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低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號(hào):6882910閱讀:118來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種電感結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
如圖1所示,是一般現(xiàn)有的電感結(jié)構(gòu)l,其包含 一磁體U; —導(dǎo)線12,所 述的導(dǎo)線12繞設(shè)在磁體11上;
請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D2所示,是另一電感結(jié)構(gòu)2,其包含 一磁體21,所述的磁體21 開設(shè)有間隙24; —導(dǎo)線22,所述的導(dǎo)線22繞設(shè)在磁體21上;
請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D3是電感B-H曲線的示意圖,其中,曲線13是代表圖1的電感 結(jié)構(gòu)1其B-H曲線,而曲線23是代表圖2的電感結(jié)構(gòu)2其B-H曲線,而BMAX 則表示所述的磁體ll、 21的最大磁通密度,再由圖3中可知開設(shè)有間隙24的電 感結(jié)構(gòu)2其B-H曲線較電感結(jié)構(gòu)1的B-H曲線平緩,再由電感的磁場(chǎng)強(qiáng)度(H)的 公式為
H-平
H:電廠強(qiáng)度 N:匝數(shù) 1:磁體長(zhǎng)度 I:電流
可知所述的電感結(jié)構(gòu)2要到達(dá)磁飽和時(shí)其電流(I)較電感結(jié)構(gòu)1大(因N、 1都
為定值),又由電感的儲(chǔ)能公式
W-丄LI2 2
即可得知,當(dāng)電感結(jié)構(gòu)2與電感結(jié)構(gòu)1都在BMAX時(shí),電感結(jié)構(gòu)2的電流(1) 較電感結(jié)構(gòu)l大,故電感結(jié)構(gòu)2其飽和儲(chǔ)能效果較電感結(jié)構(gòu)1佳,因此,在所述 的低感大儲(chǔ)能電感在實(shí)際應(yīng)用上通常都設(shè)有間隙24,且由上述可知若間隙24越 大,電感的B-H曲線將越平緩,故電流(I)越大,則電感的飽和儲(chǔ)能(W)效果越佳;
請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D4所示,是目前市面上常用的"SMD低感大儲(chǔ)能電感",其包含 一磁體3,所述的磁體3設(shè)有槽孔31與間隙32,且所述的槽孔31寬與端子片相 對(duì)應(yīng)或略大P;-端子片33,所述的端子片33是一扁平狀的導(dǎo)體,且所述的端
子片33設(shè)置在槽孔31內(nèi);
但是,上述現(xiàn)有的"SMD低感大儲(chǔ)能電感"雖可憑借磁體3設(shè)有間隙32,
而增加所述的電感的儲(chǔ)能效果;但是,所述的"SMD低感大儲(chǔ)能電感"為了可做
SMD(表面粘著技術(shù)),而采用端子片33,因而使磁體3其槽孔31需開設(shè)一較大面
積的洞孔以配合端子片33的大小,進(jìn)而導(dǎo)致所述的電感在產(chǎn)生磁路路徑34時(shí),
所述的磁路路徑34較長(zhǎng),同時(shí)也使得端子片33左右兩側(cè)方向的磁體3其截面積
較??;
再由電感(L)公式為 T NO
L:電感量 N:匝數(shù) 磁力線數(shù) 1:磁路長(zhǎng)度
與磁力線數(shù)(①)為
0=B' A
B:磁通密度 O:磁力線數(shù) A:磁力線數(shù)垂直通過(guò)的截面積
即可得知,所述的SMD低感大儲(chǔ)能電感其磁路路徑34較長(zhǎng)與截面積(A)較小, 進(jìn)而導(dǎo)致所述的SMD低感大儲(chǔ)能電感其本身的電感量較低,因本身的電感量較 低,就必需縮小加工間隙32,否則電感的電感量將不符市場(chǎng)需求,進(jìn)而導(dǎo)致加工 上的不便,而間隙32較小由前述可知其電感的飽和儲(chǔ)能(W)效果也較差;
再者,若在磁力線數(shù)(巾)不變的情形下,若磁體3其截面積(A)較小,則其所 產(chǎn)生的磁通密度(B)越高,因此,所述的SMD低感大儲(chǔ)能電感其磁飽和效果也較 差;因此,如何將上述等缺失加以摒除,并提供一種可開設(shè)較大間隙以方便加工, 同時(shí)縮短磁路、增大截面積,以達(dá)到良好的飽和儲(chǔ)能效果與磁飽和效果,即為本 案實(shí)用新型所欲解決的技術(shù)困難點(diǎn)的所在。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的即在提供一種低感大儲(chǔ)能單圏式線圈結(jié)構(gòu),使其截面 積較大、磁飽和效果也較佳。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案包括
