專利名稱：在記錄載體上記錄可光學檢測的信息圖形的記錄設備的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及在記錄載體的具有第一光學性質(zhì)的記錄區(qū)上記錄信息圖形的記錄設備，該記錄區(qū)與具有第二光學性質(zhì)的中間區(qū)相交替，該記錄設備包括光學寫裝置，該光學裝置包括借助寫光束掃描記錄載體的裝置，和調(diào)制裝置，該調(diào)制裝置根據(jù)有特定占空系數(shù)的雙價信號將寫光束強度在不使掃描位置的記錄載體光學性質(zhì)變化的低光強與使掃描位置的記錄載體光學性質(zhì)有可光學檢測變化的高寫光強之間進行轉(zhuǎn)換，記錄設備還包括光學讀裝置，該光學讀裝置包括借助讀光束掃描按上述方式形成的信息圖形的裝置，該讀光束受掃描信息圖形的調(diào)制，該光學讀裝置還包括一個將調(diào)制的讀光束轉(zhuǎn)換為相應的讀信號的輻射敏感檢測器，記錄設備還包括一個用于從讀信號中導出分析信號的分析電路，該分析信號指示記錄區(qū)長度與中間區(qū)長度的平均比率對于占空系數(shù)規(guī)定的最佳比率的偏差，記錄設備還包括根據(jù)分析信號將寫光強設定到使記錄區(qū)長度和中間區(qū)長度的比率基本上相應于占空系數(shù)規(guī)定的最佳比率的值的裝置。
一種如本文開始一段描述的記錄設備已經(jīng)公知，特別是在美國專利說明書US 4，225，873中公知。這種先有技術(shù)記錄設備用于記錄平均占空系數(shù)為50%的信號。二次諧波信號分量的幅度指示出記錄區(qū)和中間區(qū)長度比率與占空系數(shù)規(guī)定的最佳比率的偏差情況，在那種情況下的最佳比率為1。寫光強根據(jù)檢測的二次諧波信號分量的幅度調(diào)整到一個使得該信號分量基本為零的值。這種寫光強控制的缺點在于它不能用于這樣的記錄過程其中，記錄帶中的各記錄區(qū)寬度經(jīng)常并不恒定而在變化，例如，在熱記錄過程中，記錄帶寬度在該帶記錄結(jié)束時比開始時大。當包含這種寬度變化的記錄區(qū)的信息圖形被讀出時，這種寬度變化會導致相當大的附加二次諧波分量。由于這個附加的分量，使得二次諧波信號分量的幅度不再能夠用于寫光強控制。
本發(fā)明的目的在于提供一種如本文起始段所限定的記錄設備，其寫光強在記錄區(qū)寬度變化的情況下也可達到最佳。根據(jù)本發(fā)明，這個目的是由這樣的記錄設備實現(xiàn)的，該記錄設備的特征在于分析電路包括有這樣的裝置，該裝置用以確定讀信號的直流分量相對于讀信號最小和最大值的位置;該裝置還用以產(chǎn)生這樣的一種分析信號該信號指示按此方式確定的直流分量位置是否偏離由占空系數(shù)規(guī)定的位置。本發(fā)明尤其是基于對如下事實的認識該直流分量相對于讀信號的正、負峰值的位置表示出記錄區(qū)和中間區(qū)長度的比率。而且還發(fā)現(xiàn)，上述的直流分量位置幾乎對記錄區(qū)寬度變化不敏感。
記錄設備的一個實施例由于其簡單而非常有吸引力，該實施例的特征在于，其分析電路包括，用以確定讀信號直流值和最大值的第一差值的裝置，用以確定讀信號最小值和直流值的第二差值的裝置，以及根據(jù)第一和第二差值信號導出分析信號的裝置。記錄設備的另一實施例的特征在于，分析電路包括用以消除讀信號直流分量的高通濾波器、將高通濾波器濾波后的讀信號最大信號值確定為第一差值的第一峰值檢測器、將濾波的讀信號最小值確定為第二差值的第二峰值檢測器、以及產(chǎn)生這樣一種信號形式的分析信號的裝置，該信號指示檢測的最小和最大值之和是否對應于占空系數(shù)規(guī)定的最佳值。這個實施例有利地利用了這一事實，即消除了直流分量后，負、正峰值之和指示該直流分量相對這些峰值的位置。
記錄設備再一個實施例的特征是分析電路適于輸出這樣一種信號形式的分析信號，該信號指示第一和第二差值之和與第一和第二差值之差的比率是否基本上對應于占空系數(shù)規(guī)定的最佳值。這個實施例的優(yōu)點是，記錄載體平均反射率變化的影響和讀光束強變化的影響都被消除。如果最佳寫光強對應于非零值的峰值和與差的比率，這一點是特別重要的。例如，在記錄其峰值的和、差的最佳比率被認為基本上等于0.1的標準EFM信號時，情況就是這樣。
記錄設備的又一個實施例的特征是，該設備適于形成包括第一子圖象和第二子圖形的信息圖形，第二子圖形的空間頻率低于第一子圖形的空間頻率，第一子圖形的數(shù)量大于第二子圖形的數(shù)量，這些子圖形的尺寸按這樣的方式選擇在讀出信息圖形時，對應于第一子圖形的信號分量幅度小于對應于第二子圖形的信號分量幅度。這個實施例的優(yōu)點是，對最佳寫光強的很小偏離，產(chǎn)生相當大的直流分量位置偏差。由于記錄標準EFM信號時，低空間頻率的子圖形數(shù)量顯著地小于較高空間頻率子圖形數(shù)量，因此，在記錄標準EFM信號時最佳寫光強可非常精確地確定。在記錄信息圖形的過程中，寫光強例如可借助產(chǎn)生一個輔助讀光束而調(diào)整，該輔助光束隔開一個短距離跟蹤寫光束。然而這個方法的缺點是要求比較復雜的技術(shù)設備。
