專利名稱:銅摻雜磁半導(dǎo)體的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及用于電子部件的材料,所述電子部件在其功能方面利用鐵磁性。此類部件影響或校正玻色子和費(fèi)米子例如電子的自旋取向。近年來(lái)對(duì)稀磁半導(dǎo)體中室溫以上鐵磁性的研究已經(jīng)成為需要,尤其是為了開(kāi)發(fā)探索電子自旋態(tài)即自旋電子學(xué)的很新類型的未來(lái)器件。用于這些器件的部件的類型包括例如磁存儲(chǔ)器(例如硬盤(pán))、半導(dǎo)體磁存儲(chǔ)器(例如MRAM)、自旋閥晶體管、自旋發(fā)光二極管、非易失性存儲(chǔ)器、邏輯器件、量子計(jì)算機(jī)、光學(xué)隔離器、傳感器和超快光學(xué)開(kāi)關(guān)。稀磁半導(dǎo)體還能用在電子和磁基產(chǎn)品中。
背景技術(shù):
電子部件技術(shù)在為了新部件設(shè)計(jì)和功能而使用鐵磁材料方面日益感興趣。常規(guī)鐵磁材料為例如鐵、鎳、鈷及其合金。使用它們的新穎科學(xué)活動(dòng)或新建議在技術(shù)和科學(xué)期刊上被頻繁報(bào)導(dǎo)?;静考O(shè)計(jì)的材料預(yù)期的一些示例可以在Physics World(1999年4月)和IEEE Spectrum(2001年12月)近期的評(píng)論文章中發(fā)現(xiàn)。所有這些文獻(xiàn)描述了設(shè)計(jì)能在產(chǎn)業(yè)、汽車和軍事溫度范圍(通常-55℃至125℃)運(yùn)行的鐵磁材料的問(wèn)題和需要。
現(xiàn)在已知的大多數(shù)感興趣的材料需要低溫。然而,Klaus H.Ploog在Physical Review Letters,July 2001中描述了利用在砷化鎵(GaAs)上生長(zhǎng)的鐵膜來(lái)極化注入到半導(dǎo)體GaAs中的電子的自旋。此實(shí)驗(yàn)在室溫下進(jìn)行。
自旋電子器件例如自旋閥晶體管、自旋發(fā)光二極管、非易失性存儲(chǔ)器、邏輯器件、光學(xué)隔離器和超快光學(xué)開(kāi)關(guān)是兩篇參考文獻(xiàn)(參考文獻(xiàn)6-7)中描述的在半導(dǎo)體中引入室溫下的鐵磁屬性的非常感興趣的領(lǐng)域的一部分。
近年來(lái),已經(jīng)對(duì)稀磁半導(dǎo)體(DMS)中表現(xiàn)鐵磁有序的材料進(jìn)行了深入研究,如下面的五篇文獻(xiàn)(參考文獻(xiàn)1-5)中描述的,著重于可能的自旋傳輸屬性,其具有許多潛在感興趣的器件應(yīng)用。
在目前報(bào)導(dǎo)的材料中,已發(fā)現(xiàn)Mn摻雜GaAs的鐵磁性具有最高的報(bào)導(dǎo)居里溫度(見(jiàn)參考文獻(xiàn)1),Tc~110K。隨此之后,Dietl等人(見(jiàn)參考文獻(xiàn)2)在理論上預(yù)言ZnO和GaN在摻雜Mn時(shí)將表現(xiàn)室溫之上的鐵磁性。此預(yù)言引起了對(duì)多種摻雜稀磁半導(dǎo)體的廣泛實(shí)驗(yàn)工作。近來(lái),分別報(bào)導(dǎo)了在Co摻雜TiO2、ZnO和GaN中室溫以上的Tc(見(jiàn)參考文獻(xiàn)3、8和9)。然而,在Ti1-xCoxO樣品中發(fā)現(xiàn)了Co的非均質(zhì)團(tuán)簇(見(jiàn)參考文獻(xiàn)10)。Kim等人(見(jiàn)參考文獻(xiàn)11)表明,在Zn1-xCoxO的均質(zhì)膜表現(xiàn)出自旋玻璃性質(zhì)的同時(shí),在非均質(zhì)膜中發(fā)現(xiàn)室溫的鐵磁性,將此發(fā)現(xiàn)歸因于Co團(tuán)簇的存在。清楚地,對(duì)于器件應(yīng)用,我們需要均質(zhì)膜。
