專利名稱：快速檢測大容量NOR Flash的方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種快速檢測大容量NOR Flash(非易失閃存)的方法及裝置。
背景技術：
NOR Flash是現在市場上主要的非易失閃存技術之一，NOR Flash的特點是芯片內執(zhí)行，這樣應用程序可以直接在Flash閃存內運行，而不必再把代碼讀到系統(tǒng)RAM (RandomAccess Memory，隨機存取存儲器)中，且NOR Flash的傳輸效率很高。NOR Flash能夠提供完整的尋址與數據總線，并允許隨機存取存儲器上的任何區(qū)域。因此，目前大部分的嵌入式設備產品中均采用NOR Flash作為存儲設備。如射頻識別技術產品線的電子標簽閱讀器ZXRIS6700和路側單元ZXRIS8900，分別采用I片64MB (MByte，兆字節(jié))容量的NOR Flash和3片64MB容量的NOR Flash ;在轉產過程中進行測試時，如果遍歷整個NOR Flash存儲空間進行檢測，則需要花費大量時間。在檢測時，任何Flash器件的寫入操作只能在空的或已擦除的單元內進行，所以大多數情況下，在進行寫入操作之前必須先執(zhí)行擦除。傳統(tǒng)的NORFlash檢測的方法是擦除NOR Flash全部空間內容，花費了大量的時間。

發(fā)明內容
本發(fā)明的主要目的是提供一種快速檢測大容量NOR Flash的方法，旨在實現快速檢測大容量NOR Flash的功能。本發(fā)明提供了一種快速檢測大容量NOR Flash的方法，包括以下步驟:擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常；若數據線正常，則判斷地址線是否正常，并在地址線不正常時返回測試失敗結果;若數據線不正常，則返回測試失敗結果。優(yōu)選地，所述擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常的步驟具體包括:擦除NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)，并在擦除的扇區(qū)寫入測試數據；回讀寫入的測試數據，并將其與原始寫入的測試數據進行比較；若二者相同，則判斷數據線正常；若二者不相同，則判斷數據線不正常。優(yōu)選地，所述判斷地址線是否正常的步驟具體包括:判斷地址線是否短路:向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若讀出數據存在與所述寫入的測試數據相同的數據，則判斷所述地址線短路，即地址線不正常；判斷地址線是否開路:若地址線開路，則其狀態(tài)一直為O或I ;當所述地址線為O時，向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路；當所述地址線為I時，向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路，即地址線不正常。優(yōu)選地，所述判斷地址線是否短路的步驟具體包括:設置一個初始值為O的變量，并將所述變量設置為自增狀態(tài)；判斷地址線移位是否結束；若是，則在所述的變量值為I時，返回地址線正常；在所述的變量不為I時，顯示出錯的地址線位置，返回地址線不正常；若否，則繼續(xù)移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較；若二者相同，則所述的變量值自增。優(yōu)選地，所述移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較的步驟具體包括:將地址線依次左移，每次移動一位，每次移位后均需回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，并判斷二者是否相同，直至檢測完所需檢測的所有地址線。本發(fā)明還提供了一種快速檢測大容量NOR Flash的裝置，包括:數據線檢測模塊，用于擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常，并在數據線不正常時，返回測試失敗結果；地址線檢測模塊，用于在數據線正常時，判斷地址線是否正常，并在地址線不正常時返回測試失敗結果。優(yōu)選地，所述數據線檢測模塊具體用于:擦除NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)，并在擦除的扇區(qū)寫入測試數據；回讀寫入的測試數據，并將其與原始寫入的測試數據進行比較；若二者相同，則判斷數據線正常；若二者不相同，則判斷數據線不正常。優(yōu)選地，所述地址線檢測模塊具體包括:地址線短路檢測單元，用于向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若讀出數據存在與所述寫入的測試數據相同的數據，則判斷所述地址線短路，即地址線不正常；地址線開路檢測單元，若地址線開路，則其狀態(tài)一直為O或I ;用于當所述地址線為O時，向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路；當所述地址線為I時，向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路，即地址線不正常。優(yōu)選地，所述地址線短路檢測單元具體包括:變量設置子單元，用于設置一個初始值為O的變量，并將所述變量設置為自增狀態(tài)；移位檢測子單元，用于在判斷地址線移位不結束時，移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，若二者相同，則所述的變量值自增；
