專利名稱:記錄再生媒體及使用記錄再生媒體的記錄再生裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種能夠?qū)懭胄畔⒌墓獗P等的記錄再生媒體和使用該記錄再生媒體的記錄再生裝置。
這種記錄再生媒體包括能夠高密度記錄畫像、聲音、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)等多種媒體信息DVD(數(shù)碼視頻光盤或數(shù)碼萬能光盤)。
DVD中除了已普及的再生專用的DVD-ROM外還有能夠記錄再生的DVD-R(補(bǔ)寫式DVD)和能夠重新寫入的記錄再生式的DVD-RW。
在特開平9-17029號(hào)公報(bào)上公開的DVD-R和DVD-RW為了在紋上高精度且高密度記錄信息、作為物理格式可以采用在紋的表面上預(yù)先設(shè)定有地址等各種信息的被稱為表面預(yù)置槽的方式。
也就是說,這種方式的DVD-R和DVD-RW表面預(yù)置槽與紋鄰接形成,如果將光點(diǎn)定位在紋上掃描的話,那么,表面預(yù)置槽上也會(huì)產(chǎn)生光點(diǎn)入射的狀態(tài),利用光探測器等探測來自表面預(yù)置槽的反射光,就會(huì)產(chǎn)生有地址等各種信息的探測信號(hào)。
然而,采用上述方式的DVD-R和DVD-RW,因?yàn)楸砻骖A(yù)置槽與紋鄰接形成,所以如果把光點(diǎn)定位在紋上掃描的話,那么當(dāng)光點(diǎn)射入表面預(yù)置槽時(shí),必然也會(huì)射入到紋上。
因此,上述反射光中,不只是來自于表面預(yù)置槽的反射光,而且還包含有來自于紋的反射光,光探測器所輸出的探測信號(hào)中除了表面預(yù)置槽的反射光的成分以外還有紋的反射光成分。
相對(duì)于表面預(yù)置槽的反射光成分,紋的反射光成分作為噪音起作用,因此很難從探測信號(hào)中高精度地探測表面預(yù)置槽的信息。
相反,當(dāng)利用上述光點(diǎn)掃描讀取紋上所記錄的信息時(shí),與來自表面預(yù)置槽的反射光的光量相比較,如果來自于紋上的反射光的光量變化太小的話,相對(duì)于來自紋上的反射光成份,表面預(yù)置槽的反射光成分作為噪音起作用、很難從上述探測信號(hào)中高精度探測來自紋的信息。
如果由紋和表面預(yù)置槽反射的各種反射光的光量不適當(dāng)?shù)脑?,那么就不能以最佳狀態(tài)探測出紋上的信息和表面預(yù)置槽的信息,成為影響高精度、高密度記錄、再生的主要因素。
但是,并不是說以前對(duì)這種狀況產(chǎn)生的原因及最佳處理方法已進(jìn)行過充分的研究。
本發(fā)明的目的是提供一種有能夠滿足紋和表面預(yù)置槽以及有關(guān)光點(diǎn)相互之間的最佳條件的結(jié)構(gòu),能穩(wěn)定實(shí)現(xiàn)高精度、高密度記錄再生的記錄再生媒體和使用記錄再生媒體的記錄再生裝置。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明為包括有紋和上述紋之間表面形成的表面預(yù)置槽,用數(shù)值孔經(jīng)(NA)的物鏡聚光的波長的光(λ)定位在上述紋上掃描的記錄再生媒體,相對(duì)于上述紋的掃描方向略呈正交方向的紋寬(Gw)和在上述表面預(yù)置槽的掃描方向的預(yù)置槽的長(Lp),上述紋和上述表面在厚度方向上的紋深(Gd;單位μm),可用下式表示Gw/(λ/NA)≥0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332-(-2.64Gd+0.1276)且Gw/(λ/NA)≤0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332+(-4.48Gd+0.2112)若采用這種結(jié)構(gòu)的記錄再生媒體,當(dāng)用數(shù)值孔徑(NA)物鏡會(huì)聚的波長(λ)的光定位在上述紋上掃描,如果光同時(shí)射入紋和表面預(yù)置槽的話,那么由此而產(chǎn)生的紋的反射光和表面預(yù)置槽的反射光的光量就成為能以最佳狀態(tài)探測紋的信息和表面預(yù)置槽的信息的光量。