更早地,我們已經(jīng)對(duì)錳摻雜氧化鋅提出了專利申請(qǐng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明基于通過(guò)摻雜銅將鐵磁性引入到摻雜稀磁半導(dǎo)體中的概念。這些鐵磁半導(dǎo)體材料可以在工業(yè)、汽車和軍事溫度范圍(通常-55到125℃以上)工作。銅基于載流子修正效應(yīng)引起磁耦合。本申請(qǐng)示出若干半導(dǎo)體材料,當(dāng)摻雜以銅時(shí)其變成鐵磁的。銅摻雜還可以改善已是鐵磁的半導(dǎo)體材料例如錳摻雜氧化鋅中的磁強(qiáng)度。
本發(fā)明描述了銅摻雜的機(jī)制。在本申請(qǐng)中,示出所述材料的一些的結(jié)果。引起鐵磁性的銅摻雜材料的示例是銅摻雜磷化鎵GaP、銅摻雜氮化鎵GaN、銅摻雜砷化鎵GaAs、銅摻雜硫化鎘CdS、銅摻雜硒化鎘CdSe、銅摻雜氧化鋅ZnO、銅摻雜硫化鋅ZnS、銅摻雜硒化鋅ZnSe、銅摻雜的錳摻雜氧化鋅ZnMnO、銅摻雜的錳摻雜硫化鎘CdMnS、銅摻雜的錳摻雜硒化鎘CdMnSe、銅摻雜的錳摻雜硫化鋅ZnMnS、銅摻雜的錳摻雜硒化鋅ZnMnSe。當(dāng)摻雜以銅時(shí),我們可以發(fā)現(xiàn)磁屬性的跡象也存在于其他半導(dǎo)體中。
圖1示出GaP:Cu的X射線粉末衍射譜;圖2示出摻雜和未摻雜的GaP:Cu中橫向光學(xué)(TO)模式和縱向光學(xué)(LO)模式的拉曼譜,表明Cu導(dǎo)致空穴摻雜;圖3示出在所示的各種溫度下的DC磁滯數(shù)據(jù);圖4示出使用SQUID得到的GaP:Cu的磁化的溫度相關(guān)性,連續(xù)線是T相關(guān)性的T3/2布洛赫定律擬合;圖5示出磁矯頑力的溫度相關(guān)性,穿過(guò)數(shù)據(jù)的線是到指數(shù)衰減方程的擬合;圖6示出室溫下GaP:Cu的FMR譜,吸收A是低場(chǎng)非共振吸收,其存在于鐵磁狀態(tài)中,線B是鐵磁共振吸收,線c可能來(lái)自樣品中未反應(yīng)的CuO;圖7示出在(a)300K和(b)138K的FMR;圖8示出室溫以上鐵磁共振的場(chǎng)位置的溫度相關(guān)性,顯示到524K鐵磁性的存在;圖9示出Cu對(duì)Mn摻雜ZnO的磁屬性的影響;圖10也示出Cu對(duì)Mn摻雜ZnO的磁屬性的影響;圖11示出增加Cu對(duì)1 at%Mn摻雜ZnO的室溫磁屬性的影響,Ms增強(qiáng)約100%;圖12示出增加6at%Cu到GaN的效果使GaN在室溫下呈鐵磁性;圖13示出計(jì)算的Cu摻雜ZnO的態(tài)密度,顯示在Cu位點(diǎn)(site)引發(fā)的鐵磁屬性;圖14示出Cu摻雜GaN的FMR譜室溫下鐵磁性的證據(jù),約3000Oe的信號(hào)源自未反應(yīng)的CuO;圖15示出FMR的場(chǎng)位置的溫度相關(guān)性,顯示遠(yuǎn)在室溫以上存在鐵磁性;圖16示出銅摻雜GaN的FMR線寬,顯示遠(yuǎn)在室溫以上存在鐵磁性。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明基于通過(guò)摻雜銅到非鐵磁或含有弱鐵磁成分的半導(dǎo)體材料中來(lái)在摻雜稀磁半導(dǎo)體中發(fā)展鐵磁性的概念。我們的實(shí)驗(yàn)顯示在塊或膜層中室溫以上鐵磁性的成功剪裁。所述膜層可以通過(guò)例如激光沉積、濺射等產(chǎn)生。
