專利名稱：具有雜質(zhì)陷阱的高壓器具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及高壓開關(guān)(Hochspannungsschalter)的技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明涉及一種根據(jù)獨(dú)立權(quán)利要求的前序部分所述的高壓開關(guān)器具以及在一種高壓開關(guān)器具中用于分離干擾顆粒(Stoerpartikel)的方法，以及一種根據(jù)權(quán)利要求10所述的高壓設(shè)備。
背景技術(shù)：
例如DE 41 20 309公開了這樣一種高壓開關(guān)器具。在該文獻(xiàn)中描述了一種雜質(zhì)陷阱，該雜質(zhì)陷阱是作為一種通過一個蓋子封閉起來的套管形成的，該套管的內(nèi)側(cè)設(shè)置有一個保護(hù)襯層。設(shè)置這樣一種雜質(zhì)陷阱用在具有接地金屬外殼的、并且該外殼包圍著加載有電壓的主動部件的高壓開關(guān)器具中。那些位于外殼之內(nèi)的、并且會降低高壓開關(guān)器具的介電強(qiáng)度的干擾顆粒應(yīng)當(dāng)堆積在雜質(zhì)陷阱之中。這樣分離出來的干擾顆粒應(yīng)當(dāng)保留在雜質(zhì)陷阱之中，這樣就產(chǎn)生了一種不是通過這些干擾顆粒降低了的、高壓開關(guān)器具的足夠高的介電強(qiáng)度。
這樣一種高壓開關(guān)器具的缺點(diǎn)是，不能很好地保證運(yùn)行期間它的介電強(qiáng)度和它的運(yùn)行可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的任務(wù)是提供一種本文開頭所述的那種類型的高壓開關(guān)器具，這種器具不具有上述缺點(diǎn)。特別是提供一種具有高的運(yùn)行可靠性的高壓開關(guān)器具。
這個任務(wù)通過具有獨(dú)立權(quán)利要求特征的一種裝置和一種方法完成。
根據(jù)本發(fā)明的高壓開關(guān)器具可用于至少一個安裝位置中，并且具有一個金屬外殼，該開關(guān)器具包括一個開關(guān)段和一個用于容納干擾顆粒的雜質(zhì)陷阱，其特征在于，在至少一個安裝位置中雜質(zhì)陷阱垂直地設(shè)置在開關(guān)段的下方，其中在所述至少一個安裝位置中設(shè)置一個絕緣子部件，該絕緣子部件具有一個基本水平對齊的、并且朝向高壓開關(guān)器具內(nèi)部的表面，其中在絕緣子部件和雜質(zhì)陷阱之間設(shè)置一個比雜質(zhì)陷阱高的金屬壁。這樣高壓開關(guān)器具就達(dá)到了小的受干擾性和高的運(yùn)行可靠性。故障和火花放電的概率減小。
這樣一種絕緣子部件的任務(wù)可以是，支承主動部件或者它的部件，和/或把高壓開關(guān)器具的內(nèi)部體積和一個相鄰的構(gòu)件的內(nèi)部體積分開。在高壓開關(guān)器具中的絕緣子部件受到介電高載荷，因此對干擾特別敏感。具有一種基本水平對齊的、并且朝向開關(guān)設(shè)備內(nèi)部的表面的一個絕緣子部件對位于該表面上的干擾顆粒特別敏感。
一個金屬壁或者對于絕緣子部件和雜質(zhì)陷阱之間的導(dǎo)電能力的提高一方面可以阻止落在雜質(zhì)陷阱一側(cè)的干擾顆粒朝向絕緣子部件方向運(yùn)動，另一方面還負(fù)責(zé)在雜質(zhì)陷阱區(qū)域內(nèi)減小電場強(qiáng)度。
