòu)成的樹(shù)脂涂敷 薄膜的涂膜缺陷的檢查方法。
背景技術(shù)：
通過(guò)在薄膜上涂敷含有耐熱性含氮芳香族聚合物以及陶瓷粉末的溶液而形成涂 膜所得到的樹(shù)脂涂敷薄膜(以下稱(chēng)為耐熱隔板(力〃 > 一々一))，作為非水電解質(zhì)電池的 隔板被普遍使用。若在該耐熱隔板的涂膜中具有針孔(C > *一> )或剝落等缺陷，則可 使耐熱性下降，并使在電池使用后的安全性下降。另外，在分型薄板上涂敷樹(shù)脂所得到的樹(shù)脂涂敷薄板被使用在預(yù)浸料坯(1 'J
>夂)的生產(chǎn)中，但在該樹(shù)脂涂敷薄板的涂膜中的樹(shù)脂脫落等缺陷對(duì)預(yù)浸料坯的質(zhì)量具有
一定影響。因此，需要開(kāi)發(fā)對(duì)樹(shù)脂涂敷薄膜或樹(shù)脂涂敷薄板的涂膜缺陷進(jìn)行檢查的檢查方 法。作為對(duì)樹(shù)脂涂敷薄板的涂膜缺陷進(jìn)行檢測(cè)的方法，公知有對(duì)樹(shù)脂涂敷薄板的涂膜 照射波長(zhǎng)范圍為300 400nm的檢查光(検查光)而進(jìn)行檢測(cè)的方法。具體而言，利用波 長(zhǎng)范圍為340 380nm的近紫外線(xiàn)光源即紫外光燈管”八卜O—)熒光燈來(lái) 進(jìn)行檢查(參照J(rèn)P特開(kāi)平9-136323號(hào)公報(bào)。)。另外，該發(fā)光強(qiáng)度的峰值波長(zhǎng)在350 360nm的范圍內(nèi)。但是，在該方法中，精度并不一定充分，尤其期待著對(duì)耐熱隔板的涂膜之微細(xì)缺陷 也能夠進(jìn)行檢測(cè)的更高精度的檢測(cè)方法。以下，在本發(fā)明中，將薄膜和薄板不加以區(qū)分而均記載為薄膜。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，提供一種對(duì)由薄膜和在其上涂敷樹(shù)脂溶液而形成的涂膜所構(gòu) 成的樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷進(jìn)行高精度檢測(cè)的方法。本發(fā)明者，為了解決上述課題經(jīng)過(guò)專(zhuān)心研究，其結(jié)果發(fā)現(xiàn)通過(guò)將發(fā)光強(qiáng)度的峰值 波長(zhǎng)在385 415nm范圍內(nèi)的光進(jìn)行照射，對(duì)耐熱隔板的涂膜之微細(xì)缺陷也能夠進(jìn)行高精 度的檢測(cè)，由此研究到發(fā)明。即本發(fā)明是一種樹(shù)脂涂敷薄膜的檢查方法，其對(duì)由薄膜和在其上涂敷樹(shù)脂溶液而 形成的涂膜所構(gòu)成的樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，按照將發(fā)光強(qiáng)度的 峰值波長(zhǎng)位于385 415nm范圍內(nèi)的檢查光照射到涂膜且對(duì)其反射光進(jìn)行檢測(cè)的方式進(jìn) 行。根據(jù)本發(fā)明，能夠?qū)τ杀∧ず驮谄渖贤糠髽?shù)脂溶液而形成的涂膜所構(gòu)成的樹(shù)脂涂 敷薄膜、尤其對(duì)耐熱隔板的涂膜缺陷進(jìn)行高精度的檢查。


圖1是表示對(duì)涂膜缺陷進(jìn)行檢查的方法的示意圖。圖2是表示檢查光的波長(zhǎng)區(qū)域等的圖。圖3是表示實(shí)施例結(jié)果的圖。圖中1-樹(shù)脂涂敷薄膜，2-多孔聚乙烯薄膜，3-由改良芳香族聚酰胺和氧化鋁構(gòu)成的涂 膜，4-光源，5-CCD照相機(jī)，6-在本發(fā)明中所使用的發(fā)光強(qiáng)度的峰值波長(zhǎng)為400nm的檢查光 的相對(duì)強(qiáng)度，7-現(xiàn)有的波長(zhǎng)范圍為300 400nm的檢查光的相對(duì)強(qiáng)度，8-多孔聚乙烯薄膜 的反射率，9-涂膜的反射率，10-CCD照相機(jī)的相對(duì)靈敏度。
