專利名稱：光盤驅(qū)動(dòng)裝置及光盤驅(qū)動(dòng)控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤驅(qū)動(dòng)裝置及控制方法。具體來說，本發(fā)明涉及一種伺服控制方法及一種用于實(shí)現(xiàn)該控制方法的光盤驅(qū)動(dòng)裝置。
傳統(tǒng)的光盤驅(qū)動(dòng)裝置通常采用一種伺服信號(hào)處理器電路(以下稱為SSP)來作為執(zhí)行伺服操作的硬件。從光學(xué)單元輸出的誤差信號(hào)被提供給SSP以便與一目標(biāo)值進(jìn)行比較，通過糾正誤差信號(hào)與目標(biāo)值之間的差就可以執(zhí)行伺服操作。圖8A顯示了一種采用硬件執(zhí)行這種伺服操作的光盤驅(qū)動(dòng)裝置實(shí)例的結(jié)構(gòu)框圖。
參考圖8A，根據(jù)由光學(xué)單元2從光盤1讀出的重放信號(hào)，RF電路4將產(chǎn)生一個(gè)伺服信號(hào)并且SSP6將通過驅(qū)動(dòng)電路3來執(zhí)行一個(gè)伺服操作，如聚焦伺服，跟蹤伺服，拖動(dòng)伺服和轉(zhuǎn)動(dòng)伺服。微電腦5可執(zhí)行系統(tǒng)控制，如伺服控制序列，光盤信息管理，取出鍵入信息，顯示控制及其它系統(tǒng)控制。
用于伺服操作的SSP 6由以并行處理方法來執(zhí)行伺服操作的硬件構(gòu)成。在這種情況下，一種用于確定控制量的過濾計(jì)算將通過一個(gè)fs過程與1/n個(gè)fs過程的組合而被執(zhí)行，其中的控制量用于對(duì)上述目標(biāo)值和誤差信號(hào)之間的差進(jìn)行糾正。fs過程被執(zhí)行用于各采樣頻率(以下稱fs)。而1/n個(gè)fs過程則被執(zhí)行為采樣頻率的1/n次。也就是說，聚焦伺服和跟蹤伺服需要得到高速控制，而轉(zhuǎn)動(dòng)伺服則不需要象聚焦伺服和跟蹤伺服那樣的高速控制。因此，如圖9所示，計(jì)算量將根據(jù)采樣周期而作以下變換僅有一個(gè)fs過程，或一個(gè)fs過程再加上1/4個(gè)fs過程，或一個(gè)fs過程加上1/4個(gè)fs過程和1/8個(gè)fs過程，等等。
應(yīng)該注意，為了通過硬件來執(zhí)行伺服操作，光盤驅(qū)動(dòng)裝置還應(yīng)與SSP 6和微電腦5組成一個(gè)整體架構(gòu)。還有，在這種情況下，對(duì)伺服控制的系統(tǒng)控制是由微電腦部分來執(zhí)行，而伺服操作則由硬件來執(zhí)行。
在圖8A和圖8B所示的光盤驅(qū)動(dòng)裝置中，SSP 6是以并行處理方法來執(zhí)行伺服操作的硬件，但人們還是希望利用微電腦上的軟件來執(zhí)行伺服操作。如果伺服操作可由軟件來執(zhí)行，則修改過濾形式(如用于一般目的的計(jì)算命令和計(jì)算量)將變得更為容易。例如，CD曾經(jīng)是一種得到廣泛使用的主要光盤類型，但是最近以來，有許多新型光盤已被開發(fā)并投入使用，如PD(個(gè)人光盤，可擦寫CD)和DVD(數(shù)字多用光盤)等等。通過用軟件來控制伺服操作，就可以使一個(gè)單伺服LSI能用于多種媒質(zhì)類型。
但是如果將由傳統(tǒng)硬件執(zhí)行的伺服操作簡單地轉(zhuǎn)換為微電腦的軟件，就需要使用速度相當(dāng)快的微電腦。這是因?yàn)樵趥鹘y(tǒng)硬件中被并行執(zhí)行的操作在軟件中需要被串行執(zhí)行，因而一次就需要很長的計(jì)算時(shí)間。另外，如圖9所示，下行采樣過程被集中在特定的采樣定時(shí)上，并且用于計(jì)算的時(shí)間將根據(jù)采樣定時(shí)而產(chǎn)生很大的變化。
因此，本發(fā)明的一個(gè)目的就是提供一種伺服控制方法以及一種用于實(shí)現(xiàn)這種伺服控制方法的光盤驅(qū)動(dòng)裝置。在這種方法中，每個(gè)采樣所調(diào)用的伺服操作被均分，從而減少了最大計(jì)算量。此舉使得即使在利用具有相對(duì)較低速度的微電腦的情況下，也可以獲得足夠速度的伺服控制和系統(tǒng)控制。