檢測結果子單元，用于在判斷地址線移位結束且所述的變量值為I時，返回地址線正常；在判斷地址線移位結束且所述的變量不為I時，顯示出錯的地址線位置，返回地址線不正常。優(yōu)選地，所述移位檢測子單元具體用于:將地址線依次左移，每次移動一位，每次移位后均需回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，并判斷二者是否相同，直至檢測完所需檢測的所有地址線。本發(fā)明通過只向NOR Flash空間一次性寫入一組構造的測試數據，在回讀校驗時無須遍歷整個地址空間，只需通過地址線移位的方法回讀所需檢測的地址空間上的數據來判斷數據線和地址線是否存在開路或短路的情況，實現了快速檢測大容量NOR Flash的有益效果。


圖1是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法一實施例流程示意圖；圖2是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法中，判斷數據線是否正常一實施例流程示意圖；圖3是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法中，判斷地址線是否正常一實施例流程示意圖；圖4是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置一實施例的結構示意圖；圖5是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置中地址線檢測模塊一實施例的結構示意圖；圖6是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置中地址線短路檢測單元一實施例的結構不意圖；本發(fā)明目的的實現、功能特點及優(yōu)點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。
具體實施例方式以下結合說明書附圖及具體實施例進一步說明本發(fā)明的技術方案。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。參照圖1，圖1是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法一實施例流程示意圖，本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法包括:步驟S01、擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據；在檢測時，任何Flash器件的寫入操作只能在空的或已擦除的單元內進行，所以大多數情況下，在進行寫入操作之前必須先執(zhí)行擦除；本發(fā)明采用的方法是只需要擦除NORFlash的一個扇區(qū)，并向其中寫入測試數據；步驟S02、判斷數據線是否正常；若是，則執(zhí)行步驟S03 ;若否，則執(zhí)行步驟S04 ；通過回讀校驗并比較回讀寫入的測試數據與原始寫入的測試數據是否相同來判斷數據線是否正常；通常數據線不正常主要有兩種情況:數據線短路和數據線開路；具體地，向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，依次讀取從基地址處開始的地址空間，如果讀取的數據與所述寫入的測試數據相同，則證明數據線正常。步驟S03、判斷地址線是否正常；
在NOR Flash檢測過程中，首先檢測的是數據線，若數據線不正常，則無需再檢測地址線是否正常，系統(tǒng)直接返回測試失敗結果；只有數據線正常的情況下，檢測地址線才有意義；通常，判斷地址線是否正常主要包括:判斷地址線是否短路:向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，將地址線依次左移(只將單獨一根地址線拉高，其余地址線全部為低)，回讀所述寫入的測試數據，如果發(fā)現讀出數據存在與寫入相同的數據，則判斷所述地址線至少與其它地址線中一根地址線短路，即地址線不正常；判斷地址線是否開路:若地址線開路，則其狀態(tài)一直為O或I ;當所述地址線為O時，向基地址中寫入測試數據，在回讀時會錯誤讀到基地址空間的數據；即向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據包含所述基地址空間數據，則可判斷所述地址線開路；當所述地址線為I時，在向基地址空間寫入數據時會錯誤寫到該地址線為I時的地址空間中，即向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據包含所述基地址空間中的數據，則可判斷所述地址線開路，即地址線不正常；在地址線不正常時，執(zhí)行步驟S04，系統(tǒng)返回測試失敗結果。步驟S04、返回測試失敗結果；若數據線不正常，即在數據線存在短路或數據線存在開路的情況下，無需再檢測地址線是否正常，直接返回測試失敗結果。本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法通過僅擦除NOR Flash的一個扇區(qū)并向其中寫入相應測試數據，回讀校驗來判斷是否存在數據線和地址線開路或短路的情況，達到了快速檢測大容量NOR Flash的有益效果。參照圖2，圖2是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法中，判斷數據線是否正常一實施例流程示意圖；本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法中擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常的步驟具體包括:步驟S011、擦除NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)，并在擦除的扇區(qū)寫入測試數據；將NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)進行擦除后，向所述擦除的扇區(qū)中寫入測試數據；優(yōu)選地，本發(fā)明以16bit (位數)模式構造所述如下數據實現對NOR Flash的數據線進行檢測:W0RD32 WriteBuf[10] = {Oxaaaa,0x5555,Oxcccc,0x3333,OxfOfO,OxOfOf,OxffOO,OxOOff,Oxffff,0x0000}；
