專利名稱：光盤的復制保護系統(tǒng)和方法以及復制受保護的光盤的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光盤的復制保護系統(tǒng)和方法，以及一種復制受保護的光盤。
自1981年以來，已經研制和生產出如CD(小型盤)這樣的光盤。由于光盤的存儲容量大，因此這種光盤的使用和產量都急劇地增長。光盤除了存儲容量大以外，還能夠實現以相對低的成本復制信息并同時保持信號質量基本上與被復制的盤相同。
由于制作成本低廉，所以現在幾乎對于任何人都可以容易地生產光盤。不幸地是，生產包含有價值軟件的光盤的非法復制品也變得更加容易。這導致了軟件業(yè)的巨大經濟損失。非法復制也對軟件的開發(fā)造成了不利的影響。即公司越來越不愿意在軟件的開發(fā)上投入大量的時間和資金。
已經提出了各種技術來防止非法復制光盤。這些技術包括在光盤上設置使用全息技術，在光盤上使用所記錄的添加到軟件上的序列號，和運行光盤上的該軟件時要求用戶輸入識別號碼或口令。然而，這些技術被證明是無效的，并且不利地是還增加了光盤的制作成本。
本發(fā)明涉及一種對一光盤進行復制保護的方法和設備，其中包括改動的第一信號的測試數據記錄在光盤上，從而當被再現時，這些改動的第一信號中的任意一些被當作第二信號進行再現。該第一和第二信號都表示在連續(xù)的一之間具有至少兩個零的數據。
本發(fā)明還涉及一種光盤鑒別和再現的方法和裝置。通過經重復的測試數據的再現而生成測試數據的統(tǒng)計形式對光盤進行鑒別。如果測試數據與參考數據匹配，該參考數據可能也記錄在光盤上，則該光盤被鑒定。一旦被鑒定，該光盤的再現是被允許的。如果測試數據形成再現數據的一部分，則該統(tǒng)計數據作為該再現數據被輸出。
本發(fā)明還涉及一種光盤，該光盤根據本發(fā)明是復制受保護的。
從下文的詳細描述，并結合僅作為示例用的附圖的詳細說明，本發(fā)明將變得更加容易理解，不同的附圖中的相對應部分使用同樣的標號，其中

圖1是8-14位轉換表；圖2是采用按照本發(fā)明的復制保護方法的主控系統(tǒng)的實施例；圖3是按照本發(fā)明的復制受保護的光盤；圖4A-4E是根據與本發(fā)明相應的對比試驗和各次試驗結果，從小型盤讀取的信號的分布；圖5示出從根據與本發(fā)明相應的對比試驗和各次試驗而制作的光盤再現的信號中的誤差的頻率；圖6是相關的信號對；圖7是按照本發(fā)明的光盤再現裝置；圖8是按照本發(fā)明的光盤鑒別方法和數據再現方法的流程圖；圖9A-9C是在執(zhí)行圖8的流程圖的方法過程中所產生的參考和再現數據的部分。
通過8-14變換，即EFM(八到十四變換)完成在小型盤上記錄信號。8-14變換將8位信息轉換為14位信息。傳統(tǒng)的EFM變換生成在小型盤上記錄的信號，其中“1”不連續(xù)地出現，在每個“1”之間有兩個至十個“0”。為了滿足這個信號規(guī)則，當連續(xù)寫入時，在分開的14位信號之間，通過8-14變換而轉換的14位信號可以有3位信號(稱作“合并位”)。
圖1示出一個8-14位變換表。如圖所示，小型盤上包含的信號可以根據位于連續(xù)“1”之間的“0”的數目而區(qū)別。因此，信號可以分成9類，從在每個“1”之間具有兩個“0”的最短信號(稱作“3T”)到每個“1”之間具有十個“0”的最長信號(稱作“11T”)。
相反地，記錄在小型盤上的該14位信號在再現時，通過讀取連續(xù)“1”之間的“0”的數目恢復為8位信號。當在兩個“1”之間(“信號長度”)的間隔中檢測到一個差異時，識別出一個誤差。
在上述的8-14變換中，由于與原始信號不同的信號可以被再現，所以如果信號長度改變了，則在確定再現信號的過程中，信號長度是一個重要的因素。經過研究，本發(fā)明人發(fā)現，如果記錄在小型盤上的信號的一部分在制作模子(用于制作光盤的母盤)的過程中發(fā)生了改動，則在再現期間可能或不會產生誤差。
通過對這些誤差進行經驗性地研究得到的結果，本發(fā)明人確定一些8位信號與14位信號有聯系，該14位信號與另一些8位信號的14位信號非常相似。例如，8位信號1011010轉換成14位信號10010000000100，而8位信號1111010轉換為14位信號10010000000010。在這兩個14位信號中，在第二個“1”和第三個“1”之間的“0”的數目分別是7和8，而這兩個14位信號的其它部分是相同的。當14位信號被寫入到小型盤上時，上述兩個信號具有一個8T對9T的差別。換言之，第一個14位信號等于3T8T，其類似3T9T的第二個14位信號。此外，在第三個“1”之后的信號長度不被認為是重要的，因為它是根據合并位而變化的。
