本揭露是關(guān)于一種測試存儲器的系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種使用突波信號測試存儲器的系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

1、隨著存儲器的工藝技術(shù)快速發(fā)展，存儲器的尺寸日益縮小且同時具有高密度的電路。較高密度的電路有益于存儲器的速度及效能，然而錯誤及制造上的問題相應(yīng)地增加。為確保產(chǎn)品的可靠度及良率，如何有效地測試存儲器至關(guān)重要。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、在一些實施例中，提供一種測試存儲器的系統(tǒng)。系統(tǒng)包含存儲器裝置及測試裝置。測試裝置，操作性地耦接存儲器裝置且根據(jù)數(shù)據(jù)信號，為著存儲器裝置的寫入操作傳輸多個突波信號及在此些突波信號之后的多個控制信號。測試裝置還基于數(shù)據(jù)信號的寫入數(shù)據(jù)，判斷存儲器裝置的讀取操作中輸出的讀取數(shù)據(jù)是否為位元移位的以產(chǎn)生測試結(jié)果，測試結(jié)果指示此些突波信號所導(dǎo)致的對寫入操作的干擾。

2、在一些實施例中，測試裝置操作性地耦接存儲器裝置的第一數(shù)據(jù)選通接腳及第二數(shù)據(jù)選通接腳，第一及第二數(shù)據(jù)選通接腳接收差分?jǐn)?shù)據(jù)選通信號對，其中差分?jǐn)?shù)據(jù)選通信號對包含此些控制信號。測試裝置還輸出此些突波信號中的第一突波信號至第一數(shù)據(jù)選通接腳及輸出反相于第一突波信號的第二突波信號至第二數(shù)據(jù)選通接腳。

3、在一些實施例中，在寫入操作中，存儲器裝置響應(yīng)于在此些突波信號的第一突波信號以及此些空置信號的第一控制信號中的至少三個上升/下降沿，鎖存數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)。

4、在一些實施例中，第一突波信號在第一區(qū)間中具有第一電壓位準(zhǔn)，并且在第一區(qū)間之后的第二區(qū)間中具有第二電壓位準(zhǔn)。

5、在一些實施例中，當(dāng)?shù)谝粎^(qū)間及第二區(qū)間的比值在0.025至0.075之間時，讀取數(shù)據(jù)和寫入數(shù)據(jù)不一致。

6、在一些實施例中，當(dāng)?shù)谝粎^(qū)間及第二區(qū)間的比值在0.15至0.25之間時，讀取數(shù)據(jù)和寫入數(shù)據(jù)一致。

7、在一些實施例中，當(dāng)讀取數(shù)據(jù)相比于寫入數(shù)據(jù)為位元移位的，讀取數(shù)據(jù)及寫入數(shù)據(jù)之間的至少一不一致的位元具有高邏輯值。

8、在一些實施例中，提供一種測試存儲器的系統(tǒng)。系統(tǒng)包含存儲器裝置及測試裝置。存儲器裝置包含輸入/輸出電路。測試裝置操作性地耦接存儲器裝置且輸出突波信號至存儲器裝置以及在輸出突波信號之后輸出控制信號。輸入/輸出電路響應(yīng)于突波信號及控制信號，為著存儲器裝置的寫入操作而鎖存數(shù)據(jù)。測試裝置還比較對應(yīng)寫入操作的寫入數(shù)據(jù)及在存儲器裝置的讀取操作中輸出的讀取數(shù)據(jù)，以判斷存儲器裝置是否被突波信號干擾。

9、在一些實施例中，測試裝置還在第一時間點產(chǎn)生突波信號以及在第一時間點之后的第二時間點產(chǎn)生控制信號。

10、在一些實施例中，輸入/輸出電路在第二時間之后的第三時間鎖存數(shù)據(jù)。

11、在一些實施例中，突波信號在第一區(qū)間具有第一電壓位準(zhǔn)且在第一區(qū)間之后的第二區(qū)間具有大于第一電壓位準(zhǔn)的第二電壓位準(zhǔn)。當(dāng)?shù)谝粎^(qū)間及第二區(qū)間之間的比值大于0.125，讀取數(shù)據(jù)和寫入數(shù)據(jù)一致。

12、在一些實施例中，突波信號在第一區(qū)間及第一區(qū)間之后的第二區(qū)間具有不同電壓位準(zhǔn)。當(dāng)?shù)谝粎^(qū)間及第二區(qū)間的比值小于0.1，寫入數(shù)據(jù)及讀取數(shù)據(jù)不一致。