可導(dǎo)電的和不可導(dǎo)電的顆粒都屬于可能干擾高壓開關(guān)器具內(nèi)部的介電強(qiáng)度的干擾顆粒。這種顆粒例如是在高壓開關(guān)的生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的，并且在高壓開關(guān)器具封閉和使用之前必須盡可能徹底地從外殼內(nèi)部清除掉。在每次打開或者關(guān)閉高壓開關(guān)器具時也可能有干擾顆粒侵入。特別是在高壓開關(guān)器具的工作過程中也可能形成干擾顆粒。通常一個高壓開關(guān)器具具有至少一個運(yùn)動的接觸件，該接觸件和另一接觸件形成一種可分開的接觸。通過所述運(yùn)動的接觸件的運(yùn)動，由于磨損會產(chǎn)生所述干擾顆粒。因此特別是在開關(guān)段處出現(xiàn)特別多的干擾顆粒，這些干擾顆粒是通過接觸件之間的摩擦產(chǎn)生的。在形成電弧時也在開關(guān)段也產(chǎn)生特別多的干擾顆粒。當(dāng)場強(qiáng)足夠高時由電場產(chǎn)生的、并且對干擾顆粒施加作用的力會使所述干擾顆粒運(yùn)動，這樣，特別是在介電載荷特別強(qiáng)的部位會導(dǎo)致火花放電。
由于重力的作用，如此產(chǎn)生的干擾顆粒優(yōu)選地向下運(yùn)動(特別是當(dāng)無電壓地接通時)，并且因此優(yōu)選地垂直地落在開關(guān)段的下方。在那里設(shè)置的一個雜質(zhì)陷阱可以收集這些干擾顆粒(并且是特別多的干擾顆粒)，這樣就提高了高壓開關(guān)器具的運(yùn)行可靠性。
高壓開關(guān)和高功率開關(guān)、有或無滅弧裝置的開關(guān)、分離器、接地器以及高壓技術(shù)領(lǐng)域的其它開關(guān)器具均屬于本申請意義上的高壓開關(guān)器具。
這樣一種高壓開關(guān)器具可以用于一個或者多個安裝位置。因此，根據(jù)本發(fā)明在什么地方設(shè)置雜質(zhì)陷阱將取決于是所述安裝位置。
一個雜質(zhì)陷阱優(yōu)選地總是包含一個介電載荷如此少的區(qū)域，即在高壓開關(guān)器具工作期間干擾顆粒不再能離開這個雜質(zhì)陷阱。優(yōu)選地雜質(zhì)陷阱設(shè)計成容器的形狀，這樣在高壓開關(guān)器具工作期間就增加了干擾顆粒離開雜質(zhì)陷阱的難度。一個雜質(zhì)陷阱最好包含一個由一種金屬包圍的、并帶有凹槽的部位。
雜質(zhì)陷阱中的電場強(qiáng)度典型地應(yīng)比外殼內(nèi)的介電強(qiáng)載荷區(qū)域中的電場強(qiáng)度小兩個數(shù)量級，優(yōu)選地小三個或者多個數(shù)量級。這就保證即使是在開關(guān)過程中干擾顆粒也可以可靠地分離。雜質(zhì)陷阱中的電場強(qiáng)度優(yōu)選地小于10kV/cm。
在一個優(yōu)選的實(shí)施形式中，雜質(zhì)陷阱包含一個視窗。該視窗使得在工作期間可以視覺地檢查干擾顆粒的存在情況、干擾顆粒的類型和數(shù)量。這種視覺檢查可以用于識別或者證實(shí)是否需要維護(hù)或者修改，而不必打開高壓開關(guān)器具的外殼。
在一個優(yōu)選的實(shí)施形式中，所述高壓開關(guān)器具可用在至少一個第二安裝位置中、并且具有一個第二雜質(zhì)陷阱，其中在所述至少一個第二安裝位置中該第二雜質(zhì)陷阱垂直地設(shè)置在開關(guān)段的下方。
這樣，高壓開關(guān)器具的應(yīng)用有更大的靈活性，并且高壓開關(guān)器具即使在第二安裝位置中也有較高的工作可靠性。
當(dāng)高壓開關(guān)器具具有多個開關(guān)段時，第二雜質(zhì)陷阱也可垂直地設(shè)置在另一個開關(guān)段的下方，并且特別地也可為每個開關(guān)段和每個安裝位置分別設(shè)置一個雜質(zhì)陷阱，這些雜質(zhì)陷阱也可部分地相同。
所述雜質(zhì)陷阱之一最好可以主要由高壓開關(guān)器具的一個梅花觸頭、特別是一個固定梅花觸頭形成。這種做法之所以優(yōu)越是因?yàn)楣潭ń佑|的梅花觸頭由于自然形狀而直接與開關(guān)段連接，這樣，所形成的顆粒在其產(chǎn)生的地方就被捕獲。此外，梅花觸頭形成一個法拉第籠，這樣由梅花觸頭所包圍的內(nèi)部空間就無電磁場了。
