專利名稱：磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法
技術領域：
本發(fā)明涉及磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，尤其涉及適用于具有對磁記錄介質(zhì)的不同矯頑磁力進行判定的功能的磁卡讀取器等介質(zhì)處理裝置的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法。
背景技術：
一般而言，介質(zhì)處理裝置的磁頭與設置在磁卡或存折等磁記錄介質(zhì)上的磁條等磁記錄部相抵接，并使磁頭進行相對移動，從而對記錄在磁記錄部內(nèi)的磁信息進行寫入、讀取(記錄、再現(xiàn))。近年來，在這種磁記錄介質(zhì)的介質(zhì)處理裝置中，對磁卡等磁記錄介質(zhì)(以下稱為“磁卡”)的磁條等磁記錄部的不同的矯頑磁力的大小進行了標準化。例如，除了一直以來被標準化的具有低矯頑磁力(例如，300 4000e)的磁卡(以下稱為“低矯頑磁力的磁卡”)以外，磁記錄部新標準化了具有高矯頑磁力(例如，27500e)的磁卡(以下，稱為“高矯頑磁力的磁卡”)。此處,高矯頑磁力的磁卡利用必須由磁記錄部施加更高的逆磁場(一般而言，27500e以上)、被磁化的磁信息才會變?yōu)榱愕拇判圆牧铣尚味?低矯頑磁力的磁卡利用只要磁記錄部施加較低的逆磁場(一般而言，650e以下)、就能使被磁化的磁信息變?yōu)榱愕拇判圆牧铣尚味?。近年來，為了提高記錄在磁卡中的磁信息的可靠性等，或者出于保護記錄在磁卡的磁記錄部中的磁信息的觀點，越來越多地使用了高矯頑磁力的磁卡，但低矯頑磁力的磁卡也得到了廣泛的普及，因而高矯頑磁力的磁卡和低矯頑磁力的磁卡被混在一起進行使用。一般而言，在對低矯頑磁力或高矯頑磁力這樣的矯頑磁力不同的磁卡進行寫入時，若不設定與矯頑磁力相對應的合適的寫入電流，則無法得到合適的再現(xiàn)輸出。因此，為了根據(jù)磁卡的矯頑磁力來設定合適的寫入電流，需要判定磁卡是高矯頑磁力的磁介質(zhì)還是低矯頑磁力的磁介質(zhì)。作為對矯頑磁力進行判定的矯頑磁力判定方法，例如，是利用磁頭對從卡插入口插入的低矯頑磁力的磁卡或高矯頑磁力的磁卡上形成的磁信息進行再現(xiàn)或進行記錄的磁卡的矯頑磁力判定方法，利用只能將低矯頑磁力的磁卡的磁信息消去的電流將所插入的磁卡的磁信息消去，然后，對磁卡的磁信息進行再現(xiàn)，在磁信息為破壞狀態(tài)的情況下，將所插入的磁卡判定為低矯頑磁力的磁卡。已知有根據(jù)無法識別預先確定的應當記錄在磁卡中的特定的磁信息來判定磁信息的破壞狀態(tài)的矯頑磁力判定方法(例如，參照專利文獻I)。現(xiàn)有技術文獻專利文獻專利文獻1:日本專利特開2000-155816號公報

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的技術問題
然而，在專利文獻I中記載的矯頑磁力判定方法中，通過對一定輸出值以上的殘留輸出峰數(shù)進行計數(shù)來判定磁信息是否被破壞，因此，由進行判定的輸出電平及殘留輸出峰數(shù)來確定判定結果，因而存在該判定輸出電平及判定殘留輸出峰數(shù)的閾值設定會對判定結果產(chǎn)生較大影響的問題。此外，由于矯頑磁力的判定結果取決于磁頭的飽和特性、再現(xiàn)輸出，因此，存在容易受飽和特性、再現(xiàn)輸出的偏差的影響的問題。此外，在專利文獻I中記載的矯頑磁力判定方法中，判定結果取決于寫入磁信息的高矯頑磁力用的記錄電流值和消去磁信息的低矯頑磁力用的電流值，因此，存在這些電流值的設定及偏差會影響判定結果的問題。近年來,低矯頑磁力的磁卡中也在逐漸混雜著使用具有較高矯頑磁力的磁卡(例如，6500e)，因此，低矯頑磁力用的電流值的設定開始會對判定結果產(chǎn)生較大的影響。此外，還存在利用低矯頑磁力用的電流值進行DC消去之后的再現(xiàn)輸出容易因磁頭的特性、記錄電流值、磁卡與磁頭之間的間隔、及磁卡的特性等而發(fā)生變動的問題。例如，在插入翹曲的磁卡時或磁條上附著有垃圾等時等，磁條與磁頭的距離比通常時的要大，因此，磁通的變化與通常時不同，其結果是，存在錯誤地判定磁卡的矯頑磁力的問題。本發(fā)明是鑒于上述問題而完成的，其目的在于提供一種能判定磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力而不易受磁頭、磁記錄介質(zhì)的特性、記錄電流值的偏差的影響的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法。解決技術問題所采用的技術方案為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供以下的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法。(I)該磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法是用于通過磁頭對要形成在低矯頑磁力的磁介質(zhì)或高矯頑磁力的磁介質(zhì)中的磁信息進行記錄的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于，具有磁信息記錄步驟，在該磁信息記錄步驟中，交替地使用適合于對所述低矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流值、以及適合于對所述高矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流值將磁信息寫入所述磁記錄介質(zhì)；磁信息再現(xiàn)步驟，在該磁信息再現(xiàn)步驟中，對所述磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)；以及判定步驟，在該判定步驟中，將用所述第一記錄電流值所寫入的磁信息的第一再現(xiàn)輸出與用所述第二記錄電流值所寫入的磁信息的第二再現(xiàn)輸出進行比較，從而判定所述磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。