從上述兩個信號的結構推導出下列特征。第一，假定信號A代表第一個8位/14位信號1011010/10010000000100，而信號B代表第二個8位/14位信號1111010/10010000000010。在信號A中，在14位信號中“1”之間“0”的數目是2和7，而在信號B中，在14位信號中“1”之間“0”的數目是2和8。包含在小型盤上的信號具有與連續(xù)“0”的數目相應的運行長度。換言之，當信號A從盤上再現時，從14位信號解調的該8位信號是“1011010”，當信號B從盤上再現時，從14位信號解調的該8位信號是“1111010”；根據在第二個“1”之后“0”的數目，即7個或8個“0”，確定該8位信號。通過使用上述特征，有可能使得從再現信號解調的8位信號變形，從而當8位信號被復制到另一個盤上時，可以確定該復制磁盤是否是一非法復制。
圖2示出采用根據本發(fā)明的復制保護方法的主控系統(tǒng)的實施例。在優(yōu)選實施例中，圖2中的該主控系統(tǒng)10是依據具有由DongCarson & Associates(DCA)生產的MIS V6模塊的第一光學技術的Uni3000主控系統(tǒng)。由DCA制作的該MIS V6模塊使得操作員能夠編輯不同運行長度的脈沖。即當控制小型盤和數字通用盤時，該操作員可以設置前沿和后沿的超前/延遲，也可以設置每個運行長度的脈沖幅度。該主控系統(tǒng)10記錄來自模子14上的源12的數字數據。該模子14然后被用于標準光盤形成過程以制作光盤。
如圖2所示，該主控系統(tǒng)10包括光束記錄器(LBR)控制器18，其根據經由用戶接口16所接收用戶輸入來控制LBR20的操作。該LBR 20包括至少一個在模子14上記錄數據的光學調制器22，和一個在記錄過程中使模子14旋轉的電機24。
在操作中，用戶經由用戶接口16指示LBR控制器18，以通過采用本發(fā)明的復制保護方法記錄從源12所接收到的數字數據。該LBR控制器18控制該LBR 20，從而按照本發(fā)明的復制保護方法記錄來自源12的數字數據。
圖3示出按照本發(fā)明的復制保護方法其上記錄有數據的光盤。如圖3所示，該主控系統(tǒng)10將數字數據記錄到模子14上，從而利用模子14制作的光盤50包括軟件52、參考數據54、改動數據56和其它數據58。其它數據58是存儲在光盤50的主存儲區(qū)域中的主數據。軟件52記錄在光盤的最內圈上。軟件52包括初始化或自動執(zhí)行程序，并且該初始化或自動執(zhí)行程序包括根據本發(fā)明的盤鑒別程序。按照本發(fā)明的盤鑒別方法將在以下部分詳細討論。
參考數據54包括預定大小例如5120個字節(jié)的數據，并且包括20個信號A和20個信號B。改動數據56除了信號A被修改外，同參考數據54相同。具體地，該主控系統(tǒng)10使得改動數據56的信號A中的8T凹坑的長度比標準8T凹坑的長度大于一個預定量。在再現期間，一些改動信號A將被再現為信號B。
對8T凹坑的變長進行經驗性的試驗。在對比試驗中，按照本發(fā)明所進行的各次試驗的比較將在下文中進行討論，從256個ASCII碼中準備好具有5120個字節(jié)的預定大小并包括20個信號A(1011010，10010000000100)和20和信號B(1111010，10010000000010)的數據。這個數據利用傳統(tǒng)方法記錄在模子上，并且制作了兩百個小型盤。
在按照本發(fā)明的第一次試驗中，該對比試驗的數據記錄在模子上；然而，包括在每個信號A中的8T信號被變長0.2T(46.3nSec.)，而其它信號3T、4T等經過沒有變形的處理。然后，利用這個模子制作二百張小型盤。在按照本發(fā)明的第二次試驗中，對比試驗的數據記錄在模子上；然而，包括在每個信號A中的8T信號被變形0.3T(69.4nSec.)增量，而其它信號3T、4T等依據對比實施例(embodiment)進行沒有變形的處理。然后利用該模子制作二百張小型盤。
在按照本發(fā)明的第三次試驗中，該對比試驗的數據記錄在模子上；然而，包括在每個信號A中的8T信號被變形0.4T(92.7nSec.)增量，而其它信號3T、4T等依據對比實施例進行沒有變形的處理。然后利用該模子制作二百張小型盤。在按照本發(fā)明的第四次試驗中，該對比試驗的數據記錄在模子上；然而，包括在每個信號A中的8T信號被變形0.5T(115.7nSec.)增量，而其它信號3T、4T等依據對比實施例進行沒有變形的處理。然后利用該模子制作二百張小型盤。