在一個優(yōu)選的實(shí)施形式中所述高壓開關(guān)器具是一個分離器，特別是一個具有一個作為運(yùn)動的觸點(diǎn)的接觸管的分離器，并且優(yōu)選地是一個具有一個作為開關(guān)段的可視分離段的分離器。高壓開關(guān)器具也可以是一個接地器，或者一個作為接地器起作用的分離器，它的接地-分離段是開關(guān)段。特別優(yōu)選的是，所述高壓開關(guān)器具是一個具有一個接地側(cè)分離段和一個高壓側(cè)分離段的分離器-接地器。
所述雜質(zhì)陷阱或者其中之一最好主要通過一個用于容納分離器或者接地器-分離器的接觸管的開口形成。這種做法之所以優(yōu)越是因?yàn)樵撻_口必然直接和開關(guān)段連接，這樣，在所出現(xiàn)的顆粒恰好在它出現(xiàn)的地方被捕獲。此外，該開口基本上形成一個法拉第籠的內(nèi)部，這樣該開口是無電磁場的。
雜質(zhì)陷阱的一個視窗最好同時也作為視覺地觀察一個可視分離段的視窗。在這種情況中該視窗的功能是，一方面可以視覺地觀察可視的分離段，另一方面也可以視覺地觀察雜質(zhì)陷阱以及在其中存在的干擾顆粒。通過該視窗的雙重功能可以簡化高壓開關(guān)器具的結(jié)構(gòu)。和用于視覺地觀察一個可視分離段的標(biāo)準(zhǔn)的垂直對齊的視窗相比，對于顆粒的判斷有優(yōu)越性的水平對齊的視窗的缺點(diǎn)是，通常通過該視窗進(jìn)行觀察的人觀察起來更為困難。
在一個優(yōu)選的實(shí)施形式中所述高壓開關(guān)器具是一個具有一個接地側(cè)分離段和一個高壓側(cè)分離段的分離器-接地器，該分離器-接地器具有一個接觸管，并且可在至少一個第一和一個第二及一個第三安裝位置中應(yīng)用，其中，-在第一安裝位置中，包含有一個視窗的一個第一雜質(zhì)陷阱垂直地設(shè)置在分離段之一的下方，-在第二安裝位置中，主要通過高壓開關(guān)器具的一個固定梅花觸頭形成的一個第二雜質(zhì)陷阱垂直地設(shè)置在分離段之一的下方，-在第三安裝位置中，主要通過用于容納接觸管的一個開口形成的一個第三雜質(zhì)陷阱垂直地設(shè)置在分離段之一的下方。
這樣一種高壓開關(guān)器具在它的可使用性主面非常靈活，因?yàn)樗哂兄辽偃齻€安裝位置，并且雖然如此，由于分別具有雜質(zhì)陷阱而運(yùn)行非?？煽?。
一種根據(jù)本發(fā)明的高壓開關(guān)器具可以是根據(jù)本發(fā)明的高壓設(shè)備的一部分。
根據(jù)本發(fā)明的在一個高壓開關(guān)器具中用于分離干擾顆粒的方法，所述高壓開關(guān)器具可用在至少一個安裝位置中，并且具有一個開關(guān)段和一個用于容納干擾顆粒的雜質(zhì)陷阱，其特征在于，分離在所述至少一個安裝位置中垂直設(shè)置在開關(guān)段下方的一個雜質(zhì)陷阱中的雜質(zhì)，其中，在所述至少一個安裝位置中設(shè)置有一個具有基本水平對齊的、并且朝向高壓開關(guān)器具內(nèi)部的表面的絕緣子部件，并且其中在絕緣子部件和雜質(zhì)陷阱之間設(shè)置了一個比雜質(zhì)陷阱要高的金屬壁。
根據(jù)本發(fā)明的其它優(yōu)選方法產(chǎn)生于根據(jù)本發(fā)明的一些優(yōu)選裝置之中。
其它優(yōu)選的實(shí)施形式和優(yōu)點(diǎn)可從從屬權(quán)利要求和附圖中獲得。


下面借助在附圖中表示的優(yōu)選實(shí)施例對本發(fā)明的主題作更為詳細(xì)的說明，這些附圖分步驟是圖1根據(jù)本發(fā)明的在一個第一安裝位置中的接地-分離器，圖2根據(jù)本發(fā)明的在一個第二安裝位置中的圖1的接地-分離器，圖3根據(jù)本發(fā)明的在一個第三安裝位置中的圖1的接地-分離器。
在附圖中所使用的附圖標(biāo)記和它們的含意分別列在附圖標(biāo)記列表中列出。在附圖中規(guī)定相同的或者相同作用的部件使用相同的附圖標(biāo)記。所描述的實(shí)施例是用作本發(fā)明主題的范例，它們沒有限制作用。
具體實(shí)施例方式
圖1表示一個根據(jù)本發(fā)明的位于一個第一安裝位置中的接地-分離器。這個接地-分離器還可用于至少另外兩個在圖2和3中表示的安裝位置中。