根據(jù)本發(fā)明，將用適合于對低矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流值所寫入的磁信息的第一再現(xiàn)輸出與用適合于對高矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流值所寫入的磁信息的第二再現(xiàn)輸出進行比較，由此能基于再現(xiàn)輸出差來判定磁記錄介質(zhì)是低矯頑磁力的磁介質(zhì)還是高矯頑磁力的磁介質(zhì)。因此，在本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法中，磁頭的再現(xiàn)輸出的偏差不易影響判定結果，因此，能得到可靠性高的判定結果。(2)磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的特征在于，在所述判定步驟中，在所述第一再現(xiàn)輸出 >所述第二再現(xiàn)輸出時，判定所述磁記錄介質(zhì)為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在其他情況下判定所述磁記錄介質(zhì)為高矯頑磁力的磁介質(zhì)。根據(jù)本發(fā)明，對于容易識別的低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在第一再現(xiàn)輸出 >第二再現(xiàn)輸出的情況下，判定磁記錄介質(zhì)為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，由此，在無法判定磁信息的再現(xiàn)輸出差的情況下也能識別為是高矯頑磁力的磁介質(zhì)，因此，能可靠地得到判定結果。(3)磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的特征在于，在所述磁信息記錄步驟之前，具有對所述磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)以確認有無磁信息的確認步驟。根據(jù)本發(fā)明，能事先確認磁記錄介質(zhì)中是否寫入了磁信息，因而能根據(jù)有無磁信息來轉(zhuǎn)移至合適的處理步驟。例如，在磁記錄介質(zhì)中沒有寫入磁信息的情況下，能直接轉(zhuǎn)移至磁信息記錄步驟。(4)磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的特征在于,在所述確認步驟中,在所述磁記錄介質(zhì)中寫入了磁信息的情況下，具備利用能對所述高矯頑磁力的磁介質(zhì)的磁信息進行消去的消去電流值來消去該磁信息的消去步驟。根據(jù)本發(fā)明，在磁記錄介質(zhì)中寫入了磁信息的情況下，利用能對高矯頑磁力的磁介質(zhì)的磁息進行消去的消去電流值來消去磁息，由此能基于在磁信息記錄步驟中寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出差來判定矯頑磁力，因而能排除磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息對判定結果帶來的影響。(5)磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的特征在于，在所述判定步驟中，在所述第一再現(xiàn)輸出 >所述第二再現(xiàn)輸出時，判定所述磁記錄介質(zhì)為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在所述第一再現(xiàn)輸出 <所述第二再現(xiàn)輸出時，判定所述磁記錄介質(zhì)為高矯頑磁力的磁介質(zhì)。根據(jù)本發(fā)明，能根據(jù)磁記錄介質(zhì)的飽和特性，在第一再現(xiàn)輸出 > 第二再現(xiàn)輸出時，識別出磁記錄介質(zhì)為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在第一再現(xiàn)輸出 <第二再現(xiàn)輸出時，識別出磁記錄介質(zhì)為高矯頑磁力的磁介質(zhì)，因此，能明確地判定磁記錄介質(zhì)是低矯頑磁力介質(zhì)還是高矯頑磁力介質(zhì)。(6)磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的特征在于，在所述磁信息記錄步驟中，將所述磁記錄介質(zhì)的要記錄磁信息的磁記錄部在長度方向上進行劃分，對該劃分后所得到的每個比較區(qū)域交替地使用所述第一記錄電流值和所述第二記錄電流值來將磁信息寫入所述磁記錄部。根據(jù)本發(fā)明，將磁信息記錄部形成在進行了例如2至10劃分后得到的比較區(qū)域中，對該劃分后得到的每個比較區(qū)域交替地使用第一記錄電流值和第二記錄電流值來將磁信息寫入磁信息記錄部，由此能抑制因磁記錄介質(zhì)的變形、磁特性的偏差、磁記錄介質(zhì)與磁頭之間的間隔的偏差所引起的再現(xiàn)輸出的偏差，因而能得到可靠性更高的判定結果。本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法中，例如求出多個比較區(qū)域中用相同記錄電流值所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出的平均值，并比較再現(xiàn)輸出的平均值，由此能抑制再現(xiàn)輸出的偏差，從而得到可靠性高的判定結果。