專(zhuān)利名稱(chēng)：物鏡裝置以及采用該物鏡裝置的光學(xué)頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可用于厚度不同的多種光盤(pán)的物鏡裝置以及采用該物鏡裝置的光學(xué)頭。
一般地，CD唱機(jī)(CDP)、數(shù)字視頻光盤(pán)機(jī)(DVDP)等的光學(xué)頭一般用于以非接觸方式在記錄介質(zhì)上記錄或還原信息。
可以高密度記錄和還原的DVDP中使用的光學(xué)頭最好與CD或CD-ROM之類(lèi)記錄介質(zhì)兼容。
但是，由于光盤(pán)的傾斜容差和物鏡的數(shù)值孔徑，DVD的標(biāo)準(zhǔn)厚度與CD或CD-ROM不同。也即，由于DVD的厚度與CD不同，因此在把DVD光學(xué)頭用于CD時(shí)會(huì)出現(xiàn)球差，從而記錄信息信號(hào)的光強(qiáng)不足或還原信號(hào)質(zhì)量下降。
為克服上述問(wèn)題，提出如下物鏡裝置以及采用該物鏡裝置的光學(xué)頭。
在由本申請(qǐng)人提出的物鏡裝置中，發(fā)生在沒(méi)有中央光軸周?chē)那蛎嫦癫畹慕S區(qū)與近軸區(qū)周?chē)倪h(yuǎn)軸區(qū)之間的中間區(qū)的光被擋住，從而不受中間區(qū)的光的干擾而形成一周邊光很小的光點(diǎn)。
如
圖1和2所示，用一光控裝置擋住或散射射到近軸區(qū)與遠(yuǎn)軸區(qū)之間的中間區(qū)上的入射光120中的光122。從圖1可見(jiàn)，該光控裝置包括一透明件110，其上有一擋住或散射射到中間區(qū)上的光的光控層111。在圖2中，該光控裝置包括一形成在物鏡100′上、散射中間區(qū)入射光122的光控孔111′。
近軸區(qū)為該物鏡的中央軸線(光路)周?chē)鷧^(qū)域，其中有不影響到入射光121中央光線的可忽略球面像差。遠(yuǎn)軸區(qū)為此近軸區(qū)遠(yuǎn)離光路的一區(qū)域，其中有入射光123，從而影響中央光線。此外，中間區(qū)為近軸區(qū)與遠(yuǎn)軸區(qū)之間的一區(qū)域。
圖3簡(jiǎn)示出采用圖1所示物鏡裝置的光學(xué)頭一例。
該光學(xué)頭采用圖1中所述具有光控層111的透明件110。這樣，從一光源150發(fā)出的光穿過(guò)一分光器140并由一準(zhǔn)直透鏡130準(zhǔn)直后與光路平行地入射到一物鏡100上。此時(shí)，中間區(qū)入射光122被透明件110上的光控層111擋住，因此只有近軸區(qū)和遠(yuǎn)軸區(qū)的入射光分別穿過(guò)物鏡100。光121和123由物鏡100會(huì)聚而在光盤(pán)10上形成一光點(diǎn)。從而，該物鏡可兼容于CD和DVD之類(lèi)厚度不同的多種光盤(pán)10。
然后，光從光盤(pán)10反射后經(jīng)物鏡100、準(zhǔn)直透鏡130和分光器140被光檢測(cè)器170接收。光檢測(cè)器由至少四塊分割板構(gòu)成，它們把接收到的光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，用作誤差信號(hào)或信息信號(hào)。這里，分光器140與光檢測(cè)器170之間有一聚光透鏡160。
圖4簡(jiǎn)示出采用圖2所示物鏡裝置的光學(xué)頭的一例。
該光學(xué)頭采用其上有散射中間區(qū)入射光122的光控孔111′的一物鏡100′。這里，與圖3相同的標(biāo)號(hào)表示的相同部件不再贅述。
圖5示出采用CD作為記錄介質(zhì)的光學(xué)頭的初始聚焦誤差。該光學(xué)頭包括數(shù)值孔徑為0.6mm、直徑為4.04mm的一物鏡，該物鏡有一內(nèi)徑為1.2mm、寬度為0.15mm的環(huán)形光控孔。
在該圖中，x軸表示散焦程度，y軸表示表征誤差程度的檢測(cè)電壓值。
