朝向接合位置旋轉(zhuǎn)以使第一接合構(gòu)件721a和第二接合構(gòu)件721b移位從而從第一側(cè)壁425a的內(nèi)表面和外表面向外延伸。在這個(gè)位置中，彈簧夾具700的第二接合構(gòu)件721b從第一側(cè)壁425a的外表面431b向外延伸并與測試槽500b的壁723接合，從而抵抗相對(duì)于測試槽500b的運(yùn)動(dòng)而夾緊磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400b。同時(shí)，彈簧夾具700的第一接合構(gòu)件721a從第一側(cè)壁425a的內(nèi)表面431a向外延伸并且與磁盤驅(qū)動(dòng)器600接合以抵抗相對(duì)于磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400b的運(yùn)動(dòng)而夾緊磁盤驅(qū)動(dòng)器600。
[0150]圖33A和圖33B示出具有夾緊機(jī)構(gòu)(例如，用來將磁盤驅(qū)動(dòng)器夾緊在磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器內(nèi)和/或用來將磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器夾緊在測試槽內(nèi))的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c的又一實(shí)施例。如圖33A和圖33B中所不，磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c包括具有面板412c和一對(duì)側(cè)壁429a、429b的框架410c。側(cè)壁的第一個(gè)側(cè)壁429a限定貫通孔口 440，該貫通孔口 440在第一側(cè)壁429a的內(nèi)表面441a和外表面441b之間延伸。接合元件(例如，彈簧夾具750)被布置在貫通孔口 427內(nèi)。
[0151]如圖34中示出的，彈簧夾具750包括基部752以及第一彈簧臂753a和第二彈簧臂753b，該第一彈簧臂753a和第二彈簧臂753b各具有連接到基部752的近端754和可移位的遠(yuǎn)端755。第一彈簧臂753a包括具有第一阻尼器758a的第一接合構(gòu)件756a，并且第二彈簧臂753b包括具有第二阻尼器758b的第二接合構(gòu)件756b。
[0152]致動(dòng)器760與彈簧夾具750以可操作的方式關(guān)聯(lián)。致動(dòng)器760穿過面板412c且進(jìn)入第一側(cè)壁429a中的致動(dòng)器槽762。如圖35中所示，沿其長度，致動(dòng)器760具有限定楔形部764的橫截面。
[0153]致動(dòng)器760可在致動(dòng)器槽762內(nèi)在接合位置和釋放位置之間樞轉(zhuǎn)。如圖36A和36B示出的，在接合位置中，致動(dòng)器760的楔形部764與彈簧夾具750接合以使得彈簧臂753a、753b的遠(yuǎn)端755從第一側(cè)壁429a的內(nèi)表面441a和外表面441b向外延伸。因此，通過向上(箭頭62)推動(dòng)和/或拉動(dòng)致動(dòng)器760的近端以朝向彈簧夾具750壓迫致動(dòng)器760的遠(yuǎn)端，可致動(dòng)彈簧夾具750。
[0154]彈簧臂753a、753b的遠(yuǎn)端755也可通過將致動(dòng)器760樞轉(zhuǎn)到釋放位置而縮回，如圖37A和37B中所示。當(dāng)致動(dòng)器760已經(jīng)旋轉(zhuǎn)到釋放位置時(shí)，允許遠(yuǎn)端755縮回。
[0155]當(dāng)致動(dòng)器760處于釋放位置時(shí)，在彈簧夾具760縮回的情況下，磁盤驅(qū)動(dòng)器600可以在側(cè)壁429a、429b之間插入到框架410c中，如圖38中所示。一旦磁盤驅(qū)動(dòng)器600插入在框架410c中，致動(dòng)器760就可以朝向接合位置移動(dòng)以使第一接合構(gòu)件756a移位成與磁盤驅(qū)動(dòng)器600接觸，從而抵抗相對(duì)于框架410c的運(yùn)動(dòng)而夾緊磁盤驅(qū)動(dòng)器600。以類似的方式，磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c也可被夾緊在測試槽內(nèi)。例如，在磁盤驅(qū)動(dòng)器600在框架410c中且致動(dòng)器760在釋放位置中的情況下，磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c可以被插入到測試槽中。在磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c在測試槽內(nèi)的完全插入位置中的情況下，致動(dòng)器760可以朝向接合位置樞轉(zhuǎn)以使彈簧臂753a、753b的遠(yuǎn)端755移位從而從第一側(cè)壁429a的內(nèi)表面441a和外表面441b向外延伸。在這個(gè)位置中，彈簧夾具750的第二接合構(gòu)件756b從第一側(cè)壁429a的外表面441b向外延伸并與測試槽接合，因此抵抗相對(duì)于測試槽的運(yùn)動(dòng)而夾緊磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c。同時(shí)，彈簧夾具750的第一接合構(gòu)件756a從第一側(cè)壁429a的內(nèi)表面441a向外延伸并且接合磁盤驅(qū)動(dòng)器600以抵抗相對(duì)于磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器400c的運(yùn)動(dòng)而夾緊磁盤驅(qū)動(dòng)器600。
[0156]不同實(shí)施例的元件可以組合以形成在這里沒有具體描述的組合。能與在這里描述的那些細(xì)節(jié)和特征組合的其它細(xì)節(jié)和特征可以在以下與本申請(qǐng)同時(shí)提交的題為“DISKDRIVE TESTING (磁盤驅(qū)動(dòng)器測試)”，代理人卷號(hào):18523-062001，發(fā)明人！Edward Garcia等人，并且具有轉(zhuǎn)讓系列號(hào)11/958,788 ;和題為“DISK DRIVE TESTING(磁盤驅(qū)動(dòng)器測試)”，代理人卷號(hào):18523-064001，發(fā)明人:Edward Garcia等人，并且具有轉(zhuǎn)讓系列號(hào)11/958817的美國專利申請(qǐng)中找到，前述申請(qǐng)的全部內(nèi)容通過弓I用特此并入。