(7)磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的特征在于，在所述判定步驟中，求出所述第一再現(xiàn)輸出與所述第二再現(xiàn)輸出的差或比率，并求出所述磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。根據(jù)本發(fā)明，通過求出第一再現(xiàn)輸出與第二再現(xiàn)輸出的差或比率，能推定磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力的值，能提高低矯頑磁力的磁介質(zhì)和高矯頑磁力的磁介質(zhì)的識別精度。發(fā)明效果如以上說明的那樣，本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法不易受磁頭、磁記錄介質(zhì)的特性、記錄電流值的偏差的影響，能明確地判定磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。


圖1是表示用于實施本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的介質(zhì)處理裝置的磁頭及磁頭的控制電路的框圖。圖2是表示各矯頑磁力的磁介質(zhì)的飽和特性的圖。圖3是表示低矯頑磁力的磁介質(zhì)的再現(xiàn)輸出波形的圖。圖4是表示高矯頑磁力的磁介質(zhì)的再現(xiàn)輸出波形的圖。圖5是表示對不同記錄電流值的磁信息進行記錄的比較區(qū)域的一個示例的圖。圖6是表示本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的一個實施例的流程圖。 圖7是表示磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力的判定狀況的圖。圖8是表示磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力的判定狀況的圖。圖9是表示本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法的其它實施例的流程圖。
具體實施例方式本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法是用于通過磁頭來對要形成在低矯頑磁力的磁介質(zhì)或高矯頑磁力的磁介質(zhì)中的磁信息進行記錄的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于，具有磁信息記錄步驟，在該磁信息記錄步驟中，交替地使用適合于對所述低矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流值、以及適合于對所述高矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流值來將磁信息寫入所述磁記錄介質(zhì)中；磁信息再現(xiàn)步驟，在該磁信息再現(xiàn)步驟中，對所述磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)；以及判定步驟，在該判定步驟中，將用所述第一記錄電流值所寫入的磁信息的第一再現(xiàn)輸出與用所述第二記錄電流值所寫入的磁信息的第二再現(xiàn)輸出進行比較，從而判定所述磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。以下，參照附圖對用于實施本發(fā)明的優(yōu)選方式進行說明。[介質(zhì)處理裝置的結構]圖1是表示用于實施本發(fā)明所涉及的判定方法的介質(zhì)處理裝置的磁頭及磁頭的控制電路的框圖。圖2是表示各矯頑磁力介質(zhì)的飽和特性的圖。圖3是表示低矯頑磁力介質(zhì)的再現(xiàn)輸出波形的圖。圖4是表示高矯頑磁力介質(zhì)的再現(xiàn)輸出波形的圖。圖5是表示對不同記錄電流值的磁信息進行記錄的比較區(qū)域的一個示例的圖。作為本發(fā)明所涉及的具有對磁記錄介質(zhì)的不同的矯頑磁力進行判定的功能的介質(zhì)處理裝置，例如有磁卡讀取器。對于該磁卡讀取器，將磁卡(磁記錄介質(zhì))插入主體部的插入口來通過輥等傳送單元傳送到主體部的內(nèi)部，并且通過設置在傳送路徑上的磁頭進行磁信息的寫入(記錄)或讀取(再現(xiàn))。作為磁記錄介質(zhì)的磁卡20例如是厚度為O. 7 O. 8mm左右的矩形的氯乙烯制的卡。如圖1所示，對于磁卡20,在其表面上形成有記錄了磁信息的磁記錄部(磁條)21。另夕卜，磁記錄介質(zhì)除了磁卡20以外也可以是厚度為O. 18 O. 36mm左右的PET(聚對苯二甲酸乙二酯)卡、規(guī)定厚度的紙卡等。本實施方式中，磁卡讀取器與例如3000e的低矯頑磁力的磁卡和27500e的高矯頑磁力的磁卡這兩種磁卡相對應來作為不同的矯頑磁力介質(zhì)。如圖1所示，這種磁卡讀取器包括控制電路10及磁頭4?？刂齐娐?0具有控制部1、磁R / W-1C2、記錄電流電路3、磁頭4、運算放大器7?？刂撇縄具有對磁頭4及該控制電路整體進行控制的CPUlA ;對磁條21中已寫入的磁信息的矯頑磁力進行判定的矯頑磁力判定單元IB ;將磁條21劃分為以低矯頑磁力寫入的區(qū)域和以高矯頑磁力寫入的區(qū)域的比較區(qū)域設定單元1C;以及對適合于在由比較區(qū)域設定單元IC所確定的區(qū)域進行寫入的記錄電流進行切換的矯頑磁力切換單元1D。此夕卜，CPUlA具有存放對控制電路進行控制的程序的ROM以及將其控制數(shù)據(jù)以能讀取的方式進行存儲的RAM。另外，本實施方式中，CPUlA除了對磁頭4和控制電路進行控制以外，例如，還對傳送磁卡20的傳送機構(未圖示)進行控制。矯頑磁力判定單元IB對寫入磁條21、檢測磁記錄介質(zhì)的位置的傳感器等(未圖示)磁卡讀取器整體的磁信息的矯頑磁力進行判定。