在發(fā)射出特定波長(λ)光的光源及紋與上述紋之間的表面上形成表面預(yù)置槽的記錄再生媒體的上述紋上定位,在備有會(huì)聚上述光源所發(fā)射的光進(jìn)行掃描的所定的數(shù)值孔徑(NA)的物鏡的記錄再生裝置,使上述波長(λ)和數(shù)值孔徑(NA)與上述記錄再生媒體的紋寬(Gw)和上述表面預(yù)置槽的預(yù)置槽長(Lp)和上述紋與上述表面在厚度方向的紋深度(Gd)可由下式表示Gw/(λ/NA)≥0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332-(-2.64Gd+0.1276)且Gw/(λ/NA)≤0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332+(-4.48Gd+0.2112)若采用這種結(jié)構(gòu)記錄再生裝置,就可以把紋的反射光和表面預(yù)置槽的反射光的光量設(shè)定為以最佳狀態(tài)探測紋的信息和表面預(yù)置槽的信息用的光量。也就是說,可以以最佳狀態(tài)探測紋的信息和表面預(yù)置槽的信息??梢栽O(shè)定物鏡的數(shù)值孔徑(NA)和光源的波長(λ)。
如上所述,關(guān)于用所定數(shù)值孔徑的物鏡會(huì)聚的所定的波長的光定位在紋上進(jìn)行掃描的記錄再生媒體,基于所定的最佳條件形成紋寬,表面預(yù)置槽長和紋深;所以從紋反射出來的反射光,及從表面預(yù)置槽反射的反射光的各光量,能對(duì)紋的信息及表面預(yù)置槽的信息在最佳狀態(tài)下進(jìn)行探測。從而穩(wěn)定的實(shí)現(xiàn)高精度、高密度的記錄·再生。
另外,在發(fā)射所定波長光的光源,及紋與紋之間的表面上形成表面預(yù)置槽的記錄再生媒體的上述紋上定位并在備有會(huì)聚上述光源射出的光掃描的所定數(shù)值孔徑物鏡的記錄再生裝置,使上述的波長和數(shù)值孔徑與記錄再生媒體的紋寬及表面預(yù)置槽的預(yù)置槽長,紋與表面的厚度方向上的紋相對(duì)應(yīng)并基于所定的最佳條件設(shè)定,所以可以把紋的反射光和預(yù)置槽的反射光的各光量,紋的信息和表面預(yù)置槽的信息的光量,設(shè)定為高精度探測結(jié)果,可以安定實(shí)現(xiàn)以高精度且高密度的記錄·再生。
圖1本發(fā)明實(shí)施形態(tài)的光盤的構(gòu)造模式示意2本發(fā)明實(shí)施形態(tài)讀取光盤上表面預(yù)置槽信息的原理示意圖。
圖3讀取沒有記錄狀態(tài)光盤的表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的波形4讀取已有記錄狀態(tài)的光盤的表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信的波形5判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意6判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意7判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意8判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意9判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意10判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意11判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意12判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意13判斷能否在最佳狀態(tài)探測表面預(yù)置槽的探測信號(hào)和RF信號(hào)的說明示意圖符號(hào)說明
1-紋2-表面3-表面預(yù)置槽4-透明基板5-記錄層6-反射層7-保護(hù)層8-物鏡9-光探測器 10~12-計(jì)算回路SP-光點(diǎn)以下參照
本發(fā)明實(shí)施形態(tài)。就光盤DVD-R和DVD-RW的實(shí)施形態(tài)進(jìn)行說明,圖1(a)為本發(fā)明實(shí)施形態(tài)DVD-R和DVD-RW的基本構(gòu)造的模式示意斜視圖,圖1(b)為本發(fā)明實(shí)施形態(tài)DVD-R和DVD-RW的徑向的截面構(gòu)造模式示意截面圖。
圖1(a)中,在可以寫入DVD-R和DVD-RW(以簡稱為光盤)的信息的領(lǐng)域,也就是說寫入和讀出以及程序領(lǐng)域,紋1是沿著設(shè)置在本光盤旋轉(zhuǎn)中心以所謂箝位區(qū)域(圖示略)為中心連續(xù)的螺旋狀磁道,或沿著以箝位區(qū)域?yàn)橹行某释膱A狀的多個(gè)磁道,按一定的磁道間隔而形成的。