一種不需使用輔助讀光束的實施例的特征是該設備包括用以產(chǎn)生一個雙價測試信號的裝置和使對應于該測試信號的測試信息圖形被記錄在記錄載體上可編址的位置的控制裝置，該控制裝置還適于使測試信息圖形被光學讀裝置讀出，設置寫光強的裝置適于根據(jù)在讀出測試信息圖形過程中得到的分析信號設定最佳寫光強。這個實施例有利地利用了這樣的事實最佳寫光強可在早于實際的信息記錄過程的一個單獨調(diào)整過程里確定，并使用于記錄信息圖形的光學掃描裝置也能用于確定最佳寫光強。如果記錄載體具有用于編址目的的預先形成的地址信息，那么，為了確定最佳寫光強之目的，以一個尚未被用于確定最佳寫光強的記錄帶居先于用以記錄信息圖形的該記錄帶是有利的。實際上，當信息圖形記錄時，地址信息可能被破壞，從而使得正確讀出地址信息不再有保證。于是，定位一個緊隨地址信息破壞的記錄區(qū)的記錄區(qū)就會有困難。
其他的實施例及其優(yōu)點將借助參照

圖1至圖13的實例而詳細敘述，這些附圖之中圖1 表示通常的光學記錄設備原理圖，圖2 示出光學記錄過程中輻射束光強的變化、相關(guān)的信息圖形、以及當該信息圖形讀出時產(chǎn)生的讀信號V1，圖3 和4 說明記錄的信息圖形與相關(guān)的讀信號之間的關(guān)系以便闡明本發(fā)明，圖5 和9 示出根據(jù)本發(fā)明的記錄設備的兩個不同的實施例，圖6、7、8和13示出記錄設備中使用的分析電路的各種實施例，圖10示出一個用于控制輻射束寫光強的控制電路實例，圖11示出一種提供地址信息的可寫的記錄載體的可能的布局，圖12是用于控制圖9示出的記錄設備的計算機程序流程圖。
圖1以原理圖形式表示了一個光學記錄設備，它包括轉(zhuǎn)臺1和驅(qū)動電機2，使盤形記錄載體4圍繞軸線3按箭頭5指示的方向旋轉(zhuǎn)。記錄載體4包括一個輻射敏感的記錄層，當暴露在足夠高的強度的輻射中時，該記錄層便出現(xiàn)一種可光學檢測的變化，例如反射率的變化。這種輻射敏感層例如可包括一層薄金屬層，該金屬層可借助暴露在較高強度的激光束中而被局部地除去?；蛘?，該記錄層可由例如輻射敏感的染料或相變材料之類的其他材料所構(gòu)成，該材料的結(jié)構(gòu)在輻射作用下可由非晶體為晶體，或反之。光學寫頭6包括一個例如固態(tài)激光器的輻射源，以便產(chǎn)生寫光束13。寫光束13的光強I可以通常形式按照控制信號Vs而被調(diào)制?？刂菩盘朧s和寫光束13的光強I的相應變化示于圖2。寫光束13的光強I在寫光強Is和I1之間變化，Is足以使輻射敏感記錄載體的光學性質(zhì)發(fā)生可檢測的變化，I1則不使其發(fā)生任何可檢測變化。當記錄層受到其光強按此方式調(diào)制的光束13掃描時，改變了光學性能的記錄區(qū)8的信息圖形就在記錄層內(nèi)形成，記錄區(qū)8與未曾改變光學性質(zhì)的中間區(qū)11互相交替。這樣形成的信息圖形可借助恒定光強的讀光束對該圖形的掃描而讀出，該恒定光強的強度足夠低，以免帶來可檢測的光學性質(zhì)變化。在掃描過程中，從記錄載體反射的讀光束按照正在掃描的信息圖形進行調(diào)制。讀光束的調(diào)制可借助輻射敏感檢測器以常規(guī)方式檢測，該檢測器產(chǎn)生表示光束調(diào)制的讀信號V1。讀信號V1也在圖2中示出。讀信號V1通過將其與參考電平Vref相比較而轉(zhuǎn)換為雙價信號Vd。為實現(xiàn)可靠的轉(zhuǎn)換，希望讀信號與參考電平的各交點能嚴格確定，換言之，讀信號V1的“顫動”應最小。如所已知的那樣，如果信息圖形對稱，即如果記錄區(qū)8的平均長度等于中間區(qū)11的平均長度，光學記錄讀信號的顫動最小。接著產(chǎn)生的問題是記錄區(qū)8的長度與寫光強Is密切相關(guān)。如果寫光強過于高，則記錄區(qū)長度會變得過長，如果寫光強過于低，則記錄區(qū)長度過短。因此需要對寫光強作精確調(diào)整。在一種確定最佳寫光強的常規(guī)方法中(該方法可用于記錄具有平均占空系數(shù)為50%的寫信號)，寫光強被調(diào)整到致使讀信號V1的二次諧波失真最小。然而，此方法不能應用在下列記錄情況在此，由于例如熱效應的原因，致使記錄區(qū)寬度不恒定而記錄帶寬度例如從記錄帶始端到終端是增大的。這種變化的寬度對讀信號V1引入附加的失真。這種附加失真產(chǎn)生附加二次諧波分量，后者導致寫光強的調(diào)整不可靠。一種對該寬度變化不太敏感的最佳寫光強確定法將參照圖3而敘述。圖3a、3b和3c示出了光強變化I、相應的記錄區(qū)8的信息圖形和中間區(qū)11以及讀信號V1，其中分別是按寫光強Is為過低、最佳和過高這三種情況。