步驟S012、回讀寫入的測試數據；對數據線進行檢測時，向需要測試的數據線的起始地址空間寫入步驟SOll所述的WriteBuf[10]數據；數據線不正常通常有兩種情況:數據線短路或數據線開路；數據線短路的情況:如果是兩根數據線，只需寫入并回讀ObOl...即可判斷所述兩根數據線之間是否短路；若相鄰的兩根數據線之間沒有短路，則再將兩根地址線作為一組，寫入并回讀ObllO0...，用所述相同的方法檢測相鄰兩組之間是否短路；依次類推，以四根數據線為一組，寫入并回讀ObllllOOO0...，依次進行檢測；數據線開路的情況:檢測數據線是否開路，只需將所述測試數據取反，再進行寫入和回讀，即可檢測出數據線是否開路；步驟S013、判斷回讀的測試數據與原始寫入的測試數據是否相同；若是，則執(zhí)行步驟S014 ;若否，則執(zhí)行步驟S015 ；依次回讀從起始地址空間處開始的地址空間，將回讀的測試數據與原始寫入的測試數據進行比較，判斷回讀的測試數據與原始寫入的測試數據是否相同；步驟S014、判斷數據線正常；若回讀的數據與原始寫入的測試數據相同，則證明數據線正常；步驟S015、判斷數據線不正常。若回讀的數據與原始寫入的測試數據不相同，則證明數據線不正常。本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法通過僅擦除NOR Flash的一個扇區(qū)并向其中寫入相應測試數據，回讀校驗來判斷是否存在數據線和地址線開路或短路的情況，節(jié)省了大量的檢測時間，達到了快速檢測大容量NOR Flash的有益效果。參照圖3，圖3是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法中，判斷地址線是否正常一實施例流程示意圖；本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法，判斷地址線是否正常的步驟具體包括:步驟S021、設置一個初始值為O的變量，并將所述變量設置為自增狀態(tài)；在本發(fā)明中，優(yōu)選地,設置所述變量為MirrorCnt,并將所述變量MirrorCnt的初始值設置為0，同時將所述變量MirrorCnt置為自增狀態(tài)，即為MirrorCnt++ ；步驟S022、判斷地址線移位是否結束；若是，則執(zhí)行步驟S023 ;若否，則執(zhí)行步驟S024 ；判斷所需檢測的地址線是否全部檢測完畢是通過判斷地址線移位是否結束來實現的，若地址線移位全部結束，則需判斷步驟S021中所述的變量MirrorCnt的值；根據變量MirrorCnt的值來判斷地址線是否正常；步驟S023、判斷步驟S021中所述的變量MirrorCnt的值是否為I ;若是，則執(zhí)行步驟S025 ;若否，則執(zhí)行步驟S026 ；判斷變量MirrorCnt的值是否為I,若變量MirrorCnt的值為1，則說明所檢測的地址線沒有短路，一切正常；若變量MirrorCnt的值為數字I以外的其他任意值，則說明所檢測的地址線有短路情況，地址線不正常；步驟S024、繼續(xù)移位地址線，判斷回讀寫入的測試數據與原始寫入的測試數據是否相同；若是，則所述的變量MirrorCnt的值自增；若否，則繼續(xù)移位地址線；若地址線的移位沒有結束，則繼續(xù)移位地址線，并依次回讀所寫入的測試數據，同時將回讀的測試數據與原始寫入的測試數據進行比較，判斷二者是否相同；若二者相同，則所述的變量MirrorCnt的值自動增加I ;若二者不相同，則繼續(xù)移位地址線；步驟S025、返回測試成功結果；若地址線全部移位結束后，即完成了整個地址線的檢測后，若變量MirrorCnt的值為1，則說明所檢測的地址線一切正常；步驟S026、顯示出錯的地址線位置，返回地址線測試不正常的結果；若完成了整個地址線的檢測后，變量MirrorCnt的值為數字I以外的其他任意值，則說明地址線存在短路的情況，地址線檢測失敗，系統(tǒng)顯示出錯的地址線位置，并返回地址線測試不正常的結果。本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的方法通過地址線移位的方法回讀所需檢測的地址空間上的數據來判斷數據線和地址線是否存在開路或短路的情況，節(jié)省了大量的檢測時間，達到了快速檢測大容量NOR Flash的有益效果。參照圖4，圖4是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置一實施例的結構示意圖；本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置包括:數據線檢測模塊01:用于擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常，并在數據線不正常時，返回測試失敗結果；擦除NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)，并在擦除的扇區(qū)寫入測試數據；回讀寫入的測試數據，并將其與原始寫入的測試數據進行比較；若二者相同，則判斷數據線正常；若二者不相同，則判斷數據線不正常。