專利名稱：光盤重放設(shè)備、方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般地涉及光盤重放設(shè)備，更為具體地涉及在光盤上存在表面缺陷的情況下提高這樣的設(shè)備的讀出性能的技術(shù)。
背景技術(shù)：
標(biāo)準(zhǔn)化的光盤存儲(chǔ)格式最近從數(shù)字多功 能光盤(DVD)發(fā)展到藍(lán)光(Blu-ray)。使用405納米波長(zhǎng)的藍(lán)色激光來讀取藍(lán)光光盤，藍(lán)色激光顯著地短于用于讀取DVD的650納米的紅色激光。因此，信息能夠以高得多的密度被存儲(chǔ)在藍(lán)光光盤上。例如，一個(gè)單層的藍(lán)光光盤能夠存儲(chǔ)大約25千兆字節(jié)(GB)的數(shù)據(jù)，相比之下DVD是約5GB。眾所周知，通過將光盤配置為包括多個(gè)存儲(chǔ)層，能夠達(dá)到更高的存儲(chǔ)密度。雖然藍(lán)光光盤具有存儲(chǔ)密度更高的優(yōu)點(diǎn)，但是使用較短波長(zhǎng)的激光用于進(jìn)行讀出也是有問題的，問題在于它會(huì)導(dǎo)致對(duì)于由在光盤表面上或表面附近的刮痕、指紋、灰塵顆粒、氣泡或其它缺陷所造成的重放錯(cuò)誤有更高的敏感性。根據(jù)表面缺陷的程度，光盤重放設(shè)備的重放會(huì)被暫時(shí)中斷或全部一起停止。對(duì)于小的缺陷，重放設(shè)備通常會(huì)首先嘗試重新讀取處于錯(cuò)誤狀態(tài)的數(shù)據(jù)，而如果它不能重新讀取該數(shù)據(jù)，則該設(shè)備可以向前跳過并嘗試讀取下一個(gè)數(shù)據(jù)位置，繼續(xù)這一處理，直到表面缺陷最終被繞過而正常重放恢復(fù)。對(duì)于較大的缺陷，當(dāng)重放設(shè)備中所執(zhí)行的校正處理不能解決該情況時(shí)，重放時(shí)常完全凍結(jié)。用戶可能之后不得不使用重放設(shè)備的“跳過”或“快進(jìn)”功能，以便在重放序列中手動(dòng)向前步進(jìn)，直到繞過該表面缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的說明性的實(shí)施例在存在表面缺陷的情況下通過執(zhí)行預(yù)掃描功能以及在讀取激光到達(dá)表面缺陷之前啟動(dòng)的適當(dāng)?shù)腻e(cuò)誤恢復(fù)算法而在光盤重放設(shè)備中提供改進(jìn)的讀出性能，在所述預(yù)掃描功能中，能夠檢測(cè)所述表面缺陷。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，一種光盤重放設(shè)備包括第一激光器和第二激光器、光學(xué)組件、第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器、以及與所述光學(xué)檢測(cè)器耦合的控制器電路。所述光學(xué)組件被配置為引導(dǎo)來自所述第一激光器和第二激光器的入射光，從而在光盤的表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)，并且還被配置為將來自光盤表面上的所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)和所述尾隨掃描點(diǎn)的對(duì)應(yīng)的反射光引導(dǎo)至所述光學(xué)檢測(cè)器中的相應(yīng)檢測(cè)器。所述控制器電路被配置為在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的所述反射光來識(shí)別所述光盤的該表面缺陷。所述控制器電路還可以被配置為響應(yīng)于對(duì)所述表面缺陷的識(shí)別而啟動(dòng)糾錯(cuò)算法或其它類型的錯(cuò)誤恢復(fù)算法。所述第一激光器和所述第二激光器可以都具有基本相同的波長(zhǎng)，或者可工作于不同的波長(zhǎng)。在后一種類型的設(shè)置中，所述第一激光器可以具有特別適于從第一類型的光盤讀取存儲(chǔ)的信息的波長(zhǎng)，而所述第二激光器可以具有特別適于從不同于所述第一類型的光盤的第二類型的光盤讀取存儲(chǔ)的信息的波長(zhǎng)。例如，所述第一類型的光盤可以是DVD光盤，而所述第二類型的光盤可以是藍(lán)光光盤，其中使用DVD激光器來提供前導(dǎo)掃描點(diǎn)以對(duì)于表面缺陷進(jìn)行預(yù)掃描，而使用藍(lán)光激光器來提供尾隨掃描點(diǎn)以從所述光盤讀取存儲(chǔ)的信息。例如，所述光盤重放設(shè)備還可以包括與相應(yīng)的第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器相關(guān)聯(lián)的第一解碼器和第二解碼器。其中響應(yīng)于對(duì)所述表面缺陷的識(shí)別而在所述第二解碼器啟動(dòng)錯(cuò)誤恢復(fù)算法。例如，所述光學(xué)組件可以包括與所述第一激光器相關(guān)聯(lián)的第一光學(xué)器件和與所述第二激光器相關(guān)聯(lián)的第二光學(xué)器件。例如，第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器可以包括相應(yīng)的第一光電檢測(cè)器陣列和第二光電檢測(cè)器陣列。