圖3中，讀信號V1在最高電平A1和最低電平A2之間變化。電平DC代表讀信號V1的直流電平的大小。如圖3所示，讀信號V1的直流電平DC在寫光強為最佳值時基本上位于電平A1和A2的中間。如寫光強過低，直流電平DC將高于電平A1和A2的中間值，如果寫光強過高，直流電平DC將低于電平A1和A2的中間值。因此，調(diào)整寫光強IS使得直流電平DC基本上等于電平A1和A2的中間值，就能獲得最佳寫光強。
上述確定最佳寫光強方法的改進將參照圖4a來說明。根據(jù)此方法，為確定最佳光強而記錄一種信息圖形，該圖形包括多個子圖形40，其中各子圖形包括借助具有50%占空系數(shù)的寫信號進行記錄的短記錄區(qū)8和短中間區(qū)11。該信息圖形還包括第二子圖形41，該子圖形41包括也借助具有50%占空系數(shù)的寫信號進行記錄的較長記錄區(qū)8和較長中間區(qū)11。子圖形40的數(shù)量被選取成顯著大于子圖形41的數(shù)量。圖4a示出借助光學讀出設備進行讀出時所獲得的讀信號V1。
按這樣的方式選擇子圖形40的尺寸，使得相對應于該子圖形40的讀信號V1的信號分量幅度基本上小于相應于子圖形41的信號分量幅度。這可借助按下列方式選擇子圖形40尺寸而實現(xiàn)僅僅該圖形的一次諧波落入光學掃描設備的光學截止頻率之下。子圖形41的尺寸按這樣方式選擇至少該圖形的一和二次諧波落入上述光學截止頻率之下。讀信號V1的直流電平DC主要由相應于子圖形40的信號分量來規(guī)定。讀信號V1的最大值A1和最小值A2之差唯一地由相應于子圖形41的值來規(guī)定。由于寫功率Is對子圖形40的記錄區(qū)8長度與中間區(qū)長度的比率的影響顯著地大于對子圖形41的上述長度的比率的影響，因此直流電平DC對圖4方法的寫電平變化的敏感程度遠大于圖3方法，在圖3的方法中，讀信號V1的幅度對于出現(xiàn)在信息圖形中所有的子信息圖形都一樣。所有這些都意味著用圖4A的方法確定最佳寫功率要精確得多。
除了圖4a所示已按最佳寫光強進行記錄的信息圖形之外，類似的信息圖形如圖4b和4c所示，它們是以過低和過高的寫電平分別進行記錄的。由圖4所將要顯示的那樣，在最佳寫電平情況下的直流電平DC也是基本處于最大信號值(A1)和最小信號值(A2)的中間，而在寫電平過低或過高時，直流電平DC分別高于和低于這個中間值。圖4示出的信息圖形僅僅是包含著由短區(qū)(8或11)構(gòu)成的較大量的子圖形和由長區(qū)(8或11)構(gòu)成的較小量的子圖形的可能的信息圖形中的一個。一種也很適合的子圖形是相應于標準EFM信號的圖形。這種圖形包含其長度對應于至少3位(I3效應)和至多11位(I11效應)的各個區(qū)。這種EFM圖形的全部效應中約三分之一是I3效應，而僅有4%是I11效應。I3效應的尺寸是這樣確定的僅僅這些效應的基頻低于光學讀出系統(tǒng)光學截止頻率。I11效應的尺寸這樣確定至少其一、二和三次諧波頻率低于該光學截止頻率。
圖5 示出根據(jù)本發(fā)明的記錄設備的第一實施例。該記錄設備包括用于產(chǎn)生寫光束13的第一半導體激光器51和用于產(chǎn)生讀光束53的第二激光器52。寫光束13和讀光束53借助包括物鏡54的光學系統(tǒng)對準記錄載體4，該記錄載體按箭頭55的方向移過光學頭50。系統(tǒng)按常規(guī)方式這樣進行工作按箭頭55所示的方向觀看讀光束53入射到記錄載體上時，落后于寫光束13的落點一個短距離，使得讀光束53的落點追隨寫光束13描繪的路徑。對于同時產(chǎn)生寫光束和獨立的讀光束的光學系統(tǒng)的詳細描述，參見美國專利4，255，873和4，488，277。
寫光束13的光強I被控制為一個由信號Vs所決定的數(shù)值。為此，記錄設備包括一個輻射敏感二極管56，它用以檢測由半導體激光器51背面發(fā)出的、其光強正比于寫光束光強的光束57。于是輻射敏感二極管56產(chǎn)生正比于被檢測光強的信號電流。信號Vs和該信號電流在比較器電路58內(nèi)彼此進行比較。代表此比較結(jié)果的信號加到可控電流源59上，該可控電流源59按這樣方式產(chǎn)生對于半導體激光器51的控制電流，即是使得二極管56產(chǎn)生的信號電流以及因而寫光束13的光強都受到控制而取成由寫信號Vs所決定的數(shù)值。