采用銅摻雜,本發(fā)明在摻雜以Cu2+的磷化鎵中產(chǎn)生了遠(yuǎn)在室溫以上的鐵磁性,這通過(guò)鐵磁共振、SQUID磁測(cè)量計(jì)和中子衍射而檢測(cè)到,其清楚地顯示,鐵磁性與GaP晶格相關(guān)且不是來(lái)自于雜質(zhì)相。結(jié)果的其他重要特征是顯著高于現(xiàn)有發(fā)現(xiàn)的700K以上的高居里溫度,用來(lái)合成所述材料的較簡(jiǎn)單的低溫塊燒結(jié)工藝,其顯著減小了大規(guī)模生產(chǎn)的成本。
5這些合金中鐵磁性的起源是當(dāng)前研究的主題。已經(jīng)提出,空穴或電子是引起摻雜劑自旋之間的交換相互作用的媒介。6在鐵磁狀態(tài),存在價(jià)帶和導(dǎo)帶根據(jù)電荷載流子的自旋取向的分離。該模型預(yù)言,空穴摻雜的半導(dǎo)體將具有比電子摻雜材料更高的居里溫度。
對(duì)于摻雜劑,錳不是最好的選擇。在6at%Mn以上的濃度,已顯示錳團(tuán)簇是鐵磁性的,表明摻雜半導(dǎo)體中觀察到的鐵磁性來(lái)自錳團(tuán)簇。7,8還存在附加的問(wèn)題,即在合成期間可能形成GaMn和MnP,其已知在高溫下是鐵磁的。9為了避免這些難題,我們選擇銅作為摻雜劑。沒(méi)有證據(jù)表明塊銅或銅團(tuán)簇是鐵磁性的。另外,已知CuO在200K以下是反鐵磁的。此外,尚不知曉鐵磁合金例如CuP或GaCu。Cu具有2+電荷且將是空穴摻雜劑。GaP對(duì)于潛在的磁半導(dǎo)體具有多個(gè)優(yōu)點(diǎn)。其是發(fā)光二極管和高速電子器件中使用的AlGaInP中的成分,且其晶格參數(shù)接近于硅,可能使得稀磁半導(dǎo)體能夠與傳統(tǒng)硅電路集成。這里,對(duì)于銅摻雜磷化鎵中遠(yuǎn)高于室溫的鐵磁性,我們報(bào)導(dǎo)了SQUID磁測(cè)量計(jì)、鐵磁共振(FMR)和中子衍射證據(jù)。觀察結(jié)果的重要特征在于用于制造材料的較簡(jiǎn)單的燒結(jié)工藝和與以前的發(fā)現(xiàn)相比顯著更高的居里溫度。
通過(guò)以.03分子重量的CuO對(duì)從AlfaAesar獲得的一分子重量的99.999%純的磷化鎵的比率完全混合,然后利用研缽和杵來(lái)研磨該混合物,以合成樣品。所使用的GaP在處理之前通過(guò)電子順磁共振(EPR)被檢驗(yàn)從而確保沒(méi)有磁雜質(zhì)存在于該材料中。沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何磁雜質(zhì)。EPR對(duì)百億分之一的磁物質(zhì)靈敏。容納在氧化鋁皿中的壓緊小丸形式的樣品在爐中在空氣中在500℃燒結(jié)四小時(shí),接著快速淬火至室溫。所燒結(jié)的樣品采用Scintag X射線裝置利用Cu K阿爾法線通過(guò)X射線衍射檢驗(yàn)。圖1示出粉末X射線衍射譜。圖頂部的線是對(duì)于純磷化鎵預(yù)期的線。摻雜樣品中的峰出現(xiàn)在與純GaP相同的的散射角處,輸出中沒(méi)有出現(xiàn)雜質(zhì)線。燒結(jié)樣品還通過(guò)感應(yīng)線圈等離子體質(zhì)量譜(ICP-MS)被檢驗(yàn),其顯示在十億分之2以上水平?jīng)]有磁金屬。但是檢測(cè)到樣品中銅的存在。圖2示出利用JY Horiba共焦拉曼譜儀記錄的摻雜和未摻雜GaP中橫向光學(xué)(TO)模式和縱向光學(xué)(LO)模式的拉曼譜。在銅摻雜樣品中較高頻率LO模式下移3cm-1。在其他半導(dǎo)體例如GaN中已經(jīng)顯示,LO模式耦合到等離子體模式,其頻率與電子載流子濃度成比例。10 LO模式已經(jīng)顯示隨電子載流子濃度的偏移。所觀察到的Cu摻雜GaP中LO模式的頻率下降表明與空穴摻雜一致的電子載流子濃度減小。