在每次試驗中制作的第一批五十張盤被放棄(通過注入成型制作的光盤，并且該第一批制作的盤包含缺陷)，然后從上述每一次試驗中任意選擇10張盤用于評測。
首先，測量每次試驗的光盤抖動量。該抖動被定義為信號長度與規(guī)定值的偏離，并且其標準的偏離量規(guī)定是35nSec.或更低。對于從每次試驗中制作的所有光盤，測量到27-28nSec.的抖動。因此，確定在這些盤中質量上不存在差別。
然而，對于信號記錄時變形的8T信號，在所有實施例的平均抖動值中有一個偏差。在對比試驗中該8T信號的測量值的平均值是1850nSec.，在第一次試驗中是1895nSec.，在第二次試驗中是1920nSec.，在第三次試驗中是1945nSec.，在第四次試驗中是1965nSec.。其結果是，可以理解在平均值中有偏差(difference)，但是沒有偏離(deviation)。
圖4A到圖4E表示從小型盤讀取的3T到11T中每一個信號的分布，該小型盤是在對比試驗和第一到第四次試驗中分別制作的。
參照圖4A到4E，由于合并位包括3T，并且使用多個11T來識別小型盤的前沿和后沿，所以3T和11T的呈現頻率高。
對于對比試驗，圖4A示出每個T的分布是一個常數，除了因上述原因在3T和11T處以外。
對于圖4B到圖4E示出的第一到第四次試驗(即本發(fā)明的實施例)，3T和11T的呈現頻率是高的，并且每個T的分布是常數。關于這一點，由于8T信號的信號在各次試驗中被修改了0.2T，0.3T，0.4T，0.5T，因此應可以理解8T信號的分布向9T偏置所述延時周期。因此，可以理解按照本發(fā)明的意圖來記錄所述信號。
對于按照對比試驗和第一到第四次試驗準備的小型盤，不論信號A是否被錯認為信號B都要被檢查。該誤差的頻率通過確定信號A的頻率被檢測到，而不管小型盤再現裝置的容差性，其中該信號A被改動了預定周期，該信號A被錯讀成信號B。
如上所述，由8-14變換所調制的信號記錄在小型盤上。但是，當再現盤上的數據時，所記錄的信號被讀出并經過8-14逆變換，從而恢復成原始的8位信號。如果再現的14位信號與表1中的8位信號不對應，則識別出一誤差，然后該數據被再次讀取或輸出一誤差數據。然而，按照本發(fā)明的實施例，當信號A的8T被錯讀成9T時，信號B被輸出而不生成錯誤，因為，在表1中有包含9T的信號B。因此，通過比較所輸出的信號A和信號B的次數對誤差頻率進行研究，在按照本發(fā)明的對比試驗和第一到第四次試驗中每一次的各小型盤上的數據中，每個信號包括20次。為了再現小型盤上的數據，使用了LG電子股份有限公司生產的2X，4X，8X，16X的CD-ROM驅動裝置。其結果如圖5中的表所式。
上述結果是通過測量每次試驗中所選擇的10張盤的誤差頻率并將平均誤差頻率舍去小數位而得到的。
如圖5所示，因為在對比試驗中，信號A和B記錄時沒有變形，所以信號A和B在這次試驗的所有10張盤中分別被再現20次。按照這些結果，該CD-ROM驅動裝置如圖所示進行正常的工作，并且該小型盤也進行正常的運行。
在第一次試驗對磁盤進行再現時，信號A被CD-ROM被一次或兩次錯誤地讀成了信號B。
在第二次試驗對磁盤進行再現時，該CD-ROM驅動裝置四次或五次地錯誤將信號A再現為信號B。
在第三次試驗對磁盤進行再現時，該CD-ROM驅動裝置七次或八次地錯誤將信號A再現為信號B。
在第四次試驗對磁盤進行再現時，該CD-ROM驅動裝置十一次或十二次地錯誤將信號A再現為信號B。
如上所示，不同于記錄在該小型盤上的原始信號的輸出信號被再現，并且這樣錯誤再現的頻率按照改動的凹坑的長度變化。此外，根據仔細觀察這些數據重復地再現，從記錄在每個小型盤上的20個信號A中被錯當成信號B的信號是任意地出現。
因此，會發(fā)現通過選擇合適的信號并在記錄期間將這些信號稍微改動一點可以導致信號而不是信號誤差的錯誤識別。
一般的復制者重復地進行光盤的復制。如上所述，復制一張按照本發(fā)明的復制保護方法制作的盤導致所復制的盤中有誤差。即復制者會將信號A中那些按照本發(fā)明被改動過的信號中的一些信號任意地記錄為信號B，而不是正確地將信號A復制到新盤上。
在另一個實施例中，代替或附加將表示8T信號的凹坑的凹坑長度增加，將9T信號的凹坑長度減少一預定量，從而依據凹坑長度中的減少將9T信號任意地誤作為8T信號。在進一步的另一選擇方案中，除了上述識別的信號A和信號B以外的其它相近的有關的信號對被用于代替或附加信號A和信號B的信號對。圖6示出了經過經驗性試驗所識別的這些其它信號對中的一些。