記錄設備還包括通常的CIRC編碼電路60和EFM調(diào)制器61的級聯(lián)布置，用于將提供的信息信號Vi轉(zhuǎn)換為按照CD標準調(diào)制的EFM信號Vefm。該信號Vefm被送到可控開關(guān)62的控制輸入端，該開關(guān)的特點是根據(jù)加到其控制輸入端的信號的邏輯值將其兩個輸入端信號is或il中之一轉(zhuǎn)送至輸出端。開關(guān)62輸出端信號作為信號Vs加到比較器電路58上。信號is限定寫光強Is，信號il限定光強Il。代表信號Vi的信息圖形按下述方式記錄。
CIRC編碼電路60和EFM調(diào)制器61將信號Vi轉(zhuǎn)換為EFM調(diào)制的雙價信號Vefm。此信號控制開關(guān)62，使得信號is和il交替地供給比較器電路58，其結(jié)果就使寫光束光強在信號is限定的寫光強Is和信號il限定的光強Il之間轉(zhuǎn)換，從而使相應于信號Vefm的信息圖形記錄在記錄載體上。一當進行記錄之后，這樣所形成的信息圖形就被讀光束53掃描。讀光束從記錄載體4上反射，反射光束按正被掃描的信息圖形進行調(diào)制。如此調(diào)制的讀光束經(jīng)過半透明鏡63投向輻射敏感檢測器64，該檢測器產(chǎn)生表示此光束調(diào)制的讀信號V1。讀信號V1加到分析電路65，分析電路65就產(chǎn)生表示直流電平DC偏離對應于最佳寫光強的值的程度的信號Va。信號Va加到積分電路66。積分電路的輸出信號△is加到加法器電路67的輸出端。一種對應于恒定光強的信號io加到加法器電路67的另一輸入端。代表信號io和信號△is之和的輸出信號就作為信號is加到開關(guān)62。如果在圖5所示的記錄設備中寫光強Is偏離最佳值，則這種情況將根據(jù)分析信號Va表現(xiàn)為非零信號值而得到指示。結(jié)果，使得積分電路66輸出端上的信號△is發(fā)生改變，從而使寫光強受控制而接近最佳值。這就導致對寫光強Is的連續(xù)控制從而使寫光強Is基本上保持在最佳值。
圖6示出分析電路65的第一實施例，它包括用于確定讀信號V1的直流電平DC的低通濾波器70。分析電路65還包括用于確定讀信號V1最大值A1的正峰值檢測器71和用于確定讀信號V1最小值A2的負峰值檢測器72。峰值檢測器71和72的輸出信號加到加法器電路73的非反相輸入端上，而低通濾波器70的輸出信號在其值放大到2倍后加到加法器電路73的反相輸入端，使得加法器電路73的輸出信號為Va＝A1+A2-2Dc，該信號構(gòu)成分析信號Va，因而指示了信號值DC的位置偏離最大信號值A1和最小信號值A2的中間值的程度。
圖7 示出分析電路65的另一實施，其中包括一個比較器90，讀信號V1和表示DC值的參考信號分別加到該比較器的非反相和反相輸入端。比較器90的輸出信號加到積分電路91。讀信號V1還加到正峰值檢測器92和負峰值檢測器93，它們分別檢測讀信號V1的最大和最小信號電平，并且它們還將指示所述信號電平的信號加到增益因數(shù)為1/2的加法器電路94，從而使得加法器電路94輸出端的信號電平處在被校正的讀信號V1的最小和最大信號電平的正中間。加法器電路94輸出端的信號加到差分放大器95的反相輸入端，表示DC值的參考信號來自積分電路91而加到差分放大器95的非反相輸入端。差分放大器95的輸出信號表示兩個輸入信號之差，該信號按其功能就是分析信號Va。圖7所示的分析電路按下述方式工作。由于從積分電路91至比較器90反相輸入端的反饋作用，積分電路輸出端的參考信號將被調(diào)制到使得比較器90輸出信號Vo平均值為零的電平，從而使得積分器91輸出端的信號值指示讀信號V1的直流分量電平。分析信號Va再次指示直流電平位置偏離讀信號最小和最大電平中間的程度。
圖8 示出分析電路65的第三個實施例，它包括用于消除讀信號V1直流分量的高通濾波器80。通過該高通濾波器消除直流分量后的信號V1′加到正峰值檢測器81和負峰值檢測器82。正峰值檢測器81輸出端的信號值A1′等于信號值A1減去直流值。負峰值檢測器82輸出端的信號值A2′等于信號值減去直流值。加法器電路83確定A1′與A2′之和，減法器電路84確定A1′和A2′之差。除法電路85確定加法器83輸出端信號值與減法器84輸出端信號值之商。此商后文稱之為β，它也指示直流電平DC位置偏離信號值A1和A2的中間值的程度。
除法電路的輸出信號代表β值，按其功能也就是分析信號Va。經(jīng)過以A1′和A2′之差作除數(shù)的除運算后，實現(xiàn)了下面的結(jié)果半導體激光器53產(chǎn)生的輻射的光強變化或記錄載體平均反射率的變化不再對分析信號Va的信號值發(fā)生任何影響。它的優(yōu)點將在下面敘述。