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例如，所述第一激光器和第二激光器被配置為生成基本相同波長(zhǎng)的入射光。例如，僅利用與尾隨掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光來從所述光盤讀取存儲(chǔ)信息。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，一種光盤重放方法包括使用來自相應(yīng)的第一激光器和第二激光器的入射光在光盤的表面上形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)；檢測(cè)來自所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)和所述尾隨掃描點(diǎn)的反射光；以及在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)光盤的表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的所述反射光來識(shí)別所述光盤的表面缺陷。例如，所述光盤重放方法還可以包括響應(yīng)于對(duì)所述表面缺陷的識(shí)別而啟動(dòng)錯(cuò)誤恢復(fù)算法的步驟。例如，所述光盤重放方法還可以包括僅利用與所述尾隨掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的所述反射光來從所述光盤讀取存儲(chǔ)信息的步驟。例如，所述光盤重放方法還可以包括顯示表明所述表面缺陷已被識(shí)別的消息的步驟。例如，所述光盤重放方法還可以包括對(duì)啟用所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)的生成和禁用所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)的生成中的至少一個(gè)提供可選擇的選項(xiàng)的步驟。根據(jù)本發(fā)明的再一個(gè)方面，一種非暫態(tài)的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)具有用于執(zhí)行所述的光盤重放方法的步驟的可執(zhí)行代碼。根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)方面，一種光盤重放系統(tǒng)包括第一重放機(jī)構(gòu)和第二重放機(jī)構(gòu)；所述第一重放機(jī)構(gòu)和所述第二重放機(jī)構(gòu)用于在所述光盤的表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)，并檢測(cè)來自相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)的反射光；其中在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)光盤的表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光來識(shí)別所述光盤的表面缺陷。例如，所述第一重放機(jī)構(gòu)特別適于從第一類型的光盤讀取存儲(chǔ)信息，而所述第二重放機(jī)構(gòu)特別適于從不同于所述第一類型的光盤的第二類型的光盤讀取存儲(chǔ)信息。例如，所述第一類型的光盤是DVD光盤,而所述第二類型的光盤是藍(lán)光光盤。優(yōu)選地，示例性的實(shí)施例在藍(lán)光光盤或其它類型的光盤上存在表面缺陷的情況下，提供了在所述光盤的讀出性能方面的顯著改進(jìn)。使用前導(dǎo)掃描點(diǎn)早期檢測(cè)表面缺陷，因此能夠以對(duì)觀眾完全透明的方式對(duì)表面缺陷自動(dòng)處理，從而避免了人工干預(yù)的需要。舉例來說，在已經(jīng)包括DVD和藍(lán)光讀出能力的重放設(shè)備中，通過利用DVD激光器生成前導(dǎo)掃描點(diǎn)，能夠?qū)崿F(xiàn)相對(duì)于常規(guī)方式的這種顯著進(jìn)步，其中，所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)在藍(lán)光激光器的讀出之前檢測(cè)表面缺陷。在這樣的設(shè)置中，不需要任何大量的額外光學(xué)器件或讀出硬件，就可以提供增強(qiáng)的讀出性能。



圖I是本發(fā)明的一個(gè)說明性的實(shí)施例中的結(jié)合有用于表面缺陷的早期檢測(cè)的預(yù)掃描功能的光盤重放系統(tǒng)的框圖。圖2示出了圖I的系統(tǒng)的一部分的更詳細(xì)的視圖，圖示了通過光學(xué)拾取單元在光盤表面上形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)。圖3是示出圖I的系統(tǒng)的一種工作模式的流程圖。