此外，信號被改動的量不限于上面給出的0.2T-0.5T。最好，改動的量根據光盤驅動器或形成光盤驅動器的部件而增加和/或減少。根據現有公開的內容，在本領域的技術人員的知識范圍內，完全能夠憑經驗確定對于給定光盤驅動器和光盤類型的最佳的改動量。
應注意的是，對如8T和9T這樣的信號進行改動(例如加長和/或縮短信號)和控制改動的量是通過控制前沿和/或后沿的超前/延遲來實現的。
此外，參考和測試數據54和56的長度不一定限定在5120字節(jié)。而是參考和測試數據54和56的長度可以大于或小于5120字節(jié)。然而，從以下討論應可以理解，隨著參考和測試數據54和56的量的增加，各種保護的級別也將增加。還應當理解的是參考和測試數據54和56不限于僅包括20個信號A和20個信號B。
作為進一步的其他選擇方案，除了將參考數據54施加到復制受保護的盤上外，還可以通過互聯網和磁盤等其它不同的形式提供該參考數據54。
下面將描述根據本發(fā)明的對光盤進行鑒別和對來自復制受保護的光盤的數據進行再現的系統(tǒng)和方法。僅為了討論的目的，假定光盤是按照上述討論的第二次試驗制作的小型盤。
圖7示出按照本發(fā)明的光盤再現設備。如圖中所示，該光盤再現設備包括再現來自光盤的數據的光盤再現裝置100，和連接到該光盤再現裝置100的中心處理單元(CPU)102。連接到該CPU102上的有一只讀存儲器(ROM)104，一隨機存取存儲器(RAM)106，一顯示器108，和一用戶接口110(例如鍵盤)。
根據經由用戶接口110所接收的用戶輸入，按照存儲在ROM104中編好的程序，該CPU102控制光盤再現裝置100。由光盤再現裝置100再現的數據由CPU102存儲在RAM106中。對光盤的鑒別和再現來自該光盤的數據將參照圖7-9C進行描述。
圖8示出按照本發(fā)明的該光盤鑒別方法和數據再現方法的流程圖。如圖所示，在步驟S10，CPU102控制光盤再現裝置100以再現軟件52。該CPU10根據再現的軟件52按照圖8流程圖的剩余部分進行操作。
接著，在步驟S20，根據軟件52給出的參考數據54的位置，該CPU102使得光盤再現裝置100再現參考數據54。如上所述，參考數據54包括20個信號A和20個信號B，參考數據54的部分如圖9A所示。CPU102將參考數據54存儲在RAM106中。
根據軟件52給出的測試數據56的位置，CPU102在步驟30使得光盤再現裝置100按照軟件52規(guī)定的次數再現測試數據56。例如，對于按照上述假設的小型盤，該小型盤包括有如所討論的按照第二次試驗所記錄的測試數據，測試數據56被再現20次。圖9B示出再現的測試數據56的部分。如圖所示，信號A中的一些被錯誤地再現為信號B。
在步驟40，CPU102確定在測試數據56的20個存儲的形式中在一特定位置處一特定信號出現的次數。例如，在一特定位置，該CPU102可以確定18個信號A和2個信號B。CPU102將在一特定位置處出現的一特定信號的次數與軟件52給定的閾值相比較。對于該假定的小型盤的例子，該閾值是16。如果該次數超過該閾值，CPU102將與其次數相應的信號存儲為實際數據。CPU102對每個位置重復該過程以生成測試數據的統(tǒng)計形式；下文稱作統(tǒng)計數據。圖9C示出與圖9A和9B中的參考數據54和測試數據56對應的統(tǒng)計數據的部分。因為，對于2XCD-ROM驅動器而言再現5120個字節(jié)的測試數據需要不到1秒的時間，因此統(tǒng)計時間的生成不會對再現操作產生影響。
此外，如按照對比試驗所證明的(見圖5)，通常測試數據中未改動的信號不會被錯誤地識別。
另外，除了確定在一特定位置處出現一特定信號的次數以外，CPU102還可以確定一特定信號在一特定位置處出現的頻率(例如百分比)，并將確定的頻率與軟件52給出的閾值頻率進行比較。對于假定的小型盤的例子，閾值頻率是80％。如果確定的頻率超過該閾值頻率，CPU102將與所確定頻率對應的信號存儲為實際數據。CPU102對每個位置重復這個過程以產生統(tǒng)計數據。
接著，在步驟S50，CPU102確定統(tǒng)計數據是否與參考數據相同。如果不同，在步驟S60，CPU102將光盤識別為非法復制，并在顯示器108上顯示一個指示該盤未被鑒定的消息，再現將被禁止，并禁止該盤的進一步的再現操作。然而，如果統(tǒng)計數據與參考數據相同，則在步驟S70，CPU102允許進行再現。
作為另一中選擇方案，該測試數據形成用于再現的其它數據58的一部分。在該另一種實施例中，在步驟S50中光盤被鑒定后，當適當的時候，統(tǒng)計數據被輸出為測試數據以進行光盤的正確的再現。