本發(fā)明提供的這種光盤驅(qū)動(dòng)裝置可以利用微電腦并通過軟件來執(zhí)行伺服操作和系統(tǒng)控制。另外，本發(fā)明所提供的光盤驅(qū)動(dòng)控制方法，其特征在于它的中斷產(chǎn)生于用來執(zhí)行數(shù)字伺服操作的伺服操作采樣周期之中，而其它時(shí)間則用于執(zhí)行系統(tǒng)控制。
在根據(jù)本發(fā)明所述的光盤驅(qū)動(dòng)伺服過程中，下行采樣過程沒有被集中在一個(gè)特定的采樣定時(shí)上。也就是說，下行采樣操作根據(jù)采樣頻率和功能(例如聚焦和跟蹤)而加以分類。所分類的下行采樣過程的首地址保存在一個(gè)伺服表中，對(duì)此表的說明將參考圖5而在以下進(jìn)行。利用這個(gè)伺服表以及一個(gè)計(jì)數(shù)值(根據(jù)每次采樣而遞增)，就可在各采樣定時(shí)從此伺服表內(nèi)選出待執(zhí)行的采樣操作(圖6中步驟22)。


圖1A是一個(gè)框圖，它顯示了根據(jù)本發(fā)明第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述光盤驅(qū)動(dòng)裝置的結(jié)構(gòu)；圖1B的流程圖則顯示了根據(jù)本發(fā)明第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述的伺服過程。
圖2A顯示了第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例中各采樣定時(shí)的伺服操作過程分布；圖2B顯示了由微電腦軟件簡單表示的傳統(tǒng)硬件的多個(gè)伺服過程。
圖3顯示第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例中各采樣定時(shí)所需的計(jì)算量。
圖4顯示了本發(fā)明第二個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述伺服表的產(chǎn)生。
圖5為伺服表的內(nèi)容。
圖6是一個(gè)流程圖，它顯示了根據(jù)第二個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述的伺服操作過程。
圖7顯示了第二個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述伺服操作過程中各采樣周期上所需的計(jì)算量。
圖8A是一個(gè)框圖，它顯示了伺服操作由硬件執(zhí)行的傳統(tǒng)光盤驅(qū)動(dòng)裝置的結(jié)構(gòu)；圖8B則顯示了傳統(tǒng)光盤驅(qū)動(dòng)裝置的一種變換。
圖9顯示了當(dāng)用微電腦軟件代替?zhèn)鹘y(tǒng)硬件來執(zhí)行伺服操作時(shí)，各采樣周期上所需的計(jì)算量。
以下將參考附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)例進(jìn)行說明。首先，將對(duì)第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述下行采樣過程的分布進(jìn)行說明。圖1A是一個(gè)框圖，它顯示了第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，圖1B的流程圖則顯示了第一個(gè)優(yōu)選實(shí)例中的伺服操作流程。參考圖1，在第一個(gè)實(shí)例中，微電腦5中的計(jì)時(shí)器51用于在一采樣定時(shí)上產(chǎn)生一個(gè)中斷，從而使一個(gè)伺服操作在此中斷操作內(nèi)被執(zhí)行。也就是說，如圖1B所示，下行采樣過程將根據(jù)采樣頻率按照一個(gè)采樣定時(shí)等執(zhí)行一個(gè)下行采樣過程的方式而被分類。因此，各采樣定時(shí)的計(jì)算量被均分，從而減少了微電腦的負(fù)荷。