具體實(shí)施例方式在此將結(jié)合有利地結(jié)合有用于表面缺陷的早期檢測(cè)的預(yù)掃描功能的示例性的光盤重放系統(tǒng)來對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說明。然而，應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明不限于所示和所說明的特定系統(tǒng)和技術(shù)。本發(fā)明更普遍地適用于任何期望提高讀出性能的光盤重放系統(tǒng)，并且可以使用除了結(jié)合說明性的實(shí)施例所具體示出和說明的部件之外的其它部件來實(shí)現(xiàn)。圖I示出了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)說明性的實(shí)施例的光盤重放系統(tǒng)100。在此實(shí)施例中的重放系統(tǒng)100更具體地包括從光盤104讀取存儲(chǔ)的信息的光學(xué)拾取單元102。該光學(xué)拾取單元還可以被配置為將信息寫到可記錄光盤，盡管這樣的功能不是本發(fā)明的要求。在一個(gè)典型的配置中，光盤104被插入光盤驅(qū)動(dòng)器，光盤驅(qū)動(dòng)器控制光盤的旋轉(zhuǎn)以及光學(xué)拾取單元102相對(duì)于光盤凹槽的定位。為了說明的清楚和簡(jiǎn)要，從圖中省略了用于控制光盤104的旋轉(zhuǎn)和光學(xué)拾取單元102的定位的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)和關(guān)聯(lián)的電子器件，但可以假定為它們以常規(guī)的方式實(shí)施。在本實(shí)施例中的光學(xué)拾取單元102包括激光器110、光學(xué)器件112和光學(xué)檢測(cè)器114。非限制性地假定，有至少第一激光器和第二激光器以及至少第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器，盡管在其它實(shí)施例中可以使用其它數(shù)量的激光器和檢測(cè)器。第一激光器和第二激光器可以都具有基本相同的波長(zhǎng)，或可以工作于不同的波長(zhǎng)。在后一種類型的設(shè)置中，第一激光器可以具有特別適于從第一類型的光盤讀取存儲(chǔ)的信息的波長(zhǎng)，而第二激光器可以具有特別適于從與第一類型的光盤不同的第二類型的光盤讀取存儲(chǔ)的信息的波長(zhǎng)。例如，第一類型的光盤可以是DVD光盤，而第二類型的光盤可以是藍(lán)光光盤。這些格式和其它格式的多層光盤也是可以采用的。光學(xué)器件112可被視為在此更一般地被稱為“光學(xué)組件”的東西的一個(gè)例子。在此使用的術(shù)語(yǔ)“光學(xué)組件”意欲被廣義地解釋，并且可以包括用于將光引導(dǎo)至光盤104和引導(dǎo)來自光盤104的光的光學(xué)元件的任何設(shè)置，并且還可以包括關(guān)聯(lián)的結(jié)構(gòu)的、機(jī)械的或電氣的元件。一個(gè)光學(xué)組件可以包括與相應(yīng)的第一激光器和第二激光器相關(guān)聯(lián)的完全分立的光學(xué)器件的若干集合，或可利用其光學(xué)元件的至少一個(gè)子集來處理來自第一激光器和第二激光器的光。因此，應(yīng)該可以理解，盡管將要結(jié)合圖2對(duì)于用于將光引導(dǎo)至光盤和引導(dǎo)來自光盤的光的光學(xué)器件的一個(gè)更詳細(xì)的例子進(jìn)行說明，但本發(fā)明不要求這樣的光學(xué)器件的任何特定的設(shè)置。光學(xué)拾取單元102與處理器120耦合，該處理器120控制光學(xué)拾取單元的工作并且處理由光學(xué)拾取單元提供的信號(hào)和向光學(xué)拾取單元發(fā)送的信號(hào)。處理器120例如可包括微處理器、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、專用集成電路(ASIC)、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)或其它集成電路器件，以及這樣的器件的部分或組合。處理器120可視為在此被更一般地稱為“控制器電路”的東西的一個(gè)例子。這樣的控制器電路雖然在本實(shí)施例中被顯示為與光學(xué)拾取單元102分立，但在其它實(shí)施例中可以被實(shí)施為至少部分地在光學(xué)拾取單元之內(nèi)。因此，再次以說明性示例而非限制地，在此使用的術(shù)語(yǔ)“控制器電路”可以包括盤驅(qū)動(dòng)器電子器件、信號(hào)處理電子器件和關(guān)聯(lián)的處理和存儲(chǔ)器電路，以及一個(gè)或多個(gè)用于控制光學(xué)拾取單元102相對(duì)于光盤104表面的定位的相關(guān)的機(jī)電元件。假設(shè)如上所述的控制器電路與光學(xué)檢測(cè)器114的輸出耦合，并且接收來自光學(xué)檢測(cè)器114的各個(gè)檢測(cè)信號(hào)用于與預(yù)掃描和讀出相關(guān)聯(lián)的進(jìn)一步處理，而且還可以另外與光學(xué)拾取單元的其它元件(例如激光器110的控制輸入)相耦合。與光學(xué)重放系統(tǒng)100中的處理器120相關(guān)聯(lián)的還有存儲(chǔ)器122 和解碼器124。存儲(chǔ)器122存儲(chǔ)可執(zhí)行代碼，該可執(zhí)行代碼可被處理器120在實(shí)施預(yù)掃描和讀出功能的至少一部分中執(zhí)行。