具體而言，由圖2所示的波形來表示低矯頑磁力的磁卡及高矯頑磁力的磁卡的飽和特性，但利用低矯頑磁力的磁卡和高矯頑磁力的磁卡的飽和特性的再現(xiàn)輸出(峰值)的差來識別磁卡20的矯頑磁力。如圖2所示，低矯頑磁力的磁卡中，第一記錄電流Ia下的再現(xiàn)輸出值A >第二記錄電流Ib下的再現(xiàn)輸出值B，再現(xiàn)輸出值A成為低矯頑磁力的磁卡時的再現(xiàn)輸出峰值，但對于高矯頑磁力的磁卡則未成為峰值。接下來，第二記錄電流Ib下的再現(xiàn)輸出值A’ <第二記錄電流Ib下的再現(xiàn)輸出值B’。再現(xiàn)輸出值B’成為高矯頑磁力的磁卡的再現(xiàn)輸出峰值，但對于低矯頑磁力的磁卡則不是峰值。另外，再現(xiàn)輸出A或A’相當于“第一再現(xiàn)輸出值”，再現(xiàn)輸出值B或B’相當于“第二再現(xiàn)輸出值”。本實施方式中，利用再現(xiàn)頭6對磁卡20中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)，如圖3及圖4所示，得到一定頻率的再現(xiàn)輸出波形。矯頑磁力判定單元IB將用第一記錄電流Ia所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值A與用第二記錄電流Ib所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值B進行比較。例如，圖3是表示低矯頑磁力的磁卡20的再現(xiàn)輸出波形的圖，再現(xiàn)輸出值(大致為再現(xiàn)輸出峰值)A >再現(xiàn)輸出值B，因此，基于圖2所示的飽和特性判定磁卡20為低矯頑磁力介質(zhì)。此外，圖4是表示高矯頑磁力的磁卡20的再現(xiàn)輸出波形的圖，再現(xiàn)輸出值A’<再現(xiàn)輸出值(大致為再現(xiàn)輸出峰值)B’，因此，基于圖2所示的飽和特性判定磁卡20為高矯頑磁力介質(zhì)。另外,本實施方式中，對記錄在磁卡20中的磁信息以磁卡讀取器等F2F記錄方式中的IF頻率進行寫入。即，圖3、圖4所示的再現(xiàn)輸出波形是IF頻率的波形。一般而言，作為磁卡讀取器等介質(zhì)處理裝置中使用的磁記錄方式，已知有通過F及2F這兩種頻率的組合來將二值的磁信息記錄到磁卡20中的FM調(diào)制方式。更具體而言，IF是在一定時間內(nèi)發(fā)生一次變化的磁信息，2F是在一定時間內(nèi)發(fā)生兩次變化的磁信息。而且,IF的磁信息作為二值化表示“0”，此外，2F的磁信息作為二值化表示“ I ”。另外，也可以以2F頻率來寫入磁信肩、O比較區(qū)域設定單元IC用于在磁條21上設定長度方向上劃分為兩個以上的區(qū)域。將每個比較區(qū)域中不同的記錄電流值的磁信息記錄到劃分后得到的區(qū)域(比較區(qū)域)中。具體而言，在圖3所示的比較區(qū)域22中，“A”所示的區(qū)域是以適合于對低矯頑磁力介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流Ia寫入了磁信息的區(qū)域，“B”所示的區(qū)域是以適合于對高矯頑磁力介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流Ib寫入了磁信息的區(qū)域。同樣，在圖4所示的比較區(qū)域22中，“A’ ”所示的區(qū)域是以適合于對低矯頑磁力介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流Ia寫入了磁信息的區(qū)域，“B’ ”所示的區(qū)域是用適合于對高矯頑磁力介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流Ib寫入了磁信息的區(qū)域。對于磁卡20，即使在一定的記錄電流值及記錄頻率下進行寫入，有時也會出現(xiàn)圖5所示的再現(xiàn)輸出波形的峰值不均勻的情況。作為其主要原因，可以認為是不同部位上的磁卡20的磁特性(矯頑磁力、介質(zhì)厚度)的偏差、以及不同部位上的磁卡20的變形所引起的磁條與磁頭之間的間隔的偏差等。因此，為了在再現(xiàn)輸出波形的峰值不均勻的情況下也能提高判定精度，如圖5所示那樣，將磁條21在長度方向上劃分成兩個以上，使用記錄頭5將每個比較區(qū)域22中不同的記錄電流值的磁信息寫入到磁條21上。本實施方式中，如圖5所示，對于比較區(qū)域22，設定為將磁條21在長度方向上五等分。更詳細而言，對于采用本實施方式中的磁卡讀取器的情況，將磁條21設定為五等分，并將磁卡20相對于磁頭4進行等速傳送，因此，設定為等時間劃分。另外，對于比較區(qū)域22，將磁條21劃分得越細就越能提高判定的精度，但考慮到CPUlA的處理能力、記錄電流值進行切換的記錄電流電路3的響應時間能力、及再現(xiàn)輸出波形的峰值的不均勻程度等，對于本發(fā)明的每個適用裝置分別決定劃分數(shù)。磁卡讀取器等介質(zhì)處理裝置中，優(yōu)選將磁條21劃分成2至10個。本實施方式中，在比較區(qū)域22中，對被劃分的各比較區(qū)域進行了等分，但并不限于此。此外，在整個磁條21中，在再現(xiàn)輸出波形的峰值均勻的情況下，無需劃分磁條21，只需對整個磁條21各使用一次第一記錄電流Ia和第二記錄電流Ib來寫入磁信息即可。矯頑磁力切換單元ID用于切換適合于在由比較區(qū)域設定單元IC所確定的比較區(qū)域22內(nèi)進行寫入的記錄電流。磁頭4包括記錄頭5和再現(xiàn)頭6,記錄頭5將磁信息寫入(記錄)到磁卡20中，再現(xiàn)頭6對記錄在磁卡20中的磁信息進行讀取(再現(xiàn))。本實施方式中，記錄頭5例如是27500e的高矯頑磁力用的記錄頭,通過改變記錄電流的大小也可用作3000e的低矯頑磁力用的記錄頭。另外，圖2是表示低矯頑磁力的磁卡和高矯頑磁力的磁卡的飽和特性的圖，橫軸是記錄電流值，縱軸是再現(xiàn)輸出值。