圖2顯示了根據(jù)第一個(gè)實(shí)例所述下行采樣計(jì)算量的分布(圖2A)與用微電腦軟件簡單取代由傳統(tǒng)硬件執(zhí)行的伺服操作的情況(圖2B)之間的比較。從圖2中可以看出，在本實(shí)例中，下行采樣過程被均等地分配給各采樣周期，從而均分了各采樣定時(shí)所需的計(jì)算量。與之相反，在用微電腦軟件簡單取代硬件的情況下，多個(gè)下行采樣過程被集中在一個(gè)特定的采樣定時(shí)，因而大大增加了計(jì)算量。
再參考圖1B，根據(jù)本實(shí)例所述，被各fs遞增(步驟10)的計(jì)數(shù)值用于通過參照較小的有效位(步驟11)來檢查是否執(zhí)行一個(gè)下行采樣過程。例如，當(dāng)檢查是否要執(zhí)行一個(gè)1/4fs下行采樣過程時(shí)，即，每四個(gè)采樣定時(shí)執(zhí)行一次采樣過程，則參考最小的二個(gè)有效位。在1/512fs過程的情況下，則參考最小的九個(gè)有效位(其它情況以此類推)。
為了防止在一個(gè)采樣定時(shí)出現(xiàn)超過一次的下行采樣過程，在上述參考值上將增加一個(gè)適當(dāng)?shù)募m正值(一個(gè)負(fù)整數(shù))。如果此參考值為0，則下行采樣過程就被執(zhí)行。否則，控制將轉(zhuǎn)向檢查是否要執(zhí)行下一個(gè)下行采樣過程(步驟12)。例如，對(duì)1/4fs過程來說，參考最小的二個(gè)有效位。而對(duì)1/8fs過程，則參考最小的三個(gè)有效位。在這種情況下，如果計(jì)數(shù)值為8(例如)，則1/4fs過程和1/8fs過程都被執(zhí)行，因?yàn)樽钚〉?個(gè)有效位都是0。為了防止這種重疊，在計(jì)數(shù)值上增加一個(gè)各下行采樣過程所固有的校正值。如果0是1/4fs過程的校正值，而-1是1/8fs過程的校正值，則當(dāng)最小的2個(gè)有效位為0時(shí)將執(zhí)行1/4fs過程，而當(dāng)最小的三個(gè)有效位為1時(shí)就執(zhí)行1/8fs過程。這樣，就防止了多個(gè)過程的重疊。
在步驟S14及其后的步驟中，將執(zhí)行與1/4fs過程和1/8fs過程中相同的下行采樣過程檢查。即，當(dāng)檢查1/2nfs的下行采樣過程時(shí)，計(jì)數(shù)值將用于參考最小的n個(gè)有效位，而且在此值上還要增加一個(gè)相應(yīng)的校正值(負(fù)整數(shù))。如果結(jié)果值為0，則執(zhí)行下行采樣過程。反之，控制將轉(zhuǎn)向檢查下一個(gè)下行采樣過程(1/2n+1fs過程)。
圖3顯示了本實(shí)例中各采樣周期處的計(jì)算量。從圖3中可以清楚地看出，計(jì)算量是隨采樣定時(shí)而變化的。這是因?yàn)闄z查是按照采樣頻率下降的順序而進(jìn)行的。隨著采樣頻率的減小，檢查的次數(shù)將增加。也就是說，一個(gè)分支92(即，位于各下行采樣過程首部并作為參考的一個(gè)采樣計(jì)數(shù)值，它用于確定是否執(zhí)行該下行采樣過程)將隨著采樣頻率的減小而成倍地增加。但是，如果將圖3與圖9進(jìn)行比較，就可清楚地看到，本實(shí)例中的計(jì)算量更加分散(集中程度較小)。
接下來，將對(duì)本發(fā)明的第二個(gè)優(yōu)選實(shí)例進(jìn)行說明。在本實(shí)例中，下行采樣過程通過一個(gè)伺服表來分配。同樣，在本實(shí)例中，微電腦5中的計(jì)時(shí)器51(如圖1所示)也用于在各采樣定時(shí)中產(chǎn)生一個(gè)中斷，從而使一個(gè)伺服過程在此中斷處理內(nèi)被執(zhí)行。圖4顯示了一個(gè)列表數(shù)據(jù)的產(chǎn)生過程。參考圖4，各下行采樣過程按照采樣頻率下降的順序而排列(步驟30)。