存儲(chǔ)器122可以以任意組合包括例如隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)或只讀存儲(chǔ)器(ROM)這樣的電子存儲(chǔ)器，并且是在此更一般地稱為“計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)”的東西的一個(gè)例子。解碼器124例如可以在一個(gè)設(shè)計(jì)為支持DVD和藍(lán)光光盤兩者的重放的實(shí)施例中包括分立的DVD解碼器和藍(lán)光解碼器。這樣的解碼器通常包括MPEG-2解碼功能，并且可以與第一和第二光學(xué)檢測(cè)器114中的各解碼器相關(guān)聯(lián)。在其它實(shí)施例中，單個(gè)解碼器可用于支持多種光盤格式。從光盤104讀出的信息信號(hào)由解碼器124處理而生成適于在顯示設(shè)備125上呈現(xiàn)的視頻信號(hào)。顯示設(shè)備例如可以包括電視、計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話或任何其它的具有顯示通過光學(xué)拾取單元102從光盤104讀出的視頻或其它信息的能力的處理設(shè)備。系統(tǒng)元件102、120、122和124可以包括其它常規(guī)的光盤重放設(shè)備的元件，所述光盤重放設(shè)備諸如是還向下兼容DVD格式的藍(lán)光播放器。一個(gè)或多個(gè)這樣的元件可以在處理設(shè)備中實(shí)施，該處理設(shè)備例如電視、計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話或提供顯示設(shè)備125的其它處理設(shè)備。諸如光學(xué)檢測(cè)器114、處理器120、存儲(chǔ)器122和解碼器124這樣的系統(tǒng)元件可以至少部分地以一個(gè)或多個(gè)集成電路的形式來實(shí)施，該集成電路例如是其它常規(guī)的片上系統(tǒng)(SOC)集成電路，該片上系統(tǒng)(SOC)集成電路被設(shè)計(jì)為在光盤播放器或其它光盤重放設(shè)備中使用，并且被適當(dāng)?shù)匦薷囊灾С衷诖斯_的預(yù)掃描功能。在本發(fā)明的集成電路的實(shí)施中，通常在晶片表面上以重復(fù)的圖案形成多個(gè)集成電路芯片(die)。每個(gè)這樣的芯片可以包括在此所述的器件，并且可以包括其它結(jié)構(gòu)或電路。芯片被從晶片切割或切塊，然后封裝為集成電路。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)該知道如何將晶片切塊以及封裝芯片以生產(chǎn)封裝的集成電路。像這樣制造的集成電路被認(rèn)為是本發(fā)明的一部分。如上所述，在從諸如光盤104這樣的光盤讀取存儲(chǔ)的信息中可能出現(xiàn)的一個(gè)問題是對(duì)于由光盤表面上或表面附近的刮痕、指紋、灰塵顆粒、氣泡或其它缺陷所造成的重放錯(cuò)誤的敏感性。對(duì)于諸如藍(lán)光這樣的具有高密度的存儲(chǔ)格式的光盤(其中使用短波長(zhǎng)的藍(lán)色激光來執(zhí)行讀出)情況尤其如此。
本實(shí)施例通過下列手段，至少部分地克服了現(xiàn)有技術(shù)的這一突出問題配置包括光學(xué)器件112的光學(xué)組件，以引導(dǎo)來自第一和第二激光器110的入射光，從而在光盤104表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)，以及將來自光盤104表面上的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)的對(duì)應(yīng)的反射光引導(dǎo)至光學(xué)檢測(cè)器114中的相應(yīng)檢測(cè)器。系統(tǒng)100的處理器120或其它控制器電路被配置為，在尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)表面缺陷之前，通過對(duì)與前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光進(jìn)行處理，識(shí)別光盤104的該表面缺陷?？刂破麟娐房蛇M(jìn)一步被配置為響應(yīng)于對(duì)表面缺陷的識(shí)別而啟動(dòng)糾錯(cuò)算法或其它類型的錯(cuò)誤恢復(fù)算法。這樣的錯(cuò)誤恢復(fù)算法可以例如在處理器120內(nèi)或在解碼器124中給定的一個(gè)解碼器內(nèi)實(shí)施。如上所述，第一激光器和第二激光器可以具有基本上相同的波長(zhǎng)，或可以工作于不同的波長(zhǎng)。在第一激光器是配置為讀取DVD光盤的DVD激光器而第二激光器是配置為讀取藍(lán)光光盤的藍(lán)光激光器的實(shí)施例中，DVD激光器可用于提供前導(dǎo)掃描點(diǎn)以對(duì)表面缺陷進(jìn)行預(yù)掃描，而藍(lán)光激光器可用于提供尾隨掃描點(diǎn)以從光盤讀取存儲(chǔ)的信息。