圖3示出在多個(gè)溫度下磁化的dc磁場(chǎng)相關(guān)性的SQUID MPMS2測(cè)量結(jié)果。在300K的飽和磁化為1.5×10-2emu/g。在室溫下的矯頑力為125Oe。圖4是在10KOe下磁化的溫度相關(guān)性。穿過(guò)數(shù)據(jù)的線是到Bloch方程的擬合。
M(T)=M(0)(1-AT3/2)(1)對(duì)于A=4.0×10-5 K-3/2且M(0)=18.44memu/g。這些值表明遠(yuǎn)高于700K的高居里溫度。圖5是矯頑力的溫度相關(guān)性的圖。穿過(guò)數(shù)據(jù)的線是到指數(shù)衰減的擬合。
Hc=Hco+Bexp(-T/C)(2)對(duì)于Hco=298.38Oe,B=137.07Oe,且C=728.97K。
樣品還通過(guò)鐵磁共振(FMR)被檢驗(yàn),其是驗(yàn)證鐵磁性存在的高度靈敏的方法。11圖6示出利用在9.2GHz運(yùn)行的Varian E-9譜儀記錄的在300K的FMR譜。三條線在譜中是明顯的,低場(chǎng)非共振信號(hào)(A)、鐵磁共振信號(hào)(B)、以及分量(C),其可能是樣品中一些未反應(yīng)的CuO引起的。應(yīng)注意,CuO不是鐵磁性的且不能是這里觀察到的鐵磁性的來(lái)源。12低場(chǎng)非共振吸收信號(hào)的存在是材料中鐵磁性存在的確定跡象。13,14因?yàn)殍F磁狀態(tài)中的磁導(dǎo)率取決于所施加的磁場(chǎng),其在低場(chǎng)增大到最大值且然后下降,所以出現(xiàn)了信號(hào)。因?yàn)楸砻骐娮枞Q于磁導(dǎo)率的平方根,所以微波吸收非線性地取決于dc磁場(chǎng)的強(qiáng)度,導(dǎo)致以零場(chǎng)為中心的非共振衍生信號(hào)。該信號(hào)在順磁狀態(tài)中不存在,且隨著溫度下降到Tc以下而顯現(xiàn)。在共振實(shí)驗(yàn)中在我們的溫度裝置的上限524K高的溫度下我們已經(jīng)能觀察到低場(chǎng)非共振吸收。使FMR信號(hào)區(qū)別于EPR信號(hào)的特征是場(chǎng)位置的強(qiáng)溫度相關(guān)性和關(guān)于溫度的共振線寬。圖7示出在300K(a)和118K(b)的FMR譜,示出在低溫下向較低dc磁場(chǎng)的大偏移。圖8給出室溫以上線的場(chǎng)位置的溫度相關(guān)性,示出材料在524K仍是鐵磁性的。在居里溫度以上,F(xiàn)MR信號(hào)變?yōu)镃u+2的EPR信號(hào),具有場(chǎng)位置的溫度無(wú)關(guān)性,對(duì)應(yīng)于圖6中譜線c,其是2940G。外推圖8中的數(shù)據(jù)至該值,估計(jì)Tc約為739K。
總之,我們已經(jīng)從SQUID磁測(cè)量計(jì)、鐵磁共振和中子衍射測(cè)量給出了清楚的證據(jù)表明通過(guò)簡(jiǎn)單燒結(jié)工藝制成的銅摻雜磷化鎵在遠(yuǎn)高于任何已報(bào)導(dǎo)稀磁半導(dǎo)體的溫度下是鐵磁性的。