該接地-分離器具有一個金屬外殼10。該外殼內(nèi)充滿一種絕緣氣體12，優(yōu)選為SF6?？商娲氖?，外殼10的內(nèi)部也可為真空。此外，外殼10還包含主動部件，該主動部件支承在一個絕緣子部件8上。一個支承在一個設(shè)置在該絕緣子部件8中的金屬部件21(絕緣子部件8的內(nèi)部附件)上的連接件15為主動部件創(chuàng)造了向外的電連接。一個接觸管支架14支承在連接件15上，該接觸管支架支承著接觸管6，該接觸管借助于一個螺旋彈簧觸頭20與接觸管支架14接觸。借助一個通過一個芯軸導(dǎo)向機(jī)構(gòu)18導(dǎo)向的芯軸17和一個移動螺母19可以使接觸管在三個位置之間運(yùn)動。也可以設(shè)想另一種例如完全筒式構(gòu)成的、且可運(yùn)動的接觸件來代替這個接觸管。為了使移動螺母19相對于外殼10進(jìn)行電絕緣，所述芯軸具有一個絕緣軸16。
在接地-分離器的一個接地位置中，在開口7中容納著接觸管6的接地側(cè)端部6b，并且通過螺旋彈簧觸頭20在接地外殼10和金屬部件21之間產(chǎn)生一種電連接。這樣接地側(cè)的分離段4′被跨接，而高壓側(cè)的分離段4是敞開的。用于容納接觸管10的開口7在圖1中集成到外殼中。也可以有開口7另外的設(shè)計。
當(dāng)借助螺旋彈簧觸頭20使接觸管6的一個高壓側(cè)的端部6a和梅花觸頭5接通時，在接地-分離器的一個高壓位置中在一個有高壓負(fù)載的梅花觸頭5和金屬部件21之間就形成了接觸。
在圖1中所示的中間位置中，接觸管10既未接觸接地分離器的接地側(cè)，也未接觸其高壓側(cè)。
關(guān)于所述接地-分離器的結(jié)構(gòu)和功能的詳情請參見與本專利申請同日在歐洲專利局以“具有分離-和/或接地功能的開關(guān)設(shè)備(Schaltgeraet mit Trenn-und/oder Erderfunktion)”為標(biāo)題的專利申請，發(fā)明人為同一申請單位的Daniel Bleiker，BojanPavlovic，Diego Sologuren，Walter Holaus和Martin Wieser。
所示接地-分離器為它的三個安裝位置(參見圖1，2，3)分別具有一個垂直地設(shè)置在分離段4下方的雜質(zhì)陷阱，其中，在圖2和3所示的安裝位置中各雜質(zhì)陷阱既垂直地設(shè)置在分離段4的下方，也垂直地設(shè)置在分離段4′的下方。可以為在圖1中所示的安裝位置設(shè)置一個用于接地側(cè)分離段4′的附加的雜質(zhì)陷阱(未示出)。
在圖1中雜質(zhì)陷阱是通過在外殼10中的一個垂直對齊的、大約為圓筒形的開口和一個視窗3形成。視窗3優(yōu)選地同時也用作視覺觀察光學(xué)分離段4的視窗。示出了在雜質(zhì)陷阱1內(nèi)的幾個干擾顆粒2、以及在雜質(zhì)陷阱1附近的幾個干擾顆粒2′。由于雜質(zhì)陷阱1的幾何形狀在雜質(zhì)陷阱1內(nèi)部的場強(qiáng)很小，并且介電載荷也很小。
在雜質(zhì)陷阱1和水平設(shè)置的絕緣子部件8之間形成一個由外殼10形成的金屬壁9。雜質(zhì)陷阱1位于外殼10的一個凸起11的內(nèi)部中。通過凸起11使雜質(zhì)陷阱1區(qū)域中的電場強(qiáng)度變小了。通過壁9使得位于壁9的朝向雜質(zhì)陷阱1一側(cè)的干擾顆粒2′幾乎不可能、或者至少難于向絕緣子部件8方向移動，并且到達(dá)絕緣子部件8的朝向接地-分離器內(nèi)部的一個表面8a上，這樣，接地-分離器就達(dá)到了高的運(yùn)行可靠性。凸起11和壁9也可替代地解釋為雜質(zhì)陷阱1的組成部件。
在一個高壓開關(guān)器具中，介電載荷特別高的部位是三相點(diǎn)、例如三相點(diǎn)13，它通過絕緣子部件8、外殼10和絕緣氣體12形成。位于那個地方的干擾顆粒對于高壓開關(guān)器具的介電強(qiáng)度特別危險。因此在三相點(diǎn)13和設(shè)置在分離段4下方的雜質(zhì)陷阱1之間設(shè)置一個像圖1中的壁9那樣的壁是有很大優(yōu)點(diǎn)的。