當按照本發(fā)明復制者復制一復制受保護的光盤時，在測試數據中的改動的信號A中的一些信號被復制為B信號。結果當執(zhí)行上述討論的鑒定操作時，在步驟S30中再現的每個測試數據的形式在這些位置處包括信號B。因此，統(tǒng)計數據在這些位置處也包括信號B，并且該統(tǒng)計數據與參考數據不匹配。從而，鑒定出該非法復制的盤，并禁止再現的操作。
盡管參照小型盤和8-14變換描述了本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以應用到其它光盤和變換技術中。例如，本發(fā)明可以應用到數字通用盤(DVD)和8-16位變換中。
在上文中對本發(fā)明進行了描述，很顯然還可以對本發(fā)明進行各種改變。這些改變都可以視作未脫落本發(fā)明的發(fā)明實質和范圍，并且所有這些改動都包括在本發(fā)明權利要求書所公開的范圍內。
權利要求
1.一種以復制受保護的形式在光盤上記錄數據的方法，包括對數據中的第一信號進行改動以生成改動的數據，從而當所述改動后的第一信號被再現時，所述改動后的第一信號中至少一個被錯誤地再現為第二信號；和在光盤上第一次記錄所述改動后的數據。
2.如權利要求1所述的方法，其中所述第一和第二信號代表在連續(xù)的一之間具有至少兩個零的數據。
3.如權利要求1所述的方法，其中所述改動步驟將所述第一信號的前沿和后沿中的至少一個提前和/或延遲。
4.如權利要求1所述的方法，其中所述改動步驟在時間域中將所述第一信號的一部分縮短或延長。
5.如權利要求4所述的方法，其中所述第一信號的所述部分代表具有0值的數據。
6.如權利要求1所述的方法，其中所述改動步驟對所述第一信號進行改動，從而當所述改動的第一信號再現時，所述改動后的第一信號中的至少任意一個被錯誤地再現為所述第二信號。
7.如權利要求1所述的方法，其中所述第一和第二信號表示在后續(xù)的一之間零的數目不相同的第一和第二代碼。
8.如權利要求1所述的方法，其中所述第一記錄步驟記錄每個改動的第一信號，從而形成所述改動的第一信號的一部分的凹坑比當記錄所述第一信號時形成的同樣的凹坑的長度長。
9.如權利要求1所述的方法，其中所述第一和第二信號的不同在于當記錄時，形成所述第二信號的一部分的凹坑比形成所述第一信號的相應部分的對應的凹坑長；和所述改動步驟對每個第一信號進行改動，從而當記錄時，形成所述改動的第一信號的所述相應部分的所述對應的凹坑是增長的。
10.如權利要求1所述的方法，其中所述第一記錄步驟記錄每個改動的第一信號，從而形成所述改動的第一信號的一部分的凹坑比當記錄所述第一信號時形成的同樣的凹坑的長度短。
11.如權利要求1所述的方法，其中所述第一和第二信號的不同在于當記錄時，形成所述第二信號的一部分的凹坑比形成所述第一信號的相應部分的對應的凹坑短；和所述改動步驟對每個第一信號進行改動，從而當記錄時，形成所述改動的第一信號的所述相應部分的所述對應的凹坑是變短的。
12.如權利要求1所述的方法，還包括步驟在所述光盤的第一部分第二次記錄所述數據；并且其中所述第一記錄步驟在所述光盤的第二部分上記錄所述改動的數據，并且所述第一和第二記錄步驟是可以以任意順序進行的。
13.如權利要求12所述的方法，還包括在所述光盤上第三次記錄表示所述數據位置的信息和所述改動后的數據，并且所述第一、第二和第三記錄步驟可以以任意順序進行。
14.一種以復制受保護的形式在光盤上記錄數據的方法，包括接收包括第一信號的數據；在光盤的第一區(qū)域上第一次記錄所述數據，從而形成所述第一信號中至少其中一個信號的一部分的凹坑變長。
15.如權利要求14所述的方法，其中所述第一信號的所述凹坑表示具有0值的數據。
16.如權利要求14所述的方法，其中所述變長凹坑的長度比形成第二信號的一部分的對應凹坑的長度短。
17.如權利要求16所述的方法，其中所述第一和第二信號表示在后續(xù)的一之間零的數目不同的第一和第二代碼。
18.一種以復制受保護的形式在光盤上記錄數據的方法，包括接收包括第一信號的數據；在光盤的第一區(qū)域上第一次記錄所述數據，從而形成所述第一信號中至少其中一個信號的一部分的凹坑變短。
19.如權利要求18所述的方法，其中所述第一信號的所述凹坑表示具有0值的數據。
20.如權利要求18所述的方法，其中所述變短凹坑的長度比形成第二信號的一部分的對應凹坑的長度長。
21.如權利要求20所述的方法，其中所述第一和第二信號表示在后續(xù)的一之間零的數目不同的第一和第二代碼。