具體實(shí)施例方式作為由薄膜和通過(guò)在其上涂敷樹(shù)脂溶液而形成的涂膜所構(gòu)成的樹(shù)脂涂敷薄膜之 例，可列舉在薄膜上涂敷含有耐熱性含氮芳香族聚合物及陶瓷粉末的溶液所得到的樹(shù)脂涂 敷薄膜。這種樹(shù)脂涂敷薄膜作為非水電解質(zhì)電池的耐熱隔板被普遍使用，并且在JP特開(kāi) 2000-30686號(hào)公報(bào)中已經(jīng)被公開(kāi)。以下，作為例子對(duì)薄膜是多孔聚乙烯薄膜、耐熱性含氮芳香族聚合物是芳香族聚 酰胺(# 'J -r ^ K )(以下稱(chēng)為改良芳香族聚酰胺(7，S n。)以及陶瓷粉末是氧化鋁 的樹(shù)脂涂敷薄膜進(jìn)行說(shuō)明。在改良芳香族聚酰胺的N-甲基-2-吡咯烷酮(N- ^ -2- 口 -j F > )等極 性有機(jī)溶劑溶液中加入氧化鋁的微細(xì)粉末而作成泥漿，將該泥漿在多孔聚乙烯薄膜上通過(guò) 使用刷子(〃一)、刮刀(t 4 7 )或模具(夕、)的涂工法(塗工法)進(jìn)行涂敷，析出聚 合物之后，去除極性有機(jī)溶劑，并烘干，來(lái)制造樹(shù)脂涂敷薄膜。樹(shù)脂涂敷薄膜的厚度約為5 lOOym，就其內(nèi)部的涂膜厚度而言，在多孔聚乙 烯薄膜內(nèi)分散有改良芳香族聚酰胺及氧化鋁的微細(xì)粒子，所以并非是明確的，但大約為 1 li m 50 li m 左右。在涂膜中，涂膜的剝落或筋(筋)等缺陷產(chǎn)生的情況存在。在本發(fā)明中，將發(fā)光強(qiáng) 度的峰值波長(zhǎng)在385 415nm范圍內(nèi)的檢查光向涂膜進(jìn)行照射、并檢測(cè)其反射光而對(duì)這種 缺陷進(jìn)行檢測(cè)。圖1是表示對(duì)涂膜的缺陷進(jìn)行檢查的方法之示意圖。在樹(shù)脂涂敷薄膜1中，在多 孔聚乙烯薄膜2之上設(shè)置有由改良芳香族聚酰胺和氧化鋁構(gòu)成涂膜。對(duì)其涂膜表面從光源 照射發(fā)光強(qiáng)度的峰值波長(zhǎng)在385 415nm范圍內(nèi)的檢查光，其反射光由(XD照相機(jī)5進(jìn)行 攝像，其信號(hào)由圖像處理裝置(未圖示)處理，并對(duì)缺陷進(jìn)行檢測(cè)。就缺陷檢查而言，可以在長(zhǎng)條的樹(shù)脂涂敷薄膜的搬送的同時(shí)連續(xù)地進(jìn)行、而且對(duì) 單片的樹(shù)脂涂敷薄膜分批地進(jìn)行。在對(duì)涂膜面照射上述檢查光時(shí)，由于在涂敷正常部分和缺陷部分中其反射率具有 差值，因此通過(guò)由CCD照相機(jī)觀(guān)測(cè)其反射光而對(duì)其強(qiáng)度差進(jìn)行檢測(cè)，就能夠檢測(cè)涂敷缺陷 部分。在利用現(xiàn)有的紫外光燈管熒光燈照射波長(zhǎng)范圍為300 400nm且發(fā)光強(qiáng)度的峰值 波長(zhǎng)為350nm的檢查光的情況下，缺陷的檢測(cè)靈敏度降低，所以有時(shí)不能對(duì)較小的缺陷進(jìn)行檢測(cè)。圖2是表示檢查光的波長(zhǎng)區(qū)域等的圖，6是表示在本發(fā)明中所使用的發(fā)光強(qiáng)度之 峰值波長(zhǎng)為400nm的檢查光的相對(duì)強(qiáng)度，7是表示現(xiàn)有的波長(zhǎng)范圍為300 400nm的檢查光 的相對(duì)強(qiáng)度，8是表示多孔聚乙烯薄膜的反射率，9是表示由改良芳香族聚酰胺和氧化鋁構(gòu) 成的涂膜的反射率，10是表示CCD照相機(jī)的相對(duì)靈敏度。另外，反射率是利用分光光度計(jì)MPC_2200((株)島津制作所制)所測(cè)定的值。根據(jù)圖2，CCD照相機(jī)的相對(duì)靈敏度在波長(zhǎng)400nm處較大，多孔聚乙烯薄膜的反射 率與涂膜的反射率之差也在波長(zhǎng)350nm和400nm處為同等以上，因此利用峰值波長(zhǎng)為400nm 的檢查光的一方可被認(rèn)為其缺陷的檢測(cè)靈敏度高。