在圖2中，粗實線表示低矯頑磁力的磁卡的再現(xiàn)輸出與第一記錄電流Ia的關系。細實線表示高矯頑磁力的磁卡的再現(xiàn)輸出與第二記錄電流Ib的關系。此處，對于記錄電流值，通常將能取得再現(xiàn)輸出的飽和電流值Iap的80%的輸出的記錄電流的1. 5倍至5倍左右的電流值設定為第一記錄電流la。對于由此設定的第一記錄電流Ia，以對于電流的變動而輸出變動較少的部分進行磁記錄，因此，可以認為其作為記錄電流是最合適的。同樣，將能取得高矯頑磁力(27500e)的磁卡的飽和電流值Ibp的80%的輸出的記錄電流的1. 5倍至5倍左右的電流值設為第二記錄電流Ib。記錄電流電路3將適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流la、或者適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib提供給記錄頭5，從而利用適合于磁卡20的矯頑磁力的記錄電流值來記錄磁信息。具體而言，如上所述，如圖2所示，將第一記錄電流Ia及第二記錄電流Ib提供給記錄頭5。另外，本實施方式中，在對記錄在低矯頑磁力及高矯頑磁力的磁卡20中的磁信息進行消去的情況下也使用磁頭5。具體而言，將記錄頭5對磁卡20的DC消去(直流消去)設定為僅能消去低矯頑磁力(3000e)的電流值(例如，20 30mA左右)以及能消去低矯頑磁力和高矯頑磁力(27500e)雙方的電流(例如，120mA以上)。磁R / W-1C2是配置在記錄電流電路3與CPUlA之間、并根據(jù)來自CPUlA的指令來控制記錄電流電路3對于記錄頭5的磁寫入電流的控制電路。本實施方式中，磁R / W-1C2在將磁信息寫入(記錄)到設置在磁卡20上的磁條21中的磁頭5及讀取(再現(xiàn))磁信息的再現(xiàn)頭6之間進行信號控制。由此，記錄頭5能應對低矯頑磁力(3000e)及高矯頑磁力(27500e)。此外，本實施方式中，磁R / W-1C2在從CPUlA接收到輸入輸出要求時進行對磁頭4的輸入輸出控制。運算放大器7對由再現(xiàn)頭6讀取到的磁卡20的磁信息進行放大，并作為再現(xiàn)輸出輸入到CPUlA的模擬端口。[矯頑磁力判定方法的一個實施例]接下來，對由上述磁卡讀取器進行的磁卡的矯頑磁力判定方法進行說明。圖6是表示本發(fā)明所涉及的磁卡的矯頑磁力判定方法的一個實施例的流程圖。圖6所示的磁卡20的矯頑磁力判定方法用于通過記錄頭5對要形成在低矯頑磁力或高矯頑磁力的磁卡20中的磁信息進行記錄，其主要的步驟包括磁信息記錄步驟，在該磁信息記錄步驟中，在低矯頑磁力的磁卡20的寫入中交替地使用第一記錄電流值Ia和第二記錄電流值Ib來將磁信息寫入磁卡20中；磁信息再現(xiàn)步驟，在該磁信息再現(xiàn)步驟中，對磁卡20中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)；以及判定步驟，在該判定步驟中，將用適合于對低矯頑磁力介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流值所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值A與用適合于對高矯頑磁力介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流值所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值B進行比較，從而判定磁卡20的矯頑磁力。如圖6所示，磁卡讀取器利用傳感器等檢測出插入到卡插入口中的磁卡20，并將磁卡20收入到主體部的內(nèi)部(步驟SI)。首先,在磁卡讀取器中,將磁卡20從卡插入口插入。利用未圖示的輥等傳送單元將從卡插入口插入的磁卡20傳送到主體部的內(nèi)部，并利用設置在傳送路徑上的再現(xiàn)頭6對形成在磁條21上的磁信息進行讀取(步驟S2)。CPUlA對由再現(xiàn)頭6所讀取到的再現(xiàn)輸出中是否含有磁信息進行確認(步驟S3)。另外，該步驟S3稱為確認步驟。在CPUlA判定為磁卡20中寫入了磁信息的情況下，記錄電流電路3將能消去高矯頑磁力的磁卡20的磁信息的消去電流提供給記錄頭5，從而對記錄在磁卡20中的磁信息進行DC消去(直流消去)(步驟S4)。利用用作直流消去頭的記錄頭5對記錄在磁條21上的磁信息進行直流消去，從而使磁條21的磁化狀態(tài)均勻化。另外，該步驟S4稱為消去步驟。另一方面，在步驟S3中，在CPUlA判定為磁卡20中未寫入磁信息的情況下，不進行消去步驟(步驟S4)，轉(zhuǎn)移至下一個磁信息記錄步驟(S5)。記錄頭5用第一或第二記錄電流la、Ib在磁條21上寫入(記錄)判定用的磁信息(步驟S5)。另外，該步驟S5稱為磁信息記錄步驟。此處，CPUlA的比較區(qū)域設定單元IC如圖5所示那樣對磁化狀態(tài)均勻化后的磁條21在長度方向上設定五等分的比較區(qū)域22。此外，控制部I經(jīng)由磁R / W-1C2從再現(xiàn)頭6切換到記錄頭5。由記錄電流電路3將適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流la、或者適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib提供給記錄頭5。使記錄頭5在被傳送的磁卡20的磁條21上滑動，從而將磁信息寫入(記錄)到磁條21上。本實施方式中，在所設定的各比較區(qū)域22中，用適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流Ia來將判定用的磁信息寫入到由“A”表示的區(qū)域中。接下來，用適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib來將判定用的磁信息寫入到由“B”表示的區(qū)域中。另外，本實施方式中，對于記錄在磁卡20中的磁信息，用磁卡讀取器等F2F記錄方式中的IF頻率來進行寫入。