[0157]權(quán)利要求書不限于這里描述的實(shí)施例。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，用于將磁盤驅(qū)動(dòng)器安裝在測試槽內(nèi)，所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括: 被構(gòu)造成接收和支撐所述磁盤驅(qū)動(dòng)器的框架，所述框架包括:側(cè)壁，所述側(cè)壁被構(gòu)造成在所述側(cè)壁之間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與所述磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到所述測試槽中；和 夾緊機(jī)構(gòu)，所述夾緊機(jī)構(gòu)以可操作的方式與所述側(cè)壁中的至少一個(gè)關(guān)聯(lián)并包括: 第一接合元件；和 第一致動(dòng)器，所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第一接合元件的運(yùn)動(dòng)，其中在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器已經(jīng)被大體完全插入在所述測試槽中之后，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)成與所述測試槽和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器夾緊接合，從而阻止在測試期間在所述磁盤驅(qū)動(dòng)器、所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和所述測試槽之間的獨(dú)立運(yùn)動(dòng)；并且 其中，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)出與所述測試槽和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器的夾緊接合從而允許在所述磁盤驅(qū)動(dòng)器和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器之間的獨(dú)立運(yùn)動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)成與由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器接觸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述第一接合元件包括第一和第二接合構(gòu)件，并且其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第一和第二接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被大體完全插入在所述測試槽中之后，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合構(gòu)件移動(dòng)成與所述測試槽接觸，并且其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第二接合構(gòu)件移動(dòng)成與由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以大體上同時(shí)地移動(dòng)所述第一和第二接合構(gòu)件。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述夾緊機(jī)構(gòu)還包括第二接合元件，并且其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被大體完全插入在所述測試槽中之后，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第二接合元件移動(dòng)成與所述測試槽接觸。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第二接合元件移動(dòng)成與由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述夾緊機(jī)構(gòu)還包括: 第二接合元件；和 第二致動(dòng)器，所述第二致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述第二致動(dòng)器能夠獨(dú)立于所述第一致動(dòng)器地操作以啟動(dòng)所述第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器被大體完全插入在所述測試槽中之后，所述第二致動(dòng)器能夠操作以將所述第二接合元件移動(dòng)成與所述測試槽接觸。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述第二致動(dòng)器能夠操作以將所述第二接合元件移動(dòng)成與由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器接觸。
13.一種測試槽組件，包括: 測試槽，所述測試槽包括:外殼，所述外殼限定:測試隔室；和敞開端部，所述敞開端部提供到所述測試隔室的通路；和磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括: 被構(gòu)造成接收和支撐磁盤驅(qū)動(dòng)器的框架，所述框架包括:側(cè)壁，所述側(cè)壁被構(gòu)造成在所述側(cè)壁之間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到所述測試隔室中；和夾緊機(jī)構(gòu)，所述夾緊機(jī)構(gòu)以可操作的方式與所述側(cè)壁中的至少一個(gè)關(guān)聯(lián)并且包括:第一接合元件；和第一致動(dòng)器，所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第一接合元件的運(yùn)動(dòng)，其中在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器已經(jīng)被大體完全插入在所述測試隔室中之后，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)成與所述外殼和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器夾緊接合，從而阻止在測試期間在所述磁盤驅(qū)動(dòng)器、所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和所述測試槽之間的獨(dú)立運(yùn)動(dòng)；并且 