實(shí)施例關(guān)于具有約1mm長(zhǎng)度X約0. 5mm寬度尺寸的涂敷的剝落的且在多孔聚乙烯薄膜 上形成了由改良芳香族聚酰胺和氧化鋁構(gòu)成的涂膜的樹(shù)脂涂敷薄膜進(jìn)行了缺陷檢查。在樹(shù) 脂涂敷薄膜的上方約10cm處配置光源并且進(jìn)行照射，在高度為80cm、反射角度為13°的位 置放置(XD照相機(jī)，對(duì)反射光進(jìn)行攝像、并由圖像處理裝置進(jìn)行處理。 以下表示所使用的設(shè)備。光源400nmLED (峰值波長(zhǎng)為 400nm)(伊馬克(IMAC)(株)制)392nm熒光燈(峰值波長(zhǎng)為392nm)(愛(ài)迪克(AITEC SYSTEM)(株)制)紫外光燈管熒光燈(峰值波長(zhǎng)為350nm)(國(guó)立(national)制)(XD照相機(jī)線(xiàn)路傳感器攝像機(jī)(，^寸力乂，)(長(zhǎng)瀨產(chǎn)業(yè)(株)制)圖像處理裝置(長(zhǎng)瀨產(chǎn)業(yè)(株)制)在圖3中表示檢查結(jié)果的檢測(cè)圖像與檢測(cè)波形。在峰值波長(zhǎng)為400nm及峰值波長(zhǎng) 為392nm的檢查光照射的情況下，能夠明確地檢測(cè)該缺陷。另一方面，在現(xiàn)有的峰值長(zhǎng)度為 350nm的檢查光照射的情況下，雖然可以勉強(qiáng)地檢測(cè)該缺陷，但是該缺陷為更小時(shí)就不能檢 測(cè)之虞存在。在產(chǎn)業(yè)上的利用可能性如上所述，根據(jù)本發(fā)明，能夠?qū)τ杀∧ず屯ㄟ^(guò)在其上涂敷樹(shù)脂溶液而成的涂膜構(gòu) 成的樹(shù)脂涂敷薄膜、尤其對(duì)耐熱隔板的涂膜的缺陷進(jìn)行高精度的檢查。
權(quán)利要求
一種樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷的檢查方法，其對(duì)由薄膜和在其上涂敷樹(shù)脂溶液而形成的涂膜所構(gòu)成的樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷進(jìn)行檢查，其特征在于，按照將發(fā)光強(qiáng)度的峰值波長(zhǎng)位于385～415nm范圍內(nèi)的檢查光照射到涂膜且對(duì)其反射光進(jìn)行檢測(cè)的方式進(jìn)行。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查方法，其特征在于，薄膜是多孔聚乙烯薄膜，涂膜是將含有耐熱性含氮芳香族聚合物及陶瓷粉末的溶液進(jìn) 行涂敷所得到的涂膜。
全文摘要
本發(fā)明提供一種樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷的檢查方法，其對(duì)由薄膜和通過(guò)在其上涂敷樹(shù)脂溶液而成的涂膜構(gòu)成之樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷進(jìn)行檢查，所述樹(shù)脂涂敷薄膜的涂膜缺陷的檢查方法的特征在于，通過(guò)將發(fā)光強(qiáng)度的峰值波長(zhǎng)在385～415nm范圍內(nèi)的檢查光向涂膜進(jìn)行照射并檢測(cè)其反射光來(lái)進(jìn)行。通過(guò)該檢查方法，能夠?qū)?shù)脂涂敷薄膜的涂膜的缺陷進(jìn)行高精度的檢查。
文檔編號(hào)H01M2/16GK101868715SQ20088011733
公開(kāi)日2010年10月20日 申請(qǐng)日期2008年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月30日
發(fā)明者鈴木孝志 申請(qǐng)人:住友化學(xué)株式會(huì)社