如上所述，即使在一定的記錄電流值及記錄頻率下對比較區(qū)域22進行寫入，有時也會出現(xiàn)圖5所示那樣再現(xiàn)輸出波形的峰值不均勻的情況。作為其主要原因，可以認為是不同部位上的磁卡20的磁特性(矯頑磁力、介質(zhì)厚度)的偏差、不同部位上的磁卡20的變形所引起的磁條與磁頭之間的間隔的偏差等。本實施方式中，將適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流la、以及適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib按此順序交替地進行記錄，但也可以與其相反，將適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流lb、以及適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流Ia按此順序交替地進行記錄。再現(xiàn)頭6對寫入磁卡20中的磁信息進行讀取(再現(xiàn))(步驟S6)。另外，該步驟S6稱為磁信息再現(xiàn)步驟。此處，對于控制部1，在將磁信息寫入到磁卡20的磁條21之后，使用未圖示的傳送單元等使磁卡20的傳送方向反轉(zhuǎn)。而且，經(jīng)由磁R / W-1C2從記錄頭5切換到再現(xiàn)頭6。再現(xiàn)頭6在磁條21上滑動，并輸出再現(xiàn)信號。例如，如圖3及圖4所示，對CPUlA輸入一定頻率的再現(xiàn)輸出波形。CPUlA的矯頑磁力判定單元IB將由再現(xiàn)頭6從各比較區(qū)域22讀取到的判定用磁信息與用適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流Ia所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值A、以及用適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值B進行比較，從而判定磁卡20的矯頑磁力(步驟S7)。另外，該步驟S7稱為判定步驟。本實施方式中，在矯頑磁力判定單元IB中，能基于圖2所示那樣的低矯頑磁力或高矯頑磁力的飽和特性，在再現(xiàn)輸出A >再現(xiàn)輸出B(圖3)時判定磁卡20為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在再現(xiàn)輸出A’ <再現(xiàn)輸出B’(圖4)時判定磁卡20為高矯頑磁力的磁介質(zhì)。另外，作為對再現(xiàn)輸出A與再現(xiàn)輸出B進行比較的方法，也可以求出再現(xiàn)輸出A與再現(xiàn)輸出B的差或比率，從而求出磁卡20的矯頑磁力。由此，能推定磁卡20的矯頑磁力的值，提高低矯頑磁力的磁介質(zhì)和高矯頑磁力的磁介質(zhì)的識別精度。(本實施方式的主要效果)本實施方式的矯頑磁力判定方法將用適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流Ia所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出A與用適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出B進行比較來進行判定。由此，能判定磁卡20是低矯頑磁力的磁介質(zhì)還是高矯頑磁力的磁介質(zhì)。由此，本實施方式的矯頑磁力判定方法基于再現(xiàn)輸出(再現(xiàn)輸出峰值)的大小來判定磁卡20的矯頑磁力，因此，以往那樣的再現(xiàn)頭6的再現(xiàn)輸出的偏差不易影響判定結果，能得到可靠性高的判定結果。此外，本實施方式中，磁卡讀取器由通常所使用的電路及軟件所構成，因此，不必為了實施本實施方式的矯頑磁力判定方法而追加新的電路、機構，因而能降低成本。此外，本實施方式中，由于在磁信息記錄步驟(步驟S5)之前具有對磁卡20中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)以確認有無磁信息的確認步驟(步驟S3)，因此，能事先確認磁卡20中是否寫入了磁信息，能根據(jù)磁信息的有無來轉(zhuǎn)移至合適的處理步驟，例如，在磁卡20中沒有寫入磁信息的情況下，能直接轉(zhuǎn)移至磁信息記錄步驟(步驟S5)。接下來，在確認步驟(步驟S3)中，在磁卡20中寫入了磁信息的情況下，具備利用能消去聞矯頑磁力的磁卡20的磁/[目息的消去電流值來消去磁/[目息的消去步驟(步驟S4)，因此，能在磁信息記錄步驟(步驟S5)中對用第一或第二記錄電流la、Ib所寫入的判定用的磁信息的再現(xiàn)輸出進行比較來判定矯頑磁力，能排除已經(jīng)寫入磁卡20中的磁信息對判定結果帶來的影響。而且，本實施方式中，利用能消去高矯頑磁力的磁卡20的磁信息的消去電流值來消去磁息，因此，即使磁卡20為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，也能消去其磁信息。而且，在磁信息記錄步驟(步驟S5)中，將磁卡20的要記錄磁信息的磁條21在長度方向上設定成比較區(qū)域(本實施方式中劃分為五等分)，對該劃分后得到的每個比較區(qū)域22交替地使用第一記錄電流Ia和第二記錄電流Ib來將磁信息寫入磁條21。由此，能抑制因磁卡20的變形、磁特性的偏差、以及磁卡20與磁頭4之間的間隔的偏差所引起的再現(xiàn)輸出的偏差，因而能得到可靠性更高的判定結果。由此，在再現(xiàn)輸出波形的峰值不均勻的情況下，對每個比較區(qū)域22交替地使用第一記錄電流Ia和第二記錄電流Ib來將磁信息寫入磁條21，由此能提高判定的精度。[矯頑磁力判定方法的其它實施例]圖9是表示本發(fā)明所涉及的磁卡的矯頑磁力判定方法的其它實施例的流程圖。