圖5中有兩個(gè)部位A和B，其上的檢測(cè)電壓值為0。部位A出現(xiàn)在光學(xué)頭置于“定焦”位置而控制初始焦點(diǎn)位置之時(shí)。相反，部位B是由記錄介質(zhì)的厚度差造成的球面像差引起的；部位B旁、包括部位B在內(nèi)的波形定義成寄生波形。寄生波形的出現(xiàn)是由于穿過(guò)遠(yuǎn)軸區(qū)的光束的聚焦點(diǎn)因物鏡的球面像差而形成在一很廣區(qū)域上。
當(dāng)存在寄生波形時(shí)，部位B由于記錄介質(zhì)的機(jī)械振動(dòng)而可能被看作是“定焦”位置。
為克服上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種通過(guò)減小由球面像差造成的寄生波形的大小而可更精確檢測(cè)初始聚焦誤差信號(hào)的物鏡裝置以及采用該物鏡裝置的光學(xué)頭。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種物鏡裝置，包括一物鏡，該物鏡布置在入射到一記錄介質(zhì)的光的光路中會(huì)聚該入射光并在所述記錄介質(zhì)的記錄面上形成一光點(diǎn)；以及一布置在該光路中并與所述物鏡分開(kāi)的透明件，其上有擋住至少一部分穿過(guò)物鏡的光的第一光控部以及擋住一部分穿過(guò)所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)的光的第二光控部，同時(shí)傳導(dǎo)入射到所述第一和第二光控部之外區(qū)域上的光。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種物鏡裝置，包括一布置在入射到一記錄介質(zhì)上的光的光路中的物鏡，該物鏡會(huì)聚所述入射光而在所述記錄介質(zhì)的記錄面上形成一光點(diǎn)；第一光控部，該光控部形成在所述物鏡的至少一面上，擋住或散射至少一部分入射到所述物鏡的中間區(qū)的光或至少一部分穿過(guò)該中間區(qū)的光；以及第二光控部，該光控部形成在所述物鏡的至少一面上、擋住或散射至少一部分入射到所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)的光或至少一部分穿過(guò)該遠(yuǎn)軸區(qū)的光。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種光學(xué)頭，包括一發(fā)出光的光源；一改變?nèi)肷涔夥较虻墓饴忿D(zhuǎn)換裝置；一布置在所述光路轉(zhuǎn)換裝置與一記錄介質(zhì)之間的光路中、會(huì)聚該入射光并在所述記錄介質(zhì)上形成一光點(diǎn)的物鏡；一接收從該記錄介質(zhì)反射后穿過(guò)所述物鏡和所述光路轉(zhuǎn)換裝置的光并檢測(cè)誤差信號(hào)和信息信號(hào)的光檢測(cè)器；以及一與所述物鏡分開(kāi)地布置在光路中的透明件，其上有擋住至少一部分穿過(guò)所述物鏡的中間區(qū)的光的第一光控部以及擋住一部分穿過(guò)所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)的光的第二光控部，同時(shí)傳導(dǎo)入射到所述第一和第二光控部之外其余區(qū)域上的光。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種光學(xué)頭，包括一發(fā)出光的光源；一改變?nèi)肷涔夥较虻墓饴忿D(zhuǎn)換裝置；一布置在所述光路轉(zhuǎn)換裝置與一記錄介質(zhì)之間的光路中、會(huì)聚所述入射光并在所述記錄介質(zhì)上形成一光點(diǎn)的物鏡；形成在所述物鏡的至少一面上、用來(lái)控制所述物鏡的中間區(qū)的光的第一光控部；形成在所述物鏡的至少一面上，用來(lái)控制一部分入射到所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)上的光的第二光控部；以及一接收從所述記錄介質(zhì)反射后穿過(guò)所述物鏡和所述光路轉(zhuǎn)換裝置的光并檢測(cè)誤差信號(hào)和信息信號(hào)的光檢測(cè)器。