更一般的是，在 配置兩種不同的激光器以讀取兩種不同類型的光盤的重放設(shè)備中，被配置為讀取一種類型的盤的激光器在使用由另一激光器所形成的尾隨掃描點(diǎn)來讀取另一種類型的盤時(shí)用于形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)，反之亦然。如圖I所示光盤重放系統(tǒng)100可以包括具體所示的元件以外的其它元件,或是包括替代具體所示的元件的其它元件，包括這樣的系統(tǒng)的常規(guī)實(shí)施中普遍能找到的類型的一個(gè)或多個(gè)元件。在此不對(duì)這些和其它的為本領(lǐng)域普通技術(shù)人員熟知的常規(guī)元件進(jìn)行詳細(xì)說明。因此，應(yīng)該理解，圖I所示元件的特定設(shè)置只是以說明性的例子而表示的。因此，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到，多種其它光盤重放系統(tǒng)的配置可用于實(shí)施本發(fā)明。圖2示出了光學(xué)拾取單元102的更詳細(xì)的視圖，并圖示了在光盤104表面上形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)。在此圖中，第一激光器和第二激光器更具體地被分別標(biāo)記為激光器110-1和110-2，并且如上所述，它們可以包括被配置為讀取相應(yīng)的DVD和藍(lán)光光盤的激光器。因此激光器110-1和110-2可以分別包括具有約650納米波長(zhǎng)的紅色激光器和具有約405納米波長(zhǎng)的藍(lán)色激光器。第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器更具體被分別標(biāo)記為第一光電檢測(cè)器陣列114-1和第二光電檢測(cè)器陣列114-2。本實(shí)施例中的光學(xué)器件112更具體地包括光學(xué)元件202、204、206和208，這些光學(xué)元件被設(shè)置為將來自激光器110的光引導(dǎo)至光盤104以及將來自光盤104的光引導(dǎo)至光電檢測(cè)器陣列114-1和114-2。更具體地說，光學(xué)器件112引導(dǎo)來自第一激光器110-1的入射光以形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)210,并且將對(duì)應(yīng)的來自前導(dǎo)掃描點(diǎn)210的反射光引導(dǎo)至第一光電檢測(cè)器陣列114-1。類似地，光學(xué)器件112引導(dǎo)來自第二激光器110-2的入射光以形成尾隨掃描點(diǎn)212，并且將對(duì)應(yīng)的來自尾隨掃描點(diǎn)212的反射光引導(dǎo)至第二光電檢測(cè)器陣列114-2。前導(dǎo)掃描點(diǎn)210用于對(duì)表面缺陷進(jìn)行預(yù)掃描，而尾隨掃描點(diǎn)用于從光盤104讀取存儲(chǔ)的信肩、O應(yīng)該指出的是，掃描點(diǎn)210和212在圖中被示為在光盤104表面的上方，但是這只是為了清楚地說明。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)該理解，實(shí)際的掃描點(diǎn)會(huì)照射光盤的實(shí)際表面，所以它們?cè)诖吮环Q為使用來自激光器110-1和110-2的光而在光盤表面上形成的。在工作中，前導(dǎo)掃描點(diǎn)210剛好在尾隨掃描點(diǎn)212之前掃描旋轉(zhuǎn)中的光盤104的凹槽。來自前導(dǎo)掃描點(diǎn)210的反射光在第一光電檢測(cè)器陣列114-1被檢測(cè),而作為結(jié)果的檢測(cè)信號(hào)在以上提到的控制器電路中被用于識(shí)別光盤104的表面缺陷。來自尾隨掃描點(diǎn)212的反射光在第二光電檢測(cè)器陣列114-2被檢測(cè)，而作為結(jié)果的檢測(cè)信號(hào)提供對(duì)用于在顯示器125上進(jìn)行呈現(xiàn)的存儲(chǔ)的信息的讀出。前導(dǎo)掃描點(diǎn)210被設(shè)置為充分提前于尾隨掃描點(diǎn)212，以使得能夠識(shí)別在給定位置處的表面缺陷，并且在尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)該表面缺陷的位置之前能夠觸發(fā)適當(dāng)?shù)腻e(cuò)誤恢復(fù)算法。說明性地示出的光學(xué)元件202、204、206和208包括讓在一個(gè)方向到達(dá)的光通過并反射從相反方向到達(dá)的光的光學(xué)元件。例如，光學(xué)元件206將來自激光器110-1的入射光引導(dǎo)至光盤104表面，而將來自光盤104的表面的對(duì)應(yīng)的反射光引導(dǎo)至光電檢測(cè)器陣列114-1。類似地,光學(xué)兀件208將來自激光器110-2的入射光引導(dǎo)至光盤104表面,而將來自光盤104的表面的對(duì)應(yīng)的反射光引導(dǎo)至光電檢測(cè)器陣列114-2。然而，可以理解的是，可以使用光學(xué)元件的多種替代性的設(shè)置來在光學(xué)拾取單元102中引導(dǎo)入射光和反射光。這樣的光學(xué)元件的配置都意欲被包括在此處使用的通用術(shù)語(yǔ)“光學(xué)組件”中。 