圖9所示的磁卡20的矯頑磁力判定方法中，磁卡讀取器利用傳感器等來檢測插入到卡插入口中的磁卡20，并將磁卡20收入到主體部的內(nèi)部(步驟Sll /相當于圖6所示的步驟SI)。記錄頭5用第一或第二記錄電流la、Ib在磁條21上寫入判定用的磁信息(步驟S12)。具體而言，交替地使用適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流la、以及者適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib來將磁信息寫入磁卡20中。另外，該步驟S12稱為磁信息記錄步驟,相當于圖6所示的步驟S5。另外，在磁信息記錄步驟(步驟S12)中，與上述實施方式相同，將磁卡20的要記錄磁信息的磁條21在長度方向上設定成比較區(qū)域(本實施方式中劃分為五等分)，對該劃分后得到的每個比較區(qū)域22交替地使用第一記錄電流Ia和第二記錄電流Ib來將磁信息與入磁條21。再現(xiàn)頭6對寫入磁卡20中的磁信息進行讀取(再現(xiàn))(步驟S13)。另外，該步驟S13稱為磁信息再現(xiàn)步驟，相當于圖6所示的步驟S5。步驟S13與步驟S5相同，再現(xiàn)頭6對已寫入磁卡20的磁信息進行再現(xiàn)，例如，如圖3及圖4所示，對CPUlA輸入一定頻率的再現(xiàn)輸出波形。
CPUlA的矯頑磁力判定單元IB將由再現(xiàn)頭6從各比較區(qū)域22讀取到的判定用磁信息與用適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流Ia所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值A、以及用適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib所寫入的磁信息的再現(xiàn)輸出值B進行比較，從而判定磁卡20的矯頑磁力。另外，該步驟S14稱為判定步驟，相當于圖6所示的步驟S7。判定步驟(步驟S14)與圖6所示的判定步驟(步驟S6)不同，在再現(xiàn)輸出A >再現(xiàn)輸出B時判定磁卡20為低矯頑磁力的磁介質(zhì),在其他情況下判定磁卡20為高矯頑磁力的磁介質(zhì)。如圖2所示，高矯頑磁力的磁卡20的再現(xiàn)輸出的差值(B’-A’)通常小于低矯頑磁力的磁卡20的再現(xiàn)輸出的差值(A-B)。因此，判定步驟(步驟S14)中也會產(chǎn)生難以識別高矯頑磁力的磁卡20的再現(xiàn)輸出的差值(B’ -A’)的情況(B’ = A’)，但此時如果不是A’> B’，則判定為是高矯頑磁力的磁介質(zhì)，由此能避免無法判定的情況。因此，能可靠地得到判定結果。圖9所示的實施方式中，對于容易識別的低矯頑磁力的磁卡20，在再現(xiàn)輸出A >再現(xiàn)輸出B的情況下判定磁卡20為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，由此，即使在無法判定磁信息的再現(xiàn)輸出差的情況下也能識別出是高矯頑磁力的磁介質(zhì)。[其它實施方式]對于本發(fā)明的矯頑磁力判定方法，例如在得到圖7及圖8所示的再現(xiàn)輸出(再現(xiàn)輸出峰值)的情況下，分別求出用同一記錄電流值寫入到多個比較區(qū)域中的磁信息的再現(xiàn)輸出(再現(xiàn)輸出A及再現(xiàn)輸出B)的平均值，能通過比較該再現(xiàn)輸出的平均值來判定磁卡20的矯頑磁力。由此，通過比較再現(xiàn)輸出的平均值來抑制再現(xiàn)輸出的偏差，由此能得到可靠性更高的判定結果。此外，上述的磁信息記錄步驟中，交替地使用適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流la、以及者適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib來將磁信息寫入磁卡20，但并不限于此。例如，可以包括交替使用三種以上的記錄電流值來將磁信息寫入磁記錄介質(zhì)的單元。如果是這樣的方法，則在磁信息記錄步驟中，交替使用三種以上的記錄電流值將磁信息寫入磁記錄介質(zhì)，從而能識別多種矯頑磁力，例如，低矯頑磁力(例如，6500e以下)、中矯頑磁力(例如，15000e左右)、高矯頑磁力(例如，27500e以上)，而不限于低矯頑磁力的磁介質(zhì)和高矯頑磁力的磁介質(zhì)的識別。另外，在整個磁條21中，在再現(xiàn)輸出波形的峰值均勻的情況下，無需劃分磁條21，比較區(qū)域設定單元IC可以設定為對整個磁條21各使用一次第一記錄電流Ia和第二記錄電流Ib來寫入磁信息。此外，本實施方式中，將比較區(qū)域作為整個磁條21進行了說明，但并不限于此，t匕較區(qū)域也可以是長度方向的規(guī)定區(qū)域。具體而言，可以是整個磁條21的長度的一半左右、例如前半部分或后半部分，也可以進一步將例如磁條21的長度方向的正中間附近設定為比較區(qū)域。本實施方式中，如圖5所示，將適合于對低矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第一記錄電流Ia(再現(xiàn)輸出A區(qū)域)、以及適合于對高矯頑磁力的磁卡20進行寫入的第二記錄電流Ib (再現(xiàn)輸出B區(qū)域)按此順序交替地進行記錄，但也可以與其相反，將適合于對高矯頑磁力的磁卡進行寫入的第二記錄電流lb、以及適合于對低矯頑磁力的磁卡進行寫入的第一記錄電流Ia按此順序交替地進行記錄。此外，本實施方式中，設置了確認步驟(步驟S3)，但也可以不設置確認步驟(S3)、而始終進行消去步驟(步驟S4)。工業(yè)上的實用性本發(fā)明所涉及的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法可用于能明確地判定磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力而不會受磁頭、磁記錄介質(zhì)的特性、記錄電流值的偏差的影響的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法。標號說明I CPU2 磁 R / W-1C3 記錄電流電路4 磁頭5 記錄頭6 再現(xiàn)頭7 運算放大器10 磁卡讀取器(介質(zhì)處理裝置)20 磁卡(磁記錄介質(zhì))21 磁條(磁記錄部)22 比較區(qū)域
