本發(fā)明是關(guān)于電子裝置，特別是關(guān)于一次性可編程(one-time?programmable，otp)存儲器的編程方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、電子裝置可以包括用于儲存各種裝置參數(shù)的一次性可編程(otp)存儲器，儲存在otp存儲器中的參數(shù)可以包括例如裝置的生命周期(life-cycle，lc)狀態(tài)。由于otp存儲器的編程是不可逆的，因此編程程序應(yīng)該要是高度可靠的。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、這里所描述本發(fā)明的實施例提供了一種用于測試電子裝置的方法。該方法包括由測試系統(tǒng)向電子裝置提供一或多個信號以用于執(zhí)行測試程序，該測試程序涉及對電子裝置中的一次性可編程(otp)存儲器進(jìn)行編程。通過執(zhí)行一系列的一或多個迭代來驗證一或多個信號與電子裝置的連接是否穩(wěn)定，每次迭代包括(i)從otp存儲器中的一組暫存地址中，確定可用于編程的一地址，(ii)將測試值寫入該地址，然后(iii)從該地址讀取測試值。如果所讀取的測試值與所寫入的測試值不同，則啟動一或多個信號連接的重新調(diào)諧。只有在通過該系列的迭代驗證為連接穩(wěn)定時，才根據(jù)測試程序?qū)﹄娮友b置的otp存儲器進(jìn)行編程。

2、在一些實施例中，該測試方法更包括在發(fā)現(xiàn)所有暫存地址已被編程但連接不穩(wěn)定時，輸出一故障指示。在實施例中，一或多個信號包括至少對電子裝置的一部分進(jìn)行計時的時脈信號?；蛘呋蚋跽?，一或多個信號包括至少對電子裝置的一部分供電的電源供應(yīng)信號。

3、在公開的實施例中，對otp存儲器進(jìn)行編程包括根據(jù)測試程序更新電子裝置的生命周期(lc)狀態(tài)。在范例實施例中，確定可用于編程的地址的操作包括掃描otp存儲器的暫存地址以尋找保有(hoding)全零值(all-zeros?value)的地址。在替代實施例中，確定可用于編程的地址的操作包括將otp存儲器的狀態(tài)維持(maintaining)在與otp存儲器不同的存儲器中。

4、根據(jù)本文所述的實施例，另外提供了一種用于測試電子裝置的方法。此方法包括，在包含一次性可編程(otp)存儲器的電子裝置中，從測試系統(tǒng)接收之一或多個信號，用于執(zhí)行涉及otp存儲器編程的測試程序。通過(i)從otp存儲器中的一組暫存地址中確定可用于編程的一地址，來驗證一或多個信號與電子裝置的連接是否穩(wěn)定，(ii)將測試值寫入該地址，(iii)從該地址讀取測試值，以及(iv)驗證所讀取的測試值是否等于所寫入的測試值。如果該連接被驗證為穩(wěn)定，則根據(jù)測試程序?qū)﹄娮友b置的otp存儲器進(jìn)行編程。如果確定該連接不穩(wěn)定，則輸出一故障指示。

5、根據(jù)本文所述的實施例，還提供了一種包括一次性可編程(otp)存儲器和控制硬件的電子裝置?？刂朴布慌渲脼閺臏y試系統(tǒng)接收一或多個信號用于執(zhí)行一測試程序，該測試程序涉及otp存儲器的編程，并且通過以下方式驗證一或多個信號與電子裝置的連接是否穩(wěn)定：從otp存儲器中的一組暫存地址中決定可用于編程的一地址，(ii)將測試值寫入該地址，(iii)從該地址讀取測試值，以及(iv)驗證是否所讀取的測試值等于所寫入的測試值?？刂朴布慌渲脼槿绻B接被驗證為穩(wěn)定則根據(jù)測試程序?qū)tp存儲器編程，并且如果確定連接不穩(wěn)定則輸出一故障指示。