從結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的詳述中可更清楚地看出本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點(diǎn)。附圖中圖1示出本發(fā)明申請(qǐng)人提出的一物鏡裝置光學(xué)結(jié)構(gòu)的一優(yōu)選實(shí)施例；圖2示出本申請(qǐng)人提出的物鏡裝置光學(xué)結(jié)構(gòu)的又一優(yōu)選實(shí)施例；圖3示出采用圖1所示物鏡裝置的光學(xué)頭裝置的光學(xué)結(jié)構(gòu)；圖4示出采用圖2所示物鏡裝置的光學(xué)頭裝置的光學(xué)結(jié)構(gòu)；圖5示出把CD作為記錄介質(zhì)時(shí)圖3和4所示光學(xué)頭的光檢測(cè)器檢測(cè)到的初始聚焦誤差；圖6示出本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的物鏡裝置的光學(xué)結(jié)構(gòu)；
圖7示出本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的物鏡裝置的光學(xué)結(jié)構(gòu)；圖8～12為圖7所示物鏡的部位E的放大圖，示出圖7所示物鏡的第一和第二光控面的各種修正例；圖13示出本發(fā)明又一優(yōu)選實(shí)施例的物鏡裝置的光學(xué)結(jié)構(gòu)；圖14示出采用圖6所示本發(fā)明物鏡裝置的光學(xué)頭的光學(xué)結(jié)構(gòu)；圖15示出圖14所示光檢測(cè)器的一優(yōu)選實(shí)施例；圖16示出把較厚光盤(pán)用作記錄介質(zhì)時(shí)圖15所示光檢測(cè)器接收的光的分布；圖17示出把較薄光盤(pán)用作記錄介質(zhì)時(shí)圖15所示光檢測(cè)器接收的光的分布；圖18示出圖14所示光檢測(cè)器的另一優(yōu)選實(shí)施例；圖19～21示出把較薄光盤(pán)用作記錄介質(zhì)時(shí)圖18所示光檢測(cè)器接收的光的分布；圖22～24示出把較厚光盤(pán)用作記錄介質(zhì)時(shí)圖18所示光檢測(cè)器接收的光的分布；圖25示出把CD用作記錄介質(zhì)時(shí)本發(fā)明光學(xué)頭的光檢測(cè)器檢測(cè)到的初始聚焦誤差信號(hào)；圖26示出采用圖7所示本發(fā)明物鏡裝置的光學(xué)頭的光學(xué)結(jié)構(gòu)；圖27示出采用圖13所示本發(fā)明物鏡裝置的光學(xué)頭的光學(xué)結(jié)構(gòu)。
如圖6所示，本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的物鏡裝置包括一位于入射到記錄介質(zhì)10的光的光路上的物鏡200和一位于該光路上而與該物鏡200分開(kāi)的透明件210。
該物鏡200把入射光220聚焦在記錄介質(zhì)10的一記錄面上而形成一光點(diǎn)。該物鏡裝置用物鏡200的球面像差實(shí)現(xiàn)對(duì)厚度不同的光盤(pán)20和30之類(lèi)記錄介質(zhì)的兼容。為此，擋住或散射入射到物鏡200中間區(qū)上的光222。當(dāng)DVD之類(lèi)薄光盤(pán)20用作記錄介質(zhì)時(shí)使用入射到物鏡200的遠(yuǎn)軸區(qū)上的光223和225。而當(dāng)CD之類(lèi)的較厚光盤(pán)30或者薄光盤(pán)20用作記錄介質(zhì)時(shí)使用入射到物鏡200的近軸區(qū)上的光221。