權利要求
1.一種磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，該磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法用于通過磁頭對要形成在低矯頑磁力的磁介質(zhì)或高矯頑磁力的磁介質(zhì)中的磁信息進行記錄，其特征在于，具有 磁信息記錄步驟，在該磁信息記錄步驟中，交替地使用適合于對所述低矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流值、以及適合于對所述高矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流值來將磁信息寫入所述磁記錄介質(zhì)； 磁信息再現(xiàn)步驟，在該磁信息再現(xiàn)步驟中，對所述磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)；以及 判定步驟，在該判定步驟中，將用所述第一記錄電流值所寫入的磁信息的第一再現(xiàn)輸出與用所述第二記錄電流值所寫入的磁信息的第二再現(xiàn)輸出進行比較，從而判定所述磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。
2.如權利要求1所述的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于， 在所述判定步驟中，在所述第一再現(xiàn)輸出 >所述第二再現(xiàn)輸出時，判定所述磁記錄介質(zhì)為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在其他情況下判定所述磁記錄介質(zhì)為高矯頑磁力的磁介質(zhì)。
3.如權利要求1所述的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于， 在所述磁信息記錄步驟之前，具有對所述磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)來確認有無磁信息的確認步驟。
4.如權利要求3所述的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于， 在所述確認步驟中，在所述磁記錄介質(zhì)中寫入了磁信息的情況下，具備利用能對所述聞矯頑磁力的磁介質(zhì)的磁信息進行消去的消去電流值來消去該磁信息的消去步驟。
5.如權利要求3或4所述的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于， 在所述判定步驟中，在所述第一再現(xiàn)輸出 >所述第二再現(xiàn)輸出時，判定所述磁記錄介質(zhì)為低矯頑磁力的磁介質(zhì)，在所述第一再現(xiàn)輸出 <所述第二再現(xiàn)輸出時，判定所述磁記錄介質(zhì)為高矯頑磁力的磁介質(zhì)。
6.如權利要求1至5中任一項所述的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于， 在所述磁信息記錄步驟中，將所述磁記錄介質(zhì)的要記錄磁信息的磁記錄部在長度方向上進行劃分，對該劃分后得到的每個比較區(qū)域交替地使用所述第一記錄電流值和所述第二記錄電流值來將磁信息寫入所述磁記錄部。
7.如權利要求3至6中任一項所述的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法，其特征在于， 在所述判定步驟中，求出所述第一再現(xiàn)輸出與所述第二再現(xiàn)輸出的差或比率，并求出所述磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能判定磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力而不易受磁頭、磁記錄介質(zhì)的特性、記錄電流值的偏差的影響的磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法。該磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力判定方法用于通過磁頭對要形成在低矯頑磁力的磁介質(zhì)或高矯頑磁力的磁介質(zhì)中的磁信息進行記錄，具有磁信息記錄步驟(步驟S5)，在該磁信息記錄步驟(步驟S5)中交替地使用適合于對低矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第一記錄電流值、以及適合于對高矯頑磁力的磁介質(zhì)進行寫入的第二記錄電流值來將磁信息寫入磁記錄介質(zhì)；磁信息再現(xiàn)步驟(步驟S6)，在該磁信息再現(xiàn)步驟(步驟S6)中，對磁記錄介質(zhì)中已寫入的磁信息進行再現(xiàn)；以及判定步驟(步驟S7)，在該判定步驟(步驟S7)中，將用第一記錄電流值所寫入的磁信息的第一再現(xiàn)輸出A與用第二記錄電流值所寫入的磁信息的第二再現(xiàn)輸出B進行比較，從而判定磁記錄介質(zhì)的矯頑磁力。
文檔編號G11B5/84GK103069487SQ201280002369
公開日2013年4月24日 申請日期2012年3月29日 優(yōu)先權日2011年5月24日
發(fā)明者山本久 申請人:日本電產(chǎn)三協(xié)株式會社