現(xiàn)在參照?qǐng)D3，示出了在光學(xué)重放系統(tǒng)100中實(shí)施的處理的流程圖。這個(gè)處理是由系統(tǒng)100在處理器120的控制下在包括對(duì)光盤104進(jìn)行表面缺陷的預(yù)掃描的工作模式中執(zhí)行的。該處理包括步驟300至步驟310。一個(gè)或多個(gè)這些步驟可以響應(yīng)于處理器120中對(duì)應(yīng)的軟件代碼的執(zhí)行而被運(yùn)行。在步驟300，啟動(dòng)光盤重放，其中預(yù)掃描模式被啟用。這例如可以包括用戶在盤驅(qū)動(dòng)器中插入光盤104并操作合適的重放設(shè)備控制輸入以選擇預(yù)掃描模式。從而，根據(jù)本發(fā)明而配置的重放設(shè)備可向用戶提供可選擇的選項(xiàng)來啟用或禁用前導(dǎo)掃描點(diǎn)210的生成，從而啟用或禁用該重放設(shè)備的預(yù)掃描功能。這些選項(xiàng)可以通過重放設(shè)備的其它常規(guī)的用戶接口的適當(dāng)?shù)男薷膩硖峁?。替代性地，重放設(shè)備可被配置為使得每次選擇重放時(shí)都自動(dòng)啟用重放的預(yù)掃描模式。在步驟302，開啟第一激光器110-1和第二激光器和110_2兩者以及它們對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器 114-1 和 114-2。在步驟304，使用來自相應(yīng)的第一激光器110-1和第二激光器110_2的入射光在光盤104的表面上形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)210和尾隨掃描點(diǎn)212。雖然在圖中示為一個(gè)分立的步驟，但步驟304可以通過在步驟302中簡(jiǎn)單地開啟激光器和檢測(cè)器來實(shí)施。掃描點(diǎn)形成步驟304可額外地或替代性地包括光學(xué)器件112的一個(gè)或多個(gè)元件的位置的某種移動(dòng)或其它調(diào)整，以及調(diào)整光盤104的轉(zhuǎn)速直到它達(dá)到恰當(dāng)?shù)淖x出速度。在步驟306，在相應(yīng)的檢測(cè)器114-1和114_2檢測(cè)來自前導(dǎo)掃描點(diǎn)210和尾隨掃描點(diǎn)212的反射光。該處理使用前導(dǎo)掃描點(diǎn)210掃描表面缺陷，而同時(shí)使用尾隨掃描點(diǎn)212從光盤讀取存儲(chǔ)的信息。使用尾隨掃描點(diǎn)212讀出存儲(chǔ)的信息可以以公知的常規(guī)方式執(zhí)行，因此此處不詳細(xì)說明。在步驟308，基于來自前導(dǎo)掃描點(diǎn)210的反射光判斷在光盤104表面上或表面附近的對(duì)應(yīng)的位置是否存在缺陷。這樣的缺陷可以包括例如光盤表面上或表面附近的劃痕、指紋、灰塵顆粒、氣泡、凹陷、不平坦的表面區(qū)域、制造缺陷、記錄缺陷或其它缺陷，或它們的部分。因此，應(yīng)該理解，此處使用的術(shù)語(yǔ)“表面缺陷”意欲被廣義地解釋，以便包括例如在光盤制造過程中或與在光盤上記錄信息時(shí)所可能引起的表面上或表面附近的缺陷、以及由于對(duì)光盤的不當(dāng)操作所可能引起的缺陷。因此，這樣的表面缺陷可以包括從表面延伸到表面以下區(qū)域的缺陷、或完全在表面以下的缺陷，但這些缺陷可以使用前導(dǎo)掃描點(diǎn)210從表面檢測(cè)到。在本實(shí)施例中對(duì)特定表面缺陷的檢測(cè)包括處理來自檢測(cè)器114-1的檢測(cè)信號(hào)，以判斷該檢測(cè)信號(hào)是否表明存在表面缺陷。這可以包括例如將該檢測(cè)信號(hào)的一個(gè)或多個(gè)特性與對(duì)應(yīng)的特定類型的表面缺陷的已知特性進(jìn)行匹配。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員會(huì)認(rèn)識(shí)到，為此目的可使用模式匹配算法。如果步驟308基于來自前導(dǎo)掃描點(diǎn)210的反射光表明存在表面缺陷，則處理移至步驟310，否則返回步驟306以繼續(xù)使用前導(dǎo)掃描點(diǎn)210對(duì)表面缺陷進(jìn)行掃描，同時(shí)使用尾隨掃描點(diǎn)212從光盤讀取存儲(chǔ)的信息。如果識(shí)別出足夠大小的表面缺陷，則可以將帶有這個(gè)意思的消息呈現(xiàn)于顯示器125上，這樣用戶將得知輸出的視頻可能會(huì)按照錯(cuò)誤恢復(fù)算法的處理運(yùn)算而臨時(shí)改變。例如，當(dāng)檢測(cè)到以其它方式在常規(guī)手段下可能導(dǎo)致重放處理被完全凍結(jié)的先前提到的較大的表面缺陷時(shí)，可以生成并顯示這樣的消息。 在步驟310，響應(yīng)于在步驟308檢測(cè)到表面缺陷，而啟動(dòng)錯(cuò)誤恢復(fù)算法。在尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)給定的表面缺陷位置之前，針對(duì)該給定的表面缺陷位置啟動(dòng)錯(cuò)誤恢復(fù)算法，使系統(tǒng)在處理該缺陷方面具有額外的靈活性。