透明件210上有擋住穿過(guò)物鏡200中間區(qū)的光222的第一光控面221和擋住一部分穿過(guò)遠(yuǎn)軸區(qū)的光即光224的第二光控面213。入射到第一和第二光控面211和213之外部位的光穿過(guò)透明件210。
第一和第二光控面211和213由在透明件210的至少一個(gè)表面的一定部位上涂上一反光涂層或擋光層而成。第一和第二光控面211和213最好呈環(huán)狀；但也可呈圓形、三角形、矩形或其它多邊形。
圖7示出本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的物鏡裝置。
該物鏡裝置包括一物鏡300，該物鏡300的光入射面即與記錄介質(zhì)相對(duì)的一面上有第一光控部310和第二光控部330。
第一光控部310擋住或散射至少一部分入射到物鏡300中間區(qū)上的光222；而第二光控部330擋住或散射一部分入射到物鏡300遠(yuǎn)軸區(qū)上的光即光224。實(shí)際上，第一光控部310和第二光控部330可做成相同形狀。
圖8示出物鏡300擴(kuò)大了的部分E。如圖8所示，第一和第二光控部310和330可以是一反光件320，例如反射入射光束的反光涂層或反光鏡。
此外，第一和第二光控部310和330也可以是散射或偏轉(zhuǎn)入射光束的光控圖案。
下面結(jié)合圖9～12說(shuō)明該光控圖案的各修正例。
如圖7和9所示，該光控圖案做成供入射光在其上散射或反射的凹口型孔322。如圖10所示，該光控圖案可做成突起的楔形324或突起的階梯形(未示出)。此外如圖11所示，該光控圖案可以是散射或反射入射光的一齒形部326?；蛘呷鐖D12所示，該光控圖案可以是散射入射光的細(xì)鋸齒形328。
第一和第二光控部310和330最好呈環(huán)形，但也可呈圓形、三角形、矩形或其它多邊形。
若第一和第二光控部310和330呈環(huán)形，則第一和第二光控部310和330的位置決定于數(shù)值孔徑(NA)，因?yàn)镹A＝m·sinθ＝n·有效直徑/2倍焦距，其中，n為介質(zhì)的折射率。
例如，當(dāng)采用NA為0.6的物鏡時(shí)，第一光控部310最好的位置是其內(nèi)、外徑分別與NA值為0.37和0.4相對(duì)應(yīng)。同樣，第二光控部330最好的位置是其內(nèi)、外徑分別與NA值為0.44和0.46相對(duì)應(yīng)。
圖13示出本發(fā)明又一實(shí)施例的物鏡裝置。
如圖13所示，第一光控部310′和第二光控部330′做成在物鏡300′的正對(duì)記錄介質(zhì)的一面上。第一和第二光控部310′和330′的結(jié)構(gòu)與結(jié)合圖7～12所述的第一和第二光控部310和330相同，但兩光控部的位置和半徑都與圖7～12中的光控部不同。
此外，第一和第二光控部可做成在物鏡的兩個(gè)表面上，其中光控部位于同一光路上。此時(shí)，形成在正對(duì)記錄介質(zhì)的表面上的第一和第二光控部的半徑比形成在物鏡另一面上的第一和第二光控部的半徑小。
同時(shí)，上述各實(shí)施例中凸透鏡用作物鏡；但可用基于衍射理論的全息透鏡或Fresnel透鏡之類(lèi)的平面透鏡代替凸透鏡。衍射理論是眾所周知的，因此其說(shuō)明從略。
在上述物鏡裝置中，入射到中間區(qū)和遠(yuǎn)軸區(qū)上的光由于球面像差而被局部擋住或散射，因此寄生波形大大減小。
圖14示出采用圖6所示本發(fā)明物鏡裝置的光學(xué)頭。
該光學(xué)頭包括一光源250、一光路轉(zhuǎn)換裝置240、一物鏡裝置和一光檢測(cè)器270。
光源250發(fā)出波長(zhǎng)一定的一激光光束。最好用小型半導(dǎo)體激光器作光源250。
光路轉(zhuǎn)換裝置240通過(guò)傳導(dǎo)和/或反射入射光而變換光的方向。也就是說(shuō)，光路轉(zhuǎn)換裝置240把從光源250發(fā)出的光傳到記錄介質(zhì)10后把從記錄介質(zhì)10反射的光反射到光檢測(cè)器270。光路轉(zhuǎn)換裝置240可以是一半反射鏡，也可以是一傳導(dǎo)偏振光束的偏振光束分光器。此外，也可使用衍射型式一定的全息光學(xué)元件(HOE、未示出)。