在EFM信號記錄過程中，當寫光強Is設置到與直流電平DC精確地處于讀信號最大和最小值中間相對應的數(shù)值時，雖然達到了滿意的結(jié)果，但是發(fā)現(xiàn)這種設置嚴格地說并非最佳。對于對稱的EFM信息圖形，β值并不準確為零而接近于0.1。這是由于在相應于具有高空間頻率的圖形的讀信號中，各分量的直流成分的效應小于相應于具有低空間頻率的圖形的信號分量的直流成分的效應。為了使用于記錄EFM調(diào)制信號的寫光強最佳，就適于將寫光強Is設置到使β基本上為0.1的值。對于這種使β為非零值的寫光強設置來說，消除寫光強變化的影響十分重要，因為如不消除這個影響就很難實現(xiàn)精確調(diào)制。
在根據(jù)本發(fā)明的記錄設備的上述實施例中，寫光強被連續(xù)地校正。這種記錄設備的缺點在于為此必須產(chǎn)生一個輔助讀光束，而這是比較困難的技術(shù)問題?，F(xiàn)在就敘述另一種能減小該缺點的方法。在這個實施例中最佳寫光強在先于記錄信息信號Vi的一個單獨的調(diào)制過程內(nèi)加以確定。在此調(diào)制過程中一種測試信息圖形按不同的寫光強Is記錄在記錄載體的可編址記錄帶內(nèi)。然后，這些測試信息圖形被讀出，并且借助從讀信號導出的分析信號Va確定哪個測試信息圖形是以最佳寫光強而記錄的，從而將記錄信息信號Vi過程中的寫光強設置到相應于如此找出的測試信息圖形的寫光強。圖9示出按上述方法確定寫光強的記錄設備的一個實施例。其中，記錄設備包括作為驅(qū)動裝置的電機100和供輻射敏感記錄載體4′繞軸線102旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)盤101，該記錄載體屬于這樣的類型，在該記錄載體上借助于伺服軌跡的軌跡調(diào)制記錄著地址信息。這種記錄載體4′在荷蘭專利申請NL-A-8800151、NL-A8900766和NL-A-8901145(PHN12.398、PHN12.887、PHN12，925)中已有全面敘述，其內(nèi)容綜合于此以供參考。這些專利申請中敘述的記錄載體具有“顫動的”伺服軌跡，該顫動頻率根據(jù)包括絕對時間代碼ATIP的位置信息信號而進行調(diào)制。一個普通類型的光學讀/寫頭105裝設在旋轉(zhuǎn)的記錄載體4′對面，并借助于定位裝置可沿相對記錄載體4′的徑向移動，該定位裝置例如是電機103和軸104。如果需要的話，讀/寫頭105可用于記錄和讀出信息圖形。為此，讀/寫頭105包括用以產(chǎn)生輻射光束107a的半導體激光器，激光束107a的光強受控制電路107的控制而變化。輻射光束107按已知的方法瞄準記錄載體4′伺服軌跡。光束107a從記錄載體4′部分反射，反射的光束按軌跡顫動進行調(diào)制，并且，如果已經(jīng)記錄了信息圖形，就按信息圖形進行調(diào)制。反射光束投向輻射敏感檢測器108a，于是從該檢測器產(chǎn)生出相應于光束調(diào)制的讀信號V1″，信號V1″包含由軌跡顫動產(chǎn)生的成分并且在額定掃描速度下具有接近22千赫的頻率。借助于控制電機100的電機控制電路108，電機速度受到控制，使得軌跡顫動產(chǎn)生的讀信號V1″的成分的頻率基本保持在22千赫。讀信號V1″還加到檢測電路109，該電路從軌跡顫動產(chǎn)生的讀信號V1″的成分中導出時間代碼ATIP，并將這些代碼加到例如包括微計算機110的處理單元。而且，讀信號V1″還加到具有高通特性的放大器電路111以便抑制軌跡顫動在讀信號V1″中產(chǎn)生的信號成分。按此方式去除了低頻成分的讀信號V1′加到例如圖8所示電路的分析電路65。分析信號Va由分析電路65輸出端輸出，并且也加到微計算機110上。記錄設備還包括普通的CIRC編碼電路112，待記錄的信號Vi經(jīng)過由微計算機110控制的開關(guān)115后加到該編碼電路112上。該CIRC編碼電路112與一個常規(guī)的EFM調(diào)制器113相串聯(lián)。EMF調(diào)制器的輸出端連接到控制電路107?？刂齐娐?07是可控型的，它與微計算機110相聯(lián)以便取得控制信號?？刂齐娐?07根據(jù)從微計算機110接收的控制信號將所產(chǎn)生的光束107a的光強調(diào)定為恒定的低光強I1，或者，控制電路107按照從EFM調(diào)制器113接收的EFM調(diào)制信號使光束光強在低光強I1和寫光強Is之間轉(zhuǎn)換。而且，寫光強Is可借助微計算機110而調(diào)整。圖10示出電路107的一個實施例，電路107與圖5所示用于控制半導體激光器51的電路有許多相似之處。圖10中與圖5相對應的元件采取相同的標號。電路107包括雙輸入端與門115，由EFM調(diào)制器113提供的EFM調(diào)制信號Vefm加到其中一個輸入端，微計算機110供給的控制信號L/S加到另一輸入端。