例如，對(duì)于一個(gè)特定的檢測(cè)出的缺陷，被啟動(dòng)的錯(cuò)誤恢復(fù)算法可指示解碼器在恢復(fù)使用從光盤讀取的存儲(chǔ)的信息進(jìn)行的重放之前，將先前的視頻輸出幀繼續(xù)顯示指定的時(shí)間段。這避免了上述的重放完全凍結(jié)的常規(guī)問題，并且不需要任何的用戶干預(yù)(諸如使用重放設(shè)備的“跳過”或“快進(jìn)”功能以便在重放序列中手動(dòng)向前步進(jìn)直至繞過該表面缺陷)。在此處提到的類型的錯(cuò)誤恢復(fù)算法通常會(huì)例如讓藍(lán)光重放解碼器提供適當(dāng)?shù)膱D像數(shù)據(jù)來使得該缺陷被繞過，從而將對(duì)于觀賞體驗(yàn)的視覺干擾最小化。圖3所示的特定的處理步驟和它們的排序在其它實(shí)施例中可以變化。例如，在圖3中被示為順次執(zhí)行的步驟可以替代為至少部分地相互并行地執(zhí)行?？梢允褂枚鄠€(gè)替代性的或附加的步驟。之前指出，系統(tǒng)100的至少一部分可以體現(xiàn)在其它常規(guī)的光盤重放設(shè)備中，諸如還向下兼容DVD格式的藍(lán)光播放器。在這種類型的配置中，光盤播放器一般包括兩個(gè)分立的重放機(jī)構(gòu)，一個(gè)用于重放DVD而另一個(gè)用于重放藍(lán)光光盤。DVD重放機(jī)構(gòu)的DVD激光器一般能夠完全獨(dú)立于藍(lán)光重放機(jī)構(gòu)的藍(lán)光激光器而被開啟和操作，反之亦然。因此，可以一起開啟DVD和藍(lán)光激光器兩者，以便在光盤的表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)，這樣能夠檢測(cè)來自相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)的反射光。正如在一個(gè)或多個(gè)前述的實(shí)施例中那樣，在尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)表面缺陷之前，通過處理與前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光，可以有利地檢測(cè)到或以其它方式識(shí)別出光盤的表面缺陷。在一個(gè)或多個(gè)說明性的實(shí)施例中，使用前導(dǎo)掃描點(diǎn)早期檢測(cè)表面缺陷，因此能夠以對(duì)觀眾完全透明的方式對(duì)表面缺陷進(jìn)行自動(dòng)處理，從而避免了人工干預(yù)的需要。舉例來說，通過利用DVD激光器生成在藍(lán)光激光器進(jìn)行讀出之前檢測(cè)表面缺陷的前導(dǎo)掃描點(diǎn)，在上述的其它常規(guī)的重放設(shè)備中能夠?qū)崿F(xiàn)相對(duì)于常規(guī)手段的這個(gè)顯著進(jìn)步，該其它常規(guī)的重放設(shè)備已經(jīng)包括DVD和藍(lán)光讀出能力。在這樣的設(shè)置中，不需要任何大量額外的光學(xué)器件或讀出硬件，就可以提供增強(qiáng)的讀出性能。再次需要強(qiáng)調(diào)的是，本發(fā)明的上述實(shí)施例的意圖只是說明性的。例如，其它實(shí)施例可以使用不同類型的激光器、光學(xué)器件、檢測(cè)器和控制器電路及它們的不同配置。此外，可使用不同類型的表面缺陷檢測(cè)技術(shù)和關(guān)聯(lián)的錯(cuò)誤恢復(fù)算法。作為一個(gè)更具體的例子，可配置這樣的實(shí)施例，它利用兩個(gè)以上的激光器以及關(guān)聯(lián)的光學(xué)器件和檢測(cè)器，將其中一個(gè)激光器和它的光學(xué)器件及對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器進(jìn)行優(yōu)化以檢測(cè)關(guān)于多種光盤類型的表面缺陷，而將其它激光器和它們的光學(xué)器件及對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器進(jìn)行優(yōu)化以從各不相同的光盤格式(如藍(lán)光和DVD格式)讀出存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員，在所附權(quán)利要求范圍內(nèi)的這些以及其它許多替代性的實(shí)施例都是顯而易 見的。
權(quán)利要求
1.一種光盤重放設(shè)備，包括 第一激光器和第二激光器； 光學(xué)組件； 第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器；以及 與所述光學(xué)檢測(cè)器耦合的控制器電路； 所述光學(xué)組件被配置為引導(dǎo)來自所述第一激光器和所述第二激光器的入射光，從而在光盤的表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)； 所述光學(xué)組件還被配置為將來自所述光盤的表面上的所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)和所述尾隨掃描點(diǎn)的對(duì)應(yīng)的反射光引導(dǎo)至所述光學(xué)檢測(cè)器中的相應(yīng)檢測(cè)器； 其中所述控制器電路被配置為在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)光盤的表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光來識(shí)別所述光盤的表面缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光盤重放設(shè)備，其中所述控制器電路還被配置為響應(yīng)于對(duì)所述表面缺陷的識(shí)別而啟動(dòng)錯(cuò)誤恢復(fù)算法。