22.一種對光盤進行鑒別的方法，包括以第一預定次數第一次再現來自所述光盤的第一區(qū)域的測試數據；根據以所述第一預定次數再現的所述測試數據，第一次生成代表所述測試數據的統(tǒng)計數據；和根據所述統(tǒng)計數據，第一次確定所述光盤是否是合法復制。
23.如權利要求22所述的方法，其中所述生成步驟包括對于所述測試數據中的每個位置，第二次確定在上述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的次數；和第二次生成作為對應于所述測試數據中每個位置的所述統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關次數超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
24.如權利要求22所述的方法，其中所述第一確定步驟包括將所述統(tǒng)計數據與參考數據進行比較；和根據所述比較步驟的輸出，第二次確定所述光盤是否為合法復制。
25.如權利要求24所述的方法，還包括從所述光盤的第二區(qū)域第二次再現所述參考數據。
26.如權利要求25所述的方法，還包括從所述光盤的第三區(qū)域第三次再現初始數據，所述初始數據指示所述測試數據和所述參考數據在所述光盤上的位置；并且其中根據所述再現的初始數據，所述第一和第二再現步驟分別再現所述測試數據和所述參考數據。
27.如權利要求22所述的方法，還包括從所述光盤的第二區(qū)域第二次再現參考數據；并且其中根據所述統(tǒng)計數據和所述參考數據，所述第一確定步驟確定所述光盤是否為一合法復制。
28.如權利要求22所述的方法，還包括當所述第一確定步驟確定所述光盤是非法復制時，禁止從所述光盤再現數據。
29.如權利要求22所述的方法，還包括當所述第一確定步驟確定所述光盤是非法復制時，輸出所述光盤是非法復制的警告。
30.如權利要求22所述的方法，其中所述生成步驟包括對于所述測試數據中的每個位置，第二次確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的頻率；和第二次生成作為對應于所述測試數據中每個位置的所述統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關頻率超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
31.一種從復制受保護的光盤再現數據的方法，包括以第一預定次數從所述光盤的第一區(qū)域再現測試數據；對于所述測試數據中的每個位置，確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的次數；和生成作為對應于所述測試數據中每個位置的統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關次數超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
32.一種從復制受保護的光盤再現數據的方法，包括以第一預定次數從所述光盤的第一區(qū)域再現測試數據；對于所述測試數據中的每個位置，確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的頻率；和生成作為對應于所述測試數據中每個位置的統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關頻率超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
33.一種以復制受保護的方式在光盤上記錄數據的設備，包括在光盤上記錄數據的光盤記錄裝置(20)；控制所述光盤記錄裝置(20)在所述光盤上記錄包括改動的第一信號的改動數據的控制器(18，16)，所述改動的第一信號已經被改動，從而當再現所述改動的第一信號時，所述改動的第一信號中的至少一個被錯誤地再現為第二信號。
34.如權利要求33所述的設備，其中所述第一和第二信號代表在連續(xù)的一之間具有至少兩個零的數據。
35.如權利要求33所述的設備，其中所述改動的第一信號通過所述第一信號的前沿和后沿中的至少一個被提前和/或延遲而被改動。
36.如權利要求33所述的設備，其中所述改動的第一信號通過在時間域中的所述第一信號的一部分縮短或延長而改動。
37.如權利要求36所述的設備，其中所述未改動的第一信號的所述部分代表具有0值的數據。
38.如權利要求33所述的設備，其中所述改動的第一信號被改動，從而當所述改動的第一信號被再現時，所述改動的第一信號中至少任意一個被錯誤地再現為所述第二信號。