如果控制信號L/S取邏輯值“0”，則與門115輸出端的邏輯值也為“0”。與門115的輸出信號加到開關(guān)62的控制輸入端，該開關(guān)是這樣設計的，當控制信號為邏輯“0”，相應于低光強I1的信號I1加到電路58，從而使激光器106產(chǎn)生的光束107a的光強設定為值I1。當控制信號L/S的邏輯值為“1”時，與門115輸出端的邏輯值將根據(jù)信號EFM而改變，從而使光束107a的光強根據(jù)信號Vefm而交替地設定為寫光強Is和光強I1。為產(chǎn)生測試信息圖形，圖9的記錄裝置包括信號發(fā)生器114，它例如產(chǎn)生一個任意的數(shù)字信號或者產(chǎn)生一個相應于數(shù)字信號值為零(數(shù)字抑制)的信號。信號發(fā)生器114產(chǎn)生的信號經(jīng)過開關(guān)115加到CIRC編碼電路112。開關(guān)115為通常的類型，它根據(jù)從微計算機110接收的控制信號傳輸欲記錄的信號Vi或者傳輸信號發(fā)生器114的輸出信號。
如上所述，測試信息圖形最好記錄在記錄載體4′的可編址位置。如果記錄載體4′根據(jù)上述荷蘭專利申請(PHN 12.887)而構(gòu)形，其中，伺服軌跡按其次序劃分為用于記錄暫時內(nèi)容表(暫時TOC)的記錄區(qū)(PMA)、用于存儲確定的內(nèi)容表(TOC)的記錄區(qū)(導入?yún)^(qū))和程序區(qū)(PA)，那么，測試信息圖形最好記錄在居先于記錄暫時內(nèi)容表的記錄區(qū)(PMA)的記錄區(qū)(PCA)中。圖11示意示出了伺服軌跡116的布局。而且圖11示出了借助以分、秒和幀表示的絕對時間代碼ATIP指示的不同區(qū)的起始位置。例如，程序區(qū)起點的絕對時間代碼ATIP為0.00.00。導入?yún)^(qū)起點的絕對時間代碼ATIP被標志為TLIA。PMA區(qū)起點的絕對時間代碼ATIP等于TLIA減去0.13.15，而PCA區(qū)起點的絕對時間代碼等于TLIA減去0.34.00。每個絕對時間代碼ATIP標志具有相應于1幀的長度的伺服軌跡段。因此，PCA區(qū)可有1560幀應用記錄測試圖形。由于一個對應于15幀的區(qū)對于記錄測試圖形。由于一個對應于15幀的區(qū)對于確定最佳寫光強來說足夠長，因此PCA區(qū)的總長完全足夠完成100次調(diào)整過程。如果該記錄載體用于記錄標準CD信號，則這個數(shù)目足夠執(zhí)行用于每個欲記錄信息信號的一次調(diào)整過程。這是因為根據(jù)CD標準，不同信息信號(軌跡)的最大數(shù)量是100。對于可能的100個不同的信息信號(軌跡)中的每一個來說，最好有一個具有15幀長度(簡稱為15幀區(qū))的預定部分保留在PCA區(qū)中。
由于在那些已經(jīng)記錄測試信息圖形的區(qū)中ATIP代碼的讀出并非總是受保證的，因此這些“15幀”區(qū)的使用順序適于從后向前，即第一個欲使用的“15幀”區(qū)處在PCA區(qū)的末端(即，靠近與PMA區(qū)相鄰的邊界)。為了記錄具有暫時內(nèi)容表內(nèi)順序號n的隨后信息信號(軌跡)，利用比PCA區(qū)末端超前n個“15幀”區(qū)的那一個“15幀”區(qū)。這樣，就可實現(xiàn)一個用于確定最佳寫光強的區(qū)總是有一個尚未記錄信息圖形的較大區(qū)在它的前面。這是一個優(yōu)點，因為在已經(jīng)記錄了信息圖形的一個伺服軌跡段內(nèi)，絕對時間代碼ATIP不可能總是可靠地記錄，雖然對于確定所要用的“15幀”區(qū)的起點來說這是必需的。最佳寫光強可按如下方法確定在記錄新信息信號(軌跡)之前，已經(jīng)記錄的信息信號(軌跡)的數(shù)量借助PMA區(qū)內(nèi)暫時內(nèi)容表中的數(shù)據(jù)來確定。用于記錄測試信息圖形的“15幀”區(qū)地址由這個數(shù)導出。然后，將一個測試信息圖形按一系列不同的寫光強設定值記錄在具有指定地址的“15幀”區(qū)內(nèi)，這測試信息圖形最好如圖4所示的測試圖形或者類似的測試圖形，例如相應于EFM信號的圖形。此后，記錄的測試信息圖形被讀出，并且借助分析信號Va來確定在記錄區(qū)的哪一部分中該測試信息圖形最佳。然后，按照與記錄最佳測試信息圖形時使用的寫光強相應的寫光強來記錄信息信號。