沿著上述呈螺旋狀的磁道和同心圓狀的磁道的任何一種形成時(shí),相對(duì)于光掃描方向θt略呈正交方向(徑向方向)θr的縱截面如圖1(b)所示,大多數(shù)紋1的結(jié)構(gòu)都按一定的磁道間隔形成。
在紋1的兩側(cè),同時(shí)設(shè)有分離徑向方向θr的各紋1間隔用的表面2,表面2中作為物理格式,可預(yù)先設(shè)定地址等各種信息的表面預(yù)置槽3,沿著線掃描方向θt,按所規(guī)定間隔形成。
紋和表面2以及表面預(yù)置槽3可在由聚碳酸酯等透明樹脂材料制成的透明基板4上形成的。紋1和表面2以及表面預(yù)置槽3的下面堆積有以有機(jī)色素,無機(jī)金屬為材料制成的記錄層5和由鋁蒸發(fā)、金蒸發(fā)制成的反射層6,反射層6的下面有由UV硬質(zhì)樹脂等材料制成的保護(hù)層7。
進(jìn)行記錄或再生用的光通過設(shè)置在光拾音裝置上的物鏡8,從透明基板4側(cè)向紋1進(jìn)行點(diǎn)照射。
在這種結(jié)構(gòu)的光盤上,紋1的徑向方向θr的寬(以下簡稱紋寬)Gw和表面預(yù)置槽3的線掃描方向θt的長度(以下簡稱槽長)Lp和從表面2的底面至紋1頂面的高(以下簡稱紋深)Cd可預(yù)先設(shè)定;以其所滿足后述的最佳條件。
其次,采用本光盤進(jìn)行信息記錄和信息再生的原理請(qǐng)參照?qǐng)D2(a)(b)進(jìn)行說明。
圖2(a)中利用光拾音裝置等,用準(zhǔn)直儀透鏡匯聚激光二極管光源發(fā)射的特定波長λ的光,進(jìn)而,再用圖1(a)中所示的物鏡8會(huì)聚準(zhǔn)直儀透鏡射出的光,向紋1的頂面照射,略呈圓形的光點(diǎn)SP與紋1的中心(紋寬Gw的中心)相一致。
然后,使光盤旋轉(zhuǎn),把光點(diǎn)SP定位在紋1上,沿線掃描方向θt進(jìn)行掃描使光點(diǎn)SP的直徑r比紋寬Gw大,所以光點(diǎn)SP有一部分照射在表面預(yù)置槽3上。
使光點(diǎn)SP定位在紋1上,按線掃描方向θt進(jìn)行掃描時(shí),光點(diǎn)SP由紋1或紋1及表面預(yù)置槽3的兩方反射,用物鏡8會(huì)聚所產(chǎn)生的反射光,用圖2(b)所示的光探測器9接收會(huì)聚的反射光利用計(jì)算回路10、11、12等對(duì)光探測器9所輸出的探測信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理,生成表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和跟蹤誤差信號(hào)STE和RF信號(hào)SRE。
這里是表示光探測器9利用同一幾何形狀、有4個(gè)光接收靈敏度相同的光接收區(qū)域9A、9B、9C、9D的光接收元件制作的情況。這時(shí),要預(yù)先將接收光領(lǐng)域9A、9B、9C、9D的中心位置調(diào)節(jié)成可接收來自于光點(diǎn)SP的反射光的中心的位置。
也就是說,如圖2(a)(b)所示,來自于光點(diǎn)SP的分成4等分的A、B、C、D各區(qū)域的反射光相應(yīng)的射入9A、9B、9C、9D各光接收區(qū)域,區(qū)域A和D則為光點(diǎn)SP所到達(dá)的紋1的區(qū)域,區(qū)域B和C,光點(diǎn)SP不僅到達(dá)紋1而且還到達(dá)表面預(yù)置槽3。
計(jì)算回路10是對(duì)光探測器9向各領(lǐng)域輸出的探測信號(hào)A、B、C、D進(jìn)行運(yùn)算,運(yùn)算式為(A+D)-(B+C),計(jì)算結(jié)果輸送給具有截止頻率的高通濾波器,生成表示表面預(yù)置槽信息的表面預(yù)置槽的探測信號(hào)SLP。計(jì)算回路11通過(A+D)-(B+C)式子進(jìn)行計(jì)算,產(chǎn)生跟蹤伺服系統(tǒng)用的跟蹤誤差信號(hào)STE,計(jì)算回路12通過(A+B+C+D)計(jì)算式子進(jìn)行計(jì)算,生成表示紋1信息的RF信號(hào)SRF。
現(xiàn)就紋1的紋寬Gw和表面預(yù)置槽3的線掃描方向θt的預(yù)置槽長Lp和表面2的底面至紋1的頂面的紋深Gd的最佳條件進(jìn)行說明。
根據(jù)參照?qǐng)D2(b)所說明的原理,生成表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF的一般的記錄再生裝置,如果光點(diǎn)SP同時(shí)凝結(jié)在紋1和表面預(yù)置槽3上,就會(huì)產(chǎn)生前述的本發(fā)明所要解決問題。