該物鏡裝置位于光路轉(zhuǎn)換裝置240與圖6所述記錄介質(zhì)10之間的光路上，它包括用來(lái)會(huì)聚射向記錄介質(zhì)10的光的一物鏡200和其上有局部擋住射向物鏡200的光的第一光控層211和第二光控層213的一透明件210。
光檢測(cè)器270接收從記錄介質(zhì)10反射后經(jīng)過(guò)物鏡200和光路轉(zhuǎn)換裝置240的光，從而檢測(cè)來(lái)自記錄介質(zhì)10的聚焦誤差信號(hào)、尋道誤差信號(hào)和信息信號(hào)(射頻信號(hào))。
該光學(xué)頭在光源250與物鏡200之間的光路上最好有一準(zhǔn)直入射光的準(zhǔn)直透鏡230。因此，入射到物鏡20上的光保持平行。此外，該光學(xué)頭在光路轉(zhuǎn)換裝置240與光檢測(cè)器270之間的光路上還可有一象散透鏡260。
該光檢測(cè)器270最好如圖15所示由分開(kāi)的四塊板A、B、C、和D構(gòu)成，以便按照象散法檢測(cè)聚焦誤差信號(hào)。
此時(shí)，如圖16和17所示，形成在光檢測(cè)器270中心的一點(diǎn)分為與入射到近軸區(qū)的光221(見(jiàn)圖14)對(duì)應(yīng)的中央部221a和221b以及與入射到遠(yuǎn)軸區(qū)的光225(見(jiàn)圖14)對(duì)應(yīng)的圓周部225a和225b。
圖16示出記錄介質(zhì)為較厚光盤(pán)時(shí)“定焦”狀態(tài)下的光的分布；圖17示出記錄介質(zhì)為DVD之類(lèi)較薄光盤(pán)時(shí)“定焦”狀態(tài)下的光的分布，比較圖16與圖17可見(jiàn)，與近軸區(qū)的光對(duì)應(yīng)的中央部221a和221b的直徑幾乎不變。但是，與遠(yuǎn)軸區(qū)的光對(duì)應(yīng)的圓周部225a和225b的直徑以及被第一光控層211擋住的部位222a和222b的直徑和被第二光控層213擋住的部位224a和224b的直徑變動(dòng)極大。
從圖16可見(jiàn)，中央部221a位于光檢測(cè)器270的中心，圓周部225a圍住光檢測(cè)器270的圓周。同時(shí)，從圖17可見(jiàn)，中央部221b位于光檢測(cè)器270的中心，光檢測(cè)器上也有圍住中央部221b的圓周部225b。
此外，如圖18所示，光檢測(cè)器270可由四塊分開(kāi)的長(zhǎng)方形板A1、B1、C1和D1以及四塊分開(kāi)的L形板A2、B2、C2和D2組成。
圖19～21示出記錄介質(zhì)為較薄光盤(pán)時(shí)光檢測(cè)器上的光的分布；圖22～24示出記錄介質(zhì)為較厚光盤(pán)時(shí)光檢測(cè)器上的光的分布。
長(zhǎng)方形板A1、B1、C1和D1設(shè)計(jì)成一定大小，以便在讀取較厚光盤(pán)上的信息時(shí)從近軸區(qū)接收最大量光并從遠(yuǎn)軸區(qū)接收最小量光以及同時(shí)從保持一定大小的近軸區(qū)和最小化遠(yuǎn)軸區(qū)接收光。此外，如圖22所示，在讀取較厚光盤(pán)上的信息時(shí)，遠(yuǎn)軸區(qū)的光到達(dá)L形板A2、B2、C2和D2。
圖19～21示出記錄介質(zhì)為較薄光盤(pán)時(shí)光檢測(cè)器所接收的光的分布。詳言之，圖19示出物鏡裝置處于“定焦”狀態(tài)時(shí)的情況；圖20示出物鏡裝置遠(yuǎn)離薄光盤(pán)時(shí)的情況；圖21示出物鏡裝置靠近薄光盤(pán)時(shí)的情況。
同樣，圖22～24示出記錄介質(zhì)為厚光盤(pán)時(shí)光檢測(cè)器所接收的光的分布。詳言之，圖22、23、24分別示出物鏡裝置處于“定焦”狀態(tài)、遠(yuǎn)離厚光盤(pán)、靠近后光盤(pán)時(shí)的情況。