39.如權利要求33所述的設備，其中未改動的第一信號和所述第二信號分別代表在后續(xù)的一之間零的數目不同的第一和第二代碼。
40.如權利要求33所述的設備，其中所述控制器(18，16)控制所述光盤記錄裝置(20)以記錄所述改動的第一信號，從而形成所述改動的第一信號的一部分的凹坑比當記錄一個未改動的第一信號時形成的同樣的凹坑的長度長。
41.如權利要求33所述的設備，其中未改動的第一信號和所述第二信號的不同在于當記錄時，形成所述第二信號的一部分的凹坑比形成所述未改動的第一信號的相應部分的對應的凹坑長；和所述控制器(18，16)控制所述光盤記錄裝置(20)以記錄所述改動的第一信號，從而當記錄時，形成所述改動的第一信號的所述相應部分的所述對應的凹坑變長。
42.如權利要求33所述的設備，其中所述控制器(18，16)控制所述光盤記錄裝置(20)以記錄所述改動的第一信號，從而形成所述改動的第一信號的一部分的凹坑比當記錄一個未改動的第一信號時形成的同樣的凹坑的長度短。
43.如權利要求33所述的設備，其中未改動的第一信號和所述第二信號的不同在于當記錄時，形成所述第二信號的一部分的凹坑比形成所述未改動的第一信號的相應部分的對應的凹坑短；和所述控制器(18，16)控制所述光盤記錄裝置(20)以記錄所述改動的第一信號，從而當記錄時，形成所述改動的第一信號的所述相應部分的所述對應的凹坑變短。
44.如權利要求33所述的設備，其中所述控制器(18，16)控制所述光盤記錄裝置(20)，對應于所述改動的數據，在所述光盤的第一和第二部分中記錄所述改動的數據和未改動的數據。
45.如權利要求44所述的設備，其中所述控制器(18，16)控制所述光盤記錄裝置(20)在所述光盤上記錄指示所述未改動的數據和所述改動的數據的位置的信息。
46.一種以復制受保護的方式在光盤上記錄數據的設備，包括在光盤上記錄數據的光盤記錄裝置(20)；控制所述光盤記錄裝置(20)在光盤的第一區(qū)域記錄數據的控制器(18，16)，從而形成所述第一信號中的至少一個的一部分的凹坑被變長。
47.如權利要求46所述的設備，其中所述第一信號的所述凹坑代表具有0值的數據。
48.如權利要求46所述的設備，其中所述變長了的凹坑的長度比形成第二信號的一部分的相應凹坑的長度短。
49.如權利要求48所述的設備，其中所述第一和第二信號代表在后續(xù)的一之間零的數目不同的第一和第二代碼。
50.一種以復制受保護的方式在光盤上記錄數據的設備，包括在光盤上記錄數據的光盤記錄裝置(20)；控制所述光盤記錄裝置(20)在光盤的第一區(qū)域記錄數據的控制器(18，16)，從而形成所述第一信號中的至少一個的一部分的凹坑被變短。
51.如權利要求50所述的設備，其中所述第一信號的所述凹坑代表具有0值的數據。
52.如權利要求50所述的設備，其中所述變短了的凹坑的長度比形成第二信號的一部分的相應凹坑的長度長。
53.如權利要求52所述的設備，其中所述第一和第二信號代表在后續(xù)的一之間零的數目不同的第一和第二代碼。
54.一種對光盤進行鑒別的設備，包括再現來自光盤的數據的光盤再現裝置(100)；控制所述光盤再現裝置(100)以第一預定次數再現來自所述光盤第一區(qū)域的測試數據的處理器(102，104，106)，所述處理器根據以所述第一預定次數再現的所述測試數據，第一次生成代表所述測試數據的統(tǒng)計數據，并且根據所述統(tǒng)計數據，第一次確定所述光盤是否為合法復制。
55.如權利要求54所述的設備，其中所述處理器(102，104，106)對于所述測試數據中的每個位置，確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的次數；并生成作為對應于所述測試數據中每個位置的所述統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關次數超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
56.如權利要求54所述的設備，其中所述處理器(102，104，106)將所述統(tǒng)計數據與參考數據進行比較，并根據所述比較的輸出，確定所述光盤是否為合法復制。
57.如權利要求56所述的設備，其中所述處理器(102，104，106)控制所述光盤再現裝置(100)再現來自所述光盤第二區(qū)域的所述參考數據。
58.如權利要求57所述的設備，其中所述處理器(102，104，106)控制所述光盤再現裝置(100)再現來自所述光盤的第三區(qū)域的初始數據，所述初始數據指示所述測試數據和所述參考數據在所述光盤上的位置，并根據所述再現的初始數據，控制所述光盤再現裝置(100)再現所述測試數據和所述參考數據。