應(yīng)該注意，在一些其余的定時(shí)并沒有執(zhí)行下行采樣過程。這是因?yàn)橄滦胁蓸又芷谝话銥?/2nfs，所以并沒有下行采樣過程被執(zhí)行于如1/2n+1fs這樣的定時(shí)中。要想利用這些采樣定時(shí)，則應(yīng)按照功能(如聚焦和跟蹤)對(duì)下行采樣過程進(jìn)行進(jìn)一步的分類，從而使這些功能之一能被執(zhí)行于這個(gè)剩余周期中。這種根據(jù)功能的分類被分為兩組(步驟31)。如果將此分類執(zhí)行于三個(gè)組中，則當(dāng)某頻率的下行采樣過程與較低頻率的下行采樣同時(shí)進(jìn)行時(shí)就需要增加一個(gè)定時(shí)。例如，當(dāng)執(zhí)行1/4fs，1/8fs和1/16fs下行采樣過程時(shí)，如果1/4fs過程被分為三組，如下表1中的左側(cè)列所示，則當(dāng)1/8fs過程或1/16fs過程與1/4fs過程重疊在一起時(shí)就需要增加一個(gè)定時(shí)。也就是說，1/8fs過程或1/16fs過程此時(shí)不能被分為兩個(gè)或兩個(gè)以上的組。即使它們被分為兩個(gè)或更多的組，則頻率低于1/16fs的下行采樣過程將完全不能分組。
(表1)01/4fs(1) 1/4fs(1)11/4fs(2) 1/4fs(2)21/4fs(3) 1/8fs(1)31/8fs 1/8fs(2)41/4fs(1) 1/4fs(1)51/4fs(2) 1/4fs(2)61/4fs(3) 1/16fs(1)71/16fs 1/16fs(2)81/4fs(1) 1/4fs(1)91/4fs(2) 1/4fs(2)10 1/4fs(3) 1/8fs(1)11 1/8fs(2)12 1/4fs(1) 1/4fs(1)13 1/4fs(2) 1/4fs(2)14 1/4fs(3)15更具體來說，1/4fs過程將在執(zhí)行-Nope-Nope-Nope之間周期性也重復(fù)。如果1/4fs過程被分為兩組，即，1/4fs(1)和1/4fs(2)，則伺服表將在四個(gè)連續(xù)采樣定時(shí)中按1/4fs(1)、1/4fs(2)、其它過程、其它過程的順序重復(fù)。如果1/8fs過程也被分為兩組，則伺服表將在八個(gè)連續(xù)采樣定時(shí)中按1/4fs(1)、1/4fs(2)、1/8fs(1)、1/8fs(2)、1/4fs(1)、1/4fs(2)、其它過程、其它過程的順序重復(fù)。因此，伺服表的內(nèi)容具有周期性(步驟S32)，而剩余的其它時(shí)間將不再分配給任何過程。它們是用于檢查是否執(zhí)行較低采樣頻率的下行采樣過程的(步驟S33和S34)。由此產(chǎn)生的伺服表如圖5所示。
圖6的流程圖顯示了本發(fā)明第二個(gè)優(yōu)選實(shí)例。在第二個(gè)實(shí)例中，包含在伺服表中的下行采樣過程的首地址被作為一個(gè)基址與一偏移地址一起使用，即，計(jì)數(shù)值被各次采樣遞增(步驟10)?；放c偏移地址相加就可以確定含有待執(zhí)行下行采樣過程的首地址的一個(gè)物理地址(步驟S21)。然后，在已確定的物理地址處將執(zhí)行一個(gè)無條件的分支以用于完成下行采樣過程。
圖7顯示了第二個(gè)實(shí)例中各采樣周期的計(jì)算量。與圖3中所示的分支定時(shí)隨采樣定時(shí)而變化相比，圖7中顯示的采用伺服表的分支可以用幾乎相等的計(jì)算量來完成而與采樣定時(shí)無關(guān)。另外，通過將多個(gè)下行采樣過程分散到各個(gè)采樣定時(shí)中，就可以均分每次采樣所需的計(jì)算量，并且還可以減少未分配給任何下行采樣過程的采樣定時(shí)的數(shù)目。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的內(nèi)容，下行采樣過程被分散到各個(gè)采樣定時(shí)中，從而均分了各個(gè)采樣定時(shí)的計(jì)算量并且也減小了一個(gè)定時(shí)的最大計(jì)算量。因此，本發(fā)明就能夠利用微電腦軟件來執(zhí)行一個(gè)伺服操作，同時(shí)還防止了每次采樣所需計(jì)算時(shí)間的增長。此舉保證了即使在所用的微電腦速度不快的情況下，也可獲得實(shí)用的操作速度。