一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于,包括有 -磁體,所述的磁 體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的下磁體設(shè)有槽溝,且所述的槽溝寬與磁 體整體寬的比例為1/3以下,且槽溝高與磁體整體高的比例為1/3以下; 一導(dǎo)體,
所述的導(dǎo)體是穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi);--間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體間。 為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案還包括
一種低感大儲(chǔ)能單圏式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于,包括有 一磁體,所述的磁 體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的上磁體設(shè)有槽溝,且所述的槽溝寬與磁 體整體寬的比例為1/3以下,且槽溝高與磁體整體高的比例為1/3以下; 一導(dǎo)體, 所述的導(dǎo)體是穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi); 一間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案還包括-
--種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于,包括有 一磁體,所述的磁 體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的上磁體設(shè)有上槽溝,所述的下磁體設(shè)有 下槽溝,所述的上槽溝與下槽溝相組成槽溝,且所述的槽溝寬與磁體整體寬的比 例為1/3以下,且槽溝高與磁體整體高的比例為1/3以下; 一導(dǎo)體,所述的導(dǎo)體是 穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi); 一間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較,采用上述技術(shù)方案的本實(shí)用新型具有的優(yōu)點(diǎn)在于 現(xiàn)有技術(shù)1、加工不便;2、飽和儲(chǔ)能效果較差;3、僅可做SMD件;4、 磁飽和效果差。
本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)1、加工方便;2、飽和儲(chǔ)能效果佳;3、可作端子件或SMD 件;4、磁飽和效果佳。


圖1是一般現(xiàn)有電感結(jié)構(gòu)的示意圖2是一般現(xiàn)有電感結(jié)構(gòu)開設(shè)有間隙的示意圖3是電感B-H曲線示意圖4是--般市面上常用的SMD低感大儲(chǔ)能電感的示意圖5是本實(shí)用新型的分解圖6是本實(shí)用新型的組合圖7是本實(shí)用新型的磁路路徑示意圖8是本實(shí)用新型下磁體進(jìn)-步設(shè)有導(dǎo)槽的示意圖9是本實(shí)用新型下磁體進(jìn)一步設(shè)有輔助導(dǎo)槽與底部導(dǎo)槽的底視圖IO是本實(shí)用新型成為SMD件的外觀示意圖11是本實(shí)用新型槽溝設(shè)在上磁體的實(shí)施情形;
圖12是本實(shí)用新型槽溝由上、下磁體設(shè)有上、下槽溝的實(shí)施情形。 附圖標(biāo)記說(shuō)明l-電感結(jié)構(gòu);ll-磁體;12-導(dǎo)線;13-曲線;2-電感結(jié)構(gòu);21-磁體;22-導(dǎo)線;23-曲線;24-間隙;3-磁體;31-槽孔;32-間隙;33-端子片;34-磁路路徑;4-磁體;41-上磁體;42-下磁體;421-導(dǎo)槽;4211-輔助導(dǎo)槽;422-底部 導(dǎo)槽;43-槽溝;431-上槽溝;432-下槽溝;44-間隙;5-導(dǎo)體;51-端子;6-磁路路徑。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖5、圖6所示,本實(shí)用新型是提供一種低感大儲(chǔ)能單圏式線圈結(jié)構(gòu), 其包含
一磁體4,所述的磁體4是由一上磁體41與一下磁體42組成,所述的下磁 體42可設(shè)有槽溝43,且所述的槽溝43寬(高)與磁體4整體寬(高)的比例為1/3以 下;
一導(dǎo)體5,所述的導(dǎo)體5是可穿伸設(shè)置在槽溝43內(nèi),且所述的導(dǎo)體5兩側(cè)向 下彎折為端子51;
一間隙44,所述的間隙44設(shè)在上磁體41與下磁體42間;