上述結(jié)構(gòu)的光檢測(cè)器在讀取厚光盤(pán)的信息時(shí)使用穿過(guò)長(zhǎng)方形板A1、B1、C1和D1以及L形板A2、B2、C2和D2的所有信號(hào)，而在讀取薄光盤(pán)的信息時(shí)只使用穿過(guò)長(zhǎng)方形板A1、B1、C1和D1的信號(hào)。
圖25示出記錄介質(zhì)為CD時(shí)本發(fā)明光學(xué)頭的光檢測(cè)器檢測(cè)到的初始聚焦誤差信號(hào)。圖25所示初始聚焦誤差信號(hào)可與圖5所示進(jìn)行比較。
按照本發(fā)明物鏡裝置，由穿過(guò)遠(yuǎn)軸區(qū)的光的球面像差造成的光干涉受到透明件上的第二光控面的抑制，從而寄生波形B的大小減少約40％。因此可防止由光學(xué)頭的機(jī)械振動(dòng)和記錄介質(zhì)的振動(dòng)引起的寄生波形。
圖26示出采用圖7～12所示本發(fā)明物鏡裝置的光學(xué)頭的光學(xué)結(jié)構(gòu)。
該光學(xué)頭與圖14～24所示光學(xué)頭大致相同；因此與圖7中標(biāo)號(hào)相同的部件的作用相同。
在上述光學(xué)頭中，第一和第二光控面相對(duì)于一定數(shù)值孔徑的位置可用數(shù)值孔徑(NA)表達(dá)。
也即，若第一和第二光控面310和330呈環(huán)形，則NA定義為NA＝m·sinθ＝n·有效直徑/2倍焦距，其中，n為折射率。因此，厚度為0.6mm±0.15mm、折射率為1.5±1的光盤(pán)20和厚度為1.2mm±0.15mm、折射率為1.5±1的光盤(pán)30都可用作記錄介質(zhì)10。為了有效減小寄生波形的大小，若采用數(shù)值孔徑為0.6的物鏡，則第一光控面310的最好位置布置成其內(nèi)、外徑分別與0.37和0.40的數(shù)值孔徑對(duì)應(yīng)；而第二光控面330的位置最好布置成其內(nèi)、外徑的位置分別與0.44和0.46的數(shù)值孔徑對(duì)應(yīng)。
圖27示出采用圖13所示本發(fā)明物鏡裝置的光學(xué)頭的光學(xué)結(jié)構(gòu)。
該光學(xué)頭與圖14～24所述光學(xué)頭基本相同。
這里，與圖13和14中相同的標(biāo)號(hào)表示作用相同的部件。
同樣，本發(fā)明光學(xué)頭采用的物鏡裝置可在物鏡的兩個(gè)表面上都有第一和第二光控面310′和320′。
此時(shí)，正對(duì)記錄介質(zhì)10的第一和第二光控面310′和320′的半徑小于另一面上的光控面的半徑。
從而，本發(fā)明光學(xué)頭在遠(yuǎn)軸區(qū)和中間區(qū)都有光控面擋住或散射中間區(qū)和遠(yuǎn)軸區(qū)的光，從而大大減小寄生波形的大小。因此，可在控制光學(xué)頭的初始聚焦位置時(shí)消除機(jī)械振動(dòng)的影響。
盡管上面結(jié)合具體實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明，但本領(lǐng)域技術(shù)人員顯然可在后附權(quán)利要求書(shū)的范圍內(nèi)作出修正和改動(dòng)。
權(quán)利要求
1.一種物鏡裝置，包括一物鏡，該物鏡布置在入射到一記錄介質(zhì)的光的光路中會(huì)聚該入射光并在所述記錄介質(zhì)的記錄面上形成一光點(diǎn)；以及一布置在該光路中并與所述物鏡分開(kāi)的透明件，其上有擋住至少一部分穿過(guò)物鏡的光的第一光控部以及擋住一部分穿過(guò)所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)的光的第二光控部，同時(shí)傳導(dǎo)入射到所述第一和第二光控部之外區(qū)域上的光。
2.按權(quán)利要求1所述的物鏡裝置，其中，所述第一和第二光控部包括形成在所述透明件的至少一面上的光控層。