13、在一些實施例中，提供一種測試存儲器裝置的方法。方法包含：產(chǎn)生寫入數(shù)據(jù)信號至存儲器裝置的第一接腳；產(chǎn)生突波信號及控制信號至存儲器裝置的第二接腳；響應(yīng)于突波信號及控制信號中的至少一者，為著寫入操作自寫入數(shù)據(jù)信號鎖存數(shù)據(jù)；執(zhí)行寫入操作以產(chǎn)生讀取數(shù)據(jù)信號；以及通過比較寫入數(shù)據(jù)信號及讀取數(shù)據(jù)信號，輸出測試結(jié)果。

14、在一些實施例中，突波信號的持續(xù)時間比存儲器裝置的時間區(qū)間短。

15、在一些實施例中，突波信號在第一區(qū)間具有第一電壓位準(zhǔn)且在不同于第一區(qū)間的第二區(qū)間具有第二電壓位準(zhǔn)。

16、在一些實施例中，當(dāng)?shù)诙^(qū)間大于第一區(qū)間，讀取數(shù)據(jù)跟寫入數(shù)據(jù)不一致。

17、在一些實施例中，方法還包含借著顯示裝置顯示寫入數(shù)據(jù)信號及讀取數(shù)據(jù)信號以比較寫入數(shù)據(jù)信號及讀取數(shù)據(jù)信號。

技術(shù)特征：

1.一種測試存儲器的系統(tǒng)，其特征在于，包含:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中該測試裝置操作性地耦接該存儲器裝置的第一數(shù)據(jù)選通接腳及第二數(shù)據(jù)選通接腳，該第一及第二數(shù)據(jù)選通接腳用以接收差分?jǐn)?shù)據(jù)選通信號對，其中該差分?jǐn)?shù)據(jù)選通信號對包含該些控制信號，

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中在該寫入操作中，該存儲器裝置用以響應(yīng)于在該些突波信號的第一突波信號以及該些空置信號的第一控制信號中的至少三個上升/下降沿，鎖存該數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中該第一突波信號在第一區(qū)間中具有第一電壓位準(zhǔn)，并且在該第一區(qū)間之后的第二區(qū)間中具有第二電壓位準(zhǔn)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中當(dāng)該第一區(qū)間及該第二區(qū)間的比值在0.025至0.075之間時，該讀取數(shù)據(jù)和該寫入數(shù)據(jù)不一致。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中當(dāng)該第一區(qū)間及該第二區(qū)間的比值在0.15至0.25之間時，該讀取數(shù)據(jù)和該寫入數(shù)據(jù)一致。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中當(dāng)該讀取數(shù)據(jù)相比于該寫入數(shù)據(jù)為位元移位的，該讀取數(shù)據(jù)及該寫入數(shù)據(jù)中的至少一不一致的位元具有高邏輯值。

8.一種測試存儲器的系統(tǒng)，其特征在于，包含:

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中該測試裝置還用以在第一時間點產(chǎn)生該突波信號以及在該第一時間點之后的第二時間點產(chǎn)生該控制信號。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中該輸入/輸出電路在該第二時間之后的第三時間鎖存該數(shù)據(jù)。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中該突波信號在第一區(qū)間具有第一電壓位準(zhǔn)且在該第一區(qū)間之后的第二區(qū)間具有大于該第一電壓位準(zhǔn)的第二電壓位準(zhǔn)，

12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中該突波信號在第一區(qū)間及該第一區(qū)間之后的第二區(qū)間具有不同電壓位準(zhǔn)，

13.一種測試存儲器的方法，其特征在于，包含:

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中該突波信號的持續(xù)時間比該存儲器裝置的時間區(qū)間短。

15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中該突波信號在第一區(qū)間具有第一電壓位準(zhǔn)且在不同于該第一區(qū)間的第二區(qū)間具有第二電壓位準(zhǔn)。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中當(dāng)該第二區(qū)間大于該第一區(qū)間，該讀取數(shù)據(jù)跟該寫入數(shù)據(jù)不一致。

17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中，還包含:

技術(shù)總結(jié)
本揭示提供一種測試存儲器的系統(tǒng)，包含存儲器裝置及測試裝置。測試裝置，操作性地耦接存儲器裝置且根據(jù)數(shù)據(jù)信號，為著存儲器裝置的寫入操作傳輸多個突波信號及在此些突波信號之后的多個控制信號。測試裝置還基于數(shù)據(jù)信號的寫入數(shù)據(jù)，判斷存儲器裝置的讀取操作中輸出的讀取數(shù)據(jù)是否為位元移位的以產(chǎn)生測試結(jié)果。本揭示的系統(tǒng)有助于增加存儲器測試的效率。

技術(shù)研發(fā)人員：許瑞中,方琬珺
受保護(hù)的技術(shù)使用者：南亞科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/12