地址線檢測模塊02:用于在數據線正常時，判斷地址線是否正常，并在地址線不正常時返回測試失敗結果；在NOR Flash檢測過程中，首先檢測的是數據線，若數據線不正常，則無需再檢測地址線是否正常，系統(tǒng)直接返回測試失敗結果；只有在數據線正常的情況下，檢測地址線是否正常才有意義；若地址線存在錯誤，則地址空間中的兩個不同位置將被映射到同一物理存儲位置，即寫一個位置卻改變了另一個位置；地址線不正常通常包括:地址線短路和地址線開路；在地址線不正常時，系統(tǒng)返回測試失敗結果。參照圖5，圖5是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置中地址線檢測模塊一實施例的結構示意圖；本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置中地址線檢測模塊02包括:地址線短路檢測單元021，用于向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若讀出數據存在與所述寫入的測試數據相同的數據，則判斷所述地址線短路，即地址線不正常；檢測地址線短路的具體方法是:將地址線依次左移，每次只將單獨一根地址線拉高，其余地址線全部為低，回讀寫入的所述WriteBuf [10]長度的測試數據，并與原始寫入的所述WriteBuf [10]的測試數據進行比較，若發(fā)現回讀的測試數據中有與原始寫入的WriteBuf[10]的測試數據相同的數據，則表明所述地址線至少與其他地址線中的一根地址線短路，即地址線不正常，系統(tǒng)返回地址線檢測失敗結果；地址線開路檢測單元022，若地址線開路，則其狀態(tài)一直為O或I ;用于當所述地址線為O時，向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路；當所述地址線為I時，向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路，即地址線不正常；檢測地址線開路的具體方法是:對于開路的地址線，其狀態(tài)一直為O或者一直為
I;當地址線狀態(tài)為O時，向起始地址空間中寫入測試數據在回讀時，讀出的數據中會包含起始地址空間的數據，即向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則可判斷所述地址線為開路；當地址線狀態(tài)為I時，向起始地址空間寫入測試數據會錯誤的寫到地址空間為I的地址空間中，即向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所示基地址空間中的數據，亦可判斷所述地址線開路，即地址線不正常，系統(tǒng)返回地址線檢測失敗結果。參照圖6，圖6是本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置中地址線短路檢測單元一實施例的結構示意圖；本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置中地址線短路檢測單元021具體包括:變量設置子單元021a，用于設置一個初始值為O的變量，并將所述變量設置為自增狀態(tài)；在本發(fā)明中，優(yōu)選地,設置所述變量為MirrorCnt,并將所述變量MirrorCnt的初始值設置為0，同時將所述變量MirrorCnt置為自增狀態(tài)，即為MirrorCnt++ ；移位檢測子單元021b，用于在判斷地址線移位不結束時，移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，若二者相同，則所述的變量值自增；移位檢測子單元021b具體用于:將地址線依次左移，每次移動一位，每次移位后均需回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，并判斷二者是否相同，直至檢測完所需檢測的所有地址線；檢測結果子單元021c，用于在判斷地址線移位結束且所述的變量值為I時，返回地址線正常；在判斷地址線移位結束且所述的變量不為I時，顯示出錯的地址線位置，返回地址線不正常；在地址線移位結束時，判斷所述變量MirrorCnt的值是否為I，若變量MirrorCnt的值為1，則說明地址線不短路，返回地址線正常結果；若所述變量MirrorCnt的值為除I以外的其他任意值，則說明地址線短路，并顯示出錯的地址線位置，返回地址線不正常結
果O本發(fā)明快速檢測大容量NOR Flash的裝置，通過只向NOR Flash空間一次性寫入一組構造的測試數據，在回讀校驗時無須遍歷整個地址空間，只需通過地址線移位的方法回讀所需檢測的地址空間上的數據來判斷數據線和地址線是否存在開路或短路的情況，節(jié)省了大量的檢測時間，達到了快速檢測大容量NOR Flash的有益效果。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并非因此限制其專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內。
權利要求
1.一種快速檢測大容量NOR Flash的方法，其特征在于，包括以下步驟: 擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常； 若數據線正常，則判斷地址線是否正常，并在地址線不正常時返回測試失敗結果； 若數據線不正常，則返回測試失敗結果。