類似的測(cè)量顯示銅摻雜氮化鎵Cu摻雜GaN的類似屬性。圖14至16示出銅摻雜氮化鎵的對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明還清楚顯示磁半導(dǎo)體例如錳摻雜氧化鋅ZnMnO的銅摻雜的改進(jìn)。圖9、10和11顯示SQUID測(cè)量結(jié)果,示出在具有不同錳濃度的Mn摻雜ZnO中不同濃度的銅摻雜的摻雜效果。從圖中我們能看到鐵磁性能的明顯改善。圖12示出銅摻雜氮化鎵的SQUID測(cè)量結(jié)果。圖13示出銅摻雜氧化鋅有關(guān)的數(shù)據(jù)。
當(dāng)銅摻雜其他磁半導(dǎo)體例如Mn摻雜CdS、Mn摻雜ZnS和Mn摻雜GaP時(shí),磁導(dǎo)率測(cè)量顯示類似的屬性。
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權(quán)利要求
1.一種半導(dǎo)體材料,其特征在于,其摻雜有銅Cu或銅氧化物CuO,且至少在-55℃和125℃之間的范圍內(nèi)的一溫度下是鐵磁性的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體材料,其特征在于,所述摻雜半導(dǎo)體材料包括下列材料的任一種銅摻雜磷化鎵GaP、銅摻雜氮化鎵GaN、銅摻雜砷化鎵GaAs、銅摻雜硫化鎘CdS、銅摻雜硒化鎘CdSe、銅摻雜氧化鋅ZnO、銅摻雜硫化鋅ZnS、銅摻雜硒化鋅ZnSe、銅摻雜的錳摻雜氧化鋅ZnMnO、銅摻雜的錳摻雜硫化鎘CdMnS、銅摻雜的錳摻雜硒化鎘CdMnSe、銅摻雜的錳摻雜硫化鋅ZnMnS、銅摻雜的錳摻雜硒化鋅ZnMnSe。
3.一種半導(dǎo)體部件,其特征在于,所述部件包括根據(jù)權(quán)利要求1或2的所述材料。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的部件,其特征在于,所述部件是下列中的任一種磁存儲(chǔ)器、硬盤(pán)、半導(dǎo)體磁存儲(chǔ)器、MRAM、自旋閥晶體管、自旋發(fā)光二極管、非易失性存儲(chǔ)器、邏輯器件、光學(xué)隔離器、傳感器、以及超快光學(xué)開(kāi)關(guān)。
5.一種計(jì)算機(jī),其特征在于,其包括根據(jù)權(quán)利要求3或4的部件。
6.一種摻雜半導(dǎo)體材料的方法,其特征在于包括下列步驟-以選定分子重量比將所述半導(dǎo)體材料與銅Cu或銅氧化物CuO混合,形成混合物,-研磨所述混合物,-壓所述混合物從而形成丸,-在500℃燒結(jié)所述丸約四小時(shí),-通過(guò)冷卻所述燒結(jié)的丸來(lái)淬火它們至約室溫。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的方法,其特征在于,所述混合物是銅氧化物CuO和磷化鎵GaP以0.003比1的分子重量比的混合物。
全文摘要
本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體材料、制造該材料的方法、以及應(yīng)用該材料的方式,其中所述材料被摻雜以Cu或CuO,且至少在-55℃和125℃之間范圍的一溫度下是鐵磁的。通常,所述材料可包括GaP或GaN。
文檔編號(hào)H01L29/66GK1998068SQ200580016180
公開(kāi)日2007年7月11日 申請(qǐng)日期2005年5月17日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月18日
發(fā)明者文卡特·拉奧, 帕馬南德·沙馬, 阿米塔·格普塔 申請(qǐng)人:Nm斯平特羅尼克公司