發(fā)明人在對(duì)光盤的構(gòu)造進(jìn)行最佳設(shè)計(jì)之前、為了弄請(qǐng)問題發(fā)生的原因,求出了圖3(a)-(c)所示的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
圖3(a)-(b)是關(guān)于具有表面預(yù)置槽3的DVD-RW,分別對(duì)光點(diǎn)SP的波長λ和物鏡8的數(shù)值孔徑NA及線掃描速度進(jìn)行了確定,利用圖2(b)的光探測器9和計(jì)算回路10、12,對(duì)實(shí)驗(yàn)得到的未記錄部分的表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF的振幅變化進(jìn)行了測定、橫軸為時(shí)間,縱軸為電壓,為了表示信號(hào)SLP與SRF的相對(duì)變化,各尺度要相等。
圖3(a)表示預(yù)置槽Lp為0.3μm、紋寬Gw為0.25μm時(shí)的情況。
圖3(b)表示Lp=0.3μm、Gw=0.30μm時(shí)的情況。
圖3(c)表示Lp=0.3μm、Gw=0.40μm時(shí)的情況。
從實(shí)驗(yàn)結(jié)果可發(fā)現(xiàn),如果預(yù)置槽長Lp和紋寬Gw不同,光點(diǎn)SP照射在表面預(yù)置槽3上的點(diǎn)t的各信號(hào)SLP、SRF的電壓振幅會(huì)發(fā)生變化。
圖4(a)-(c)分別表示,從信息可寫入紋1的光盤上讀出的表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF的振幅變化,與圖3(a)-(c)相對(duì)應(yīng)。從圖4(a)-(c)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,如果預(yù)置槽Lp和紋寬Gw不相同,已記錄信息的光盤,光點(diǎn)SP照在表面預(yù)置槽3某一時(shí)刻的信號(hào)SLP、SRF的電壓振幅也會(huì)發(fā)生變化。
變化的原因是基于紋1和表面預(yù)置槽3及光點(diǎn)SP的大小之間關(guān)系,使紋寬Gw和預(yù)置槽長Lp及紋深Gd的幾何關(guān)系與光點(diǎn)SP的大小相關(guān)連,并使之最合理。
首先說明最佳條件的結(jié)論。根據(jù)物鏡8的數(shù)值孔徑NA和光點(diǎn)SP的波長λ比(λ/NA),近似求出光點(diǎn)SP的大小(直徑r),直徑r和紋寬Gw的比(Gw/r)要同時(shí)達(dá)到滿足下式(1)、(2)的范圍,可以通過確定上述紋寬Gw,表面預(yù)置槽長Lp、紋深Gd(單位μm)、數(shù)值孔徑NA以及波長λ來對(duì)光盤進(jìn)行最佳設(shè)計(jì)。
Gw/(λ/NA)≥0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332-(-2.64Gd+0.1276)……(1)且Gw/(λ/NA)≤0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332+(-4.48Gd+0.2112)……(2)如果根據(jù)上述公式(1)(2)的條件設(shè)計(jì)光盤的話,那么適用于圖2(b)所示的一般記錄再生裝置時(shí),既使光點(diǎn)SP同時(shí)照射到紋1和表面預(yù)置槽3,也能從其反射光中高精度探測出表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF。
接著,參照?qǐng)D5~圖13,對(duì)上述公式(1)(2)進(jìn)行驗(yàn)證。圖5~圖8表示特性圖是使紋寬Gw、預(yù)置槽長Lp、紋深Gd、波長λ及數(shù)值孔徑NA發(fā)生各種變化,通過實(shí)驗(yàn)求出用多大的精度可以探測所得到的表面預(yù)置槽的探測信號(hào)SRF。
而且,在圖5~圖8中,判定以多大的精度探測表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF的標(biāo)準(zhǔn),橫軸作為紋寬與直徑r的比,即,Gw/(λ/NA)、縱軸為表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP的電壓振幅(LPP level)與RF信號(hào)SRF的補(bǔ)償電平(offset)的比(LPP level/offset),再進(jìn)一步使紋深Gd和預(yù)置槽長發(fā)生變化。