請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D7所示,憑借所述的槽溝43寬(高)與磁體4整體寬(高)的比 例在l/3以下,而縮短所述的電感所產(chǎn)生的磁路路徑6,同時(shí)可增加槽溝43左右 兩側(cè)磁體4所能提供磁力線數(shù)流過(guò)的截面積,而增加所述的電感的電感量,因此, 在要求同一感值的電感下,因本實(shí)用新型的電感其本身電感量較高,故本實(shí)用新 型的間隙44距離可較現(xiàn)有的間隙32距離(如圖4所示)設(shè)置的更大,而導(dǎo)致本實(shí) 用新型在制程加工上較為方便,且因本實(shí)用新型之間是距離較大,故本實(shí)用新型 的飽和儲(chǔ)能效果較佳,又本實(shí)用新型同時(shí)增加磁體4截面積,故本實(shí)用新型的磁 飽和效果也較佳,另本實(shí)用新型的導(dǎo)體5兩側(cè)直接向下彎折為端子51,而成為端 子件,進(jìn)而達(dá)到一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu)的目的者;
請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D8所示,本實(shí)用新型可進(jìn)一步在下磁體42兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)槽421,而 方便導(dǎo)體5彎折固定位置;
又,請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D9所示,本實(shí)用新型可再更進(jìn)一步在下磁體42兩側(cè)的導(dǎo)槽 421其兩側(cè)再設(shè)有輔助導(dǎo)槽4211,并在下磁體42底部設(shè)有底部導(dǎo)槽422,將導(dǎo)體 5裸露在磁體4外的導(dǎo)體5壓扁,并由輔助導(dǎo)槽4211與底部導(dǎo)槽422固定位置, 而成為SMD件,而如圖10所示;
再者,請(qǐng)參閱圖11所示,本實(shí)用新型的槽溝43也可設(shè)在t:磁體41,其包含 -磁體4,所述的磁體4是由一上磁體41與一下磁體42組成,所述的上磁 體41可設(shè)有槽溝43,且所述的槽溝43寬(高)與磁體4整體寬(高)的比例為1/3以 下;
--導(dǎo)體5,所述的導(dǎo)體5是可穿伸設(shè)置在槽溝43內(nèi),且所述的導(dǎo)體5兩側(cè)向 下彎折為端子51;
一間隙44,所述的間隙44設(shè)在上磁體41與下磁體42間;
其中,所述的下磁體42也可進(jìn)一步在兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)槽421,而方便導(dǎo)體5彎折 固定位置成為端子件,又可再更進(jìn)一步在下磁體42兩側(cè)的導(dǎo)槽421其兩側(cè)在設(shè)有 輔助導(dǎo)槽42U,并在下磁體42底部設(shè)有底部導(dǎo)槽422,將導(dǎo)體5裸露在磁體4 外的導(dǎo)體5壓扁,并由輔助導(dǎo)槽4211與底部導(dǎo)槽422固定位置,而成為SMD件;
又再,請(qǐng)參閱圖12所示,本實(shí)用新型的槽溝43也可由上磁體41與下磁體 42分別設(shè)有上槽溝431與下槽溝432所組成,其包含
一磁體4,所述的磁體4是由一上磁體41與一下磁體42組成,所述的上磁 體41設(shè)有上槽溝431,所述的下磁體42設(shè)有下槽溝432,所述的上槽溝431與下 槽溝432相組成槽溝43,且所述的槽溝43寬(高)與磁體4整體寬(高)的比例為1/3 以下;
一導(dǎo)體5,所述的導(dǎo)體5是可穿伸設(shè)置在槽溝43內(nèi),且所述的導(dǎo)體5兩側(cè)向 下彎折為端子51;
一間隙44,所述的間隙44設(shè)在上磁體41與下磁體42間;
其中,所述的下磁體42也可進(jìn)一步在兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)槽421,而方便導(dǎo)體5彎折 固定位置成為端子件,又可在更進(jìn)一步在下磁體42兩側(cè)的導(dǎo)槽421其兩側(cè)在設(shè)有 輔助導(dǎo)槽4211,并在下磁體42底部設(shè)有底部導(dǎo)槽422,將導(dǎo)體5裸露在磁體4 外的導(dǎo)體5壓扁,并由輔助導(dǎo)槽42U與底部導(dǎo)槽422固定位置,而成為SMD件;
以上說(shuō)明對(duì)本實(shí)用新型而言只是說(shuō)明性的,而非限制性的,本領(lǐng)域普通技術(shù) 人員理解,在不脫離權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下,可作出許多修改、
變化或等效,但都將落入本實(shí)用新型的權(quán)利要求可限定的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于,包括有一磁體,所述的磁體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的下磁體設(shè)有槽溝,且所述的槽溝寬與磁體整體寬的比例為1/3以下,且槽溝高與磁體整體高的比例為1/3以下;一導(dǎo)體,所述的導(dǎo)體是穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi);一間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體間。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述的 導(dǎo)體兩側(cè)向下彎折為端子。