將用于執(zhí)行調(diào)整過程的合適控制程序裝入微計算機110。圖12為這種程序的舉例的流程圖。在程序的S1步，讀/寫頭105在微計算機110控制下定位在記錄載體上PMA區(qū)對面的位置，借助于由檢測電路109檢測的讀信號V1″內(nèi)的絕對時間代碼ATIP實現(xiàn)編址。在S2步，從PMA區(qū)讀出暫時內(nèi)容表，并且，用于記錄測試信息圖形的“15幀”區(qū)地址由關(guān)于暫時內(nèi)容表內(nèi)原先記錄的信息信號數(shù)量的信息中導出。在S3步，具有此地址的“15幀”區(qū)在微計算機110控制下被確定。在S4步，一旦到達此區(qū)，寫光強就設定為初始值I。。與記錄載體有關(guān)的該I。值最好按上述專利申請NL-A-8901145(PHN 12.925)敘述的方式預先記錄在記錄載體上。這個值然后可在調(diào)整過程之前讀出。而且，在微計算機110控制下，信號發(fā)生器114借助可控開關(guān)115聯(lián)接到CIRC編碼電路112，從而，使得由該信號發(fā)生器輸出信號確定的EFM調(diào)制測試信號從EFM調(diào)制器113中產(chǎn)生。最后，在S5步中控制信號S/L按這樣方式設定控制電路107使得光束107a的光強根據(jù)EFM調(diào)制器113輸出端的EFM調(diào)制信號Vefm在光強設定值Is和寫光強I1之間轉(zhuǎn)換，該設定導致產(chǎn)生相應正被記錄的EFM信號的測試信息圖形。在S6步，檢測電路109檢測的絕對時間代碼ATIP由計算機110讀出。在S7步，查明該絕對時間代碼是否已針對原先的讀出而改變。如果沒有，則重復S6步。如果已改變，則在S8步測試正讀出的絕對時間碼是否指示“15幀”區(qū)的終點。如果不是，執(zhí)行S9步，在此寫光強Is增加一個小擋值△1，然后程序轉(zhuǎn)到S6步。如果在S8步發(fā)現(xiàn)“15幀”區(qū)的終點已到達，則執(zhí)行S10步，在這步中，控制信號S/L按照使光束107a的光強恒定地保持在光強I1的原則來設定控制電路107。在S11步，確定該“15幀”區(qū)的起點位置并讀出該區(qū)。在S12步，分析信號Va由微計算機110讀出。在S13步，檢查分析信號Va值是否對應于最佳寫光強。如果不對應，則程序轉(zhuǎn)入S12步。如果對應，則由檢測電路109檢測的絕對時間代碼在S14步讀出。然后，在S15步，計算出相應于S14步讀出的絕對時間代碼的最佳寫光強。這可例如通過確定最后讀出的絕對時間代碼與相應于該“15幀”區(qū)起點的時間代碼之間的差別來實現(xiàn)。借助這個差別就可確定在記錄測試信息圖形過程中，在達到最后讀出的絕對時間代碼ATIP之前，寫光強初始值I。已遞增了多少個△I擋值。這個增加的擋值的數(shù)目和初始值I。規(guī)定最佳寫能量Iopt。最后，在S16步寫光強Is設定為最佳值Iopt。
上述的分析電路65的所有實施例都提供了分析信號Va，該分析信號Va規(guī)定了讀信號直流電平DC相對最佳電平偏差值的幅度和符號。然而，這對圖9所示記錄設備實施例卻并非必需。在這種設備中使用分析電路67的一個實施例其中邏輯信號指示直流電平DC的位置是否處于最佳電平周圍的一個規(guī)定的小范圍內(nèi)，這就足以解決問題。圖13示出一個實施例，它產(chǎn)生作為分析信號Va的這種邏輯信號。在此實施例中，經(jīng)過濾波器111已經(jīng)除去了直流分量的讀信號V1′加到正、負峰值檢測器130和131，它們分別確定讀信號V1′中的最大信號值(A1′)和最小信號值(A2′)。峰值檢測器130和131的輸出信號分別代表該最大信號值A1′和最小信號值A2′，它們被加至計算電路132，在該電路中按常規(guī)方法分別產(chǎn)生代表該最大值A1′和最小值A2′之和以及代表A1′和A2′之差的1/10的兩種信號。計算電路132的兩種輸出信號加到窗口比較器電路133，該比較器電路例如包括型號為LM311的積分電路。窗口比較器電路133僅在(A1′+A2′)-0.1(A1′-A2′)的絕對值小于或等于∑(∑是大于零的一個較小的數(shù)值)的情況下給出一個邏輯“1”信號?！频臄?shù)值例如這樣來選擇如果β＝ (A1′+A2′)/(A1′-A2′) 處在0.09與0.11之間，則邏輯“1”信號被產(chǎn)生。比較器電路133輸出端的邏輯信號再被作為分析信號Va用。
權(quán)利要求