6、通過結(jié)合以下附圖對本發(fā)明實施例的詳細(xì)描述，將可以更全面地理解本發(fā)明。

技術(shù)特征：

1.一種電子裝置的測試方法，其特征在于，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，更包括：當(dāng)該組暫存地址中的所有暫存地址已被編程但該連接為不穩(wěn)定時，輸出一失敗指示。

3.如權(quán)利要求1所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，該一或多個信號包括至少對該電子裝置的一部分進(jìn)行計時的一時脈信號。

4.如權(quán)利要求1所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，該一或多個信號包括至少對該電子裝置的一部分進(jìn)行供電的一電源供應(yīng)信號。

5.如權(quán)利要求1所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，對該otp存儲器進(jìn)行編程的操作包括根據(jù)該測試程序來更新該電子裝置的生命周期lc狀態(tài)。

6.如權(quán)利要求1所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，確定可用于編程的該地址的操作包括掃描該otp存儲器的該組暫存地址以尋找保有全零值的一地址。

7.如權(quán)利要求1所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，確定可用于編程的該地址的操作包括將該otp存儲器的狀態(tài)維持在與該otp存儲器不同的存儲器中。

8.一種電子裝置的測試方法，其特征在于，該測試方法包括：

9.如權(quán)利要求8所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，更包括當(dāng)所有該組暫存地址的全部暫存地址已被編程但該連接不穩(wěn)定時，輸出一嚴(yán)重故障指示。

10.如權(quán)利要求8所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，該一或多個信號包括至少對該電子裝置的一部分進(jìn)行計時的一時脈信號。

11.如權(quán)利要求8所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，該一或多個信號包括至少對該電子裝置的一部分進(jìn)行供電的一電源供應(yīng)信號。

12.如權(quán)利要求8所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，對該otp存儲器進(jìn)行編程的操作包括根據(jù)該測試程序來更新該電子裝置的生命周期lc狀態(tài)。

13.如權(quán)利要求8所述的電子裝置的測試方法，其特征在于，確定可用于編程的該地址的操作包括掃描該otp存儲器的該組暫存地址以尋找保有全零值的一地址。

14.一種電子裝置，其特征在于，包括：

15.如權(quán)利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該控制硬件也用于當(dāng)所有該組暫存地址已被編程但連接不穩(wěn)定時，輸出一嚴(yán)重故障指示。

16.如權(quán)利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該一或多個信號包括至少對該電子裝置的一部分進(jìn)行計時的一時脈信號。

17.如權(quán)利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該一或多個信號包括至少對該電子裝置的一部分進(jìn)行供電的一電源供應(yīng)信號。

18.如權(quán)利要求14所述的電子裝置，其特征在于，對該otp存儲器進(jìn)行編程時，該控制硬件被配置以根據(jù)該測試程序來更新該電子裝置的生命周期lc狀態(tài)。

19.如權(quán)利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該控制硬件被配置以通過掃描該otp存儲器的該組暫存地址，尋找保有全零值的一地址來決定可用于編程的地址。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種電子裝置及其測試方法，包括向電子裝置提供一或多個信號以執(zhí)行測試程序的方法，該測試程序涉及對電子裝置中的一次性可編程OTP存儲器進(jìn)行編程。通過執(zhí)行一系列的一或多個迭代程序來驗證一或多個信號到電子裝置的連接是否穩(wěn)定，每次迭代包括(i)從OTP存儲器中的一組暫存地址中進(jìn)行，確定可用于編程的地址，(ii)將測試值寫入該地址，然后(iii)從該地址讀取測試值。如果讀取的測試值與寫入的測試值不同，則啟動一或多個信號連接的重新調(diào)諧。只有在通過一系列的迭代程序驗證連接穩(wěn)定時，才會根據(jù)測試程序?qū)TP存儲器進(jìn)行編程。

技術(shù)研發(fā)人員：日弗·赫詩曼,達(dá)納·阿古爾,艾倫·畢思曼
受保護(hù)的技術(shù)使用者：新唐科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/17