在圖1中接地-分離器是如此地設(shè)置的，即在一個開關(guān)過程中接觸管6水平地運(yùn)動。在圖2和3表示的安裝位置中接觸管6可垂直地運(yùn)動。
在圖2中所表示的安裝位置中主要是梅花觸頭5用作垂直地設(shè)置在所述兩個分離段4，4′下方的雜質(zhì)陷阱1′。這個梅花觸頭是一個金屬容器，干擾顆粒2可靠地堆積在該容器中，因?yàn)樵诿坊ㄓ|頭5的內(nèi)部中電場可忽略不計地小，并且對于干擾顆粒2來說梅花觸頭5實(shí)際上同時是一堵不可逾越的高墻。梅花觸頭在其底部側(cè)面上是封閉的，并且和一個絕緣子部件的金屬內(nèi)部附件進(jìn)行螺栓連接。
圖3表示在一個第三安裝位置中的接地-分離器，在該安裝位置中用于容納接觸管6的開口7用作垂直地設(shè)置在所述兩個分離段4，4′下方的雜質(zhì)陷阱1″。開口7基本上成環(huán)形構(gòu)成。因?yàn)樗O(shè)置在外殼10中，所以它對于干擾顆粒2來說就是一個金屬環(huán)境，因此干擾顆粒2在雜質(zhì)陷阱1″的內(nèi)部中僅遭受很小的場強(qiáng)，并且因此很可靠地堆積在那里。
所述雜質(zhì)陷阱1，1′，1″最好中間地設(shè)置在(各)分離段的下方。當(dāng)分離段為水平走向時(如圖1)，該雜質(zhì)陷阱可在分離段4的整個長度上延伸，或者具有一個較大的寬度，或者具有一個如圖1所示的較小的寬度，其中在后一種情況中有很大優(yōu)越性的是具有一個凸起11，該凸起沿水平方向在分離段4的至少整個延伸段上延伸。
當(dāng)分離段為垂直走向時(圖3和4)，雜質(zhì)陷阱優(yōu)選地在接觸位置(在此在螺旋觸點(diǎn)20上)的至少整個水平延伸段上延伸，這樣，在開關(guān)過程中通過磨損或者可能通過一個電弧產(chǎn)生的干擾顆粒可靠地在雜質(zhì)陷阱中落下，該干擾顆粒基本是垂直地向下掉。圖2以及圖3中的雜質(zhì)陷阱1′，1″就是這種情況。
附圖標(biāo)記列表

權(quán)利要求
1.可應(yīng)用在至少一個安裝位置中并且具有一個金屬外殼(10)的高壓開關(guān)器具，該開關(guān)器具包含一個開關(guān)段(4；4′)和一個用于容納干擾顆粒(2)的雜質(zhì)陷阱(1；1′；1″)，其特征在于，在所述至少一個安裝位置中雜質(zhì)陷阱垂直地設(shè)置在開關(guān)段(4)的下方，并且在所述至少一個安裝位置中存在一個絕緣子部件(8)，該絕緣子部件具有一個基本水平對齊的、并且朝向高壓開關(guān)裝器具內(nèi)部的表面(8a)，并且其中在絕緣部件(8)和雜質(zhì)陷阱(1；1′)之間設(shè)置一個比雜質(zhì)陷阱(1；1′)高的金屬壁(9)。
2.按照權(quán)利要求1所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，所述雜質(zhì)陷阱(1)包含一個視窗(3)。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，該高壓開關(guān)器具可用在至少一個第二安裝位置中，并且具有一個第二雜質(zhì)陷阱(1；1′；1″)，其中在所述至少一個第二安裝位置中該第二雜質(zhì)陷阱(1；1′；1″)垂直地設(shè)置在開關(guān)段(4)的下方。
4.按照權(quán)利要求3所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，所述雜質(zhì)陷阱中的一個(1′)主要通過高壓開關(guān)器具的一個梅花觸頭(5)形成。
5.按照前述權(quán)利要求中任一項所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，高壓開關(guān)器具是一個具有一個運(yùn)動的接觸件(6)的、并具有作為開關(guān)段(4)的一個可視分離段(4)的分離器。