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光盤重放設(shè)備，其中所述第一激光器和所述第二激光器被配置為生成不同波長(zhǎng)的入射光。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤重放設(shè)備，其中所述第一激光器具有適于從第一類型的光盤讀取存儲(chǔ)的信息的波長(zhǎng)，以及所述第二激光器具有適于從不同于所述第一類型的光盤的第二類型的光盤讀取存儲(chǔ)的信息的波長(zhǎng)。
5.一種光盤重放方法，包括 使用來自相應(yīng)的第一激光器和第二激光器的入射光在光盤的表面上形成前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)； 檢測(cè)來自所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)和所述尾隨掃描點(diǎn)的反射光；以及 在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)光盤的表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的所述反射光來識(shí)別所述光盤的表面缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤重放方法，還包括響應(yīng)于對(duì)所述表面缺陷的識(shí)別而啟動(dòng)錯(cuò)誤恢復(fù)算法的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤重放方法，還包括顯示表明所述表面缺陷已被識(shí)別的消息的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤重放方法，還包括對(duì)啟用所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)的生成和禁用所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)的生成中的至少一個(gè)提供可選擇的選項(xiàng)的步驟。
9.一種非暫態(tài)的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中具有用于執(zhí)行權(quán)利要求5所述的光盤重放方法的步驟的可執(zhí)行代碼。
10.一種光盤重放系統(tǒng),包括 第一重放機(jī)構(gòu)和第二重放機(jī)構(gòu)； 所述第一重放機(jī)構(gòu)和所述第二重放機(jī)構(gòu)用于在所述光盤的表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)，并檢測(cè)來自相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)的反射光； 其中在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)光盤的表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光來識(shí)別所述光盤的表面缺陷。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光盤重放設(shè)備、方法及系統(tǒng)。該光盤重放設(shè)備包括第一激光器和第二激光器、光學(xué)組件、第一光學(xué)檢測(cè)器和第二光學(xué)檢測(cè)器、以及與所述光學(xué)檢測(cè)器耦合的控制器電路。所述光學(xué)組件被配置為引導(dǎo)來自第一激光器和第二激光器的入射光，從而在光盤的表面上形成相應(yīng)的前導(dǎo)掃描點(diǎn)和尾隨掃描點(diǎn)，以及還被配置為將來自光盤的表面上的所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)和所述尾隨掃描點(diǎn)的對(duì)應(yīng)的反射光引導(dǎo)至所述光學(xué)檢測(cè)器中的相應(yīng)檢測(cè)器。所述控制器電路被配置為在所述尾隨掃描點(diǎn)到達(dá)光盤的表面缺陷之前，通過處理與所述前導(dǎo)掃描點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的反射光來識(shí)別所述光盤的表面缺陷。
文檔編號(hào)G11B7/09GK102956243SQ20121000565
公開日2013年3月6日 申請(qǐng)日期2012年1月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月17日
發(fā)明者J·M·福萊恩德 申請(qǐng)人:Lsi公司