另外,補(bǔ)償電平表示用RF信號(hào)SRF的直流成分將圖3(a)~(c)所示的RF信號(hào)SRF的交流成分標(biāo)準(zhǔn)化后的參數(shù),電壓振幅(Lpp level)表示用RF信號(hào)SRF的直流成分把表面預(yù)置槽探測的信號(hào)SLP標(biāo)準(zhǔn)化后的參數(shù)。
更具體的來說,如果以SRF(AC)表示RF信號(hào)SRF的交流成分的話,那么補(bǔ)償電平可用公式(3),電壓振幅(LPP level)可用公式(4),兩者之比可用公式(5)來分別表示。
offest=(SRF(AC)/SRF)……………(3)LPP level=(SLP/SRF)……………(4)Lpp level/offset=(SLP/SRF(AC))………………(5)在圖4~圖8中,使紋深(Gd)在20nm~35nm的范圍按5nm單位進(jìn)行變化,更進(jìn)一步,圖4表示Lp/(λ/NA)=0.128,圖5表示Lp/(λ/NA)=0.2515,圖6表示Lp/(λ/NA)=0.3815,圖7表示Lp/(λ/NA)=0.505,圖8表示Lp/(λ/NA)=0.635時(shí)的測定結(jié)果。
從圖5~圖8可以看出,以多大精度才能探測表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF的(LPP level/offset)值大約在10時(shí),則為臨界,其計(jì)測的結(jié)果有很大變化,當(dāng)(LPP level/offset)為最大時(shí),確認(rèn)為最佳設(shè)計(jì)條件。
即,認(rèn)為LPP level/offset≈10是高精度探測表面預(yù)置槽探測信號(hào)SLP和RF信號(hào)SRF的變化點(diǎn)。因此,在2個(gè)變化點(diǎn)的范圍內(nèi)所得到的特性十分良好,所以采用此范圍的值,可得到良好的記錄媒體。
在這里,根據(jù)圖5~圖8上所表示的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,求出把紋的深度Gd作為參數(shù)時(shí)的Lp/(λ/NA)和Gw/(λ/NA)之間的關(guān)系,就是圖9~圖12所示的特性圖。
還有,在圖9~圖12中,用點(diǎn)劃線表示的曲線Gwo是用曲線表示圖5~圖8中的(LPP level/offset)為最大值時(shí)的情況。用雙點(diǎn)劃線表示的曲線G+和用實(shí)線表示的曲線G-是用曲線表示圖5~圖8中(LPPlevel/offset)約為10時(shí)的情況。更進(jìn)一步,用雙點(diǎn)劃線所表示的曲線G+,是表示在圖5~圖8中的右側(cè)的位置上大約為10時(shí)的情況;用實(shí)線所表示的曲線G-,則表示在圖5~圖8中的左側(cè)位置上約為10時(shí)的情況。
因此,在圖9~圖12中,認(rèn)為曲線G+和曲線G-之間的范圍Gw+和Gw-,為最佳設(shè)計(jì)的條件。還有,圖9~圖12中用點(diǎn)劃線表示的曲線Gwo,基本上不變化,可用公式(6)近似表示。Gw/(λ/NA)=0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332……(6)另外,從圖9~圖12可以看出,曲線G+和G-,基本上等于使曲線Gwo平行移動(dòng)。所以,設(shè)平行移動(dòng)量為各自的范圍Gw+和Gw-,如果用紋寬Gd和Gw+/(λ/NA)的關(guān)系,紋深Gd和Gw-/(λ/NA)的關(guān)系來表示圖9-圖12的結(jié)果,那么就,可以得到圖13所示的結(jié)果,圖13中,曲線Gw+和曲線Gw-之間的范圍,為最佳設(shè)計(jì)的條件。還有,圖13中的曲線Gw+可以用公式(7),曲線Gw-可以用公式(8)來表示。
Gw/(λ/NA)=-4.48Gd+0.2112…………(7)Gw/(λ/NA)=-2.64Gd+0.1276…………(8)而且,求出圖13的曲線Gw+和曲線Gw-之間的范圍的結(jié)果,可以得到上述公式(1)(2)。即,因?yàn)楣?6)為最佳設(shè)計(jì)條件,所以以此為基準(zhǔn)采用公式(7)和(8),可以作為最佳設(shè)計(jì)條件求出公式(1)(2)。