3.按權(quán)利要求1所述的物鏡裝置，其中，所述物鏡的數(shù)值孔徑為0.6，所述環(huán)形第一光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.37與0.4之間；所述環(huán)形第二光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.44與0.46之間。
4.一種物鏡裝置，包括一布置在入射到一記錄介質(zhì)上的光的光路中的物鏡，該物鏡會(huì)聚所述入射光而在所述記錄介質(zhì)的記錄面上形成一光點(diǎn)；第一光控部，該光控部形成在所述物鏡的至少一面上，擋住或散射至少一部分入射到所述物鏡的中間區(qū)的光或至少一部分穿過(guò)該中間區(qū)的光；以及第二光控部，該光控部形成在所述物鏡的至少一面上、擋住或散射至少一部分入射到所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)的光或至少一部分穿過(guò)該遠(yuǎn)軸區(qū)的光。
5.按權(quán)利要求4所述的物鏡裝置，其中，所述第一和第二光控部包括由所述物鏡的表面上的一反光涂層構(gòu)成的光控層。
6.按權(quán)利要求4所述的物鏡裝置，其中，所述第一和第二光控部包括形成在所述物鏡的表面上、散射或反射入射光的光控圖案。
7.按權(quán)利要求6所述的物鏡裝置，其中，所述光控圖案為一環(huán)形孔。
8.按權(quán)利要求7所述的物鏡裝置，其中，所述光控圖案呈凹口形。
9.按權(quán)利要求7所述的物鏡裝置，其中，所述光控圖案呈突起的階梯形或楔形。
10.按權(quán)利要求4所述的物鏡裝置，其中，所述第一和第二光控部包括散射或偏轉(zhuǎn)入射光的齒形部。
11.按權(quán)利要求4所述的物鏡裝置，其中，所述第一和第二光控部分別包括散射入射光的許多細(xì)鋸齒圖案。
12.按權(quán)利要求4所述的物鏡裝置，其中，所述物鏡的數(shù)值孔徑為0.6；所述環(huán)形第一光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.37與0.4之間；所述環(huán)形第二光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.44與0.46之間。
13.一種光學(xué)頭，包括一發(fā)出光的光源；一改變?nèi)肷涔夥较虻墓饴忿D(zhuǎn)換裝置；一布置在所述光路轉(zhuǎn)換裝置與一記錄介質(zhì)之間的光路中、會(huì)聚該入射光并在所述記錄介質(zhì)上形成一光點(diǎn)的物鏡；一接收從該記錄介質(zhì)反射后穿過(guò)所述物鏡和所述光路轉(zhuǎn)換裝置的光并檢測(cè)誤差信號(hào)和信息信號(hào)的光檢測(cè)器；以及一與所述物鏡分開(kāi)地布置在光路中的透明件，其上有擋住至少一部分穿過(guò)所述物鏡的中間區(qū)的光的第一光控部以及擋住一部分穿過(guò)所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)的光的第二光控部，同時(shí)傳導(dǎo)入射到所述第一和第二光控部之外其余區(qū)域上的光。
14.按權(quán)利要求13所述的光學(xué)頭，其中，所述第一和第二光控部包括形成在所述透明件的至少一面上的光控層。
15.按權(quán)利要求13所述的光學(xué)頭，其中，所述物鏡的數(shù)值孔徑為0.6；所述環(huán)形第一光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.37與0.4之間；所述環(huán)形第二光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.44與0.46之間。
16.按權(quán)利要求13所述的光學(xué)頭，進(jìn)一步包括一布置在所述光源與所述物鏡之間的光路中、準(zhǔn)直入射光的準(zhǔn)直透鏡。