6.按照權(quán)利要求5所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，所述雜質(zhì)陷阱(1″)主要通過一個用于容納運(yùn)動的接觸件(6)的開口(7)形成。
7.按照權(quán)利要求2和5、或按照權(quán)利要求2和6所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，所述高壓開關(guān)器具具有一個用于視覺地觀察可視的分離段(4)的視窗(3)，該視窗和雜質(zhì)陷阱(1)的視窗(3)是相同的。
8.按照權(quán)利要求5，6或7中任一項所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，所述分離器是一個具有一個接地側(cè)分離段(4′)和一個高壓側(cè)分離段(4)的分離器-接地器。
9.按照權(quán)利要求1所述的高壓開關(guān)器具，其特征在于，所述高壓開關(guān)器具是一個具有一個接地側(cè)的分離段(4′)和一個高壓側(cè)分離段(4)的分離器-接地器，該分離器-接地器具有一個運(yùn)動的接觸件(6)，并且可以用在至少一個第一和一個第二以及一個第三安裝位置中，其中，-在第一安裝位置中一個含有一個視窗(3)的第一雜質(zhì)陷阱(1)垂直地設(shè)置在所述分離段之一(4)的下方，-在第二安裝位置中主要由高壓開關(guān)器具的一個固定梅花觸頭(5)形成的一個第二雜質(zhì)陷阱(1′)垂直地設(shè)置在所述分離段(4；4′)之一的下方，-在第三安裝位置中主要通過一個用于容納運(yùn)動的接觸件(6)的開口(7)形成的一個第三雜質(zhì)陷阱(1″)垂直地設(shè)置在分離段(4；4′)之一的下方。
10.高壓設(shè)備，其特征在于，該高壓設(shè)備具有按照前述權(quán)利要求中任一項所述的至少一個高壓開關(guān)器具。
11.用于分離在一個高壓開關(guān)器具中的干擾顆粒(2)的方法，所述高壓開關(guān)器具可在至少一個安裝位置中應(yīng)用，并且具有一個開關(guān)段(4；4′)和一個用于容納干擾顆粒(2)的雜質(zhì)陷阱(1)，其特征在于，干擾顆粒(2)在所述至少一個安裝位置中垂直地設(shè)置在開關(guān)段(4)下方的雜質(zhì)陷阱中(1)被分離，其中在所述至少一個安裝位置中存在一個絕緣子部件(8)，該絕緣子部件具有一個基本水平對齊的、并且朝向高壓開關(guān)器具內(nèi)部的表面(8a)，并且其中在絕緣子部件(8)和雜質(zhì)陷阱(1；1″)之間設(shè)置一個比雜質(zhì)陷阱(1；1″)高的金屬壁(9)。
全文摘要
所述高壓開關(guān)器具可用在至少一個安裝位置中并有一個金屬外殼。該開關(guān)器具有一個開關(guān)段和一個容納干擾顆粒的雜質(zhì)陷阱，其特征在于，在該至少一個安裝位置中雜質(zhì)陷阱垂直設(shè)在開關(guān)段之下，并在該至少一個安裝位置中存在一個有一個基本水平對齊的、且朝向開關(guān)裝器具內(nèi)部的表面的絕緣子部件，在絕緣部件和雜質(zhì)陷阱間設(shè)置一個比陷阱高的金屬壁。雜質(zhì)陷阱最好有一個視窗。一個分離器用作高壓開關(guān)器具時該視窗可以和視覺觀察分離器的可視分離段的視窗相同。該高壓開關(guān)器具可用在至少一個第二安裝位置中并有一個第二雜質(zhì)陷阱，在該至少一個第二安裝位置中第二雜質(zhì)陷阱垂直設(shè)在開關(guān)段下方。該開關(guān)器具運(yùn)行可靠性高、受干擾性少。
文檔編號H01H33/56GK1677786SQ200510068560
公開日2005年10月5日 申請日期2005年2月25日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月27日
發(fā)明者W·霍勞斯, B·帕洛維克, M·加西亞, D·布萊克, D·索洛古倫-桑徹滋 申請人:Abb技術(shù)有限公司