59.如權利要求54所述的設備，其中所述處理器(102，104，106)控制所述光盤再現裝置(100)再現來自所述光盤的第二區(qū)域的參考數據，并根據所述統(tǒng)計數據和所述參考數據，確定所述光盤是否為合法復制。
60.如權利要求54所述的設備，其中當所述處理器確定所述光盤是非法復制時，所述處理器(102，104，106)禁止來自所述光盤的數據的再現。
61.如權利要求54所述的設備，還包括響應一個控制信號而發(fā)出一個警報的警報裝置(108)；其中當所述處理器確定所述光盤是非法復制時，所述處理器(102，104，106)向所述警報裝置(108)輸出一控制信號。
62.如權利要求54所述的設備，其中所述處理器(102，104，106)對于所述測試數據中的每個位置，確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的頻率；并生成作為對應于所述測試數據中每個位置的所述統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關頻率超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
63.一種再現來自復制受保護的光盤的數據的設備，包括再現來自光盤的數據的光盤再現裝置(100)；控制所述光盤再現裝置(100)以第一預定次數再現來自所述光盤第一區(qū)域的測試數據的處理器(102，104，106)，對于所述測試數據中的每個位置，確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的次數；并生成作為對應于所述測試數據中每個位置的統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關次數超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
64.一種再現來自復制受保護的光盤的數據的設備，包括再現來自光盤的數據的光盤再現裝置(100)；控制所述光盤再現裝置(100)以第一預定次數再現來自所述光盤第一區(qū)域的測試數據的處理器(102，104，106)，對于所述測試數據中的每個位置，確定在所述第一預定次數期間出現在所述位置處的每個信號再現的頻率；并生成作為對應于所述測試數據中每個位置的統(tǒng)計數據的在所述位置出現的具有相關頻率超過一個閾值的所述信號中的其中一個信號。
65.一種其中存儲有數據結構的復制受保護的記錄介質，所述數據結構包括存儲測試數據的測試區(qū)域(56)，所述測試數據包括改動的第一信號，所述改動的第一信號已經被改動，從而當所述改動的第一信號被再現時，所述改動的第一信號中的至少一個被錯誤地再現為第二信號。
66.如權利要求65所述的復制受保護的記錄介質，其中所述第一和第二信號代表在連續(xù)的一之間具有至少兩個零的數據。
67.如權利要求65所述的復制受保護的記錄介質，該包括存儲參考數據的參考區(qū)域(54)，除了所述參考數據包括未改動的第一信號以外，所述參考數據和所述測試數據是相同的。
68.如權利要求65所述的復制受保護的記錄介質，其中對于每個改動的第一信號，所述測試區(qū)域包括一個凹坑，該凹坑代表所述改動的第一信號的一部分，當記錄一未改動的第一信號時，其長度比形成同樣凹坑的長度長。
69.如權利要求65所述的復制受保護的記錄介質，其中對于每個改動的第一信號，所述測試區(qū)域(56)包括一個凹坑，該凹坑代表所述改動的第一信號的一部分，當記錄一未改動的第一信號時，其長度比形成同樣凹坑的長度短。
全文摘要
一種用于對光盤上的包括改動的第一信號的光盤記錄測試數據進行復制保護的方法和設備,當再現時,這些改動的第一信號中的任意多個信號被再現為第二信號。第一和第二信號都代表在連續(xù)的一之間具有至少兩個零的數據。用于光盤鑒別和再現的方法和設備通過重復再現測試數據生成測試數據的統(tǒng)計形式。如果測試數據與有可能也記錄在光盤上的參考數據匹配,則該光盤被鑒定。一旦光盤被鑒定,則允許光盤的再現。如果測試數據形成再現數據的一部分,則將統(tǒng)計數據作為再現數據輸出。
文檔編號G11B7/004GK1264486SQ98807275
公開日2000年8月23日 申請日期1998年7月14日 優(yōu)先權日1997年7月14日
發(fā)明者呂運盛 申請人:Lg電子株式會社