本發(fā)明也可在其它具體形式中得到體現(xiàn)而不脫離其精神或主要特征。因此，本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)例在各方面都應(yīng)被認(rèn)為是起說明性而不是限制性的作用，本發(fā)明的范圍由附帶權(quán)利要求而不是上述說明而定，所有從權(quán)利要求的含義及等價(jià)范圍中得出的變換都包含在本發(fā)明的范圍之中。
在日本專利申請(qǐng)No.09-307211(存檔于1997年11月10日)中所揭示的全部內(nèi)容-包括說明書、權(quán)利要求、附圖和摘要，在本發(fā)明中被整體作為參考資料。
權(quán)利要求
1.一種光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于包括一光學(xué)單元，它用于讀出記錄在光盤上由伺服信號(hào)指定的位置上的數(shù)據(jù)；一信號(hào)處理器，它用于處理由上述光學(xué)單元讀出的上述數(shù)據(jù)；一含有軟件的微電腦，它可根據(jù)上述信號(hào)處理器的輸出，執(zhí)行一個(gè)用于伺服操作和系統(tǒng)控制的計(jì)算；一伺服驅(qū)動(dòng)器，它可根據(jù)上述微電腦的輸出信號(hào)并通過上述光學(xué)單元來執(zhí)行一個(gè)伺服操作。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于上述微電腦能夠(i)在一伺服操作采樣周期上產(chǎn)生一個(gè)中斷；而且(ii)在上述中斷中完成一次數(shù)字伺服操作，并在除伺服操作以外的一段時(shí)間內(nèi)完成一次包括光盤信息管理在內(nèi)的系統(tǒng)控制操作。
3.如權(quán)利要求2所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于不是在每一采樣周期(fs)上而是在每一采樣周期的1/n(1/nfs)上的待執(zhí)行下行采樣過程被按照這樣一種方式分布，即，在各中斷操作內(nèi)只執(zhí)行一個(gè)下行采樣過程。
4.如權(quán)利要求3所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于上述下行采樣過程是按照采樣頻率下降的順序而分配給各采樣定時(shí)的。
5.如權(quán)利要求3所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于上述微電腦包括一個(gè)計(jì)數(shù)器，其計(jì)數(shù)值在每個(gè)采樣定時(shí)上都遞增；而且上述微電腦可根據(jù)一個(gè)下行采樣過程的采樣頻率在上述計(jì)數(shù)值上再加一個(gè)預(yù)定校正值，以用于確定是否要在此采樣定時(shí)上執(zhí)行上述下行采樣過程。
6.如權(quán)利要求3所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于具有較高采樣頻率的下行采樣過程將根據(jù)伺服控制目標(biāo)而被進(jìn)一步分為兩組。
7.一種用于控制光盤驅(qū)動(dòng)裝置的光盤驅(qū)動(dòng)控制方法，該光盤驅(qū)動(dòng)裝置包括一用于讀出記錄在光盤上由伺服信號(hào)指定的位置上的數(shù)據(jù)的光學(xué)單元；一可執(zhí)行用于系統(tǒng)控制的計(jì)算的微電腦以及一用于通過上述光學(xué)單元來執(zhí)行伺服操作的伺服驅(qū)動(dòng)器；上述方法的特征在于包括以下步驟在一個(gè)伺服操作采樣周期上產(chǎn)生一個(gè)中斷；并且在上述中斷中執(zhí)行一次用于數(shù)字伺服操作的計(jì)算，并在除上述中斷操作以外的一段時(shí)間內(nèi)執(zhí)行一次用于包括光盤信息管理在內(nèi)的系統(tǒng)控制操作的計(jì)算。