1.一種在記錄載體上記錄具有第一光學性質(zhì)的記錄區(qū)的信息圖形的記錄設備，該記錄區(qū)與具有第二光學性質(zhì)的中間區(qū)相交替，該記錄設備包括光學寫裝置，該光學寫裝置包括借助寫光束掃描記錄載體的裝置；根據(jù)具有特定占空系數(shù)的雙價信號、在低光強與高光強之間轉(zhuǎn)換寫光束光強的調(diào)制裝置，該低光強不使掃描位置記錄載體的光學性質(zhì)發(fā)生變化，而該高光強使掃描位置記錄載體光學性質(zhì)發(fā)生可光學檢測的變化；光學讀裝置，該光學讀裝置包括借助讀光束掃描按上述方式形成的信息圖形的裝置，該讀光束受正被掃描的信息圖形所調(diào)制；將調(diào)制的讀光束轉(zhuǎn)換為相應的讀信號的輻射敏感檢測器；分析電路，該分析電路從所述讀信號導出分析信號，該分析信號指示記錄區(qū)長度與中間區(qū)長度的平均比率相對于占空系數(shù)規(guī)定的最佳比率的偏差；以及設定寫光強的裝置，該裝置根據(jù)分析信號將寫光強設定成使得記錄區(qū)和中間區(qū)長度比率基本對應于占空系數(shù)給定的最佳比率的數(shù)值；該記錄設備的特征在于，所述分析電路包括下述的裝置，該裝置用于確定讀信號直流分量相對于該直流信號最小和最大值的位置；以及用于產(chǎn)生一種信號形式的分析信號；該信號指示按上述方式確定的所述位置是否偏離占空系數(shù)規(guī)定的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的記錄設備，是特征在于所述分析電路包括確定讀信號的直流值與讀信號最大值之間的第一差值的裝置;確定讀信號最小值與該直流值之間的第二差值的裝置;和根據(jù)該第一和第二差值導出分析信號的裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的記錄設備，其特征在于，所述分析電路包括用于去除讀信號直流分量的高通濾波器;用于將經(jīng)高通濾波器濾波后的讀信號的最大信號值確定為第一差值的第一峰值檢測器;用于將濾波后讀信號的最小信號值確定為第二差值的第二峰值檢測器;和用于產(chǎn)生一種信號形式的分析信號的裝置該信號指示被檢測的最小與最大值之和是否對應于占空系數(shù)規(guī)定的最佳值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3的記錄設備，其特征在于，所述分析電路適于提供一種信號形式的分析信號該信號指示所述第一和第二差值之和與第一和第二差值之差的比率是否基本上對應于占空系數(shù)規(guī)定的最佳值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的記錄設備，其特征在于所述雙價信號是一個標準EFM信號，占空系數(shù)所規(guī)定的該最佳值基本上等于0.1。
6.根據(jù)上述任一權(quán)利要求的記錄設備，其特征在于，該設備適于形成包括第一子圖形和第二子圖形的信息圖形，第二子圖形的空間頻率低于第一子圖形的空間頻率，第一子圖形的數(shù)量大于第二子圖形的數(shù)量，子圖形的尺寸如此選擇在信息圖形的讀出過程中，相應于第一子圖形的信號分量幅度小于相應于第二子圖形的信號分量幅度。
7.根據(jù)上述任意一權(quán)利要求的記錄設備，其特征在于，該記錄設備包括用于產(chǎn)生雙價測試信號的裝置;和使相應于測試信號的測試信息圖形記錄在記錄載體上可編址位置的控制裝置，該控制裝置又適于使該測試信息圖形被光學讀裝置讀出;用于設定寫光強的裝置適于根據(jù)測試信息圖形讀出過程中得到的分析信號設定最佳寫光強。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的記錄裝置，其特征在于，所述控制裝置適于使測試信息圖形被記錄在記錄載體上一個預定區(qū)內(nèi)由特定地址規(guī)定的一個部分內(nèi)，該預定區(qū)設有原先提供的地址信息，記錄的方式使得該部分的起點鄰接一個尚未記錄過測試信息圖形的區(qū)。
全文摘要
本發(fā)明申請涉及一種記錄設備，在記錄載體(4；4′)上將信息圖形記錄在具有第一光學性質(zhì)的記錄區(qū)(8)內(nèi)，該記錄區(qū)與具有第二光學性質(zhì)的中間區(qū)(11)相交。記錄設備包括寫裝置，寫裝置包括借助寫光束(13；107a)掃描記錄載體(4；4′)的裝置；和根據(jù)具有特定占空系數(shù)的雙價信號(Vefm)，將寫光束(13；107a)的光強(I)在不使記錄載體(4；4′)掃描位置處的光學性質(zhì)發(fā)生變化的低光強(I1)和使記錄載體(4；4′)掃描位置處的光學性質(zhì)發(fā)生可光學檢測的變化的高寫光強(Is)之間轉(zhuǎn)換的調(diào)制裝置(107)。還包括光學讀裝置和輻射敏感檢測器。
文檔編號G11B7/0045GK1048279SQ9010309
公開日1991年1月2日 申請日期1990年6月20日 優(yōu)先權(quán)日1989年6月23日
發(fā)明者約翰內(nèi)斯·利奧波德斯·巴克斯, 約翰內(nèi)斯·杰拉達斯弗雷德里卡斯·卡布勞 申請人:菲利浦光燈制造公司