3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述的 下磁體兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)槽。
4、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述的 下磁體底部設(shè)有底部導(dǎo)槽。
5、 一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于,包括有一磁體,所述的磁體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的上磁體設(shè)有槽溝, 且所述的槽溝寬與磁體整體寬的比例為1/3以下,且槽溝高與磁體整體高的比例 為1/3以下;一導(dǎo)體,所述的導(dǎo)體是穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi);一間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體。
6、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述的導(dǎo)體兩側(cè)向下彎折為端子。
7、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述的下磁體兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)槽。
8、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述的下磁體底部設(shè)有底部導(dǎo)槽。
9、 一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于,包括有一磁體,所述的磁體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的上磁體設(shè)有上槽 溝,所述的下磁體設(shè)有下槽溝,所述的上槽溝與下槽溝相組成槽溝,且所述的槽 溝寬與磁體整體寬的比例為1/3以下,且槽溝高與磁體整體高的比例為1/3以下;一導(dǎo)體,所述的導(dǎo)體是穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi);一間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體。
10、根據(jù)權(quán)利要求9所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述 的導(dǎo)體兩側(cè)向下彎折為端子。
11、根據(jù)權(quán)利要求9所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述 的下磁體兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)槽。
12、根據(jù)權(quán)利要求9所述的低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其特征在于所述 的下磁體底部設(shè)有底部導(dǎo)槽。
專利摘要本實(shí)用新型是一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu),其包含一磁體,所述的磁體是由一上磁體與一下磁體組成,所述的下磁體可設(shè)有槽溝,且所述的槽溝寬(高)與磁體整體寬(高)的比例為1/3以下;一導(dǎo)體,所述的導(dǎo)體是可穿伸設(shè)置在槽溝內(nèi),且所述的導(dǎo)體兩側(cè)向下彎折為端子;一間隙,所述的間隙設(shè)在上磁體與下磁體間;憑借所述的槽溝寬(高)與磁體整體寬(高)的比例在1/3以下,而縮短所述的電感所產(chǎn)生的磁路路徑,同時(shí)可增加槽溝左右兩側(cè)磁體所能提供磁力線數(shù)流過(guò)的截面積,進(jìn)而提升電感量,因此,在要求同一感值的電感下,本實(shí)用新型的間隙可較現(xiàn)有間隙為大,而方便加工生產(chǎn)且飽和儲(chǔ)能效果與磁飽和都較佳,形成一種低感大儲(chǔ)能單圈式線圈結(jié)構(gòu)。
文檔編號(hào)H01F17/00GK201066606SQ20072015135
公開日2008年5月28日 申請(qǐng)日期2007年7月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月11日
發(fā)明者羅鵬程 申請(qǐng)人:美桀科技股份有限公司
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