8.如權(quán)利要求7所述的光盤驅(qū)動(dòng)控制方法，其特征在于不是在每一采樣周期(fs)上而是在每一采樣周期的1/n(1/n fs)上的待執(zhí)行下行采樣過程被按照這樣一種方式分布，即，在各中斷操作內(nèi)只執(zhí)行一個(gè)下行采樣過程。
9.如權(quán)利要求8所述的光盤驅(qū)動(dòng)控制方法，其特征在于上述下行采樣過程是按照采樣頻率下降的順序而分配給各采樣定時(shí)的。
10.如權(quán)利要求9所述的光盤驅(qū)動(dòng)控制方法，其特征在于上述執(zhí)行計(jì)算的步驟包括以下步驟在每一采樣定時(shí)上遞增1；并且根據(jù)下行采樣過程的采樣頻率在計(jì)數(shù)值上加一個(gè)預(yù)定校正值，以用于確定是否在此采樣定時(shí)上執(zhí)行上述下行采樣過程。
11.如權(quán)利要求8所述的光盤驅(qū)動(dòng)控制方法，其特征在于具有較高采樣頻率的下行采樣過程將根據(jù)伺服控制目標(biāo)而被進(jìn)一步分為兩組。
12.一種光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于包括一光學(xué)單元，它用于讀出記錄在光盤上由伺服信號(hào)指定的位置上的數(shù)據(jù)；一信號(hào)處理器，它用于處理由上述光學(xué)單元讀出的上述數(shù)據(jù)；一含有軟件的微電腦，它可根據(jù)上述信號(hào)處理器的輸出，執(zhí)行一個(gè)用于伺服操作和系統(tǒng)控制的計(jì)算；一伺服驅(qū)動(dòng)器，它可根據(jù)上述微電腦的輸出信號(hào)并通過上述光學(xué)單元來執(zhí)行一個(gè)伺服操作；其中，上述微電腦包括一個(gè)伺服表，該表含有全部待執(zhí)行的下行采樣過程的起始地址，這些待執(zhí)行的下行采樣過程并不在每一采樣周期(fs)上而是在每一采樣周期的1/n(1/nfs)上，它們被按照這樣一種方式分布，即，在各中斷操作內(nèi)只執(zhí)行一個(gè)下行采樣過程。上述微電腦的特征在于(i)在一伺服操作采樣周期上產(chǎn)生一個(gè)中斷；(ii)根據(jù)上述伺服表確定待執(zhí)行的下行采樣過程；(iii)在上述中斷中執(zhí)行上述下行采樣過程
13.如權(quán)利要求12所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于上述伺服表是按照以下方式生成的，即，未分配給任何下行采樣過程的采樣定時(shí)被用來檢查是否要執(zhí)行具有較低采樣頻率的下行采樣過程。
14.如權(quán)利要求13所述的光盤驅(qū)動(dòng)裝置，其特征在于上述裝置還包括一伺服操作程序，該程序利用包含在上述伺服表中的下行采樣過程的起始地址作為一個(gè)基址，并將此基址和一計(jì)數(shù)值一起作為一個(gè)偏移地址，用此偏移地址就可以確定一個(gè)含有上述起始地址的物理地址并執(zhí)行上述下行采樣過程。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種光盤驅(qū)動(dòng)裝置,它包括:一光學(xué)單元(2),用于讀出記錄在光盤(1)上由伺服信號(hào)指定的位置上的數(shù)據(jù);一信號(hào)處理器(4),用于對(duì)由上述光學(xué)單元(2)讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算和放大;一含有軟件的微電腦(5),根據(jù)上述信號(hào)處理器(4)的輸出,執(zhí)行一個(gè)用于伺服操作和系統(tǒng)控制的計(jì)算;以及一伺服驅(qū)動(dòng)器(3),根據(jù)上述微電腦的輸出信號(hào)并通過上述光學(xué)單元來執(zhí)行一個(gè)伺服操作。
文檔編號(hào)G11B21/10GK1217535SQ9812471
公開日1999年5月26日 申請(qǐng)日期1998年11月10日 優(yōu)先權(quán)日1997年11月10日
發(fā)明者野村明久, 田中博幸, 下根俊昭 申請(qǐng)人:日本電氣株式會(huì)社