因此本實(shí)施形態(tài)的光盤,因?yàn)榭梢曰诠?1)(2)的條件確定紋1的紋寬Gw和表面預(yù)置槽3的預(yù)置槽長Lp、紋深Gd與光點(diǎn)SP的大小(直徑r)的形狀。所以可以把紋1和表面預(yù)置槽3所反射的反射光能設(shè)定為最佳光量。即,為了能以高精度探測紋1的信息與表面預(yù)置槽3的信息,常常把紋1與表面預(yù)置槽3所反射的反射光能設(shè)定為最佳光量。而且,因?yàn)槟芨呔鹊靥綔y紋1的信息與表面預(yù)置槽3的信息,所以能提供高密度的記錄·再生的光盤。
另外,基于公式(1)(2),通過對(duì)記錄再生媒體所配備的光源的射出光的波長和物鏡的數(shù)值孔徑進(jìn)行設(shè)定,可以運(yùn)用高密度的光盤制作能穩(wěn)定地記錄、再生的記錄再生媒體。
權(quán)利要求
1.包括有紋和在上述紋之間的表面形成的表面預(yù)置槽,用數(shù)值孔徑(NA)的物鏡聚光的波長(λ)的光,定位在上述紋上進(jìn)行掃描的記錄再生媒體;其特征在于相對(duì)于上述紋的掃描方向略呈正交方向上的紋寬(Gw)和在上述表面預(yù)置槽的掃描方向的預(yù)置槽長(Lp),可用下式表示Gw/(λ/NA)=0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332。
2.包括有紋和在上述紋之間的表面所形成的表面預(yù)置槽,用數(shù)值孔徑(NA)的物鏡聚光的波長(λ)的光,定位在上述紋上進(jìn)行掃描的記錄再生媒體;其特征在于相對(duì)于上述紋的掃描方向略呈正交方向上的紋寬(Gw)和在上述表面預(yù)置槽的掃描方向的預(yù)置槽長(Lp),上述紋和上述表面在厚度方向上的紋深(Gd;單位μm),可用下式表示Gw/(λ/NA)≥0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332-(-2.64Gd+0.1276)且,Gw/(λ/NA)≤0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332+(-4.48Gd+0.2112)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的記錄再生媒體,其特征在于利用上述光把信息記錄在上述紋上或者重新再記錄信息的光盤。
4.包括有可發(fā)射出一定波長(λ)光的光源,及在紋和上述紋之間的表面上形成表面預(yù)置槽的記錄再生媒體的紋上定位并備有會(huì)聚上述光源射出的光掃描的所定數(shù)值孔徑(NA)的物鏡的記錄再生裝置;其特征在于上述波長(λ)和數(shù)值孔徑(NA),與上述記錄再生媒體的紋寬(Gw)以及上述表面預(yù)置槽的預(yù)置槽長(Lp)相對(duì)應(yīng),可用下式表示Gw/(λ/NA)=0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332。
5.包括有可發(fā)射出一定波長(λ)光的光源,和在紋和上述紋之間的表面上形成表面預(yù)置槽的記錄再生媒體的紋上定位并備有會(huì)聚上述光源射出的光掃描的所定數(shù)值孔徑(NA)的物鏡的記錄再生裝置;其特征在于上述波長(λ)和數(shù)值孔徑(NA)與上述記錄再生媒體的紋寬(Gw),以及上述表面預(yù)置槽的預(yù)置槽長(Lp),以及上述紋和上述表面在厚度方向上的紋深(Gd;單位μm),可用下式表示Gw/(λ/NA)≥0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332-(-2.64Gd+0.1276)且Gw/(λ/NA)≤0.2093{Lp/(λ/NA)}2-0.4342Lp/(λ/NA)+0.332+(-4.48Gd+0.2112)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的記錄再生裝置,其特征在于利用上述光把信息記錄在上述紋上或者重新再記錄信息的光盤。
全文摘要
本發(fā)明提供一種記錄再生媒體及使用記錄再生媒體的記錄再生裝置,其為紋1的紋寬(Gw),以及表面預(yù)置槽3的線掃描方向θt的預(yù)置槽長(Lp),以及紋1和表面2的在厚度方向上的紋深(Gd;μm單位),利用物鏡8的數(shù)值孔徑(NA)和光點(diǎn)SP的波長(λ)之間的關(guān)系來表示,關(guān)系式如下:Gw/(λ/NA)≥0.2093{Lp/(λ/NA)}
文檔編號(hào)G11B27/24GK1252595SQ9912362
公開日2000年5月10日 申請(qǐng)日期1999年10月25日 優(yōu)先權(quán)日1998年10月23日
發(fā)明者村松英治, 加藤正浩, 佐藤充 申請(qǐng)人:日本先鋒公司