2.根據權利要求1所述的快速檢測大容量NORFlash的方法，其特征在于，所述擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常的步驟具體包括: 擦除NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)，并在擦除的扇區(qū)寫入測試數據； 回讀寫入的測試數據，并將其與原始寫入的測試數據進行比較； 若二者相同，則判斷數據線正常； 若二者不相同，則判斷數據線不正常。
3.根據權利要求1所述的快速檢 測大容量NORFlash的方法，其特征在于，所述判斷地址線是否正常的步驟具體包括: 判斷地址線是否短路:向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若讀出數據存在與所述寫入的測試數據相同的數據，則判斷所述地址線短路，即地址線不正常； 判斷地址線是否開路:若地址線開路，則其狀態(tài)一直為O或I ;當所述地址線為O時，向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路；當所述地址線為I時，向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路，即地址線不正常。
4.根據權利要求3所述的快速檢測大容量NORFlash的方法，其特征在于，所述判斷地址線是否短路的步驟具體包括: 設置一個初始值為O的變量，并將所述變量設置為自增狀態(tài)； 判斷地址線移位是否結束； 若是，則在所述的變量值為I時，返回地址線正常；在所述的變量不為I時，顯示出錯的地址線位置，返回地址線不正常； 若否，則繼續(xù)移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較；若二者相同，則所述的變量值自增。
5.根據權利要求4所述的快速檢測大容量NORFlash的方法，其特征在于，所述移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較的步驟具體包括: 將地址線依次左移，每次移動一位，每次移位后均需回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，并判斷二者是否相同，直至檢測完所需檢測的所有地址線。
6.一種快速檢測大容量NOR Flash的裝置，其特征在于，包括: 數據線檢測模塊，用于擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常，并在數據線不正常時，返回測試失敗結果； 地址線檢測模塊，用于在數據線正常時，判斷地址線是否正常，并在地址線不正常時返回測試失敗結果。
7.根據權利要求6所述的快速檢測大容量NORFlash的裝置，其特征在于，所述數據線檢測模塊具體用于:擦除NOR Flash起始地址空間的任一扇區(qū)，并在擦除的扇區(qū)寫入測試數據； 回讀寫入的測試數據，并將其與原始寫入的測試數據進行比較； 若二者相同，則判斷數據線正常； 若二者不相同，則判斷數據線不正常。
8.根據權利要求7所述的快速檢測大容量NORFlash的裝置，其特征在于，所述地址線檢測模塊具體包括: 地址線短路檢測單元，用于向測試的基地址O偏移處寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若讀出數據存在與所述寫入的測試數據相同的數據，則判斷所述地址線短路，即地址線不正常； 地址線開路檢測單元，若地址線開路，則其狀態(tài)一直為O或I ;當所述地址線為O時，向基地址空間中寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路；當所述地址線為I時，向所述基地址空間寫入測試數據，將地址線依次左移并回讀，若回讀的數據中包含所述基地址空間中的數據，則判斷所述地址線開路，即地址線不正常。
9.根據權利要求8所述的快速檢測大容量NORFlash的裝置，其特征在于，所述地址線短路檢測單元具體包括: 變量設置子單元，用于設置一個初始值為O的變量，并將所述變量設置為自增狀態(tài)； 移位檢測子單元，用于在判斷地址線移位不結束時，移位地址線，回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，若二者相同，則所述的變量值自增； 檢測結果子單元，用于在判斷地址線移位結束且所述的變量值為I時，返回地址線正常；在判斷地址線移位結束且所述的變量不為I時，顯示出錯的地址線位置，返回地址線不正常。
10.根據權利要求9所述的快速檢測大容量NORFlash的裝置，其特征在于，所述移位檢測子單元具體用于: 將地址線依次左移，每次移動一位，每次移位后均需回讀寫入的測試數據并與原始寫入的測試數據進行比較，并判斷二者是否相同，直至檢測完所需檢測的所有地址線。
全文摘要
本發(fā)明公開一種快速檢測大容量NOR Flash的方法及裝置，該方法包括以下步驟擦除NOR Flash的一個扇區(qū)，寫入測試數據，并判斷數據線是否正常；若數據線正常，則判斷地址線是否正常，并在地址線不正常時返回測試失敗結果；若數據線不正常，則返回測試失敗結果。本發(fā)明通過只向NOR Flash空間一次性寫入一組構造的測試數據，在回讀校驗時無須遍歷整個地址空間，只需通過地址線移位的方法回讀所需檢測的地址空間上的數據來判斷數據線和地址線是否存在開路或短路的情況，節(jié)省了大量的檢測時間，達到了快速檢測大容量NOR Flash的有益效果。
文檔編號G11C29/52GK103165194SQ20111042299
公開日2013年6月19日 申請日期2011年12月16日 優(yōu)先權日2011年12月16日
發(fā)明者丁岳, 汪旭光, 劉建志 申請人:中興通訊股份有限公司