17.按權(quán)利要求16所述的光學(xué)頭，進(jìn)一步包括一布置在所述光路轉(zhuǎn)換裝置與所述光檢測(cè)器之間的光路中的象散透鏡。
18.一種光學(xué)頭，包括一發(fā)出光的光源；一改變?nèi)肷涔夥较虻墓饴忿D(zhuǎn)換裝置；一布置在所述光路轉(zhuǎn)換裝置與一記錄介質(zhì)之間的光路中、會(huì)聚所述入射光并在所述記錄介質(zhì)上形成一光點(diǎn)的物鏡；形成在所述物鏡的至少一面上、用來(lái)控制所述物鏡的中間區(qū)的光的第一光控部；形成在所述物鏡的至少一面上，用來(lái)控制一部分入射到所述物鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)上的光的第二光控部；以及一接收從所述記錄介質(zhì)反射后穿過(guò)所述物鏡和所述光路轉(zhuǎn)換裝置的光并檢測(cè)誤差信號(hào)和信息信號(hào)的光檢測(cè)器。
19.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭，其中，所述第一和第二光控部包括由所述物鏡表面上的一反光涂層構(gòu)成的光控層。
20.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭，其中，所述第一和第二光控部包括形成在所述物鏡表面上散射或反射入射光的光控圖案。
21.按權(quán)利要求20所述的光學(xué)頭，其中，所述光控圖案為一環(huán)形孔。
22.按權(quán)利要求21所述的光學(xué)頭，其中，所述光控圖案呈凹口形。
23.按權(quán)利要求21所述的光學(xué)頭，其中，所述光控圖案呈突起的階梯形或楔形。
24.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭，其中，所述第一和第二光控部包括散射或偏轉(zhuǎn)入射光的齒形部。
25.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭，其中，所述第一和第二光控部包括散射入射光的許多細(xì)鋸齒圖案。
26.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭；其中，所述物鏡的數(shù)值孔徑為0.6；所述環(huán)形第一光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.37與0.4之間；所述環(huán)形第二光控部做成其內(nèi)、外徑位于所述物鏡的入射面的一部位處，該部位的數(shù)值孔徑在0.44與0.46之間。
27.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭，進(jìn)一步包括一布置在所述光源與所述物鏡之間的光路中、準(zhǔn)直入射光的準(zhǔn)直透鏡。
28.按權(quán)利要求18所述的光學(xué)頭，進(jìn)一步包括一布置在所述光路轉(zhuǎn)換裝置與所述光檢測(cè)器之間的光路中的象散透鏡。
全文摘要
一種具有兩個(gè)光控面的物鏡裝置以及采用這種物鏡裝置并可用于不同厚度的光盤(pán)的光學(xué)頭。該物鏡裝置包括一與光盤(pán)平行地布置在光路中的物鏡、形成在該物鏡的光入射面上的第一和第二光控部，或一額外的透明件。該光學(xué)頭包括光源、光路轉(zhuǎn)換器、上述的物鏡裝置、光檢測(cè)器、準(zhǔn)直透鏡及象散透鏡。
文檔編號(hào)G11B7/00GK1164035SQ9710266
公開(kāi)日1997年11月5日 申請(qǐng)日期1997年2月25日 優(yōu)先權(quán)日1996年4月30日
發(fā)明者鄭鐘三, 李哲雨, 成平庸 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社