其中，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)出與所述外殼和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器的夾緊接合，從而允許在所述磁盤驅(qū)動(dòng)器和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器之間的獨(dú)立運(yùn)動(dòng)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試槽組件，其中所述第一接合元件包括第一和第二接合構(gòu)件，并且其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第一和第二接合構(gòu)件的運(yùn)動(dòng)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測試槽組件，其中所述第一致動(dòng)器能夠操作以大體上同時(shí)地移動(dòng)所述第一和第二接合構(gòu)件。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，其中所述夾緊機(jī)構(gòu)還包括: 第二接合元件；和 第二致動(dòng)器，所述第二致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第二接合元件的運(yùn)動(dòng)。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試槽組件，其中所述外殼包括直立壁，所述直立壁被構(gòu)造成在所述直立壁之間接收所述框架的側(cè)壁，其中所述直立壁中的第一個(gè)包括接合特征部，并且其中所述第一接合元件包括被構(gòu)造成與所述接合特征部接合的隆起。
18.一種磁盤驅(qū)動(dòng)器測試系統(tǒng)，包括: 自動(dòng)機(jī)械；和磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器包括: 框架，所述框架被構(gòu)造成接收和支撐磁盤驅(qū)動(dòng)器，所述框架包括側(cè)壁，所述側(cè)壁被構(gòu)造成在所述側(cè)壁之間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到測試槽中；以及 夾緊機(jī)構(gòu)，所述夾緊機(jī)構(gòu)可操作地與所述側(cè)壁中的至少一個(gè)關(guān)聯(lián)并且包括:第一接合元件；和第一致動(dòng)器，所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器已經(jīng)被大體完全插入在所述測試槽中之后，將所述第一接合元件移動(dòng)成與所述測試槽夾緊接合的運(yùn)動(dòng)，從而阻止在測試期間在所述磁盤驅(qū)動(dòng)器、所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器和所述測試槽之間的獨(dú)立運(yùn)動(dòng)；以及啟動(dòng)以將所述第一接合元件移動(dòng)出與所述測試槽的夾緊接合的運(yùn)動(dòng)從而允許在所述磁盤驅(qū)動(dòng)器和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器之間的獨(dú)立運(yùn)動(dòng)， 其中所述自動(dòng)機(jī)械被構(gòu)造成控制所述夾緊機(jī)構(gòu)的操作。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器測試系統(tǒng)，其中所述自動(dòng)機(jī)械被構(gòu)造成以可釋放的方式與所述框架接合以控制所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器的運(yùn)動(dòng)。
20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的磁盤驅(qū)動(dòng)器測試系統(tǒng)，其中所述自動(dòng)機(jī)械包括機(jī)器人，所述機(jī)器人包括:可移動(dòng)的臂；和連接到所述可移動(dòng)的臂的機(jī)械手，其中所述機(jī)械手被構(gòu)造成以可釋放的方式與所述框架接合以控制所述磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器的運(yùn)動(dòng)，其中所述機(jī)械手能夠操作以控制所述夾緊機(jī)構(gòu)的操作。
【專利摘要】本發(fā)明涉及磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器、測試槽組件和磁盤驅(qū)動(dòng)器測試系統(tǒng)。一種磁盤驅(qū)動(dòng)器運(yùn)送器，包括：框架，包括：側(cè)壁，所述側(cè)壁被構(gòu)造成在所述側(cè)壁之間接收磁盤驅(qū)動(dòng)器并被確定尺寸以與所述磁盤驅(qū)動(dòng)器一起被插入到所述測試槽中；和夾緊機(jī)構(gòu)，包括：第一接合元件；和第一致動(dòng)器，所述第一致動(dòng)器能夠操作以啟動(dòng)所述第一接合元件的運(yùn)動(dòng)，其中在由所述框架支撐的磁盤驅(qū)動(dòng)器已經(jīng)被大體完全插入在所述測試槽中之后，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)成與所述測試槽和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器夾緊接合；并且其中，所述第一致動(dòng)器能夠操作以將所述第一接合元件移動(dòng)出與所述測試槽和所述磁盤驅(qū)動(dòng)器的夾緊接合。
【IPC分類】G11B33-12, G11B17-22, G06F1-18
【公開號(hào)】CN104538054
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410646089
【發(fā)明人】布萊恩·S·梅洛, 愛德華·加西亞, 伊夫根尼·波利亞科夫
【申請(qǐng)人】泰拉丁公司
【公開日】2015年4月22日
【申請(qǐng)日】2008年12月10日
【公告號(hào)】CN101939717A, US8405971, US8467180, US8549912, US20090153994, US20100194253, US20100195236, US20100265609, US20100265610, WO2009079290A1